JP5310819B2 - マイクロコンピュータ - Google Patents
マイクロコンピュータ Download PDFInfo
- Publication number
- JP5310819B2 JP5310819B2 JP2011225842A JP2011225842A JP5310819B2 JP 5310819 B2 JP5310819 B2 JP 5310819B2 JP 2011225842 A JP2011225842 A JP 2011225842A JP 2011225842 A JP2011225842 A JP 2011225842A JP 5310819 B2 JP5310819 B2 JP 5310819B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- interrupt
- measurement
- signal
- timer
- register
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 212
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 82
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 35
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 31
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 claims description 12
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 54
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 27
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 8
- 230000005764 inhibitory process Effects 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
- G06F11/362—Software debugging
- G06F11/3648—Software debugging using additional hardware
- G06F11/3656—Software debugging using additional hardware using a specific debug interface
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
- G06F11/3466—Performance evaluation by tracing or monitoring
- G06F11/348—Circuit details, i.e. tracer hardware
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
- G06F11/3409—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment for performance assessment
- G06F11/3419—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment for performance assessment by assessing time
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
- G06F11/362—Software debugging
- G06F11/3648—Software debugging using additional hardware
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/86—Event-based monitoring
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/865—Monitoring of software
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/88—Monitoring involving counting
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Description
また、計測許可信号出力手段は、タイマによる計測動作を許可又は禁止する割込みレベルを設定するための割込みレベル設定レジスタと、CPUが実行している割込み処理のレベルと割込みレベル設定レジスタに設定された割込みレベルとの高低関係を比較判定する判定手段とを備え、計測許可信号として、判定手段による判定結果を指定可能とする。したがって、2つのイベントが発生した間において、CPUが実行している割込み処理のレベルが、割込みレベル設定レジスタに設定されたレベルよりも高い場合,若しくは低い場合となる期間を、タイマにより計測することができる。
以下、第1実施例について図1ないし図4を参照して説明する。図1は、マイクロコンピュータの構成を示す機能ブロック図である。マイクロコンピュータ(マイコン)1は、CPU2,割込み制御回路(割込み処理信号出力手段,割込み保留信号出力手段,割込み禁止信号出力手段)3,メモリ4,周辺回路5,デバッグ回路部(オンチップデバッグ回路部)6等を備えている。CPU2〜周辺回路5は、一般的なマイクロコンピュータの構成要素であり、これらはアドレスバス7及びデータバス8を介して接続されている。
・割込みの重要度を示す割込みレベルを示す信号
・CPU2が割込み処理を行っている期間にアクティブとなる割込み処理信号
・CPU2がレベルが上位の割込み処理を行っている間にレベルが下位の割込みが
発生することで、後者の割込み処理が保留されている期間にアクティブとなる
割込み保留信号
・割込み制御レジスタ(図示せず)に書き込みが行われ、CPU2に対する割込みの
出力が禁止されている期間にアクティブとなる割込み禁止信号
尚、図示の都合上、立上り/立下りエッジ検出部31の出力線は4本となっているが、実際には、各信号について立上りエッジと立下りエッジとを個別に検出するので、出力線は8本となる。そして、セレクタ29,30も、それぞれが立上りエッジ入力と立下りエッジ入力とを個別に選択可能となっている。
・割込みレベル設定レジスタ21:割込みレベル「X(任意)」
・計測許可条件選択レジスタ25:割込み処理信号
・計測許可選択レジスタ27 :「0」(停止)
・開始アドレスレジスタ32 :0xA00000
・終了アドレスレジスタ33 :0xB00000
・計測開始条件選択レジスタ36:比較器34
・計測終了条件選択レジスタ37:比較器35
ここで、計測開始条件選択レジスタ36の値は関数処理(サブルーチン処理)の開始アドレスに対応し、計測終了条件選択レジスタ37の値は関数処理の終了アドレスに対応する。そして、関数処理の実行中に割込みが発生すると、割込み処理信号がアクティブとなる。セレクタ26は、その反転信号をタイマ28に出力するので、割込み処理信号がアクティブとなる期間はタイマ28による計時動作は停止される。その結果、タイマ28は関数処理の実行時間だけを計測する。
・割込みレベル設定レジスタ21:割込みレベル「1」
・計測許可条件選択レジスタ25:比較器22
・計測許可選択レジスタ27 :「1」
・開始アドレスレジスタ32 :0x000000
・終了アドレスレジスタ33 :0xFFFFFE
・計測開始条件選択レジスタ36:比較器34
・計測終了条件選択レジスタ37:比較器35
ここで、計測開始条件選択レジスタ36の値はメインルーチン処理の開始アドレスに対応し、計測終了条件選択レジスタ37の値はメインルーチン処理の終了アドレスに対応する。すると、割込みレベルが「1」よりも大きい場合にタイマ28による計時動作が許可されるので、関数処理の実行中にレベル「2」以上の割込みが発生し、その割込み処理が実行されている時間だけが計測されることになる。尚、メインルーチン処理の実行中に割込みが発生した場合にも、同様に計測が行われる。
・割込みレベル設定レジスタ21:割込みレベル「X」
・計測許可条件選択レジスタ25:割込み処理信号
・計測許可選択レジスタ27 :「1」
・開始アドレスレジスタ32 :0x000000(若しくは任意)
・終了アドレスレジスタ33 :0xFFFFFE(若しくは任意)
・計測開始条件選択レジスタ36:割込み保留信号の立上がりエッジ
・計測終了条件選択レジスタ37:割込み保留信号の立下がりエッジ
計測開始条件選択レジスタ36,計測終了条件選択レジスタ37の値は図4(b)と同じでも、或いは任意でも良い。この場合、レベル「2」の割込みが発生してその処理を行っている途中にレベル「1」の割込みが発生し、後者の処理が保留されている期間に割込み保留信号がアクティブとなる。そこで、割込み保留信号の立上がりエッジでタイマ28による計測を開始させ、割込み保留信号の立下がりエッジでタイマ28による計測を終了させる。また、割込み処理が行われている期間は、タイマ28の計測が許可される。その結果、レベル「1」の割込み処理が保留されている時間が計測されることになる。
・割込みレベル設定レジスタ21:割込みレベル「X」
・計測許可条件選択レジスタ25:割込み禁止信号
・計測許可選択レジスタ27 :「1」
・開始アドレスレジスタ32 :0x000000
・終了アドレスレジスタ33 :0xFFFFFE
・計測開始条件選択レジスタ36:比較器34
・計測終了条件選択レジスタ37:比較器35
計測開始条件選択レジスタ36,計測終了条件選択レジスタ37の値は図4(b)と同じである。そして、関数処理の実行中にレベル「1」,「2」の割込みが発生しているが、それらの割込み処理が禁止されており、割込み禁止信号がアクティブとなる期間にタイマ28による計測が許可される。その結果、割込み処理が禁止されている時間が計測されることになる。
図5及び図6は第2実施例であり、第1実施例と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分について説明する。図5は図2の一部相当図であり、セレクタ29の出力信号について立上りエッジを検出する立上りエッジ検出部41と、この立上りエッジ検出部41の出力信号の出力回数をカウントする計測回数カウンタ42とを備える。立上りエッジ検出部41は、セレクタ29の出力信号の立ち上がりエッジを検出する毎に、ワンショットのパルス信号を出力する。
図7及び図8は第3実施例であり、第1実施例と異なる部分について説明する。図7は図2の一部相当図であり、立上りエッジ検出部43は、セレクタ26の出力信号の立上がりエッジを検出するとワンショットパルスを検出信号として出力するもので、その検出信号は、タイマ28にリセット信号として出力されている。また、タイマ28の計測データは、比較器44とセレクタ45とに与えられている。セレクタ45の出力側には、最大値保持レジスタ46が接続されており、最大値保持レジスタ46のレジスタ値も、比較器44とセレクタ45とに与えられている。すなわち、比較器44は、タイマ28の計測データ値と最大値保持レジスタ46のレジスタ値とを比較し、前者の値が後者の値よりも大である場合は、セレクタ45にタイマ28の計測データ値を選択させて、最大値保持レジスタ46に書き込ませる。
図9ないし図12は第4実施例である。第2実施例では、関数処理の平均実行時間を得るための構成を、第3実施例では、不感帯に相当する時間の最大値を計測するための構成をそれぞれ個別に示したが、第4実施例は、これらを共通の構成により実現可能にすると共に、割り込みが発生する間隔の最小時間も測定可能となる構成例を示す。図9は、図5又は図7相当図であり、セレクタ29及び30の出力端子には、それぞれ立上りエッジ検出部51及び52が配置されている。立上りエッジ検出部51の出力信号は、計測回数カウンタ53に与えられて出力回数がカウントされると共に、タイマ28にリセット信号として与えられている。また、立上りエッジ検出部52の出力信号は、最大値保持レジスタ46にセレクタ45(最大値更新手段)より出力されるデータの保持タイミング信号として与えられている。
・割込みレベル設定レジスタ21:割込みレベル「1」
・計測許可条件選択レジスタ25:比較器22
・計測許可選択レジスタ27 :「1」
・開始アドレスレジスタ32 :任意
・終了アドレスレジスタ33 :任意
・計測開始条件選択レジスタ36:比較器22の立上がりエッジ
・計測終了条件選択レジスタ37:比較器22の立下がりエッジ
・割込みレベル設定レジスタ21:割込みレベル「0」
・計測許可条件選択レジスタ25:比較器22
・計測許可選択レジスタ27 :「0」
・開始アドレスレジスタ32 :0xA00000
・終了アドレスレジスタ33 :0xB00000
・計測開始条件選択レジスタ36:比較器34
・計測終了条件選択レジスタ37:比較器35
・割込みレベル設定レジスタ21:割込みレベル「0」
・計測許可条件選択レジスタ25:比較器22
・計測許可選択レジスタ27 :「0」
・開始アドレスレジスタ32 :0xD00000
・終了アドレスレジスタ33 :0xC00000
・計測開始条件選択レジスタ36:比較器34
・計測終了条件選択レジスタ37:比較器35
ここで、アドレス0xC00000は、レベル「2」以上の割込みを処理するサブルーチンの開始アドレスであり、アドレス0xD00000は前記サブルーチンの終了アドレスである。
図13は第5実施例である。第5実施例は、オンチップデバッグ機能を備えているマイクロコンピュータ61が、通常の動作モードからCPU2等に対するクロック信号(CPUクロック)の供給を停止するスリープ又はスタンバイモード(低消費電力モード)に移行可能に構成されているとする。図13は、マイクロコンピュータ61について、クロック信号の供給経路部分のみを概略的に示している。発振回路62は、例えばCR発振回路や水晶発振子を用いた発振回路等で構成されており、周波数が例えばkHzオーダーの基準クロック信号を出力する。
低消費電力モード信号 デバッグ機能有効信号
発振回路62 ○ ×
逓倍/分周回路63 ○ −
逓倍/分周回路64 − ×
図2に示す構成は、個別の設計に応じて、計測に必要である信号を適宜選択すれば良く、必ずしも図2と同様に構成する必要はない。
比較器22は、B<Aとなった場合にアクティブとなる信号を出力するようにしても良く、その場合は、セレクタ26における「1,0」の選択を逆にすれば良い。
第2〜第4実施例を、その他の処理の計測、例えば割込み処理時間や割込み保留時間,割込み禁止時間の計測などに適用しても良い。
第4実施例において、加算器57及び累積値保持レジスタ58をアキュムレータにより構成しても良い。
第5実施例を、その他の実施例と適宜組み合わせて実行しても良い。
Claims (13)
- デバッグ機能を有するオンチップデバッグ回路部を備えてなるマイクロコンピュータにおいて、
前記オンチップデバッグ回路部に、
CPUがプログラムを実行している期間に、ユーザにより指定されて発生する2つのイベントの間を、時間の計測対象とするタイマと、
ユーザによって指定された条件に応じて、前記タイマによる計測動作を許可する計測許可信号を出力する計測許可信号出力手段とを備え、
前記タイマは、前記計測許可信号がアクティブとなる期間に計測動作を実行し、前記計測許可信号がインアクティブとなる期間に前記計測動作を一時停止するように構成され、
前記計測許可信号出力手段は、前記タイマによる計測動作を許可又は禁止する割込みレベルを設定する割込みレベル設定レジスタと、
前記CPUが実行している割込み処理のレベルと、前記割込みレベル設定レジスタに設定された割込みレベルとの高低関係を比較判定し、判定信号を出力する判定手段とを備え、
前記計測許可信号として、前記判定手段による判定結果を指定可能であることを特徴とするマイクロコンピュータ。 - 前記CPUが割込み処理中であることを示す割込み処理信号を出力する割込み処理信号出力手段を備え、
前記計測許可信号出力手段は、前記計測許可信号として、前記割込み処理信号を指定可能であることを特徴とする請求項1記載のマイクロコンピュータ。 - 前記CPUが、上位レベルの割込み処理中に発生した下位レベルの割込み処理を保留していることを示す割込み保留信号を出力する割込み保留信号出力手段を備え、
前記計測許可信号出力手段は、前記計測許可信号として、前記割込み保留信号を指定可能であることを特徴とする請求項1又は2記載のマイクロコンピュータ。 - 前記CPUに対する割込みが禁止されている期間にアクティブとなる割込み禁止信号を出力する割込み禁止信号出力手段を備え、
前記計測許可信号出力手段は、前記計測許可信号として、前記割込み禁止信号を指定可能であることを特徴とする請求項1ないし3の何れかに記載のマイクロコンピュータ。 - 計測開始アドレスが設定される開始アドレス設定レジスタと、
計測終了アドレスが設定される終了アドレス設定レジスタと、
前記開始アドレス設定レジスタ及び前記終了アドレス設定レジスタと前記CPUのプログラムカウンタの値とを比較する比較手段とを備え、
前記オンチップデバッグ回路部は、前記比較手段による比較結果を前記イベントとすることを特徴とする請求項1ないし4の何れかに記載のマイクロコンピュータ。 - 前記CPUが割込み処理中であることを示す割込み処理信号を出力する割込み処理信号出力手段と、
前記割込み処理信号のレベルが変化するエッジを検出するエッジ検出手段とを備え、
前記オンチップデバッグ回路部は、前記エッジを前記イベントとして指定可能であることを特徴とする請求項1ないし5の何れかに記載のマイクロコンピュータ。 - 前記計測許可信号出力手段は、前記タイマによる計測動作を許可又は禁止する割込みレベルを設定する割込みレベル設定レジスタと、
前記CPUが実行している処理が、前記割込みレベル設定レジスタに設定された割込みレベル以上か、若しくは前記割込みレベル未満かを判定し、判定信号を出力する判定手段と、
前記判定信号のレベルが変化するエッジを検出するエッジ検出手段とを備え、
前記オンチップデバッグ回路部は、前記エッジを前記イベントとして指定可能であることを特徴とする請求項1ないし6の何れかに記載のマイクロコンピュータ。 - 上位レベルの割込み処理中に発生した下位レベルの割込み処理を保留していることを示す割込み保留信号を出力する割込み保留信号出力手段と、
前記割込み保留信号のレベルが変化するエッジを検出するエッジ検出手段とを備え、
前記オンチップデバッグ回路部は、前記エッジを前記イベントとして指定可能であることを特徴とする請求項1ないし7の何れかに記載のマイクロコンピュータ。 - 前記CPUに対する割込みが禁止されている期間にアクティブとなる割込み禁止信号を出力する割込み禁止信号出力手段と、
前記割込み禁止信号のレベルが変化するエッジを検出するエッジ検出手段とを備え、
前記オンチップデバッグ回路部は、前記エッジを前記イベントとして指定可能であることを特徴とする請求項1ないし8の何れかに記載のマイクロコンピュータ。 - 前記タイマによる計測結果の最大値を保持する最大値レジスタと、
前記タイマによる計測動作が終了すると、その時点の計測結果と前記最大値レジスタに保持されている最大値とを比較して、前者の値が大きければ前記計測結果を前記最大値レジスタに書き込んで更新する最大値更新手段とを備えたことを特徴とする請求項1ないし9の何れかに記載のマイクロコンピュータ。 - 前記タイマによる計測結果の最小値を保持する最小値レジスタと、
前記タイマによる計測動作が終了すると、その時点の計測結果と前記最小値レジスタに保持されている最小値とを比較して、前者の値が小さければ前記計測結果を前記最小値レジスタに書き込んで更新する最小値更新手段とを備えたことを特徴とする請求項1ないし10の何れかに記載のマイクロコンピュータ。 - 前記タイマによる計測動作の実行回数をカウントする計測回数カウンタと、
前記タイマによる計測動作の終了時に、当該タイマによる計測結果を累積して保持する累積値レジスタとを備えたことを特徴とする請求項1ないし11の何れかに記載のマイクロコンピュータ。 - システムクロック信号を生成出力するクロック信号出力回路を備え、
前記CPUに対する前記システムクロック信号の供給を停止することで低消費電力モードに移行可能であると共に、
前記オンチップデバッグ回路部の機能を有効化させた状態では、前記低消費電力モードに移行している期間においても、前記オンチップデバッグ回路部に前記システムクロック信号を供給するように構成されていることを特徴とする請求項1ないし12の何れかに記載のマイクロコンピュータ。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011225842A JP5310819B2 (ja) | 2010-11-29 | 2011-10-13 | マイクロコンピュータ |
DE102011086991A DE102011086991A1 (de) | 2010-11-29 | 2011-11-24 | Mikrocomputer |
US13/305,133 US8700956B2 (en) | 2010-11-29 | 2011-11-28 | Microcomputer |
GB1120523.4A GB2485913A (en) | 2010-11-29 | 2011-11-29 | Measuring time between two events in a data processing system |
CN201110386242.5A CN102591758B (zh) | 2010-11-29 | 2011-11-29 | 微计算机 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010265014 | 2010-11-29 | ||
JP2010265014 | 2010-11-29 | ||
JP2011225842A JP5310819B2 (ja) | 2010-11-29 | 2011-10-13 | マイクロコンピュータ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012133752A JP2012133752A (ja) | 2012-07-12 |
JP5310819B2 true JP5310819B2 (ja) | 2013-10-09 |
Family
ID=45508886
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011225842A Expired - Fee Related JP5310819B2 (ja) | 2010-11-29 | 2011-10-13 | マイクロコンピュータ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8700956B2 (ja) |
JP (1) | JP5310819B2 (ja) |
CN (1) | CN102591758B (ja) |
DE (1) | DE102011086991A1 (ja) |
GB (1) | GB2485913A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104995605B (zh) * | 2013-08-07 | 2018-07-10 | 富士电机株式会社 | 监视方法和计算机装置 |
US9489287B2 (en) * | 2013-08-23 | 2016-11-08 | Atmel Corporation | Breaking code execution based on time consumption |
JP6264662B2 (ja) * | 2015-01-08 | 2018-01-24 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 集積回路 |
JP2018045419A (ja) * | 2016-09-14 | 2018-03-22 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | デバッグシステム、マイクロコンピュータ及びその方法 |
Family Cites Families (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4511961A (en) * | 1982-04-16 | 1985-04-16 | Ncr Corporation | Apparatus for measuring program execution |
US5103394A (en) * | 1984-04-30 | 1992-04-07 | Hewlett-Packard Company | Software performance analyzer |
US4845615A (en) * | 1984-04-30 | 1989-07-04 | Hewlett-Packard Company | Software performance analyzer |
JPS62239247A (ja) * | 1986-04-10 | 1987-10-20 | Mitsubishi Electric Corp | 電子計算機 |
JP2595718B2 (ja) | 1989-06-15 | 1997-04-02 | 横河電機株式会社 | インサーキットエミュレータ |
JP2834194B2 (ja) * | 1989-07-14 | 1998-12-09 | 株式会社日立製作所 | ハードウエアモニタ |
JPH03118644A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-21 | Nippondenso Co Ltd | プログラム実行モニタ |
JPH0451332A (ja) | 1990-06-20 | 1992-02-19 | Oki Electric Ind Co Ltd | プロセス/タスク実行時間測定回路 |
JPH04349543A (ja) | 1991-05-28 | 1992-12-04 | Nec Corp | プログラム処理時間の測定方式 |
JPH05298138A (ja) * | 1992-04-20 | 1993-11-12 | Hitachi Ltd | デバッグ支援回路、及びエミュレータ |
JPH07281964A (ja) * | 1994-04-13 | 1995-10-27 | Sekisui Chem Co Ltd | パラレルデータ検査装置 |
JPH09305412A (ja) * | 1996-05-16 | 1997-11-28 | Mitsubishi Electric Corp | 最大割り込み禁止期間測定機能を有するマイクロコンピュータ |
JPH10228386A (ja) * | 1997-02-13 | 1998-08-25 | Nec Corp | プロセスイベント待ち時間測定方式 |
US6185732B1 (en) | 1997-04-08 | 2001-02-06 | Advanced Micro Devices, Inc. | Software debug port for a microprocessor |
US6154857A (en) * | 1997-04-08 | 2000-11-28 | Advanced Micro Devices, Inc. | Microprocessor-based device incorporating a cache for capturing software performance profiling data |
US6094729A (en) | 1997-04-08 | 2000-07-25 | Advanced Micro Devices, Inc. | Debug interface including a compact trace record storage |
US5978902A (en) | 1997-04-08 | 1999-11-02 | Advanced Micro Devices, Inc. | Debug interface including operating system access of a serial/parallel debug port |
US6154856A (en) * | 1997-04-08 | 2000-11-28 | Advanced Micro Devices, Inc. | Debug interface including state machines for timing synchronization and communication |
US6142683A (en) | 1997-04-08 | 2000-11-07 | Advanced Micro Devices, Inc. | Debug interface including data steering between a processor, an input/output port, and a trace logic |
US6148381A (en) | 1997-04-08 | 2000-11-14 | Advanced Micro Devices, Inc. | Single-port trace buffer architecture with overflow reduction |
US6009270A (en) | 1997-04-08 | 1999-12-28 | Advanced Micro Devices, Inc. | Trace synchronization in a processor |
US6189140B1 (en) | 1997-04-08 | 2001-02-13 | Advanced Micro Devices, Inc. | Debug interface including logic generating handshake signals between a processor, an input/output port, and a trace logic |
US6167536A (en) | 1997-04-08 | 2000-12-26 | Advanced Micro Devices, Inc. | Trace cache for a microprocessor-based device |
US6041406A (en) | 1997-04-08 | 2000-03-21 | Advanced Micro Devices, Inc. | Parallel and serial debug port on a processor |
US6314530B1 (en) | 1997-04-08 | 2001-11-06 | Advanced Micro Devices, Inc. | Processor having a trace access instruction to access on-chip trace memory |
JPH1115704A (ja) * | 1997-06-19 | 1999-01-22 | Mitsubishi Electric Corp | エミュレーション制御方法およびエミュレータ装置 |
JPH1165897A (ja) * | 1997-08-19 | 1999-03-09 | Nec Corp | デバッガ内蔵マイクロプロセッサ |
JP3133730B2 (ja) * | 1998-11-13 | 2001-02-13 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | 割り込み方法及び回路 |
JP4338811B2 (ja) * | 1999-03-19 | 2009-10-07 | Necエンジニアリング株式会社 | 処理時間計測装置および処理時間計測方法 |
JP2001297012A (ja) * | 2000-04-11 | 2001-10-26 | Hitachi Ltd | マイクロプロセッサ及びエミュレータ |
JP4298224B2 (ja) | 2001-06-07 | 2009-07-15 | キヤノン株式会社 | 記録装置及び該装置の制御方法 |
CN100381014C (zh) * | 2002-08-09 | 2008-04-09 | 松下电器产业株式会社 | 遥控接收*** |
JP2005100017A (ja) * | 2003-09-24 | 2005-04-14 | Seiko Epson Corp | プロセッサシミュレータおよび割込遅延カウントプログラム、並びにプロセッサのシミュレート方法 |
US7895382B2 (en) * | 2004-01-14 | 2011-02-22 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for qualifying collection of performance monitoring events by types of interrupt when interrupt occurs |
JP4410661B2 (ja) * | 2004-11-09 | 2010-02-03 | 株式会社日立製作所 | 分散制御システム |
JP2006293427A (ja) * | 2005-04-05 | 2006-10-26 | Renesas Technology Corp | ソフトウェア評価装置及びシステム |
CN100419709C (zh) | 2005-09-30 | 2008-09-17 | 联想(北京)有限公司 | 一种计算机***及统计累积使用时间的方法 |
JP2008310748A (ja) | 2007-06-18 | 2008-12-25 | Honda Motor Co Ltd | タスク実行時間記録装置、タスク実行時間記録方法、及びタスク実行時間記録用プログラム |
JP4383494B1 (ja) * | 2008-09-11 | 2009-12-16 | Necエレクトロニクス株式会社 | データ処理システム及びデバッグ方法 |
-
2011
- 2011-10-13 JP JP2011225842A patent/JP5310819B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2011-11-24 DE DE102011086991A patent/DE102011086991A1/de not_active Withdrawn
- 2011-11-28 US US13/305,133 patent/US8700956B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2011-11-29 GB GB1120523.4A patent/GB2485913A/en not_active Withdrawn
- 2011-11-29 CN CN201110386242.5A patent/CN102591758B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2485913A (en) | 2012-05-30 |
CN102591758A (zh) | 2012-07-18 |
GB201120523D0 (en) | 2012-01-11 |
US20120137176A1 (en) | 2012-05-31 |
DE102011086991A1 (de) | 2012-07-19 |
US8700956B2 (en) | 2014-04-15 |
CN102591758B (zh) | 2015-01-28 |
JP2012133752A (ja) | 2012-07-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8937496B1 (en) | Clock monitor | |
US8799713B2 (en) | Interruptible non-destructive run-time built-in self-test for field testing | |
KR101526051B1 (ko) | 열적 제어 장치 및 방법론 | |
US6839654B2 (en) | Debug interface for an event timer apparatus | |
US9157959B2 (en) | Semiconductor device | |
JP5310819B2 (ja) | マイクロコンピュータ | |
KR20150008447A (ko) | 인터럽트 상태에 기초한 구성 가능한 브레이크포인트를 갖는 디바이스 | |
US8185772B2 (en) | Determining execution times of commands | |
US9887701B1 (en) | Frequency offset correction precision of real-time clocks | |
US10176076B2 (en) | Breaking code execution based on time consumption | |
JP4454772B2 (ja) | 通信バスの異常検出装置とマイクロコンピュータ | |
EP2735970B1 (en) | Dynamic library profiling method | |
US9495239B1 (en) | User-configurable error handling | |
JP2012222192A (ja) | 半導体集積回路及び誤動作防止方法 | |
US20160103704A1 (en) | Data processing device and method of controlling the same | |
US10288496B1 (en) | Ring oscillator for temperature or voltage sensing | |
US9600422B2 (en) | Monitoring accesses to memory in a multiprocessor system | |
CN101403989B (zh) | 半导体集成电路 | |
JP5987723B2 (ja) | 通信用スレーブ | |
US20130047003A1 (en) | Estimating Power Consumption of an Application | |
JP4647276B2 (ja) | 半導体回路装置 | |
JP2010092278A (ja) | マイクロコンピュータ | |
JP2014119779A (ja) | 半導体装置及びそのデバッグ制御方法 | |
JP7083728B2 (ja) | 自己診断装置、半導体装置及び自己診断方法 | |
CN118258514A (zh) | 温度监控方法及装置、电子设备与存储介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121211 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121225 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130218 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130312 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130419 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130604 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130617 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5310819 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |