JP5288082B1 - 発光モジュール - Google Patents

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Abstract

照明装置は、直列接続された複数の発光モジュール(100)と、定電流源(300)と、複数の発光モジュール(100)の少なくとも1つに短絡故障が発生したことを検出するための異常検出回路(200)とを備える。発光モジュール(100)は、有機ELパネル(10)と、有機ELパネル(10)のアノードおよびカソード間に発生する電位差が閾値以上であるときに、定電圧を出力するように構成された閾値検出回路(60)と、閾値検出回路(60)の定電圧出力を定電流に変換して出力するVI変換回路(70)とを含む。異常検出回路(200)は、発光モジュール(100)ごとの定電流出力の合計値に基づいて、複数の発光モジュール(100)の短絡故障を検出する。

Description

この発明は、照明装置および発光モジュールに関し、より特定的には、複数の発光モジュールを直列接続して構成した照明装置で発生した短絡故障を検出する技術に関する。
従来より、発光ダイオード(LED:Light Emitting Diode)を光源として利用した照明装置が広く普及している。たとえば、特開2006−210272号公報(特許文献1)は、LED光源と、LED光源を点灯させるLED駆動装置とを備えた照明装置を開示する。この特許文献1に記載される照明装置においては、LED光源は、複数のLEDを直列接続して形成される。そして、このLED光源に流す電流を一定に制御することにより、各LEDの明るさを一定に保っている。
また、近年では、有機EL(Electro Luminescence)パネルを光源として利用した照明装置が多数提案されている。有機ELパネルは面発光素子であるため、発光面の面積が大きいほど、照明装置が発生する光の量を大きくすることができる。その一方で、有機ELパネルの基板を大型化することは、製造装置の大型化や歩留まりの悪化などの不具合を招いてしまう虞がある。そのため、製造が容易に行なうことができる大きさの有機ELパネルを複数個並べることによって、発光面を大型化させる構成が採用されている。この構成においては、上記のLED光源を用いた照明装置と同様、複数の有機ELパネルを直列接続するとともに、該複数の有機ELパネルに所定の電流を流すことによって、一定の明るさを確保している。
ここで、直列接続された複数の発光素子からなる照明装置においては、複数の発光素子のいずれかに短絡故障(ショート)が発生した場合には、短絡故障した部分が局所的に発熱することにより、照明装置を損傷させる虞がある。したがって、発光素子の短絡故障を検出し、複数の発光素子の駆動を停止させる必要がある。
複数の発光素子の短絡故障を検出するための構成として、上記の特許文献1に記載される照明装置は、複数のLEDを、各々が直列接続された3つのLEDからなるLED群に分割し、LED群ごとに電圧を検出する電圧検出部と、当該電圧検出手部の検出電圧値に基づいてLED光源の異常を検出する異常検出部とを備えている。異常検出部は、各電圧検出部で検出した電圧に基づいて、各LED群の順方向電圧を演算する。そして、この順方向電圧と異常検出用の閾値とを比較し、順方向電圧が閾値を下回ったときに、該当するLED群において少なくとも1つのLEDが短絡故障していると判断する。
特開2006−210272号公報
しかしながら、上記の特許文献1に記載される構成では、検出精度を確保するためには、LED群を構成するLEDの個数を制限する必要がある。これは、同じ電流値で使用する場合であっても、個々のLEDによって順方向電圧にばらつきが生じることに基づいている。
詳細には、たとえばLEDの順方向電圧がVL〜VHの範囲(電圧幅ΔV=VH−VL)でばらつくとした場合、n(n>1)個のLEDを直列接続してなるLED群においては、いずれのLEDも短絡故障していないときの順方向電圧VBは、n×VL<VB<n×VHの範囲内の値となる。一方、少なくとも1つのLEDが短絡故障しているときの順方向電圧VBの最大値は、(n−1)×VHとなる。したがって、順方向電圧VBと異常検出用の閾値VSとの比較に基づいてLEDの短絡故障を精度良く検出するためには、閾値VSを、(n−1)×VH<VS<n×VLとなるように設定する必要がある。そのためには、(n−1)×VH<n×VLを満たすことが必要となり、その結果、LED群を構成するLEDの個数nの最大値はn<VH/dVに制限されることとなる。
上記のように、LED群の順方向電圧と閾値との比較に基づいてLEDの短絡故障を検出する構成では、LEDの順方向電圧のばらつきに起因してLED群を構成するLEDの個数が制限される。そのため、照明装置の大型化によってLED群の個数が増えるに従って、各LED群と異常検出部とを結ぶ配線数が増加してしまい、回路構成が複雑化するという問題が発生する。
それゆえ、この発明は、かかる課題を解決するためになされたものであり、その目的は、簡易な回路構成で、直列接続された複数の発光素子からなる照明装置で発生した短絡故障を精度良く検出することである。
この発明のある局面に従えば、発光モジュールは、供給される電流に応じて発光する発光素子と、発光素子のアノードおよびカソード間に発生する電位差が予め定められた閾値以上であるときに、定電圧を出力するように構成された閾値検出回路と、閾値検出回路の定電圧出力を定電流に変換して出力する電圧電流変換回路とを備える。閾値検出回路は、ツェナーダイオードおよび抵抗からなる直列回路を、発光素子に並列に接続して構成される。ツェナーダイオードは、電位差が閾値以上となったときに降伏することにより、ツェナーダイオードおよび抵抗素子の接続端子に定電圧を出力する。電圧電流変換回路は、発光素子のアノードと電流出力端子との間に接続され、かつ、制御端子が接続端子に接続されるトランジスタを含む
この発明によれば、簡易な回路構成で、直列接続された複数の発光素子からなる照明装置で発生した短絡故障を精度良く検出することができる。
本発明の実施の形態1に従う照明装置に適用される発光モジュールの断面図である。 本発明の実施の形態1に従う発光モジュールの概略構成図である。 図2に示す発光モジュールを用いて構成した照明装置の概略構成図である。 図2に示した発光モジュールの回路構成図である。 閾値検出回路およびVI変換回路の動作を説明する図である。 本発明の実施の形態2に従う発光モジュールの回路構成図である。 実施の形態2によるVI変換回路における順方向電圧Vfと電流Icとの関係を示す図である。 本発明の実施の形態3に従う発光モジュールの回路構成図である。 図8に示す発光モジュールを用いて構成された照明装置の概略構成図である。 本発明の実施の形態4に従う発光モジュールの回路構成図である。 図10に示す発光モジュールを用いて構成された照明装置の概略構成図である。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明を繰返さない。
[実施の形態1]
図1は、本発明の実施の形態1に従う照明装置に適用される発光モジュール100の断面図である。
図1を参照して、発光モジュール100は、発光素子である有機EL(Organic Electroluminescence)パネル10と、有機ELパネル10を保持するための筐体30と、有機ELパネル10に給電するための給電部などが搭載された回路基板40とを備える。
有機ELパネル10は、透明基板20と、陽極(アノード)12と、有機層14と、陰極(カソード)16と、封止基板22と、接着剤層24とを含む。陽極12、有機層14および陰極16は、透明基板20の上に順次積層される。封止基板22は、陽極12、有機層14および陰極16を覆うように設けられる。
透明基板20は、発光面としての表面を構成し、代表的には、ガラス基板が適用される。あるいは、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリカーポネート(PC)等からなる透明樹脂基板によって、透明基板20を構成してもよい。
陽極12は、透明性を有する導電膜である。陽極12を形成するためには、スパッタリング法などによって、ITO(Indium Tin Oxide:インジウム錫酸化物)等が透明基板20上に成膜される。そして、フォトリソグラフィ法等によりITO膜が所定の形状にパターニングされることによって、陽極12が形成される。
有機層14は、電力が供給されることによって光(可視光)を生成する。有機層14は、単層の発光層から構成されていてもよく、正孔輸送層、発光層、正孔阻止層、および電子輸送層などが順次積層されることによって構成されていてもよい。
陰極16は、たとえばアルミニウムである。陰極16は、真空蒸着法等によって有機層14を覆うように形成される。陰極16を所定の形状にパターニングするために、真空蒸着の際にはマスクが用いられるとよい。
封止基板22は、絶縁性を有する。封止基板22は、有機層14を水分等から保護するために形成される。封止基板22の表面に、有機ELパネル10としての裏面が形成される。封止基板22は、たとえばガラス基板を用いて、周囲にエポキシ系の光硬化型の接着剤層24で接着させることによって形成される。
有機ELパネル10においては、陽極12から陰極16に向けて電圧(順方向電圧)が印加されると、陽極12から有機層14へ正孔が注入され、陰極16から有機層14へ電子が注入されて、有機層14の発光体が励起されることにより発光する。有機層14において生成された光は、透明基板20側(表面)から外部に取り出される。
有機ELパネル10の裏面には、回路基板40が設けられる。回路基板40には、陽極12および陰極16の間に電圧を印加するための電源端子(図示せず)が設けられる。陽極12および陰極16はそれぞれ、封止基板22から引き出され、この引き出し部分が接続電極32を介して電源端子と電気的に接続される。
さらに回路基板40には、図2で説明するように、有機ELパネル10で発生した短絡故障を検出するための回路が設けられる。
図2は、本発明の実施の形態1に従う発光モジュール100の概略構成図である。
図2を参照して、発光モジュール100は、有機ELパネル10と、閾値検出回路60と、VI変換回路70とを備える。閾値検出回路60およびVI変換回路70は、有機ELパネル10の状態(正常状態または異常状態)に応じた電流を発生する電流発生回路を構成する。
閾値検出回路60は、有機ELパネル10の陽極と陰極との間に接続される。有機ELパネル10が発光状態のときには、有機ELパネル10の陽極の電圧をV1とし、有機ELパネル10の陰極の電圧をV2とすると、陽極および陰極の間に順方向電圧Vf=V1−V2が発生する。
閾値検出回路60は、有機ELパネル10の順方向電圧Vfの閾値Vthを発生する回路を含む。閾値検出回路60は、順方向電圧Vfと閾値Vthとを比較し、比較結果として電圧VAを出力する。具体的には、有機ELパネル10の順方向電圧Vfが閾値Vthを超える場合(Vf>Vth)には、閾値検出回路60は、陽極の電圧V1と閾値Vthとの電圧差に等しい電圧VA(=V1−Vth)を出力する。これに対して、順方向電圧Vfが閾値Vth以下となる場合(Vf≦Vth)には、閾値検出回路60は、電圧VA=0を出力する。したがって、有機ELパネル10に短絡故障が発生した場合には、順方向電圧Vf=0となるため、閾値検出回路60からは電圧VA=0が出力される。
なお、順方向電圧Vfには、有機ELパネル10に供給される電流値、有機ELパネル10の温度および劣化度合い等に依存したばらつきが存在する。そのため、順方向電圧Vfは、電圧範囲(たとえば3V〜5Vとする)を有する。したがって、有機ELパネル10が短絡故障しているか否かを判別するためには、閾値検出回路60における閾値Vthを、この電圧範囲よりも小さい値(たとえば0V<Vth<3V)にすればよい。
このような構成とすることにより、有機ELパネル10が短絡故障していない、すなわち、正常状態である場合には、閾値検出回路60は、定電圧(VA=V1−Vth)を出力する。一方、有機ELパネル10が短絡故障している、すなわち、異常状態である場合には、閾値検出回路60は、電圧VA=0を出力する。
VI変換回路70は、有機ELパネル10の陽極の電圧V1を電源とし、閾値検出回路60の出力電圧VAを入力とする。VI変換回路70は、閾値検出回路60の出力電圧VAを電流Icに変換して出力する。具体的には、VI変換回路70は、定電圧(VA=V1−Vth)を受けたときには、この定電圧を定電流Ic=Ic1に変換して出力する。一方、電圧VA=0を受けたときには、この零電圧を電流Ic=0に変換して出力する。
VI変換回路70から出力された電流Icは、回路基板40(図1)に設けられた複数の端子P3〜P6のうちの電流出力用の端子(以下、電流端子ともいう)P6から発光モジュール100の外部へ出力することができる。なお、端子P3,P4は、有機ELパネル10の陽極および陰極にそれぞれ接続されており、有機ELパネル10に順方向電圧を印加するための電源端子を構成する。また、端子P5は、複数の発光モジュール100が直列接続された場合(図3参照)において、隣り合う発光モジュール100の電流端子P6と接続されることにより、当該電流端子P6から電流Icを受ける端子を構成する。電流端子P5と電流端子P6との間には、電流Icを流すための電流線80が配設される。
以上に説明したように、本発明の実施の形態1による発光モジュール100は、有機ELパネル10が正常状態であるときには定電流Ic=Ic1を出力する一方で、有機ELパネル10が短絡故障しているときには電流Ic=0を出力するように構成される。したがって、この電流Icを検出することにより、有機ELパネル10に短絡故障が生じているか否かを判定することができる。
図3は、図2に示す発光モジュール100を用いて構成した照明装置の概略構成図である。
図3を参照して、照明装置は、直列接続された複数の発光モジュール100と、定電流源300と、異常検出回路200と、検出抵抗210とを備える。図3では、一例として、照明装置は、3個の発光モジュール100を含む。なお、発光モジュール100の個数は3個に限定されない。照明装置に要求される明るさなどに応じて、2個以上の発光モジュール100を搭載する構成を採用することができる。
複数の発光モジュール100は、各々の電源端子P3を隣り合う発光モジュール100の電源端子P4に配線によって連結することにより、直列に接続される。図3の最上段に示される発光モジュール100の電源端子P3には、定電流源300が接続される。また、図3の最下段に示される発光モジュール100の電源端子P4には、接地電圧が接続される。これにより、定電流源300から供給される定電流は、複数の発光モジュール100の有機ELパネル10を通じて接地電圧に向かって流れる。各発光モジュール100では、有機ELパネル10が電流の供給を受けて発光する。
さらに複数の発光モジュール100は、各々の電流端子P6が隣り合う発光モジュール100の電流端子P5と配線によって連結される。そして、図3の最下段に示される発光モジュール100の電流端子P6と接地電圧との間には、検出抵抗210が接続される。
異常検出回路200は、検出抵抗210に発生する電圧を検出する。異常検出回路200は、検出した電圧に基づいて、複数の発光モジュール100のいずれかに短絡故障が発生しているか否かを判断する。複数の発光モジュール100のいずれかに短絡故障が発生していると判断された場合、異常検出回路200は、定電流源300からの電流供給を停止するための制御信号を生成して定電流源300に出力する。
ここで、図2で説明したように、発光モジュール100は、内蔵する有機ELパネル10が正常状態である場合には、定電流Ic=Ic1を出力する。したがって、図3に示す3個の有機ELパネル10が全て正常であれば、最下段の発光モジュール100の電流端子P6からは、各発光モジュール100から出力される定電流Ic=Ic1を合計した電流(すなわち、3×Ic1)が出力される。この出力電流3×Ic1が検出抵抗210を流れることにより、検出抵抗210の両端には電位差(3×Ic1×R)が発生する。なお、Rは検出抵抗210の抵抗値である。異常検出回路200は、検出抵抗210に発生した電位差を検出する。図3の場合、検出した電位差が(3×Ic1×R)であれば、異常検出回路200は、3個の発光モジュール100の有機ELパネル10が全て正常であると判断する。
これに対して、3個の有機ELパネル10のうちのいずれか1つに短絡故障が発生したときには、この短絡故障した有機ELパネル10を含む発光モジュール100からは電流Ic=0が出力される。したがって、図3の最下段の発光モジュール100の電流端子P6から出力される電流は、正常な2個の発光モジュール100から出力される定電流Ic=Ic1を合計した電流(すなわち、2×Ic1)となる。そして、検出抵抗210には電位差(2×Ic1×R)が発生する。異常検出回路200は、検出した電位差(2×Ic1×R)に基づいて、3個の発光モジュール100のいずれか1つが異常であると判断する。この場合、異常検出回路200は、電流供給を停止するように定電流源300を制御する。
このように異常検出回路200は、各発光モジュール100からの出力電流Icの合計値を検出抵抗210によって電圧に変換し、この変換した電圧に基づいて複数の発光モジュール100の少なくとも1つが異常であるか否かを判断する。たとえば照明装置がn(nは2以上の自然数)個の発光モジュール100から構成される場合には、異常検出回路200は、このn個の発光モジュール100の少なくとも1つが異常であるか否かを判断するための判定値を(n×Ic1×R)に設定する。そして、検出抵抗210に発生した電位差がこの判定値(n×Ic1×R)を下回る場合には、n個の発光モジュール100のうちの少なくとも1つが異常であると判断する。
なお、n個の発光モジュール100のうちの1個が異常である場合には、検出抵抗210に発生する電位差は(n−1)×Ic1×Rとなる。すなわち、n個の発光モジュール100のうちの1個が異常であることによって、検出抵抗210に発生する電位差はIc1×Rだけ低下する。この電圧低下分Ic1×Rを正確に検出するためには、異常検出回路200のダイナミックレンジをn:1にすればよい。たとえば異常検出回路200を8ビットのAD(Analogue to Digital)コンバータで構成した場合には、n=256となり、256個の発光モジュール100から構成される照明装置に対して適用することが可能となる。
従来の照明装置においては、発光素子の順方向電圧のばらつきによる検出精度の低下を回避する観点から、直列接続できる発光モジュールの個数を制限する必要があった。これに対して、本発明の実施の形態1によれば、発光モジュール100は、有機ELパネル10が正常であるか否かに応じて2値(Ic1または0)の電流Icを出力するように構成されるため、順方向電圧のばらつきの影響を受けることなく、照明装置を構成する複数の発光モジュール100の異常を精度良く検出することが可能となる。
さらに、本発明の実施の形態1によれば、隣り合う発光モジュール100の電流端子P5,P6を連結することにより、各発光モジュール100から出力される電流Icを、1本の配線にまとめて検出抵抗210に入力することができる。その結果、異常検出精度の高い照明装置を、少ない配線数で構築することができる。
(発光モジュールの回路構成)
以下、閾値検出回路60およびVI変換回路70の具体的な回路構成および動作について説明する。
図4は、図2に示した発光モジュール100の回路構成図である。
図4を参照して、閾値検出回路60は、ツェナーダイオードZDおよび抵抗R1からなる直列回路を、有機ELパネル10に並列に接続して構成される。ツェナーダイオードZDは、陰極が有機ELパネル10の陽極に接続され、陽極が抵抗R1に接続される。ツェナーダイオードZDおよび抵抗R1の接続端子は、閾値検出回路60の出力端子(図中のノードNAに相当)を構成する。
VI変換回路70は、PNPトランジスタTr1と、抵抗R2とを含む。PNPトランジスタTr1は、エミッタが抵抗R2を介して有機ELパネル10の陽極に接続され、コレクタが電流線80を介して電流端子P6に接続され、かつ、ベースが閾値検出回路60の出力端子(ノードNA)に接続される。
有機ELパネル10に印加する順方向電圧Vfを大きくしていくと、ツェナーダイオードZDに加わる逆方向電圧が増加する。逆方向電圧が降伏電圧を超えると、ツェナーダイオードZDの陰極から陽極へ流れる電流(逆方向電流)が急激に増加する。降伏現象が起きると、ツェナーダイオードZDの電圧は、逆方向電流の大きさとは無関係に一定値(降伏電圧)をとる。
本実施の形態1では、ツェナーダイオードZDは、閾値Vthを降伏電圧とする。したがって、ツェナーダイオードZDの電圧は、逆方向電流が変化してもほとんど一定(閾値Vth)となる。これにより、閾値検出回路60の出力端子(ノードNA)には、定電圧(VA=V1−Vth)が出力される。
図5を用いて、閾値検出回路60およびVI変換回路70の動作を詳細に説明する。
図5(a)は、有機ELパネル10に加わる順方向電圧Vfと、出力端子(ノードNA)および有機ELパネル10の陰極間の電圧(VA−V2)との関係を示す図である。図5(a)を参照して、順方向電圧Vfが閾値Vthよりも低いときには、ツェナーダイオードZDには電流が流れないため、電圧VA−V2=0となる。そして、順方向電圧Vfが閾値Vthに到達すると、ツェナーダイオードZDが降伏して逆方向電流が流れるため、電圧(VA−V2)は、抵抗R1における電圧降下と等しくなる。すなわち、電圧(VA−V2)は、逆方向電流が増加するに従って大きくなる。
VI変換回路70においては、順方向電圧Vfと電流Icとの間に、図5(b)に示すような関係が生じる。PNPトランジスタTr1のベース−エミッタ間には、電圧(V1−VA)が印加される。PNPトランジスタTr1がオンすると、コレクタ電流が流れる。このコレクタ電流がVI変換回路70の出力電流Icとなる。
図5(b)を参照して、順方向電圧Vfが閾値Vthよりも低いときには、電圧VA=V2となるため、PNPトランジスタTr1のベース−エミッタ間電圧VBEは順方向電圧Vfと等しくなる(VBE=Vf)。
ここで、PNPトランジスタTr1がオンするときのベース−エミッタ間電圧VBEをVxとすると、順方向電圧Vfが電圧Vxよりも低いときには、PNPトランジスタTr1がオンされないため、電流Icは流れず、Ic=0となる。なお、電圧Vxは閾値Vthよりも低く、たとえば約0.6Vである。
そして、順方向電圧Vfが電圧Vxを超えると、PNPトランジスタTr1がオンされ、コレクタ電流Icが流れる。コレクタ電流Icは、順方向電圧Vfが増加するに従って増加する。
さらに、順方向電圧Vfが閾値Vthに達すると、ツェナーダイオードZDが降伏することにより、ツェナーダイオードZDの電圧(V1−VA)が閾値Vthに固定される。これにより、ベース−エミッタ間電圧VBEも閾値Vthに固定されるため、コレクタ電流Icも一定値となる。このときのコレクタ電流Icは、式(1)で表わすことができる。
Ic=(V1−VA−Vx)/R2=(Vth−Vx)/R2 ・・・(1)
式(1)中のR2は抵抗R2の抵抗値を示す。すなわち、抵抗R2の抵抗値を調整することにより、電流Icの値を調整することができる。たとえば、閾値Vth=3Vおよび電圧Vx=0.6Vとしたときに、電流Ic=0.1mAとするためには、抵抗R2の抵抗値を24kΩとすればよい。
ここで、図4に示す発光モジュール100を10個直列に接続することによって、図3に示すような照明装置を構成した場合を考える。1個の発光モジュール100における順方向電圧Vfの電圧範囲を3V〜5Vとすると、照明装置における最上段の発光モジュール100の電源端子P3の電圧V1は、30V〜50Vの電圧範囲を有することとなる。そして、10個の発光モジュール100のうちの1個に短絡故障が生じると、電源端子P3の電圧V1の電圧範囲は、27V〜45Vに変化する。
10個の発光モジュール100が全て正常であるときの電圧範囲30V〜50Vと、10個の発光モジュール100のうちの1個が異常であるときの電圧範囲27V〜45Vとでは、電圧範囲の一部が重複する。したがって、電源端子P3の電圧V1の大きさに基づいて、照明装置を構成する複数の発光モジュール100が正常であるか否かを見分けることは不可能である。なお、上記の例では、複数の発光モジュール100が正常であるときの電圧範囲と当該複数の発光モジュール100のうちの1個が異常であるときの電圧範囲とが重ならないようにするためには、直列接続される発光モジュール100の個数が最大2個に制限されてしまう。すなわち、2個の発光モジュール100ごとに異常検出回路200を設ける必要が生じるため、回路構成が大きくなるという問題が生じる。
これに対して、本実施の形態1によれば、正常である発光モジュール100からは定電流(たとえば電流Ic=0.1mA)が出力されるため、検出抵抗210(図3)の抵抗値を5kΩとすると、10個の発光モジュール100が全て正常である場合には、検出抵抗210には5V(=10個×0.1mA×5kΩ)の電圧が発生する。一方、10個の発光モジュール100のうちの1個が異常である場合には、検出抵抗210には4.5V(=9個×0.1mA×5kΩ)の電圧が発生する。したがって、異常検出回路200は、この検出抵抗210の電圧に基づいて、10個の発光モジュール100が正常であるか否かを容易に見分けることができる。
また、本実施の形態1によれば、閾値検出回路60およびVI変換回路70は、それぞれ、有機ELパネル10の陽極の電圧を電源として駆動する素子(ツェナーダイオードZD、PNPトランジスタTr1)を用いて構成されるため、各回路を駆動するための外部電源を必要としない。これにより、簡易な構成で発光モジュール100の異常を検出することができる。
[実施の形態2]
図6は、本発明の実施の形態2に従う発光モジュール110の回路構成図である。
図6を参照して、実施の形態2に従う発光モジュール110は、図4に示した実施の形態1による発光モジュール100と比較して、縦列接続された複数段のダイオードD1,D2をさらに備える。
複数段のダイオードD1,D2は、閾値検出回路60の出力端子(ノードNA)とPNPトランジスタTr1のベースとの間に接続される。複数段のダイオードD1,D2は、出力端子(ノードNA)とPNPトランジスタTr1のベースとの間に所定の電位差を発生させる機能を有する。したがって、縦列接続させるダイオードの段数は、発生させたい電位差に応じて調整することができる。
図4に示した実施の形態1による発光モジュール100では、PNPトランジスタTr1のVf−Ic特性上(図5(b)参照)、順方向電圧Vfが電圧Vxを超えると、順方向電圧Vfが閾値Vthに満たない場合でもコレクタ電流Icが流れてしまう(Ic>0)。有機ELパネル10が短絡故障している場合には、順方向電圧Vf=0となるため、コレクタ電流Icが流れるという事態は生じないが、有機ELパネル10が完全に短絡故障に至る前においては、順方向電圧Vf>0となる可能性がある。そして、順方向電圧Vfが電圧Vxを超えるとコレクタ電流Icが流れるため(Ic>0)、発光モジュール100が正常であると誤って判断してしまう虞がある。
本実施の形態2では、このような不具合を回避するために、複数段のダイオードD1,D2を用いて、閾値検出回路60の出力端子とPNPトランジスタTr1のベースとの間に電位差を発生させる。たとえばダイオード1個当たりの電圧を0.6Vとすると、図6では、約1.2Vの電位差を発生させることができる。
このような構成とすることにより、PNPトランジスタTr1がオンするときのベース−エミッタ間電圧VBEは、電圧Vxに複数段のダイオードD1,D2の電圧を上乗せ加算した値となる。図7に、実施の形態2によるVI変換回路70における順方向電圧Vfと電流Icとの関係を示す。図7を参照して、順方向電圧Vfが電圧Vx2(Vx2>Vx)を超えると、PNPトランジスタTr1がオンされ、コレクタ電流Icが流れる。この電圧Vx2は、電圧Vxに複数段のダイオードD1,D2の電圧を上乗せ加算した値に相当する。そして、順方向電圧Vfが閾値Vthに達すると、コレクタ電流Icは一定値となる。
図7中には、実施の形態1によるVI変換回路70における順方向電圧Vfと電流Icとの関係が破線で示されている。この破線で示す関係と本実施の形態3による関係とを比較すると、順方向電圧Vfが電圧Vx2を下回るときにはコレクタ電流Icが流れない(Ic=0)。これにより、コレクタ電流Icに基づいて、完全な短絡故障に至る前の状態を正常状態と誤って判断してしまうのを防止できる。
なお、図7における電圧Vx2は、縦列接続させるダイオードの段数によって調整可能である。したがって、電圧Vx2が閾値Vthに近づくようにダイオードの段数を調整することによって、完全な短絡故障に至る前の状態についても異常として検出することが可能となる。その結果、異常検出精度の向上を実現できる。
[実施の形態3]
図8は、本発明の実施の形態3に従う発光モジュール120の回路構成図である。
図8を参照して、実施の形態3による発光モジュール120は、図4に示した実施の形態1による発光モジュール100と比較して、端子P1,P2と、端子P1,P2間を結ぶ接続線90とをさらに備える。
発光モジュール120において、端子P1〜P6は、複数の発光モジュール120を直列に接続する際に、隣り合う発光モジュール120との電気的接続を確保するために設けられる。図9は、図8に示す発光モジュール120を用いて構成された照明装置の概略構成図である。
図9を参照して、照明装置は、複数(たとえば4個とする)の発光モジュール120と、複数の発光モジュール120に電流を供給するための駆動回路400とから構成される。図9では、複数の発光モジュール120の各々は、発光モジュール120を裏面から見た背面図で表わされている。すなわち、回路基板40(図1)と、回路基板40上に設けられた端子P1〜P6とが図示されている。
複数の発光モジュール120は、配線によって連結されることにより、直列に接続される。具体的には、隣り合う発光モジュール120の間において、一方の発光モジュール120の電源端子P3と他方の発光モジュール120の電源端子P4とが配線により連結される。最左側の発光モジュール120の電源端子P3は、駆動回路400内部の定電流源300に接続される。
また、一方の発光モジュール120の電流端子P6と他方の発光モジュール120の電流端子P5とは配線により連結される。これにより、各発光モジュール120内の電流線80が互いに接続される。最左側の発光モジュール120の電流端子P5は、駆動回路400内部の異常検出回路200に接続される。異常検出回路200は、電流端子P5と接地電圧との間に接続された検出抵抗210に発生する電圧を検出する。
さらに、一方の発光モジュール120の端子P1と他方の発光モジュール120の端子P2とは配線により連結される。これにより、各発光モジュール120内の接続線90が互いに接続される。そして、最右側の発光モジュール120においては、端子P2と電源端子P4とを渡すようにジャンパー線125が配設される。また、最左側の発光モジュール120においては、端子P1は接地電圧に接続される。
このような構成とすることにより、定電流源300から供給される定電流は、複数の発光モジュール120を流れると、各発光モジュール120では、有機ELパネル10が電流の供給を受けて発光する。そして、最右側の発光モジュール120の有機ELパネル10から出力された電流は、電源端子P4および端子P2間に配設されたジャンパー線125を経由して接続線90に戻される。そして、各発光モジュール120の接続線90を通じて駆動回路400に戻されると、接地電圧に向かって流れる。
本実施の形態3によれば、発光モジュール120に端子P1,P2および接続線90を設けるとともに、ジャンパー線125を配設したことによって、定電流源300と複数の発光モジュール120との間には、複数の有機ELパネル10に供給される電流のリターンパスを形成することができる。すなわち、各発光モジュール120の端子間を配線で連結することによって複数の発光モジュール120と駆動回路400とを接続できるため、照明装置の配線構成を簡略化することができる。
[実施の形態4]
図10は、本発明の実施の形態4に従う発光モジュール130の回路構成図である。
図10を参照して、実施の形態4による発光モジュール130は、図4に示した実施の形態1による発光モジュール100と比較して、NPNトランジスタTr2,Tr3と、抵抗R3〜R5と、端子P7〜P10とをさらに備える。
NPNトランジスタTr2は、ベースが抵抗R4を介してVI変換回路70の出力端子(図中のノードNB)に接続され、コレクタが抵抗R5を介して端子P7に接続され、エミッタが端子P10に接続される。VI変換回路70の出力端子(ノードNB)とNPNトランジスタTr2のエミッタとの間には抵抗R3が接続される。
なお、端子P7は、発光モジュール130の外部に設けられた電源回路230に接続されており、電源回路230から電源電圧が供給される外部電源端子を構成する。端子P8は、外部電源線82によって端子P7に接続されており、外部電源端子を構成する。
また、端子P10は接地電圧に接続されており、接地端子を構成する。端子P9は、接地線84によって端子P9に接続されており、接地端子を構成する。すなわち、NPNトランジスタTr2は、エミッタ接地されている。
NPNトランジスタTr3は、ベースが抵抗R5およびNPNトランジスタTr2の接続端子に接続され、コレクタが電流端子P6に接続され、エミッタが接地端子P10に接続される。すなわち、NPNトランジスタTr3は、コレクタが電流端子P6に接続され、かつエミッタが接地された態様(オープンコレクタ形式)で設けられている。
発光モジュール130の外部には、電源回路230、異常検出回路200およびプルアップ抵抗220が設けられる。電源回路230は、発光モジュール130の外部電源端子P7に電源電圧(たとえば+5Vとする)を供給する。発光モジュール130の電流端子P5は、プルアップ抵抗220を介して電源回路230および異常検出回路200に接続される。
先の実施の形態1で説明したように、発光モジュール130内部の有機ELパネル10が正常であるときには、VI変換回路70のPNPトランジスタTr1には定電流Ic=Ic1が流れる。一方、有機ELパネル10が短絡故障しているときには、PNPトランジスタTr1のコレクタ電流Ic=0となる。VI変換回路70から出力された電流Icを抵抗R3に流すことにより、電流Icは電圧に変換される。抵抗R4は、NPNトランジスタTr3のベースに入力される電流を制限するためのベース電流制限抵抗である。
電流Ic=Ic1のとき、すなわち、発光モジュール130が正常であるときには、抵抗R3により変換された電圧をベース−エミッタ間に受けてベース電流が流れることにより、NPNトランジスタTr3がオンする。NPNトランジスタTr3がオンすると、外部電源端子P7から接地端子P10に向かってコレクタ電流が流れる。このとき、NPNトランジスタTr3は、ベース電流が流れないためにオフされる。NPNトランジスタTr3がオフのときには、電流端子P5の電圧はプルアップ抵抗220により外部電源電圧(+5V)にプルアップされて異常検出回路200に入力される。
これに対して、電流Ic=0のとき、すなわち、発光モジュール130が異常であるときには、NPNトランジスタTr2にはベース電流が流れないため、オフされる。そして、NPNトランジスタTr2がオフされることにより、NPNトランジスタTr3には抵抗R5を介してベース電流が流れる。これにより、NPNトランジスタTr3がオンされる。NPNトランジスタTr3がオンされると、電流端子P5は接地電圧となる。したがって、異常検出回路200には、接地電圧が入力される。
以上に説明したように、本実施の形態4においては、発光モジュール130が正常である場合には、異常検出回路200には外部電源電圧(+5V)が入力される。その一方で、発光モジュール130が異常である場合には、異常検出回路200には接地電圧が入力される。異常検出回路200に入力される電圧は、マイクロコンピュータの入力ポートを直接的に接続できる電圧レベルになっている。そのため、異常検出回路200を簡易に構成することができる。
図11は、図10に示す発光モジュール130を用いて構成された照明装置の概略構成図である。
図11を参照して、照明装置は、複数(たとえば4個とする)の発光モジュール130と、複数の発光モジュール130に電流を供給するための駆動回路410とから構成される。図11では、複数の発光モジュール130の各々は、発光モジュール120を裏面から見た背面図で表わされている。すなわち、回路基板40(図1)と、回路基板40上に設けられた端子P1〜P10とが図示されている。
複数の発光モジュール130は、配線によって連結されることにより、直列に接続される。隣り合う発光モジュール130の端子P1〜P4は、図9に示した照明装置と同じ配線構成によって接続される。
さらに、一方の発光モジュール130の電流端子P5と他方の発光モジュール130の電流端子P6とは配線により連結される。最左側の発光モジュール130の電流端子P5は、駆動回路410内部のプルアップ抵抗220を介して電源回路230に接続されるとともに、異常検出回路200に接続される。異常検出回路200は、電流端子P5に生じる電圧を検出する。
また、一方の発光モジュール130の外部電源端子P7と他方の発光モジュール130の外部電源端子P8とは配線により連結される。これにより、各発光モジュール130内の外部電源線82が互いに接続される。そして、最左側の発光モジュール130においては、外部電源端子P7は電源回路230に接続される。
さらに、一方の発光モジュール130の接地端子P9と他方の発光モジュール130の接地端子P10とは配線により連結される。これにより、各発光モジュール130内の接地線84が互いに接続される。そして、最左側の発光モジュール130において、接地端子P9は接地電圧に接続される。
図11に示す照明装置においても、図9に示す照明装置と同様に、定電流源300から供給される定電流は、複数の発光モジュール130を流れると、最右側の発光モジュール130の電源端子P4および端子P2間に配設されたジャンパー線125を経由して接続線90に戻される。そして、各発光モジュール120の接続線90を通じて駆動回路410に戻されると、接地電圧に向かって流れる。
そして、複数の発光モジュール130が全て正常である場合には、最左側の発光モジュール130の電流端子P5は、プルアップ抵抗220により外部電源電圧(+5V)にプルアップされる。異常検出回路200は、電流端子P5の電圧に基づいて、複数の発光モジュール130が全て正常であると判断する。
これに対して、複数の発光モジュール130の少なくとも1つが異常である場合には、最左側の発光モジュール130の電流端子P5は接地電圧となる。異常検出回路200は、電流端子P5の電圧に基づいて、複数の発光モジュール130の少なくとも1つが異常であると判断する。
なお、上述の実施の形態1〜4では、本発明に係る照明装置および発光モジュールに適用される発光素子の代表例として有機ELパネルについて説明した。しかしながら、本発明の適用は有機ELパネルを用いた照明装置に限定されるものではない。具体的には、直列接続された複数の発光素子を備えていれば、本発明を適用可能である点について確認的に記載する。たとえば、LEDを用いた照明装置についても本発明は適用可能である。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
10 有機ELパネル、12 陽極、14 有機層、16 陰極、20 透明基板、22 封止基板、24 接着剤層、30 筐体、32 接続電極、40 回路基板、60 閾値検出回路、70 VI変換回路、80 電流線、82 外部電源線、84 接地線、90 接続線、100,110,120,130 発光モジュール、125 ジャンパー線、200 異常検出回路、210 検出抵抗、220 プルアップ抵抗、230 電源回路、300 定電流源、400,410 駆動回路、D1,D2 ダイオード、Tr1 PNPトランジスタ、Tr2,Tr3 NPNトランジスタ、ZD ツェナーダイオード。

Claims (5)

  1. 供給される電流に応じて発光する発光素子と、
    前記発光素子のアノードおよびカソード間に発生する電位差が予め定められた閾値以上であるときに、定電圧を出力するように構成された閾値検出回路と、
    前記閾値検出回路の定電圧出力を定電流に変換して出力する電圧電流変換回路とを備え、
    前記閾値検出回路は、ツェナーダイオードおよび抵抗からなる直列回路を、前記発光素子に並列に接続して構成され
    前記ツェナーダイオードは、前記電位差が前記閾値以上となったときに降伏することにより、前記ツェナーダイオードおよび前記抵抗素子の接続端子に前記定電圧を出力し
    前記電圧電流変換回路は、前記発光素子のアノードと電流出力端子との間に接続され、かつ、制御端子が前記接続端子に接続されるトランジスタを含む、発光モジュール。
  2. 前記トランジスタは、エミッタが前記発光素子のアノードに接続され、コレクタが前記電流出力端子に接続され、かつ、ベースが前記接続端子に接続されるPNPトランジスタであり、
    前記PNPトランジスタは、ベース−エミッタ間電圧が前記閾値以上であるときに前記電流出力端子に前記定電流を駆動する、請求項に記載の発光モジュール。
  3. 前記電圧電流変換回路は、前記接続端子から前記制御端子に向けて順方向電圧を印加するように接続されたダイオードをさらに含む、請求項に記載の発光モジュール。
  4. 電源電圧を受ける電源端子と接地電圧を受ける接地端子との間に接続され、かつ、前記定電流出力を制御端子に受けて、電源電圧レベルおよび接地電圧レベルのいずれか一方を出力するオープンコレクタのトランジスタをさらに備える、請求項からのいずれか1項に記載の発光モジュール。
  5. 前記発光素子は、有機ELパネルである、請求項からのいずれか1項に記載の発光モジュール。
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011078620A1 (de) * 2011-07-04 2013-01-10 Osram Ag Hochvolt-LED-Multichip-Modul und Verfahren zur Einstellung eines LED-Multichip-Moduls
JP6155703B2 (ja) * 2013-03-04 2017-07-05 セイコーエプソン株式会社 光源装置及びプロジェクター
US9578728B2 (en) * 2013-06-18 2017-02-21 Dialight Corporation Long life, fail safe traffic light
US9713224B2 (en) 2014-01-28 2017-07-18 Koninklijke Philips N.V. Electroluminescent device with short detection circuit
AT515546B1 (de) * 2014-06-04 2015-10-15 Thales Austria Gmbh Leuchtdiodenanordnung
JP6293623B2 (ja) * 2014-09-05 2018-03-14 株式会社東芝 半導体検査装置
CN104808101B (zh) * 2015-04-29 2017-12-19 苏州华徕光电仪器有限公司 一种用于音频电缆的检测电路
JP6061365B2 (ja) * 2016-02-02 2017-01-18 Necライティング株式会社 発光装置
US10117305B2 (en) * 2016-05-09 2018-10-30 Industrial Technology Research Institute Driving system and method for planar organic electroluminescent device
KR102555383B1 (ko) 2016-12-07 2023-07-12 엘지디스플레이 주식회사 유기발광소자를 이용한 조명장치 및 그 제조방법
US10901027B2 (en) * 2017-07-12 2021-01-26 Facebook Technologies, Llc Substrate for mounting light emitting diodes with testing capabilities
CN108920398B (zh) * 2018-07-05 2021-01-19 苏州浪潮智能科技有限公司 一种跳帽电路及其设计方法
DE102018120428A1 (de) * 2018-08-22 2020-02-27 HELLA GmbH & Co. KGaA LED-Leuchtvorrichtung und Kraftfahrzeug
DE102018131803A1 (de) * 2018-12-11 2020-06-18 Infineon Technologies Ag Verfahren zum detektieren eines defekts in einer led-kette und elektronische schaltung mit wenigstens einer led-kette
JP7268399B2 (ja) * 2019-02-27 2023-05-08 富士通株式会社 電源回路及び電子装置
JP7453546B2 (ja) 2020-07-28 2024-03-21 株式会社デンソーウェーブ 発光部の故障検出システム

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006103404A (ja) * 2004-10-01 2006-04-20 Koito Mfg Co Ltd 車両用灯具の点灯制御回路
JP2009038247A (ja) * 2007-08-02 2009-02-19 Mitsubishi Electric Corp Led点灯装置
JP2010272410A (ja) * 2009-05-22 2010-12-02 Hitachi Displays Ltd バックライト装置並びに表示装置
JP2011082108A (ja) * 2009-10-09 2011-04-21 Sharp Corp Led故障検出装置,バックライト装置,液晶表示装置
JP2011204625A (ja) * 2010-03-26 2011-10-13 Panasonic Electric Works Co Ltd 発光素子点灯装置及びこれを用いた灯具並びに照明器具

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3719859A (en) * 1971-08-31 1973-03-06 Arrow Hart Inc Voltage sensing and switching circuit
US4074170A (en) * 1976-06-21 1978-02-14 Vivitar Corporation Voltage regulator with thermal overload protection
DE2915938C2 (de) * 1979-04-20 1987-04-09 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Zündeinrichtung für Brennkraftmaschinen
US4420804A (en) * 1980-08-26 1983-12-13 Tohoku Metal Industries, Ltd. Switching regulator with base charge removal circuit
US4617496A (en) * 1984-05-30 1986-10-14 Samodovitz Arthur J Warm-up circuit with timed shut-off of the warm-up current
EP0637118B1 (de) * 1993-07-27 1997-03-12 Knobel Ag Lichttechnische Komponenten Schaltungsanordnung zur Begrenzung des Einschaltstromes und der Ueberspannung eines elektronischen Vorschaltgerätes
JP3434717B2 (ja) * 1998-11-12 2003-08-11 株式会社村上開明堂 バックミラー用ecパネルの駆動装置
US20020043943A1 (en) * 2000-10-10 2002-04-18 Menzer Randy L. LED array primary display light sources employing dynamically switchable bypass circuitry
US6600274B1 (en) * 2001-12-14 2003-07-29 Dme Corporation LED current regulation circuit for aircraft lighting system
US6952334B2 (en) * 2003-10-07 2005-10-04 Semiconductor Components Industries, L.L.C. Linear regulator with overcurrent protection
JP2005235826A (ja) * 2004-02-17 2005-09-02 Pioneer Electronic Corp 点灯装置および照明装置
JP2005266397A (ja) * 2004-03-19 2005-09-29 Tohoku Pioneer Corp 発光素子の駆動装置および駆動方法
US20070236962A1 (en) * 2004-06-07 2007-10-11 Jarmo Minkkinen Method and Circuit Arrangement for Optimising Maximum Current Limitation in the Primary Switch of a Switched Mode Power Supply, and a Power Supply
JP2006100633A (ja) * 2004-09-30 2006-04-13 Toyoda Gosei Co Ltd Led照明装置
JP4148224B2 (ja) 2005-01-31 2008-09-10 松下電工株式会社 Led駆動装置、及びそれを用いた照明装置
WO2008105245A1 (ja) * 2007-02-28 2008-09-04 Koa Corporation 発光部品およびその製造法
US7852013B2 (en) * 2007-12-21 2010-12-14 Minebea Co., Ltd. Electronic stabilizer circuit for suppressing startup instabilities in cold cathode fluorescent lamps
JP2009200257A (ja) * 2008-02-21 2009-09-03 Sharp Corp Led駆動回路
WO2010022350A2 (en) * 2008-08-21 2010-02-25 Asic Advantage Inc. Light emitting diode fault monitoring
US8410705B2 (en) * 2008-11-18 2013-04-02 Ringdale, Inc. LED lighting system with bypass circuit for failed LED
TW201043083A (en) * 2009-05-21 2010-12-01 Everlight Electronics Co Ltd Light emitting diode circuit
WO2010148196A2 (en) * 2009-06-18 2010-12-23 Musco Corporation Apparatus and method for bypassing failed leds in lighting arrays
JP5471330B2 (ja) * 2009-07-14 2014-04-16 日亜化学工業株式会社 発光ダイオード駆動回路及び発光ダイオードの点灯制御方法
JP5641180B2 (ja) * 2009-09-18 2014-12-17 東芝ライテック株式会社 Led点灯装置および照明装置
US8704446B2 (en) * 2010-03-03 2014-04-22 Emeray, Llc Solid state light AC line voltage interface with current and voltage limiting
US8476836B2 (en) * 2010-05-07 2013-07-02 Cree, Inc. AC driven solid state lighting apparatus with LED string including switched segments
KR101679763B1 (ko) * 2010-09-10 2016-11-25 오스람 실바니아 인코포레이티드 직접적으로 구동되는 고효율 led 회로
KR20140130666A (ko) * 2011-12-16 2014-11-11 어드밴스드 라이팅 테크놀러지, 인크. 고역률 내구성 저비용 led 램프 개조형 시스템 및 방법
CN102752912B (zh) * 2012-06-01 2015-11-25 台达电子企业管理(上海)有限公司 一种led驱动电路
CN102752921B (zh) * 2012-06-21 2014-07-09 叶选锋 一种光控开关
JP6155703B2 (ja) * 2013-03-04 2017-07-05 セイコーエプソン株式会社 光源装置及びプロジェクター

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006103404A (ja) * 2004-10-01 2006-04-20 Koito Mfg Co Ltd 車両用灯具の点灯制御回路
JP2009038247A (ja) * 2007-08-02 2009-02-19 Mitsubishi Electric Corp Led点灯装置
JP2010272410A (ja) * 2009-05-22 2010-12-02 Hitachi Displays Ltd バックライト装置並びに表示装置
JP2011082108A (ja) * 2009-10-09 2011-04-21 Sharp Corp Led故障検出装置,バックライト装置,液晶表示装置
JP2011204625A (ja) * 2010-03-26 2011-10-13 Panasonic Electric Works Co Ltd 発光素子点灯装置及びこれを用いた灯具並びに照明器具

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