JP5253916B2 - マスクレス露光方法 - Google Patents
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Description
その際に、前記投影光学系は、前記基板に対し、第1方向に走査し、該第1方向に交差する第2方向に走査領域がずらされた後、該第2方向に重なり部分を有するように第1方向に走査することによって、前記感光性レジスト膜上に回路パターンを描画するマスクレス露光方法であって、
重なり部分を有して隣接する一対の走査領域であって、前記重なり部分の近傍に前記回路パターンと異なる複数のマークを露光し、
前記マークは、少なくとも前記重なり部分の一方の側に2個および他方の側に2個で1セットをなすマークで構成され、
これら複数のマークの距離のずれの計測によって、互いに隣接する走査領域の前記第1方向と第2方向のずれと前記第一方向に対する前記投影光学系の露光光の傾きを検出し、この検出結果から校正データを得、
前記感光レジストの現像後に、前記1セットの各マークを同時に観察できる画像情報に基づき、
前記第1方向に対してマークのエッジが45°傾くように対峙する2個のマークの重心点間距離を前記マークのエッジ間距離測定に基づいて測定し、
この測定による重心点間距離と前記投影光学系に与えたマークの指令値における寸法情報の重心点間距離との差によって、隣接する各走査領域における前記第1方向および第2方向のずれの測定を行うことを特徴とする。
前記感光レジストの現像後、同一投影光学系で描画した前記マークのうち2点における座標を計測し、その2点間の前記第1方向の距離と、測定した2点間の露光指令値における前記第1方向の距離の差から、隣接する走査領域あたりの前記第1方向のずれを演算し、
座標測定で得た隣接する走査領域あたりの前記第1方向のずれから投影光学系の走査開始タイミングの校正データを作成し、
隣接する走査領域間の第1方向のずれを複数の走査領域間で測定し、測定された前記第1方向のずれ測定値を平均化し、隣接する走査領域あたりの前記第1方向のずれを演算し、
複数の走査領域間の測定から得た隣接する走査領域あたりの前記第1方向のずれと座標測定から得た隣接する走査領域あたりの前記第1方向のずれの差から投影光学系の前記第1方向に対する傾きの校正データを作成し、
この前記各校正データによって、前記投影光学系の走査開始タイミングの修正および前記第1方向に対する投影光学系の傾きの調整を行うことを特徴とする。
前記重なり部分に対して一方の側の2個のマークの各重心位置と他方の側の2個のマークの各重心位置が、前記第1方向と平行な辺をもつ仮想の方形の各頂点に位置づけられるように、前記投影光学系に情報を与えて前記各マークを描画すること、
前記重なり部分に対して一方の側に対して、2個のマーク以外に前記マーク間若しくはその近傍に1個以上のマークを描画すること、
前記重なり部分に対して他方の側に対して、一方の側で追加したマークと初期の2個との相対的な位置関係と異なる位置に1つ以上のマークを描画する、または初期の2個以外に描画しないことを特徴とする。
第1方向への走査によるパターンの露光が完了すると、第1方向に交差する第2方向へ走査領域をずらし、かつ第2方向に並ぶ一対の走査領域がお互いに重なる部分を形成するように露光し、
前記一対の走査領域内であってかつこれらが重なりあう部分の両側には投影光学系による露光で回路パターンとは異なる少なくとも1つのマークを基板上の感光性レジストに露光して形成させ、対をなして配置させ、
露光完了後の基板に対して現像処理を施し、
対を成して形成されたマークを測定点とし、第1方向の座標が同一、かつ時系列で先行して露光した走査領域が同一に露光され、遅れて露光した走査領域も同一に露光された測定点の組を測定グループとして取り扱い、
測定グループに属する各測定点において、測定点内のマーク間の位置関係から走査領域間の第1方向と第2方向の相対的なずれを計測し、
測定グループにおいて、先行して露光した走査領域と遅れて露光した走査領域の露光時に生じたそれぞれのステージ回転機構の角度ずれをパラメータとして設定し、両者の値は全測定点で共通の値とし、
各測定点におけるそれぞれの走査領域の角度ずれによる座標ずれを計算し、測定点における第1方向と第2方向の走査領域の相対的なずれ量を計算から求め、
測定グループは1組または複数組設定し、
各測定グループにおいて、仮定したそれぞれの走査領域露光時の角度ずれの値を変更し、上記の走査領域間のずれ計算結果と測定データとの差が測定点全体として減少するように探索して、走査領域露光時の角度ずれ算出し、
上記の測定グループの測定点を露光する際に、上記で求めたステージの角度ずれを低減させるようにステージに角度補正を施すことを特徴とする。
第1方向への走査によるパターンの露光が完了すると、第1方向に交差する第2方向へ走査領域をずらし、かつ第2方向に並ぶ一対の走査領域がお互いに重なる部分を形成するように露光し、
前記一対の走査領域内であってかつこれらが重なりあう部分の両側には投影光学系による露光で回路パターンとは異なる少なくとも1つのマークを基板上の感光性レジストに露光して形成させ、対をなして配置させ、
露光完了後の基板に対して現像処理を施し、
対を成して形成されたマークを測定点とし、第1方向の座標が同一、かつ時系列で先行して露光した走査領域が同一に露光され、遅れて露光した走査領域が同一に露光され、さらに先行して露光した走査領域と遅れて露光した走査領域がそれぞれ隣接して位置した異なった投影光学系によって露光された測定点の組を測定グループとして取り扱い、
測定グループに属する各測定点において、測定点内のマーク間の位置関係から走査領域間の第1方向と第2方向の相対的なずれを計測し、
測定グループにおいて、先行して露光した走査領域と遅れて露光した走査領域の露光時に生じたそれぞれのステージ回転機構の角度ずれをパラメータとして設定し、両者の値は各測定グループ内の全測定点で共通の値とし、
隣接して位置した投影光学系において所定の間隔からの第1方向と第2方向の相対的なずれ量をパラメータとして設定し、測定グループによらず第2方向の座標が同一な各測定点の間で共通な値とすること、各測定点におけるそれぞれの走査領域の角度ずれによる座標ずれを計算したものと、隣接して位置した投影光学系の所定の間隔からの相対的なずれ量を加算して、全測定点における第1方向と第2方向の走査領域の相対的なずれ量を計算から求め、
測定グループは1組または複数組設定し、
各測定グループにおいて、仮定したそれぞれの走査領域露光時の角度ずれの値と隣接して位置した投影光学系の所定の間隔からの相対的なずれ量の値を変更し、上記の走査領域間のずれ計算結果と測定データとの差が測定点全体として減少するように探索して、走査領域露光時の角度ずれ算出し、
上記の測定グループの測定点を露光する際に、上記で求めたステージの角度ずれ及び投影光学系の配列のずれを低減させるように、ステージに角度補正、投影光学系の機械的な配列調整、及び第1方向の露光開始タイミングの修正を施すことを特徴する。
前記の測定グループを複数設定する際に、少なくとも1つの測定グループをステージ回転中心近傍に設定することを特徴とする。
隣接して位置した投影光学系において所定の間隔からの第1方向と第2方向の相対的なずれ量をパラメータに設定する際に、ステージ回転中心近傍に設定した測定グループにおける測定点の第2方向へのずれの測定値を初期値とすることを特徴する。
前記の測定グループを複数設定する際に、少なくとも1つの測定グループを基板端近傍に設定することを特徴とする。
基板端近傍に設定した測定グループにおける測定点の第1方向へのずれの測定値と測定点における角度ずれパラメータから計算した座標に基づく走査領域の第1方向へのずれとの差を隣接して位置した投影光学系における所定の間隔からの第1方向の相対的なずれ量のパラメータの初期値に設定することを特徴とする。
(1)により求めた各測定グループ内の測定点におけるステージ角度ずれ及びその計算過程で求めた測定点毎の第1方向及び第2方向のずれを測定点毎にマッピングし、
測定点と測定点の間におけるステージ角度ずれ及び第1方向及び第2方向のずれを測定点のデータから補完または外挿して計算し、
上記計算に基づき、設計値に対する走査時ずれが低減するような軌道を得られるようにステージを制御することを特徴とする。
一対の走査領域内であり、かつこれらが重なりあう部分の両側にあり、表示装置の回路パターンとは異なる少なくとも1つのマークを基板上の感光性レジストに露光して形成させて、対をなして配置させ、
前記マークは同一の第1方向の座標でかつ第2方向に列をなしたものを複数有し、基板全面にわたり格子上に配置させ、
第2方向に列をなしたマーク群において、基板乃至ステージ回転中心近傍及び、基板端部近傍にマーク群を配置することを特徴とする。
図1は本発明のマスクレス露光方法の概要を示した図である。図1において、マスクレス露光は、CAD図面8からの情報(以下、図面情報8と称する)を制御装置9に入力することにより、感光性レジストを主面に塗布した基板2に前記図面情報8に基づく露光パターンを焼き付けるようになっている。
図18に幾何学的な関係を示す。図18の上側の図は4つの各マークのうち左下のマークと右上のマークの距離関係を示し、下側の図は左上のマークと右下のマークの距離関係を示している。符号220で示すマークは基準位置におけるマークを示しているのに対し、符号222で示すマークはずれた位置にあるマークを示している。また、符号30、33は、それぞれ、仮想正方形の辺の長さを示している。
Δy=0
(2)ケース2:La3>Lb3(Δy>0)
図19に幾何学的な関係を示す。図19は上述の図18と対応づけて描画している。
Δy=Rcosθ
(3)ケース3:La3<Lb3(Δy<0)
図20に幾何学的な関係を示す。図20は上述の図18と対応づけて描画している。
Δy=−Rcosθ
このように、4つの正方形の内の対角に位置する正方形のエッジを指定し、その間隔を線幅測定装置によって測定することにより、走査領域20間の走査方向のずれ、ピッチ送り方向7のずれを求めることが可能となる。
通常の露光機の状態をモニタリングするために、製品となる表示装置のパターンを露光する場合、測定用のマークのセット22も同時に露光し、製品パターンの線幅を測定する際に上記に示した測定を実施することで実現可能である。このような方法を用いることで、一定ロット間隔にテスト用の基板を着工したり、オフラインで測定することなく、露光機のモニタリングが可能となり、マスクレス露光方式で最も足かせとなってきた露光機の精度の保証が常時可能となる。
図8ないし図10に、y方向(走査方向6)の基本的なずれ方と本発明による測定用マークのセット22から検出されるずれの例を示す。図8は、走査領域20が交互にずれている場合を示し(図8(a)参照)、一つおきにd、-d、d、-d、……と測定値が得られるケースである(図8(b)参照)。この場合、奇数番の走査開始タイミング、または偶数番の走査開始タイミングのどちらか一方を長さに換算してdだけ調整することで解消可能である。
図23を用いて、本発明のマスクレス露光方式の実施例4の概要を示す。このマスクレス露光ではCADによる図面情報8を制御装置9に入力することにより、感光性レジストを主面に塗布した基板2図面情報8に基づき光のパターンを形成し、基板2の主面に塗布した感光性レジスト膜上に所定のパターンを露光するものである。
x方向のずれ:Δx1 ,…, Δxn
y方向のずれ:Δy1 ,…, Δyn
(n:測定点番号)
(2)基板2の回転中心340座標(x0,y0)から対象となる測定点312(設計値)までの距離rnを、下記の式を用いて、それぞれ計算する。
(3)図25と図26で示したように、対象となる測定点の左側の走査領域20Lを露光中に+Δθ,右側の走査領域20Rを露光中に−Δθだけステージに傾き342を生じている場合を想定する。図25(b)で示したように、ステージの傾き342と走査領域の傾きは逆になる。これは、投影光学系3が固定で基板2側が回転ずれを起こすため、本来露光すべき測定点の位置から観測すると逆方向に回転ずれを起こしたように見える。
ynL=r(sin(−(+Δθ))+cos(−(+Δθ))),
xnR=r(cos(−(-Δθ))−sin(−(-Δθ)),
ynR=r(sin(−(-Δθ)+cos(−(-Δθ)),
(4)(3)で想定したステージの傾き342があることによって生じる測定点における走査領域20間のずれを求める。x方向のずれの計算値Δxnc、y方向のずれの計算値Δyncは下記の通りである。本実施例では左側の走査領域20Lの計測用マーク23を基準にして計算する。
y方向のずれの計算値Δync=ynR−ynL
(5)計算上求めたずれと、実際の測定点を計測して得られたずれを用いて最小2乗法に用いる評価関数をex,eyを、下記のように定義する。
ey=Σ(Δync−Δyn)2
(6)最小2乗法により、ex,eyを最小にするΔθを探索する。この時、図34に示す基板端の測定グループ313bではexに重点をおくと精度が高まり、y座標が回転中心340の近傍である測定点グループ313aではeyに重点をおくと精度が高まる。
x方向のずれ:Δx1 ,…, Δxn
y方向のずれ:Δy1 ,…, Δyn
(n:測定点番号)
(2)基板の回転中心340座標(x0,y0)から対象となる測定点312(設計値)までの距離rnを、下記の式を用いて、それぞれ計算する。
(3)図25と図26で示したように、測定グループmにおいて対象となる測定点の左側の走査領域20Lを露光中に+Δθm、右側の走査領域20Rが−Δθmだけステージに傾き342を生じている場合を想定する。図25(b)で示したように、ステージの傾き342と走査領域の傾きは逆になる。これは、投影光学系3が固定で基板2側が回転ずれを起こすため、本来露光すべき測定点の位置から観測すると逆方向に回転ずれを起こしたように見える。
ynmL=r(sin(−(+Δθm))+cos(−(+Δθm))),
xnmR=r(cos(−(-Δθm))−sin(−(-Δθm)),
ynmR=r(sin(−(-Δθm)+cos(−(-Δθm)),
(m:測定点のグループの番号、n:グループmにおける測定点の番号)
(4)隣接する投影光学系間における投影光学系配列の相対的なずれと投影光学系毎の走査タイミングの状態を反映したずれ304をパラメータとして設定する。
y方向の投影光学系配列の相対的なずれ
及び投影光学系毎の走査タイミングによるずれ:Δynh
ここで取り扱う測定グループ313の測定点は、左右の走査領域20は隣接する2つの投影光学系3により別々に露光される。上記は、左側の投影光学系3を基準に右側の投影光学系の相対的なずれを示すものである。また、(3)とは異なり、投影光学系3の側がずれるため、基板2から観測すると、上記のずれは、符号が変わらず、そのまま観測される。
y方向のずれの計算値Δynmc=ynmR−ynmL+Δynh
(6)各測定グループ313において計算上で求めたずれと、実際の測定点312を計測して得られたずれを用いて最小2乗法に用いる評価関数exm,eymを下記のように定義する。
eym=Σ(Δynmc−Δynm)2
(7)回転中心からy座標が充分離れた測定グループ313bを対象に、その測定グループ313でのexmを評価関数として最小2乗法の演算を行い、測定グループにおける傾き角θmを探索する。
(10)すべての測定グループ313において(6)で求めたexm、eymすべて加算した値Exyを評価関数とし、それぞれの測定グループ313におけるステージの傾きθm342と隣接する投影光学系間における投影光学系配列の相対的なずれと投影光学系毎の走査タイミングの状態を反映したずれ304Δxnh,Δynhを最小2乗法で探索する。
実施例4を応用した、量産時におけるマスクレス露光装置の管理・調整方法を示す。
マスクレス露光機のステージ1にセンサを取り付け、投影光学系の位置精度の校正を行うことがある。この場合、ステージの真直性や位置精度を保証する必要がある。以下では、図27〜図29及び図37を用いステージの真直性や位置精度の補正への本発明の適用例を示す。
以上の方法により、ステージ1や投影光学系3以外でも、マスクレス露光機に関する高精度な校正が可能となる。
Claims (11)
- 投影光学系に対し感光性レジスト膜が形成された基板が相対的に移動し、
その際に、前記投影光学系は、前記基板に対し、第1方向に走査し、該第1方向に交差する第2方向に走査領域がずらされた後、該第2方向に重なり部分を有するように第1方向に走査することによって、前記感光性レジスト膜上に回路パターンを描画するマスクレス露光方法であって、
重なり部分を有して隣接する一対の走査領域であって、前記重なり部分の近傍に前記回路パターンと異なる複数のマークを露光し、
前記マークは、少なくとも前記重なり部分の一方の側に2個および他方の側に2個で1セットをなすマークで構成され、
これら複数のマークの距離のずれの計測によって、互いに隣接する走査領域の前記第1方向と第2方向のずれと前記第一方向に対する前記投影光学系の露光光の傾きを検出し、この検出結果から校正データを得、
前記感光レジストの現像後に、前記1セットの各マークを同時に観察できる画像情報に基づき、
前記第1方向に対してマークのエッジが45°傾くように対峙する2個のマークの重心点間距離を前記マークのエッジ間距離測定に基づいて測定し、
この測定による重心点間距離と前記投影光学系に与えたマークの指令値における寸法情報の重心点間距離との差によって、隣接する各走査領域における前記第1方向および第2方向のずれの測定を行うことを特徴とするマスクレス露光方法。 - 複数の走査領域において、前記第1方向に沿った中心軸上にマークを前記投影光学系により描画し、
前記感光レジストの現像後、同一投影光学系で描画した前記マークのうち2点における座標を計測し、その2点間の前記第1方向の距離と、測定した2点間の露光指令値における前記第1方向の距離の差から、隣接する走査領域あたりの前記第1方向のずれを演算し、
座標測定で得た隣接する走査領域あたりの前記第1方向のずれから投影光学系の走査開始タイミングの校正データを作成し、
隣接する走査領域間の第1方向のずれを複数の走査領域間で測定し、測定された前記第1方向のずれ測定値を平均化し、隣接する走査領域あたりの前記第1方向のずれを演算し、
複数の走査領域間の測定から得た隣接する走査領域あたりの前記第1方向のずれと座標測定から得た隣接する走査領域あたりの前記第1方向のずれの差から投影光学系の前記第1方向に対する傾きの校正データを作成し、
この前記各校正データによって、前記投影光学系の走査開始タイミングの修正および前記第1方向に対する投影光学系の傾きの調整を行うことを特徴とする請求項1に記載のマスクレス露光方法。 - 1セットをなす前記マークは、前記第1方向に対し傾きを有する辺をもつ方形マークからなり、
前記重なり部分に対して一方の側の2個のマークの各重心位置と他方の側の2個のマークの各重心位置が、前記第1方向と平行な辺をもつ仮想の方形の各頂点に位置づけられるように、前記投影光学系に情報を与えて前記各マークを描画すること、
前記重なり部分に対して一方の側に対して、2個のマーク以外に前記マーク間若しくはその近傍に1個以上のマークを描画すること、
前記重なり部分に対して他方の側に対して、一方の側で追加したマークと初期の2個との相対的な位置関係と異なる位置に1つ以上のマークを描画する、または初期の2個以外に描画しないことを特徴とする請求項1に記載のマスクレス露光方法。 - 回転機構と第1方向及び第1方向と直角な第2方向に移動可能な機構を有するステージに主面に感光性レジストを塗布した基板を載せ、基板主面上方に固定しかつ第2方向に等間隔で複数配列した投影光学系によって、第1方向に走査しながら基板上の感光性レジストに所定パターンを露光するマスクレス露光方法であって、
第1方向への走査によるパターンの露光が完了すると、第1方向に交差する第2方向へ走査領域をずらし、かつ第2方向に並ぶ一対の走査領域がお互いに重なる部分を形成するように露光し、
前記一対の走査領域内であってかつこれらが重なりあう部分の両側には投影光学系による露光で回路パターンとは異なる少なくとも1つのマークを基板上の感光性レジストに露光して形成させ、対をなして配置させ、
露光完了後の基板に対して現像処理を施し、
対を成して形成されたマークを測定点とし、第1方向の座標が同一、かつ時系列で先行して露光した走査領域が同一に露光され、遅れて露光した走査領域も同一に露光された測定点の組を測定グループとして取り扱い、
測定グループに属する各測定点において、測定点内のマーク間の位置関係から走査領域間の第1方向と第2方向の相対的なずれを計測し、
測定グループにおいて、先行して露光した走査領域と遅れて露光した走査領域の露光時に生じたそれぞれのステージ回転機構の角度ずれをパラメータとして設定し、両者の値は全測定点で共通の値とし、
各測定点におけるそれぞれの走査領域の角度ずれによる座標ずれを計算し、測定点における第1方向と第2方向の走査領域の相対的なずれ量を計算から求め、
測定グループは1組または複数組設定し、
各測定グループにおいて、仮定したそれぞれの走査領域露光時の角度ずれの値を変更し、上記の走査領域間のずれ計算結果と測定データとの差が測定点全体として減少するように探索して、走査領域露光時の角度ずれ算出し、
上記の測定グループの測定点を露光する際に、上記で求めたステージの角度ずれを低減させるようにステージに角度補正を施すことを特徴としたマスクレス露光方法。 - 回転機構と第1方向及び第1方向と直角な第2方向に移動可能な機構を有するステージに主面に感光性レジストを塗布した基板を載せ、基板主面上方に固定しかつ第2方向に等間隔で複数配列した投影光学系によって、第1方向に走査しながら基板上の感光性レジストに所定パターンを露光するマスクレス露光方法であって、
第1方向への走査によるパターンの露光が完了すると、第1方向に交差する第2方向へ走査領域をずらし、かつ第2方向に並ぶ一対の走査領域がお互いに重なる部分を形成するように露光し、
前記一対の走査領域内であってかつこれらが重なりあう部分の両側には投影光学系による露光で回路パターンとは異なる少なくとも1つのマークを基板上の感光性レジストに露光して形成させ、対をなして配置させ、
露光完了後の基板に対して現像処理を施し、
対を成して形成されたマークを測定点とし、第1方向の座標が同一、かつ時系列で先行して露光した走査領域が同一に露光され、遅れて露光した走査領域が同一に露光され、さらに先行して露光した走査領域と遅れて露光した走査領域がそれぞれ隣接して位置した異なった投影光学系によって露光された測定点の組を測定グループとして取り扱い、
測定グループに属する各測定点において、測定点内のマーク間の位置関係から走査領域間の第1方向と第2方向の相対的なずれを計測し、
測定グループにおいて、先行して露光した走査領域と遅れて露光した走査領域の露光時に生じたそれぞれのステージ回転機構の角度ずれをパラメータとして設定し、両者の値は各測定グループ内の全測定点で共通の値とし、
隣接して位置した投影光学系において所定の間隔からの第1方向と第2方向の相対的なずれ量をパラメータとして設定し、測定グループによらず第2方向の座標が同一な各測定点の間で共通な値とすること、各測定点におけるそれぞれの走査領域の角度ずれによる座標ずれを計算したものと、隣接して位置した投影光学系の所定の間隔からの相対的なずれ量を加算して、全測定点における第1方向と第2方向の走査領域の相対的なずれ量を計算から求め、
測定グループは1組または複数組設定し、
各測定グループにおいて、仮定したそれぞれの走査領域露光時の角度ずれの値と隣接して位置した投影光学系の所定の間隔からの相対的なずれ量の値を変更し、上記の走査領域間のずれ計算結果と測定データとの差が測定点全体として減少するように探索して、走査領域露光時の角度ずれ算出し、
上記の測定グループの測定点を露光する際に、上記で求めたステージの角度ずれ及び投影光学系の配列のずれを低減させるように、ステージに角度補正、投影光学系の機械的な配列調整、及び第1方向の露光開始タイミングの修正を施すことを特徴としたマスクレス露光方法。 - 請求項5に示したマスクレス露光方法であって、
前記の測定グループを複数設定する際に、少なくとも1つの測定グループをステージ回転中心近傍に設定することを特徴としたマスクレス露光方法。 - 請求項5に示したマスクレス露光方法であって、
隣接して位置した投影光学系において所定の間隔からの第1方向と第2方向の相対的なずれ量をパラメータに設定する際に、ステージ回転中心近傍に設定した測定グループにおける測定点の第2方向へのずれの測定値を初期値とすることを特徴としたマスクレス露光方法。 - 請求項5〜7のいずれか1項に記載のマスクレス露光方法であって、
前記の測定グループを複数設定する際に、少なくとも1つの測定グループを基板端近傍に設定することを特徴としたマスクレス露光方法。 - 請求項5〜8のいずれか1項に記載のマスクレス露光方法であって、
基板端近傍に設定した測定グループにおける測定点の第1方向へのずれの測定値と測定点における角度ずれパラメータから計算した座標に基づく走査領域の第1方向へのずれとの差を隣接して位置した投影光学系における所定の間隔からの第1方向の相対的なずれ量のパラメータの初期値に設定することを特徴としたマスクレス露光方法。 - 請求項4〜9のいずれか1項に記載のマスクレス露光方法であって、
請求項1により求めた各測定グループ内の測定点におけるステージ角度ずれ及びその計算過程で求めた測定点毎の第1方向及び第2方向のずれを測定点毎にマッピングし、
測定点と測定点の間におけるステージ角度ずれ及び第1方向及び第2方向のずれを測定点のデータから補完または外挿して計算し、
上記計算に基づき、設計値に対する走査時ずれが低減するような軌道を得られるようにステージを制御することを特徴としたマスクレス露光方法。 - 請求項4〜10のいずれか1項に記載の基板上に設けるマスクレス露光機モニタリング用露光パターンであって、
一対の走査領域内であり、かつこれらが重なりあう部分の両側にあり、表示装置の回路パターンとは異なる少なくとも1つのマークを基板上の感光性レジストに露光して形成させて、対をなして配置させ、
前記マークは同一の第1方向の座標でかつ第2方向に列をなしたものを複数有し、基板全面にわたり格子上に配置させ、
第2方向に列をなしたマーク群において、基板乃至ステージ回転中心近傍及び、基板端部近傍にマーク群を配置することを特徴としたマスクレス露光機モニタリング用露光パターン。
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