JP5245942B2 - 膜厚測定装置 - Google Patents
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Description
R=1−A/{B+C×cos[(4π/λ)×n×d]} ・・・1
ここで、R(%)は、図4に示すように、薄膜30が形成された基板31に、波長λの光が入射したときの薄膜30の反射率、λは入射光波長、nは薄膜30の屈折率、dは薄膜30の膜厚、A,B,Cは、基板31、薄膜30の屈折率により求められる定数である。
パラメータセット名称:(Test)SiO2 on Si
膜 種:SiO2
基板種:Si
計測する光波長範囲:460〜680nm
といった設定内容を設定しステップn2、保存ボタン40をクリックして図8のメイン表示画面にもどるステップn3。
8 基板
20 分光フィルタ
36 フィッティングレベル総覧図
Claims (5)
- 測定対象物に光を照射し、その反射光を分光して得られる実測干渉波形と、予測した複数の膜厚にそれぞれ対応する複数の理論干渉波形とをそれぞれ比較し、前記実測干渉波形と前記理論干渉波形との波長毎の差の自乗和に関連するフィッティングレベルが最小となる理論干渉波形に対応する膜厚を、前記測定対象物の膜厚とする膜厚測定装置であって、
前記理論干渉波形毎に得られる前記フィッティングレベルと、該フィッティングレベルが得られる理論干渉波形に対応する膜厚との相関を示す相関図を作成する作成手段を備えることを特徴する膜厚測定装置。 - 前記作成手段で作成された前記相関図を表示する表示手段を備え、
前記相関図は、横軸に膜厚をとり、縦軸にフィッティングレベルをとった図である請求項1に記載の膜厚測定装置。 - 前記相関図のフィッティングレベルが最も小さい第1の谷部のピーク値、および、フィッティングレベルが次に小さい第2の谷部のピーク値の少なくとも一方のピーク値が、設定条件を満たしたときに、警報を出力する出力手段を備える請求項1または2に記載の膜厚測定装置。
- 前記出力手段は、前記少なくとも一方のピーク値についての閾値を設定する設定部を備える請求項3に記載の膜厚測定装置。
- 前記出力手段は、前記第1の谷部のピーク値と前記第2の谷部のピーク値との差についての警報範囲を設定する設定部を備える請求項3に記載の膜厚測定装置。
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