JP5228332B2 - 半導体集積回路 - Google Patents
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Description
前記比較結果記録手段は、クロック信号を基準として、前記電圧比較手段において前記電源電圧が前記基準電圧を超過していると判定された期間の長さを記録することを特徴とする半導体集積回路。
20 電子基板
30 電源供給部
40 波形
51、52 信号
100、101 半導体集積回路
110 ロジックブロック
120 モニタ端子
131 PMOS
132 NMOS
140 入出力端子
200、201 半導体集積回路
210 ロジックブロック
220 電圧比較部
221 セレクタ
222、223 可変抵抗
224 差動アンプ
230 レギュレータ
240 クロック制御部
241 AND回路
242a、242b OR回路
243a、243b ディレイ回路
250 比較結果記録部
251 AND回路
252 カウンタ
261〜264 電源端子
265 クロック入力端子
266 入出力端子
267 電圧供給端子
270 電圧比較部
271 セレクタ
272 差動アンプ
Claims (4)
- 自身を動作させるための電源の電源電圧と所定の基準電圧とを比較する電圧比較手段と、
クロック信号を基準として、前記電圧比較手段において前記電源電圧が前記基準電圧を超過していると判定された期間の長さを記録する比較結果記録手段と、
前記クロック信号を構成するパルスの幅を広げるクロック制御手段と
を備えることを特徴とする半導体集積回路。 - 前記電圧比較手段は、前記電源とは異なる系統で供給される電源によって動作することを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。
- 前記電圧比較手段に供給される電源を安定化させる電源安定化手段をさらに備えることを特徴とする請求項1または2に記載の半導体集積回路。
- 前記電圧比較手段は、可変抵抗によって前記基準電圧の電圧値を変更させることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の半導体集積回路。
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