JP5226617B2 - ディスク・ドライブ及びそのサーボ制御方法 - Google Patents

Description

本発明は、ディスク・ドライブ及びそのサーボ制御方法に関し、特に、ヘッドのサーボ制御におけるアクチュエータの振動抑制技術に関する。

ディスク・ドライブとして、光ディスク、光磁気ディスク、あるいはフレキシブル磁気ディスクなどの様々な態様のディスクを使用する装置が知られているが、その中で、ハードディスク・ドライブ（ＨＤＤ）は、コンピュータ・システムの他、動画像記録再生装置やカーナビゲーション・システムなど、多くの電子機器において使用されている。

ＨＤＤで使用される磁気ディスクは、同心円状に形成された複数のデータ・トラックと複数のサーボ・トラックとを有している。各サーボ・トラックはアドレス情報を有する複数のサーボ・セクタから構成される。また、各データ・トラックには、ユーザ・データを含む複数のデータ・セクタから構成されている。円周方向に離間するサーボ・セクタの間に、データ・セクタが記録されている。

ＨＤＤは揺動するアクチュエータを有し、そのアクチュエータにヘッド・スライダが支持されている。ＨＤＤは、ヘッド・スライダによってサーボ・セクタのアドレス情報を読み出し、そのアドレス情報に従ってアクチュエータを制御する（サーボ制御）。これにより、ＨＤＤは、ヘッド・スライダを所望の半径位置（ターゲット・データ・トラック）に移動し（シーク）、さらに、その位置に位置決めする（フォロイング）することができる。ターゲット・データ・トラックに位置決めされたヘッド・スライダは、そのトラック内のターゲット・データ・セクタへのデータ書き込みあるいはデータ読み出しを行う。

アクチュエータはボイス・コイル・モータ（ＶＣＭ）によって駆動される。一般に、アクチュエータは、特定の周波数（共振周波数）で機械的な共振を示すことが知られている。ヘッド・スライダ（アクチュエータ）のサーボ制御において、アクチュエータが共振周波数で機械共振を起こすと、この共振周波数の振幅が読み出したサーボ信号に重畳され、ヘッド・スライダのサーボ制御が不安定になる。

そこで、従来のＨＤＤは、ヘッド・スライダのサーボ制御においてノッチ・フィルタを使用する（例えば、特許文献１を参照）。ノッチ・フィルタは、ヘッド・スライダのサーボ・ループ内においてコントローラの出力側に挿入されており、アクチュエータの共振周波数と同一の中心周波数を有している。ノッチ・フィルタは、制御信号に含まれる共振周波数のサーボ・ゲインを小さくし、ヘッド・スライダのサーボ制御を安定化させる。

特開２００８−４１１４７号公報

図７に示すように、アクチュエータ７０は、揺動軸７１を挟んでボイス・コイル７２とアーム７３とを有している。アーム７３ａ、７３ｂの先には、ヘッド・ジンバル・アセンブリ（ＨＧＡ）７４ａ、７４ｂが固定されている。シークあるいはフォロイングにおいて、ボイス・コイル７２とアーム７３ａ、７３ｂ及びＨＧＡ７４ａ、７４ｂとは、それぞれ、上下方向に振動しうる。ボイス・コイル７２の上下方向における振動（ピッチング）の共振周波数と、アーム７３ａ、７３ｂ及びＨＧＡ７４ａ、７４ｂの上下方向における振動（ピッチング）の共振周波数とは、離れていることが好ましい。これらの値が一致する、あるいは近い値であると、ボイス・コイル７２の振動とアーム７３ａ、７３ｂ（及びＨＧＡ７４ａ、７４ｂ）の振動とが重なり、ヘッド・スライダ（アクチュエータ７０）が大きく振動して、不安定な動作を示すからである。

しかし、アクチュエータの設計においては多くの制約が存在する。その中で、ボイス・コイルの共振周波数とアーム及びＨＧＡの共振周波数とが近い位置となることがある。さらに、アクチュエータの製造において、バラツキが存在する。設計における二つの共振周波数が不安定動作を起こさない程度に離れていても、製造バラツキによりそれらの共振周波数が近い値となることがある。

二つの共振周波数が近くとも、それらの周波数における振動が励起されなければ、ヘッド・スライダ（アクチュエータ）のサーボ制御が不安定となることはない。しかし、発明者らは、特定のＨＤＤにおいては、ヘッド・スライダ（アクチュエータ）が磁気ディスクの上の特定領域内にあるとき、それが大きな振動を示すことに気付いた。具体的には、特定のＶＣＭ及びアクチュエータ構造を有するランプ・ロード・アンロード方式のＨＤＤにおいて、ヘッド・スライダが特定の半径位置（サーボ・トラック）よりも内周側にあるとき、ヘッド・スライダが特に大きな振動を示した。

発明者らが検討したところ、ボイス・コイルの振動は、ＶＣＭ内におけるその位置に応じて変化していることがわかった。図８は、二つの異なる構造を有するＶＣＭにおいて、コイル位置とコイルが受ける力との関係を模式的に示している。最上の図とその下の図とは、二枚磁石のＶＣＭ構造８１を模式的に示している。最下の図とその上の図とは、一枚磁石のＶＣＭ構造８２を模式的に示している。これらの図は、ボイス・コイル８１１、８１２から揺動軸に向かってＶＣＭを見た図である。二番目及び最下図において、アクチュエータは磁気ディスク上の内周領域に位置している。

二枚磁石構造のＶＣＭ８１は、上ヨーク板８１２、上磁石８１３、下磁石８１４、そして下ヨーク板８１５を有している。上磁石８１３と下磁石８１４との間にボイス・コイル８１１が位置している。ボイス・コイル８１１は、駆動電流に応じて図内の左右方向に移動する。一枚磁石構造のＶＣＭ８２は、上ヨーク板８２２、磁石８２３、そして下ヨーク板８２４を有している。上ヨーク板８２２と磁石８２３との間にボイス・コイル８２１が位置している。ボイス・コイル８２１は、駆動電流に応じて図内の左右方向に移動する。

ボイス・コイル８１１、８２１は、駆動電流と磁束と垂直な方向に駆動力を受ける。最上の図あるいは３番目の図に示すように、磁石の中央（左右方向における）において、磁束は上下方向に平行（コイルの駆動電流に垂直）な方向を有している。そのため、ボイス・コイル８１１、８２１が磁石面内の中央にあるとき、ボイス・コイル８１１、８２１は揺動軸に垂直な方向に力を受ける。しかし、上から２番目の図あるいは最下図に示すように、磁石の端においては、磁束が上下方向からずれている。

図８に示すように、一枚磁石構造のＶＣＭ８２において、磁石の端における磁束の歪は特に大きい。このため、ボイス・コイル８２１が磁石の端の近傍に来るとその受ける駆動力の方向は左右方向からずれて、駆動力は上下方向の成分を有している（最下図）。この駆動力にける上下方向の成分は、ボイス・コイル８２１の上下方向における振動を引き起こす。

ランプ・ロード・アンロードのＨＤＤにおいて、ボイス・コイルが最も外周側に位置するとき、アクチュエータはランプ上にあって、磁気ディスク上にはない。そのため、一般に、ヘッド・スライダが磁気ディスクの外周端近傍にあっても、ボイス・コイルは磁石の端近傍には位置していない。一方、ヘッド・スライダ（アクチュエータ）が磁気ディスク上での最内周位置にあるとき、ボイス・コイルは磁石端近傍位置にある。そのため、ヘッド・スライダが磁気ディスク上の特定半期位置から内周側の領域にあるとき、ヘッド・スライダ（アクチュエータ）が大きな振動を示す。

二枚磁石構造のＶＣＭ８１においては、磁石の端における磁束は、二枚磁石の中央（上下方向における）においては略垂直であり、一枚構造のＶＣＭ８２と比較して磁束の歪はずっと小さい。そのため、ボイス・コイル８１１の駆動力における上下成分が小さく、ボイス・コイル８１１の上下方向における振動も小さい。しかし、現在のＨＤＤにおいては、記録密度を向上させるためにトラック・ピッチが益々狭くなっており、二枚磁石構造のＶＣＭ８１においても、磁石端近傍でのコイル振動を抑制することが好ましい。

本発明の一態様のディスク・ドライブは、ディスクにアクセスするヘッドと、前記ヘッドを支持しボイス・コイル・モータによって揺動軸を中心に揺動することで前記ヘッドを前記ディスクの半径方向において移動するアクチュエータと、前記ヘッドが読み出したサーボ・データにより前記アクチュエータのサーボ制御を行い、前記サーボ制御のループに挿入された一つもしくは複数の中心周波数固定ノッチ・フィルタを有する、コントローラとを有する。前記コントローラは、前記ヘッドの現在位置が規定領域外にあり前記ヘッドのターゲット位置が前記規定領域内にある場合に、規定周波数における前記一つもしくは複数の中心周波数固定ノッチ・フィルタによる減衰率を大きくする。これにより、ボイス・コイル・モータの振動に起因するアクチュエータの共振を抑制し、ヘッドのサーボ制御を安定化させることができる。

好ましい構成において、前記コントローラは、前記ターゲット位置が前記規定領域内にある場合に、前記ターゲット位置へのシークを開始する前に、前記減衰率を大きくする。これにより、より安定なサーボ制御を実現する。

好ましい構成において、前記コントローラは、前記規定周波数を中心周波数とするノッチ・フィルタをイネーブルすることによって前記減衰率を大きくする。これにより、シンプルな制御で減衰率を大きくすることができる。さらに好ましくは、一つもしくは複数の中心周波数固定ノッチ・フィルタは、常時動作している第１ノッチ・フィルタと、前記第１ノッチ・フィルタと同一の中心周波数を有し、前記コントローラによってイネーブル／ディセーブルされる第２ノッチ・フィルタとを含む。これにより、ボイス・コイル・モータの振動に起因するアクチュエータの共振をより効果的に抑制することができる。前記第２ノッチ・フィルタの中心周波数におけるゲインは、前記第１ノッチ・フィルタの中心周波数におけるゲインよりも小さいことが好ましい。これにより、規定領域内における振動をより確実に防ぐことができる。

好ましい例において、前記ディスクの外周端近傍に位置し、前記アクチュエータの停止位置を与えるランプをさらに有し、前記規定領域は、前記ディスク上における規定半径位置よりも内周側の領域である。これにより、ランプを有するディスク・ドライブにおいて、シンプルな構成でボイス・コイル・モータの振動に起因するアクチュエータの共振を抑制し、ヘッドのサーボ制御を安定化させることができる。
前記ボイス・コイル・モータは一枚磁石構造である場合、本発明は特に有用である。一枚磁石構造ボイス・コイル・モータは、磁石端近傍においてより大きな振動を起こしやすいからである。

好ましい構成において、前記アクチュエータは複数のヘッドを支持し、前記複数のヘッドのそれぞれに対して、前記規定範囲が予め設定されている。
好ましい構成において、前記コントローラは、異なる半径位置のそれぞれにおいて、異なる周波数のノイズを前記サーボ・ループに混入してそれぞれの周波数におけるサーボ・ゲインを測定し、前記異なる半径位置における前記測定の結果から前記規定領域を決定する。

好ましい例において、前記ディスク上において３以上の領域が定義されており、前記領域のそれぞれにおいて前記規定周波数における異なる減衰率が定義されており、前記規定領域は前記３以上の領域の内の最も減衰率が大きい領域である。これにより、半径位置に応じてボイス・コイル・モータの振動抑制を行うことで、より正確なサーボ制御を可能とする。

本発明の他の態様は、ディスクにアクセスするヘッドと、前記ヘッドを支持し、ボイス・コイル・モータによって揺動軸を中心に揺動することで前記ヘッドを前記ディスクの半径方向において移動するアクチュエータと、を有するディスク・ドライブにおけるサーボ制御方法である。この方法は、前記ヘッドによってディスク上のサーボ・データを読み出す。前記読み出したサーボ・データにより前記アクチュエータのサーボ制御を行う。前記ヘッドの現在位置が規定領域外にあり前記ヘッドのターゲット位置が前記規定領域内にある場合に、前記サーボ制御のループに挿入された一つもしくは複数の中心周波数固定ノッチ・フィルタの規定周波数における減衰率を大きくする。

本発明によれば、ディスク・ドライブにおいて、シンプルな構成により、ボイス・コイル・モータの振動に起因するアクチュエータの共振を抑制し、ヘッドのサーボ制御を安定化させることができる。

本実施形態におけるＨＤＤの全体構成を模式的に示すブロック図である。 本実施形態のＨＤＤにおけるサーボ制御システムをモデル化したブロック図である。 本実施形態において、ピーク・フィルタをイネーブルする領域とディセーブル領域とを模式的に示す図である。 本実施形態において、ピーク・フィルタの半径位置による制御の処理の流れを示すフローチャートである。 本実施形態において、ピーク・フィルタを追加するときの減衰率変化と、一つのピーク・フィルタのゲインを変化させることによる減衰率変化とを模式的に示す図である。 本実施形態において、ボイス・コイルの振動によるアクチュエータの共振の周波数と共振が起きる半径位置とを測定する方法を模式的に示す図である。 アクチュエータにおけるボイス・コイルとアームとの振動をも指摘に示している。 アクチュエータ動作におけるボイス・コイルの位置変化とボイス・コイルが受ける駆動力との関係を模式的に示す図である。

以下に、本発明を適用した実施の形態を説明する。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略及び簡略化がなされている。又、各図面において、同一要素には同一の符号が付されており、説明の明確化のため、必要に応じて重複説明は省略されている。以下においては、ディスク・ドライブの一例であるハードディスク・ドライブ（ＨＤＤ）において、本発明の実施形態を説明する。

本実施形態のＨＤＤは、そのサーボ制御システム（サーボ・ループ）内に一つもしくは複数の中心周波数固定のノッチ・フィルタを有している。ノッチ・フィルタは、ヘッドのサーボ制御において、アクチュエータの共振を抑圧する働きをする。ＨＤＤは、少なくとも一つのノッチ・フィルタをヘッド・スライダの半径位置に応じて制御する。具体的には、ヘッド・スライダが磁気ディスク上の規定の領域内にあるとき、ＨＤＤは規定周波数における一つもしくは複数のノッチ・フィルタによる減衰率を大きくする。これにより、アクチュエータを駆動するボイス・コイル・モータの振動によるアクチュエータの共振を抑圧し、ヘッド・スライダのサーボ制御の不安定化を防止することができる。

本形態におけるノッチ・フィルタ制御について詳細に説明を行う前に、その制御を行うＨＤＤの全体構成を説明する。図１のブロック図において、ＨＤＤ１は、エンクロージャ１０内に、データを記憶するディスクである磁気ディスク１１を有している。スピンドル・モータ（ＳＰＭ）１４は、磁気ディスク１１を所定の角速度で回転する。磁気ディスク１１の各記録面に対応して、磁気ディスク１１にアクセスするヘッド・スライダ１２が設けられている。アクセスは、リード及びライトの上位の概念である。

各ヘッド・スライダ１２は、磁気ディスク上を飛行するスライダと、スライダに固定され磁気信号と電気信号との間の変換を行うヘッド素子部とを備えている。各ヘッド・スライダ１２はアクチュエータ１６の先端部に固定されている。アクチュエータ１６はボイス・コイル・モータ（ＶＣＭ）１５に連結され、揺動軸を中心に揺動することによって、ヘッド・スライダ１２を回転する磁気ディスク１１上においてその半径方向に移動する。アクチュエータ１６の構造は、図７及び図８を参照して説明した構造と同様である。

アクチュエータ１６は、揺動軸を挟んでヘッド・スライダ１２の反対側にボイス・コイルを有しており、そのボイス・コイルはＶＣＭ１５の一部を構成する。磁石による磁界内においてボイス・コイルに駆動電流を流すことで、ボイス・コイルに駆動力を与える。磁束の歪がない位置において、駆動力は揺動軸を中心とする仮想円の接線方向である。本発明は、一枚磁石構造のＶＣＭを有するＨＤＤ及び二枚磁石構造のＶＣＭを有するＨＤＤの双方に適用することができるが、一枚磁石構造のＶＣＭを有するＨＤＤに特に有用である。これらＶＣＭ構造は図８を参照して説明しており、ここでの説明を省略する。ＶＣＭの一枚磁石構造において、磁石はボイス・コイルの上側あるいは下側のいずれに配置してもよい。

磁気ディスク１１の外周端近くに、ランプ１７がエンクロ−ジャ１０内に固定されている。ＨＤＤ１の電源がＯＦＦのときやアイドル時に、アクチュエータ１６は磁気ディスク１１の外側においてランプ１７上で停止している。典型的に、アクチュエータ１６の先端突起がランプ１７上を摺動する。なお、本発明は、アクチュエータ１６が磁気ディスク１１上の所定領域で着地、停止するＣＳＳ（コンタクト・スタート・アンド・ストップ）方式のＨＤＤに適用することができる。

エンクロージャ１０の外側に固定された回路基板２０上には、回路素子が実装されている。モータ・ドライバ・ユニット２２は、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３からの制御データに従って、ＳＰＭ１４及びＶＣＭ１５を駆動する。ＲＡＭ２４は、リード・データ及びライト・データを一時的に格納するバッファとして機能する。エンクロージャ１０内のアーム電子回路（ＡＥ）１３は、複数のヘッド・スライダ１２の中から磁気ディスク１１へのアクセスを行うヘッド・スライダ１２を選択し、その再生信号を増幅してリード・ライト・チャネル（ＲＷチャネル）２１に送る。また、ＲＷチャネル２１からの記録信号を選択したヘッド・スライダ１２に送る。なお、本発明は一つのヘッド・スライダ１２のみを有するＨＤＤに適用することができる。

ＲＷチャネル２１は、リード処理において、ＡＥ１３から供給されたリード信号を一定の振幅となるように増幅し、取得したリード信号からデータを抽出し、デコード処理を行う。読み出されるデータは、ユーザ・データとサーボ・データとを含む。デコード処理されたリード・ユーザ・データ及びサーボ・データは、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３に転送される。また、ＲＷチャネル２１は、ライト処理において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３から転送されたライト・データをコード変調し、更にコード変調されたライト・データをライト信号に変換してＡＥ１３に供給する。

コントローラであるＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、リード／ライト処理制御、コマンド実行順序の管理、サーボ・データを使用したヘッド・スライダ１２（アクチュエータ１６）のポジショニング制御（サーボ制御）、ホスト５１との間のインターフェース制御、ディフェクト管理、エラーが発生した場合のエラー対応処理など、データ処理に関する必要な処理及びＨＤＤ１の全体制御を実行する。

好ましい構成において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヘッド・スライダ１２（アクチュエータ１６）のサーボ・システムにおいて、直列に接続された複数のノッチ・フィルタを有している。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、これらノッチ・フィルタの内の一部のゲインをヘッド・スライダ１２の半径位置に応じて制御する（ノッチ・フィルタのＯＮ／ＯＦＦを含む）ことで、アクチュエータ１６の発振を抑える。

具体的には、磁気ディスク１１上の規定領域内において、アクチュエータ共振周波数における一つもしくは複数のノッチ・フィルタによる減衰率を大きくする。ノッチ・フィルタは中心周波数において最も小さいゲインを有する。一つのノッチ・フィルタのゲイン値を小さくする、あるいは、複数のノッチ・フィルタを重ねることで、アクチュエータ共振周波数におけるゲインを小さくすることができる。これにより、その共振周波数における制御信号の減衰率が大きくなり、アクチュエータ１６の共振を防ぐことができる。

ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ホスト５１からリード／ライトのコマンドを取得すると、シークを開始する。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、現在の半径位置からそのコマンドが示すアドレスのデータ・トラック（ターゲット・データ・トラック）にヘッド・スライダ１２を移動する（シーク）。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、コマンドの指定アドレスをサーボ・アドレスに変換して、ターゲットの半径位置を特定する。シークが終了すると、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヘッド・スライダ１２をターゲット・データ・トラック上に維持する（フォロイング）。

シーク及びフォロイングにおいて、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は記録面から読み出したサーボ・データを使用して、アクチュエータ１６（ＶＣＭ１５）を制御する。シーク制御は、一般に、サーボ・データを使用した速度制御と位置制御とによりアクチュエータ１６（ＶＣＭ１５）を制御する。フォロイング制御において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヘッド・スライダ１２の現在半径位置（サーボ・アドレス）とターゲットの半径位置（サーボ・アドレス）と所定範囲内にあるように位置決め制御を行う。

サーボ・セクタは、記録面上において、円周方向に略等間隔で離間して形成されている。従って、ヘッド・スライダ１２は一定の周期（サーボ・サンプリング周期）でサーボ・データを読み出し、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、そのサーボ・データが示す現在のサーボ・アドレスとターゲットのサーボ・アドレスとの位置誤差を示す位置誤差信号に応じてＶＣＭ１５の駆動電流を制御する。

図２は、本形態のＨＤＤ１におけるサーボ制御システムをモデル化したブロック図である。それぞれのブロックは、伝達関数を示している。図２における制御対象３１はＨＤＣ／ＭＰＵ２３のサーボ制御対象であり、モータ・ドライバ・ユニット２２、ＶＣＭ１５、アクチュエータ１６そしてヘッド・スライダ１２を含む。制御対象３１に対する操作量は、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３からモータ・ドライバ・ユニット２２への制御データであって、ＶＣＭ１５の駆動電流値を表す。制御対象３１からのフィードバックは、ヘッド・スライダ１２が読み出したサーボ・データによる現在のヘッド半径位置を示す信号（データ）である。

本構成例において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３内のサーボ制御システムは、主サーボ制御部２３１、固定ノッチ・フィルタ２３２ａ〜２３２ｃ、適応ノッチ・フィルタ２３３、適応ピーク・フィルタ２３４、そして固定ピーク・フィルタ２３５を有している。ノッチ・フィルタ及びピーク・フィルタの種類及び数は適切に設計される。図２は、本実施形態の説明のために簡略化した構成例を示している。例えば、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、適応フィルタを有さず、固定ノッチ・フィルタ及び固定ピーク・フィルタのみを有していてもよい。典型的には、これら機能要素はＨＤＣ／ＭＰＵ２３内のハードウェアで実現されるが、一部機能をＭＰＵによる演算により実現してもよい。好ましい構成においては、上記ノッチ・フィルタ及びピーク・フィルタはハードウェアで構成されており、遅滞ない処理を実現する。

主サーボ制御部２３１は、位置誤差信号に応じてＶＣＭ電流値（を示す制御データ）を算出する。主サーボ制御部２３１による制御は基本的にＰＩＤ制御であり、制御の安定性を保ちながらヘッド・スライダ１２（アクチュエータ１６）の大きな振動に対応することが難しい。そのため、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、主サーボ制御部２３１の出力に直列に配置されたノッチ・フィルタ２３２ａ〜２３２ｃ、２３３と、主サーボ制御部２３１に並列に接続されたピーク・フィルタ２３４、２３５とを有している。

ノッチ・フィルタ２３２ａ〜２３２ｃ、２３３は、主に、アクチュエータ１６の共振を抑制する働きをする。主サーボ制御部２３１からの信号においてアクチュエータ１６の共振周波数に対応する成分を小さくすることで、アクチュエータ１６の共振周波数における大きな振動を抑えることができる。本構成においてＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、複数の固定ノッチ・フィルタ２３２ａ〜２３２ｃを有する。固定ノッチ・フィルタ２３２ａ〜２３２ｃの中心周波数は固定されている。

アクチュエータ１６の共振周波数（大きな振動を示す周波数）は、基本的に、設計において分かっている。そのため、それら中心周波数に対応する中心周波数を有する固定ノッチ・フィルタを用意することで、シンプルな構成でアクチュエータ１６の振動を効果的に抑えることができる。固定ノッチ・フィルタの実装数は、ＨＤＤ１の設計に従って適切な数が選択される。

アクチュエータ１６の共振は、温度などの条件によって変化することがある。そこで、必要に応じて、適応ノッチ・フィルタ２３３をＨＤＤ１に実装する。適応ノッチ・フィルタ２３３は、中心周波数、ゲイン、半値幅などのフィルタ特性が可変である。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、これらフィルタ特性を適切な値に設定することで、適応ノッチ・フィルタ２３３によりアクチュエータ１６の振動を抑える。

ピーク・フィルタ２３４、２３５は、外乱によるヘッド・スライダ１２（アクチュエータ１６）振動を抑圧する働きをする。ここでの外乱は、ディスク偏心によるＲＲＯ（リピータブル・ラン・アウト）を含む。固定ピーク・フィルタ２３５は、ピーク周波数が予め分かっており、その周波数が一定の振動を抑制する働きをする。固定ピーク・フィルタ２３５の中心周波数（ピーク周波数）は固定である。一般に、そのピーク周波数、ゲイン及びフィルタ波形は一定である。固定ピーク・フィルタの実装数は、ＨＤＤ１の設計により適切な値が選択される。

これに対して、適応ピーク・フィルタ２３４は、外部振動による周波数が不定の振動を抑圧する働きを有している。固定ピーク・フィルタ、アダプティブ・ピーク・フィルタの実装数は、ＨＤＤ１の設計に従って適切な数が選択される。また、設計上不要であれば、これらの一方もしくは双方を省略してもよい。

制御対象３１に含まれるヘッド・スライダ１２が読み出したサーボ・データから、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３はヘッド・スライダ１２の現在半径位置を示すデータ（信号）を生成する。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ホスト５１からのコマンドが指定するターゲット半径位置を示すデータを持っている。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ターゲット半径位置と現在半径位置との差異である位置誤差信号（データ）を算出する。

主サーボ制御部２３１は、位置誤差信号に対して所定の演算処理を行い、ヘッド・スライダ１２をターゲット半径位置に近づける（位置誤差を抑制する）ためのＶＣＭ電流値を算出する。位置誤差信号は、主サーボ制御部２３１と並列に接続されている複数のピーク・フィルタ２３４、２３５にも入力される。ピーク・フィルタ２３４、２３５のそれぞれは、そのピーク周波数において最大ゲインを有し、そのゲインがピーク周波数から離れるに従って大きく減少するフィルタ波形を有している。このため、位置誤差信号における特定周波数成分がフィルタ出力となる。

ピーク・フィルタ２３４、２３５からの出力は、主サーボ制御部２３１からの出力に加えられ、さらに、その加え合わされた値（信号）がノッチ・フィルタ２３２ａ〜２３２ｃ、２３３に与えられる。ノッチ・フィルタ２３２ａ〜２３２ｃ、２３３のそれぞれは、その中心周波数において最小ゲインを有し、そのゲインと位相特性は系が安定になるように設計されている。そのため、サーボ・ゲインはノッチ・フィルタの中心周波数及びその近傍において小さく、かつ安定となり、アクチュエータ１６の共振を防止する。

本形態の特徴的な点として、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、一つもしくは複数の中心周波数固定のノッチ・フィルタを制御することで、記録面の規定領域内において規定周波数においてサーボ・ゲインを小さくする。規定周波数はアクチュエータ１６の共振周波数であり、特に、アームとヘッド・ジンバル・アセンブリの組み合わせにおける共振とボイス・コイル１５における共振とが重なる周波数である。図８を参照して説明したように、ＶＣＭ１５において、磁石端近傍における磁束の歪により、ボイス・コイルの振動が発生する。ボイス・コイルの振動は、磁石端に近いほど大きくなる。上記構成例のように磁気ディスク１１の外周端にランプ１７を有するＨＤＤ１においては、ヘッド・スライダ１２が記録面の内周端に近づくにつれて、ＶＣＭ１５の振動が大きくなる。

図３に示すように、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、予め設定されている半径位置ｒ０よりも内周側の領域ＩＡにおいて、外周側の領域ＯＡよりもサーボ・ゲインの減衰率を大きくする。具体的には、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、一つあるいは複数の動作中のノッチ・フィルタの中心周波数におけるゲインを小さくする、あるいは、新たな一つまたは複数のノッチ・フィルタをサーボ・ループに追加する。制御のシンプリシティの観点からは、新たなノッチ・フィルタを追加することが好ましい。そこで、以下において、好ましい構成として、内周領域ＩＡにおいてノッチ・フィルタを追加するＨＤＣ／ＭＰＵ２３を説明する。

図２、３の好ましい構成例において、ノッチ・フィルタ２３２ａ、２３２ｂのフィルタ波形（ゲイン、中心周波数そして半値幅などの値）は不変（一定）であるとする。固定ノッチ・フィルタ２３２ａ、２３２ｂは、サーボ・ループ内において常に動作している。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、固定ノッチ・フィルタ２３２ｃをＯＮ／ＯＦＦする。固定ノッチ・フィルタ２３２ｃが動作している（イネーブルされている）とき、そのフィルタ波形（ゲイン、中心周波数そして半値幅などの値）は不変（一定）であるとする。また、固定ノッチ・フィルタ２３２ｂ、２３２ｃが同一の中心周波数を有するとする。固定ノッチ・フィルタ２３２ｃがＯＮのとき、固定ノッチ・フィルタ２３２ｂの出力は固定ノッチ・フィルタ２３２ｃを介して適応ノッチ・フィルタ２３３に入る。固定ノッチ・フィルタ２３２ｃがＯＦＦのとき、サーボ制御信号は固定ノッチ・フィルタ２３２ｃをパス・スルーする。

図４のフローチャートを参照しつつ、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３の処理の流れを説明する。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ホスト５１からリードあるいはライトのコマンドを取得する（Ｓ１１）。コマンドが指定するシーク先のアドレスの半径位置が境界位置ｒ０よりも内周の領域ＩＡ内である場合（Ｓ１２におけるＹ）、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は固定ノッチ・フィルタ２３２ｃをイネーブルする。ヘッド・スライダ１２の現在位置（シーク前のフォロイング位置）が内周領域ＩＡであれば、すでに固定ノッチ・フィルタ２３２ｃはイネーブルされており、その状態が維持される。ヘッド・スライダ１２の現在位置（シーク前のフォロイング位置）が内周領域ＩＡの外、つまり外周領域ＯＡにある場合、固定ノッチ・フィルタ２３２ｃはＯＦＦ状態である（ディセールブされている）ので、イネーブルされてＯＦＦ状態からＯＮ状態にスイッチされる。

コマンドが指定するシーク先のアドレスの半径位置が半径位置ｒ０よりも外周側の領域ＯＡ内である場合（Ｓ１２におけるＹ）、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は固定ノッチ・フィルタ２３２ｃをディセーブルする。シーク前にヘッド・スライダ１２がフォロイングしている半径位置（トラック）が外周領域ＯＡ内にあり、固定ノッチ・フィルタ２３２ｃがＯＦＦ状態である場合には、その状態が維持される、シーク前にヘッド・スライダ１２がフォロイングしている半径位置（トラック）が内周領域ＩＡ内にあり、固定ノッチ・フィルタ２３２ｃがＯＮ状態である場合には、ＯＦＦ状態にされる（Ｓ１４）。つまり、固定ノッチ・フィルタ２３２ｃはパスされる。処理の流れにおいては、固定ノッチ・フィルタ２３２ｃによる処理がスキップされる。

ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、固定ノッチ・フィルタ２３２ｃの設定完了後、ターゲット位置へのシークを開始する（Ｓ１５）。このように、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、シーク開始前に固定ピーク・フィルタの再設定を行うことが好ましい。シーク途中あるいはシーク完了後における再設定は、サーボ制御の安定性を低下させる。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヘッド・スライダの１２のシーク毎に上記処理を行う。この処理において重要な点の一つは、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＶＣＭ振動が発生する内周領域ＩＡにおいてのみ固定ノッチ・フィルタ２３２ｃをイネーブルし、外周領域ＯＡにおいてはそれをディセーブルすることである。

サーボ制御の安定性の点においては、ノッチ・フィルタの数は少ないほうがよく、また、減衰率は小さいことが好ましい。そこで、ＶＣＭ振動が発生しない外周領域ＯＡにおいては、固定ノッチ・フィルタ２３２ｃをパス・スルーすることで、外周領域ＯＡにおけるサーボ制御の安定性を高める。このように、ＶＣＭ振動が発生しうる内周領域ＩＡにおいて、外周領域ＯＡにおいて不使用の固定ノッチ・フィルタ２３２ｃを追加することで、シンプルな構成によって、ヘッド・スライダ１２のシーク、セトリング、そしてフォロイングにおいて、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は安定的にサーボ制御を行うことができる。

上記構成は、図５の上側の図に示すように、直列接続されるノッチ・フィルタの数を変化させることで、減衰率及びサーボ・ゲインを調整する。好ましい構成において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、イネーブル／ディセーブルする固定ノッチ・フィルタと同一の中心周波数を有する固定ノッチ・フィルタを常時使用する。上記構成例において、固定ノッチ・フィルタ２３２ｂ、２３２ｃはこの関係を有している。上述のように、アームＨＧＡの振動とＶＣＭ１５の振動とが重なることで、アクチュエータ１６のより大きな振動が発生する。

そのため、アームＨＧＡの振動を常に抑えるための固定ピーク・フィルタと、内周領域で発生するボイス・コイルの振動を抑える固定ピーク・フィルタの双方を有することが好ましい。なお、アクチュエータ１６の共振を抑えることができるのであれば、二つの固定ピーク・フィルタの中心周波数がわずかにずれていてもよい。

ＯＮ／ＯＦＦ制御する固定ノッチ・フィルタ２３２ｃの減衰率は、常時ＯＮの固定ピーク・フィルタ２３２ｂの減衰率よりも大きいことが好ましい。つまり、固定ノッチ・フィルタ２３２ｃのゲインは、固定ノッチ・フィルタ２３２ｂのゲインよりも小さいことが好ましい。これにより、内周領域のいずれの位置においても、効果的にアクチュエータ１６の振動を抑えることができる。また、同一設計の複数ＨＤＤにおいて同一の設定を行う場合、ＨＤＤの製造バラツキによらず、内周領域におけるアクチュエータ振動を効果的に抑えることができる。

イネーブル／ディセーブルする固定ノッチ・フィルタの数は、設計により適切な数を選択する。例えば、ボイス・コイルとアームＨＧＡとが、複数の近似する共振周波数を有する場合、複数の固定ノッチ・フィルタを半径位置に応じてＯＮ／ＯＦＦしてもよい。しかし、サーボ制御の安定性とシンプリシティの点からは、ボイス・コイルとアームＨＧＡの振動とが重なることによるアクチュエータの共振周波数が多くとも一つとなるようにアクチュエータ１６を設計し、さらに、一つの固定ノッチ・フィルタみをイネーブル／ディセーブルすることが好ましい。

図５の下側の図に示すように、固定ノッチ・フィルタのイネーブル／ディセーブルに代えて、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、常時ＯＮの固定ノッチ・フィルタのゲインを、半径位置ｒ０の内周側と外周側とで変化させてもよい。このノッチ・フィルタの中心周波数は変化せず、固定されている。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、内周領域においてノッチ・フィルタを外周領域よりも深くする。これにより、安定したサーボ制御を行うことができる。

しかし、固定ピーク・フィルタのイネーブル／ディセーブルは、１ビットのデータ処理で行うことができるが、固定ピーク・フィルタの特性を再設定するためには、より多くのパラメータを設定することが必要である。従って、ゲインを含むノッチ・フィルタの特性を変更するよりも、固定ノッチ・フィルタをイネーブル／ディセーブルすることが好ましい。

上記好ましい構成においては、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、一つの境界位置ｒ０のみを基準として、一つのノッチ・フィルタ２３２ｃのみをイネーブル／ディセーブルする。制御の安定性とシンプリシティの点からは、この構成が好ましい。しかし、ＨＤＤの設計によっては、記録面を３以上のセクションに分割し、それぞれのセクションにおいて異なる減衰率を設定してもよい。

例えば、記録面が三つのセクションに分割されており、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、イネーブル／ディセーブルする二つの固定ノッチ・フィルタを有する。外周領域で二つの固定ノッチ・フィルタはＯＦＦ状態にあり、中周領域において一方の固定ノッチ・フィルタのみがＯＮ状態、そして、内周領域で二つの固定ノッチ・フィルタがＯＮ状態にある。一つの固定ノッチ・フィルタのゲインを変化させる場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、外周領域、中周領域、内周領域の順に、中心周波数のゲインを小さくすればよい。

ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、実装されている全てのヘッド・スライダ１２において、共通のノッチ・フィルタ制御を行ってもよい。しかし、好ましい構成において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヘッド・スライダ１２毎にノッチ・フィルタ制御を行う。具体的には、ノッチ・フィルタ制御の基準半径位置ｒ０、イネーブル／ディセーブルする固定ノッチ・フィルタのフィルタ特性の設定データを、ヘッド・スライダ１２毎に用意する。好ましくは、他のノッチ・フィルタ及びピーク・フィルタの特性も、ヘッド・スライダ１２毎に設定する。これにより、磁気ディスク１１及びアクチュエータ１６の製造バラツキに応じて適切なサーボ制御を行うことができる。

磁気ディスク１１あるいはＥＥＰＲＯＭといった不揮発性メモリに、ヘッド・スライダ１２のそれぞれに対応するパラメータ・セットを記憶する。パラメータ・セットは、サーボ・ループ上のノッチ・フィルタ及びピーク・フィルタのフィルタ特性を決める。パラメータ・セットは、さらに、ノッチ・フィルタ制御の基準となる半径位置を特定するパラメータを含む。ＨＤＤ１の起動後、パラメータ・セットはＲＡＭ２４あるいはＨＤＣ／ＭＰＵ２３内のＳＲＡＭにロードされる。上述のように、サーボ・ループ内の上記フィルタはハードウェアである。ＭＰＵは、ヘッド・スライダ１２の切り替えにおいて、各フィルタのパラメータを再設定し、さらに、切り替え後の（現在の）ヘッド・スライダ１２のフィルタ制御に必要なパラメータを取得する。

ヘッド・スライダ毎にフィルタ設定を行うためには、ＨＤＤ１の製造において、測定により各ヘッド・スライダ１２に適切なパラメータを決定することが必要となる。本形態の特徴である、固定ノッチ・フィルタの設定パラメータの決定方法を説明する。具体的には、ノット・フィルタをイネーブル／ディセーブルする基準半径位置及びそのノット・フィルタのゲインを決定する方法を説明する。

ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、テスト装置からの指示に従って、基準半径位置とゲインとを決定するキャリブレーションを行う。ＨＤＤ１の設計において、ＶＣＭ１５の振動に起因するアクチュエータ１６の共振周波数の推定値が分かっている。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、記録面上の異なる半径位置において、上記推定値及びその近傍の周波数においてアクチュエータ１６を振動させ、サーボ・ゲインを測定する。図６は、その測定結果を模式的に示す図である。図６のグラフにおいて、Ｙ軸はサーボ・ゲイン、Ｘ軸は振動周波数を示している。異なる３つの線は、それぞれ、異なる半径位置における測定データを示している。より内周の半径位置においてゲインが大きい。

一例において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、キャリブレーション用のサーボ・ループ（フィルタ構成）を形成し、そのサーボ・ループにノイズを混入させてサーボ・ゲインを測定する。このサーボ・ループは、図２に示したサーボ・ループとは異なる構成であり、全体のゲインが、より小さい。なお、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、図２に示したサーボ・ループを使用してもよい。そのとき、固定ノッチ・フィルタ２３２ｃはディセーブルされる。

ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は選択したヘッド・スライダ１２を特定の半径位置に位置決めする。その後、測定レンジ内における共振推定値近傍の周波数を有する複数のノイズを注入し、それぞれの周波数におけるサーボ・ゲインを測定する。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヘッド・スライダ１２の半径位置を変化させて、異なる複数の半径位置で上記測定を繰り返す。これにより、図６に示すような、測定データを得ることができる。

ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、測定データから共振周波数を決定し、さらに、その周波数において閾値を超えるゲインを示す半径位置を特定する。その共振周波数をノッチ・フィルタ２３２ｃあるいは二つのノッチ・フィルタ２３２ｂ、２３２ｃの中心周波数とし、さらに、上記半径位置を、ノッチ・フィルタのＯＮ／ＯＦＦ制御の基準半径位置ｒ０とする。また、最内周位置におけるサーボ・ゲインの値から、ＯＮ／ＯＦＦ制御するノッチ・フィルタ２３２ｃの中心周波数におけるゲインを決定する。

ノッチ・フィルタ２３２ｃを定義するパラメータ・セットは、予め用意しておくこと効率的である。例えば、共振推定周波数及びその近傍の周波数に対応するパラメータ・セットを用意する。ノッチ・フィルタ２３２ｃのゲインが設計で決まっている場合は、各周波数に対して一つのパラメータ・セットを用意し、ゲインが予め決まっていない場合には、それぞれ異なるゲインを有する複数のパラメータ・セットを各周波数に対応して用意しておく。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、測定データに従って、最適な中心周波数とゲインとを有するパラメータ・セットを選択し、それを不揮発性メモリに格納する。

以上、本発明を好ましい実施形態を例として説明したが、本発明が上記の実施形態に限定されるものではない。当業者であれば、上記の実施形態の各要素を、本発明の範囲において容易に変更、追加、変換することが可能である。ノッチ・フィルタを追加する領域は、ＨＤＤの設計により変化しうる。例えば、ＣＳＳのＨＤＤにおいては、外周領域においてＶＣＭの振動が問題となる可能性が高い。その場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、基準半径位置よりも外周側の領域において、ノッチ・フィルタを追加する、あるいは、動作中のノッチ・フィルタのゲインを小さくする。本発明は、上記問題が発生しているＨＤＤ以外のディスク・ドライブに適用することができ、ディスクが筐体内に固定されているか否かを問わない。ノッチ・フィルタの中心周波数は、アクチュエータの共振周波数近傍にあることが重要だが、それに必ずしも一致しているとは限らない。

１ ハードディスク・ドライブ、１０ エンクロージャ、１１ 磁気ディスク
１２ ヘッド・スライダ、１６ アクチュエータ、２０ 回路基板
２１ リード・ライト・チャネル、２３ モータ・ドライバ・ユニット、３１ 制御対象
４４ 周波数設定部、５１ ホスト、２３１ 主サーボ制御部
２３２ａ〜２３２ｃ 固定ノッチ・フィルタ、２３３ 適応ノッチ・フィルタ
２３４ 適応・ピーク・フィルタ、２３５ 固定ピーク・フィルタ

Claims (18)

1. ディスクにアクセスするヘッドと、
   前記ヘッドを支持し、ボイス・コイル・モータによって揺動軸を中心に揺動することで前記ヘッドを前記ディスクの半径方向において移動するアクチュエータと、
   前記ヘッドが読み出したサーボ・データにより前記アクチュエータのサーボ制御を行い、前記サーボ制御のループに挿入された一つもしくは複数の中心周波数固定ノッチ・フィルタを有する、コントローラと、を有し、
   前記ディスクの最内周部に前記ヘッドが位置する場合に、前記アクチュエータのボイス・コイルは、前記ボイス・コイル・モータの磁気回路の磁束の歪がある場所に位置し、前記ディスクの最外周部では磁気回路の磁束の歪のない場所に位置し、
   前記コントローラは、前記ヘッドの現在位置が規定領域外にあり前記ヘッドのターゲット位置が前記規定領域内にある場合に、規定周波数における前記一つもしくは複数の中心周波数固定ノッチ・フィルタによる減衰率を大きくする、
   ディスク・ドライブ。
2. 前記コントローラは、前記ターゲット位置が前記規定領域内にある場合に、前記ターゲット位置へのシークを開始する前に、前記減衰率を大きくする、
   請求項１に記載のディスク・ドライブ。
3. 前記コントローラは、前記規定周波数を中心周波数とするノッチ・フィルタをイネーブルすることによって前記減衰率を大きくする、
   請求項１に記載のディスク・ドライブ。
4. 前記ディスクの外周端近傍に位置し、前記アクチュエータの停止位置を与えるランプをさらに有し、
   前記規定領域は、前記ディスク上における規定半径位置よりも内周側の領域である、
   請求項１に記載のディスク・ドライブ。
5. 一つもしくは複数の中心周波数固定ノッチ・フィルタは、常時動作している第１ノッチ・フィルタと、前記第１ノッチ・フィルタと同一の中心周波数を有し、前記コントローラによってイネーブル／ディセーブルされる第２ノッチ・フィルタとを含む、
   請求項３に記載のディスク・ドライブ。
6. 前記第２ノッチ・フィルタの中心周波数におけるゲインは、前記第１ノッチ・フィルタの中心周波数におけるゲインよりも小さい、
   請求項５に記載のディスク・ドライブ。
7. 前記ボイス・コイル・モータは、一枚磁石構造である、
   請求項１に記載のディスク・ドライブ。
8. 前記アクチュエータは複数のヘッドを支持し、
   前記複数のヘッドのそれぞれに対して、前記規定領域が予め設定されている、
   請求項１に記載のディスク・ドライブ。
9. 前記コントローラは、異なる半径位置のそれぞれにおいて、異なる周波数のノイズをサーボ・ループに混入してそれぞれの周波数におけるサーボ・ゲインを測定し、
   前記異なる半径位置における前記測定の結果から前記規定領域を決定する、
   請求項１に記載のディスク・ドライブ。
10. 前記ディスク上において３以上の領域が定義されており、前記領域のそれぞれにおいて前記規定周波数における異なる減衰率が定義されており、前記規定領域は前記３以上の領域の内の最も減衰率が大きい領域である、
    請求項１に記載のディスク・ドライブ。
11. ディスクにアクセスするヘッドと、前記ヘッドを支持し、ボイス・コイル・モータによって揺動軸を中心に揺動することで前記ヘッドを前記ディスクの半径方向において移動するアクチュエータと、を有し、前記ディスクの最内周部に前記ヘッドが位置する場合に、前記アクチュエータのボイス・コイルは、前記ボイス・コイル・モータの磁気回路の磁束の歪がある場所に位置し、前記ディスクの最外周部では磁気回路の磁束の歪のない場所に位置するディスク・ドライブにおけるサーボ制御方法であって、
    前記ヘッドによってディスク上のサーボ・データを読み出し、
    前記読み出したサーボ・データにより前記アクチュエータのサーボ制御を行い、
    前記ヘッドの現在位置が規定領域外にあり前記ヘッドのターゲット位置が前記規定領域内にある場合に、前記サーボ制御のループに挿入された一つもしくは複数の中心周波数固定ノッチ・フィルタの規定周波数における減衰率を大きくする、
    方法。
12. 前記ターゲット位置が前記規定領域内にある場合に、前記ターゲット位置へのシークを開始する前に、前記減衰率を大きくする、
    請求項１１に記載の方法。
13. 前記規定周波数を中心周波数とするノッチ・フィルタをイネーブルすることによって前記減衰率を大きくする、
    請求項１１に記載の方法。
14. 前記ディスク・ドライブは、前記ディスクの外周端近傍に位置し、前記アクチュエータの停止位置を与えるランプをさらに有し、
    前記規定領域は、前記ディスク上における規定半径位置よりも内周側の領域である、
    請求項１１に記載の方法。
15. 一つもしくは複数の中心周波数固定ノッチ・フィルタは、常時動作している第１ノッチ・フィルタと、前記第１ノッチ・フィルタと同一の中心周波数を有し、コントローラによってイネーブル／ディセーブルされる第２ノッチ・フィルタとを含む、
    請求項１１に記載の方法。
16. 前記第２ノッチ・フィルタの中心周波数におけるゲインは、前記第１ノッチ・フィルタの中心周波数におけるゲインよりも小さい、
    請求項１５に記載の方法。
17. 前記ボイス・コイル・モータは、一枚磁石構造である、
    請求項１１に記載の方法。
18. さらに、異なる半径位置のそれぞれにおいて、異なる周波数のノイズをサーボ・ループに混入してそれぞれの周波数におけるサーボ・ゲインを測定し、
    前記異なる半径位置における前記測定の結果から前記規定領域を決定する、
    請求項１１に記載の方法。

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