JP5203724B2 - 絶縁抵抗計 - Google Patents

絶縁抵抗計 Download PDF

Info

Publication number
JP5203724B2
JP5203724B2 JP2008010582A JP2008010582A JP5203724B2 JP 5203724 B2 JP5203724 B2 JP 5203724B2 JP 2008010582 A JP2008010582 A JP 2008010582A JP 2008010582 A JP2008010582 A JP 2008010582A JP 5203724 B2 JP5203724 B2 JP 5203724B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
range
value
insulation resistance
measurement range
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008010582A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009174860A (ja
Inventor
竜太 斎藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hioki EE Corp filed Critical Hioki EE Corp
Priority to JP2008010582A priority Critical patent/JP5203724B2/ja
Publication of JP2009174860A publication Critical patent/JP2009174860A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5203724B2 publication Critical patent/JP5203724B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

本発明は、複数種類の測定レンジのうちのいずれかで測定対象体についての絶縁抵抗値を測定可能に構成された絶縁抵抗計に関するものである。
例えば、特開平8−5671号公報には、電圧の測定処理を実行可能に構成されたディジタル電圧計(以下、「電圧計」ともいう)、およびデータバスを介して電圧計に接続されたパーソナルコンピュータ(以下、「パソコン」ともいう)を備えたシステム(以下、「測定システム」ともいう)が開示されている。この測定システムでは、電圧計がパソコンの制御に従って測定レンジを切り替えて電圧の測定処理を実行する構成が採用されている。具体的には、この測定システムでは、電圧計が、「10Vレンジ」、「3Vレンジ」、「1Vレンジ」、「0.3Vレンジ」、「0.1Vレンジ」、「30mVレンジ」、「10mVレンジ」、「3mVレンジ」および「1mVレンジ」の9種類の測定レンジのうのいずれかで電圧を測定可能に構成されている。
また、測定処理に際しては、まず、電圧計がパソコンの制御に従って「10Vレンジ」で測定処理を開始する。この際に、測定電圧が測定レンジに対する基準電圧範囲を外れているときには、パソコンに対してレンジ変更要求信号(以下、「要求信号」ともいう)を送信して、これに応じて送信されるレンジ設定指令信号(以下、「指令信号」ともいう)に従って測定レンジを「3Vレンジ」に変更して再び電圧の測定処理を実行する。また、「3Vレンジ」での測定電圧が基準電圧範囲内のときには、パソコンに対してレンジ設定完了信号(以下、「完了信号」ともいう)を送信すると共に、測定電圧が測定レンジに対する基準電圧範囲を外れているときには、パソコンに対して要求信号を再び送信して指令信号に従って測定レンジを「1Vレンジ」に変更して再び電圧の測定処理を実行する。このように、この電圧計では、測定電圧に応じて測定レンジが順次切り替えられて電圧の測定処理が実行されるため、煩雑な測定レンジ切替え作業が不要となっている。
また、この測定システムでは、電圧計から完了信号が送信されたとき(測定電圧が基準電圧範囲内のとき)に、パソコンがその時点において電圧計に設定されている測定レンジ(指令信号によって指定した測定レンジ)を記憶しておき、次回の測定処理時には、記憶している測定レンジを最初に設定する測定レンジとして指定する構成が採用されている。これにより、例えば「10mVレンジ」との測定レンジで測定した電圧が基準電圧範囲内のときには、次回の測定処理時において、電圧計がパソコンの制御に従って「10mVレンジ」で測定処理を開始して、測定電圧が測定レンジに対する基準電圧範囲を外れているときには、「10Vレンジ」、「3Vレンジ」・・の順で測定レンジを順次切り替えて電圧の測定処理を実行する。したがって、例えば生産ラインにおける測定処理時のように、被測定電圧に大きな変動が生じることのない環境下(被測定電圧がほぼ一定の環境下)においては、2回目以降の測定処理時において測定レンジの切り替えが不要となる分だけ、電圧の測定処理に要する時間を短縮することが可能となっている。
さらに、この測定システムでは、電圧計から要求信号が送信されたとき(測定電圧が基準電圧範囲を外れているとき)に、パソコンがその時点において電圧計に設定されている測定レンジよりも切替え優先順位が低い各測定レンジのうちの中間の測定レンジを指定する指令信号を送信する動作モードを選択可能に構成されている。具体的には、「10Vレンジ」における電圧測定の後に電圧計から要求信号が送信されたときに、パソコンは、「10Vレンジ」よりも切替え優先順位が低い「3Vレンジ」〜「1mVレンジ」のうちの中間の測定レンジ(この例では、「0.1Vレンジ」)を指定する指令信号を送信する。また、「0.1Vレンジ」における電圧測定の後に要求信号が送信されたときには、「0.1Vレンジ」よりも切替え優先順位が低い「30mVレンジ」〜「1mVレンジ」のうちの中間の測定レンジ(この例では、「10mVレンジ」)を指定する指令信号を送信する。これにより、被測定電圧が「10mVレンジ」において基準電圧範囲内となる上記の例では、3回の電圧測定および2回のレンジ切替えによって測定処理を完了することが可能となり、「10Vレンジ」から順に切り替えて電圧を測定する構成と比較して、測定処理に要する時間を短縮することが可能となっている。
特開平8−5671号公報(第3−4頁、第1−8図)
ところが、従来の測定システムには、以下の問題点がある。すなわち、従来の測定システムでは、前回の測定処理時に基準電圧範囲内の電圧が測定された際の測定レンジで測定処理を開始する動作モード(以下、「第1の動作モード」ともいう)と、測定電圧が基準電圧範囲を外れているときに、その時点において設定されている測定レンジよりも切替え優先順位が低い各測定レンジのうちの中間の測定レンジに切り替えて電圧を測定する動作モード(以下、「第2の動作モード」ともいう)とのいずれかで動作することによって測定処理に要する時間を短縮する構成が採用されている。しかしながら、従来の測定システムでは、第1の動作モードおよび第2の動作モードのいずれで測定処理を実行したとしても、「10Vレンジ」から順に切り替えて電圧を測定する場合よりも、測定レンジの切り替え回数が多くなることがある。
具体的には、例えば、前回の測定処理時に「10mVレンジ」が最優先の測定レンジとして記憶された状態において、前回の測定処理時とは測定対象体が相違するなどして、被測定電圧が「1Vレンジ」で基準電圧範囲内となるように変化したときには、「10Vレンジ」から順に切り替えて電圧を測定する構成では、「3Vレンジ」への切り替え、および「1Vレンジ」への切り替えの2回のレンジ切替えによって一連の測定処理を完了するのに対して、第1の動作モードで動作しているときには、一連の測定処理を完了するまでに、「10Vレンジ」への切り替え、「3Vレンジ」への切り替え、および「1Vレンジ」への切り替えの3回のレンジ切替えを要することとなる。また、従来の測定システムでは、例えば、正常状態において被測定電圧が「10mVレンジ」で基準電圧範囲内となる測定対象体に何らかの異常が生じて、被測定電圧が「3mVレンジ」で基準電圧範囲内となったときには、この「3mVレンジ」が次回の測定処理時における最優先の測定レンジとして記憶される。したがって、測定対象体が正常状態に復帰したときには、「10mVレンジ」との測定レンジに切り替えられるまでに複数回のレンジ切替え処理を実行する必要が生じることとなる。
同様にして、被測定電圧が「1Vレンジ」で基準電圧範囲内となる場合において、「10Vレンジ」から順に切り替えて電圧を測定するときには、上記のように2回のレンジ切替えによって一連の測定処理を完了するのに対して、第2の動作モードで動作しているときには、一連の測定処理を完了するまでに、「0.1Vレンジ」への切り替え、「0.3Vレンジ」への切り替え、および「1Vレンジ」への切り替えの3回のレンジ切替えを要することとなる。このように、従来の測定システムでは、レンジ切り替えの回数を減らして一連の測定処理に要する時間を短縮しようとしているにも拘わらず、被測定電圧によっては、「10Vレンジ」から順に切り替えて電圧を測定する場合よりも、測定処理に要する時間が長くなることがあるという問題点が存在する。
本発明は、かかる解決すべき課題に鑑みてなされたものであり、測定処理に要する時間を十分に短縮し得る絶縁抵抗計を提供することを主目的とする。
上記目的を達成すべく請求項1記載の絶縁抵抗計は、第1の測定レンジから第Nの測定レンジ(Nは、3以上の自然数)までの複数種類の測定レンジのうちの指定された当該測定レンジで測定対象体についての絶縁抵抗値を測定する測定部と、指定した前記測定レンジの対象測定値範囲内に含まれる前記絶縁抵抗値が測定されるまで前記第Nの測定レンジに向かって1段階低抵抗側の当該測定レンジを順に指定して当該絶縁抵抗値を測定させる測定処理を実行する制御部とを備えた絶縁抵抗計であって、前記制御部は、第Mの測定レンジ(Mは、2以上N以下の自然数)が選択されたときに、前記測定処理時において当該第Mの測定レンジから前記第Nの測定レンジに向かって1段階低抵抗側の当該測定レンジを順に指定し、かつ、合否判定用基準値が設定されたときに、当該合否判定用基準値を前記対象測定値範囲内に含む前記測定レンジが前記第Mの測定レンジとして選択されたとして前記測定処理を実行すると共に、当該合否判定用基準値以上の前記絶縁抵抗値が前記測定部によって測定されたときに前記測定対象体が合格であると判定し、当該合否判定用基準値を下回る前記絶縁抵抗値が前記測定部によって測定されたときに前記測定対象体が不合格であると判定する。
また、請求項2記載の絶縁抵抗計は、第1の測定レンジから第Nの測定レンジ(Nは、3以上の自然数)までの複数種類の測定レンジのうちの指定された当該測定レンジで測定対象体についての絶縁抵抗値を測定する測定部と、指定した前記測定レンジの対象測定値範囲内に含まれる前記絶縁抵抗値が測定されるまで前記第Nの測定レンジに向かって1段階低抵抗側の当該測定レンジを順に指定して当該絶縁抵抗値を測定させる測定処理を実行する制御部とを備えた絶縁抵抗計であって、前記制御部は、第Mの測定レンジ(Mは、2以上N以下の自然数)が選択されたときに、前記測定処理時において当該第Mの測定レンジから前記第Nの測定レンジに向かって1段階低抵抗側の当該測定レンジを順に指定し、かつ、報知処理用基準値が設定されたときに、当該報知処理用基準値のL倍(Lは、予め設定された1よりも大きい任意の数)の値を前記対象測定値範囲内に含む前記測定レンジと、前記報知処理用基準値を前記対象測定値範囲内に含む前記測定レンジよりもK段階(Kは、予め設定された任意の数)高抵抗側の前記測定レンジとのいずれか予め規定された一方が前記第Mの測定レンジとして選択されたとして前記測定処理を実行すると共に、当該報知処理用基準値を下回る前記絶縁抵抗値が前記測定部によって測定されたときに報知処理を実行する。
請求項1,2記載の絶縁抵抗計によれば、第Mの測定レンジが選択されたときに、測定処理時に第1の測定レンジから第(M−1)の測定レンジに切り替えさせることなく、第Mの測定レンジから第Nの測定レンジに向かって1段階低抵抗側の測定レンジ順に切り替えさせて絶縁抵抗値を測定させることにより、使用形態に応じて、最初に切り替えられる測定レンジを使用者が希望する任意の測定レンジに選択することができるため、測定レンジの切り替え回数を必要最低限の十分に少ない回数とすることができる。したがって、この絶縁抵抗計によれば、絶縁抵抗値の測定に要する時間を十分に短縮することができる。
また、請求項1記載の絶縁抵抗計では、合否判定用基準値が設定されたときに、合否判定用基準値を対象測定値範囲内に含む測定レンジが第Mの測定レンジとして選択されたとして測定処理を実行する。また、請求項2記載の絶縁抵抗計では、報知処理用基準値が設定されたときに報知処理用基準値のL倍の値を対象測定値範囲内に含む測定レンジと、報知処理用基準値を対象測定値範囲内に含む測定レンジよりもK段階高抵抗側の測定レンジとのいずれか予め規定された一方が第Mの測定レンジとして選択されたとして測定処理を実行する。したがって、請求項1,2記載の絶縁抵抗計によれば、測定レンジの切り替え回数を必要最低限の十分に少ない回数とすることができるだけでなく、合否判定用基準値または報知処理用基準値を設定するだけで、最初に切り替えられる測定レンジが自動的に選択されるため、この種の装置の操作に不慣れな使用者であっても、測定処理に先立って実施する条件設定作業を迅速かつ容易に実施することができる。
以下、本発明に係る絶縁抵抗計の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
最初に、絶縁抵抗計1の構成について、図面を参照して説明する。
図1に示す絶縁抵抗計1は、本発明に係る絶縁抵抗計の一例であるデジタル式の絶縁抵抗計であって、測定部2、操作部3、表示部4、制御部5および記憶部6を備えて、測定対象体Xについての絶縁抵抗値を測定可能に構成されている。測定部2は、後述するようにして制御部5から出力される制御信号S2に従って測定レンジを切り替えるレンジ切替部と、測定対象体Xに対して測定電圧を印加する電圧印加部と、測定電圧を印加した状態における電流値を測定する電流測定部と、印加した測定電圧の電圧値および測定した電流値に基づいて絶縁抵抗値を演算する演算部とを備え(共に図示せず)、その演算結果(絶縁抵抗値)を測定結果データD2として出力する。この場合、図2に示すように、この絶縁抵抗計1は、例えば、「5TΩ」との測定レンジR1から、「10MΩ」との測定レンジR7までの7種類の測定レンジ(本発明にける「N」が「7」の例:以下、区別しないときには「測定レンジR」ともいう)のいずれかで絶縁抵抗の測定を実行可能に構成されている。
操作部3は、絶縁抵抗計1の動作条件を設定するためのスイッチや、測定開始/測定終了を指示するためのスイッチなどの各種操作スイッチを備え、これらのスイッチ操作に応じた操作信号S1を出力する。表示部4は、例えばLCD(Liquid Crystal Display)で構成されて、制御部5の制御に従って測定結果等を表示する。制御部5は、絶縁抵抗計1を総括的に制御する。具体的には、制御部5は、測定部2に制御信号S2を出力して(測定部2を制御して)上記の測定レンジR1〜R7のうちのいずれかの測定レンジRを指定して切り替えさせて測定対象体Xについての絶縁抵抗値を測定させる測定処理10(図3参照)を実行する。この場合、制御部5は、測定処理10において、測定レンジRの対象測定値範囲(以下、「測定値範囲」ともいう)内の測定値で絶縁抵抗値が測定されるまで、最初に切り替えさせるべき測定レンジR(本発明における第Mの測定レンジ)から測定レンジR7(本発明における第Nの測定レンジ)に向かって測定レンジを順に指定して切り替えさせて絶縁抵抗値を測定させる。また、制御部5は、後述するように、操作部3のスイッチ操作によって測定条件が選択された(入力操作された)ときに、選択された測定条件に応じて測定条件データD1を生成して記憶部6に記憶させる。記憶部6は、制御部5の動作プログラムや、上記の測定条件データD1などを記憶する。
次に、絶縁抵抗計1を用いて測定対象体Xについての絶縁抵抗値を測定する方法について、図面を参照して説明する。
この絶縁抵抗計1による絶縁抵抗値の測定に際しては、まず、本発明における第Mの測定レンジと本発明における報知処理用基準値とを設定する(選択する)作業を実施する。この場合、この種の絶縁抵抗計では、測定される抵抗値が予め規定された抵抗値以上のときに測定対象体Xが合格であると判定し、測定される抵抗値が規定された抵抗値を下回るときに測定対象体Xが不合格であると判定するといった使用形態での使用が一般的となっている。また、合否判定の判定基準(測定対象体Xに対して定められた規格や、測定対象体Xの製造者が定めた基準など:上記の「規定された抵抗値」)は、一般的には、測定処理の開始に先立って規定されている。したがって、操作部3の各操作スイッチを操作することにより、一例として、「100MΩ」との判定基準を設定する(100MΩ以上の抵抗値が測定されたときに測定対象体Xを合格とし、100MΩを下回る抵抗値が測定されたときに測定対象体Xを不合格とするように設定する)。
なお、この絶縁抵抗計1では、後述するようにして、合否判定の基準値が選択されたときに、選択された基準値を測定値範囲内に含む測定レンジRが、最初に切り替えられる測定レンジRとして選択されたとして、絶縁抵抗値の測定処理が実行される。したがって、この絶縁抵抗計1では、上記の例における「100MΩとの基準値が選択されたとき」が、本発明における「第Mの測定レンジが選択されたとき」に相当する。次いで、コンパレータ機能によって警告表示やブザー音の出力(本発明における報知処理の一例)を実行させるための警告値(報知処理用基準値)を設定する。具体的には、操作部3の各操作スイッチを操作することにより、一例として、「10MΩ」との警告値(その値を下回る抵抗値が測定されたときに警告表示およびブザー音の出力を実行させるための基準値)を設定する。これに応じて、制御部5は、操作部3からの操作信号S1に基づいて「100MΩ」との基準値と、「10MΩ」との警告値が選択された(設定された)として、測定条件データD1を生成して記憶部6に記憶させる。これにより、測定処理の開始準備が完了する。
この状態において、操作部3の測定開始スイッチが操作されたときに、制御部5は、図3に示す測定処理10を開始する。この測定処理10では、制御部5は、まず、合否判定の基準値が設定されているか否か(選択された基準値を特定可能な測定条件データD1が記憶部6に記憶されているか否か)を判別する(ステップ11)。この際に、制御部5は、基準値が設定されている(記憶部6に測定条件データD1が記憶されている)と判別して、その基準値(この例では、「100MΩ」)が測定レンジR1〜R7のいずれの測定値範囲内に含まれるかを特定し、特定した測定レンジRに切り替える旨を指示する(特定した測定レンジRを指定する)制御信号S2を測定部2に出力する(測定レンジRの指定:ステップ12)。この際には、90MΩ〜999MΩとの測定値範囲を有する測定レンジR5が「設定された基準値を測定値範囲内に含む測定レンジR」として特定されて、測定レンジR5に切り替える旨の制御信号S2が制御部5から測定部2に出力される。これに応じて、測定部2(レンジ切替部)は、測定レンジR1〜R4に切り替えることなく、測定レンジを測定レンジR5に直接切り替える。
次いで、制御部5は、絶縁抵抗値の測定開始を指示する制御信号S2を測定部2に出力する(ステップ13)。これに応じて、測定部2は、測定レンジR5に切り替えた状態において、測定対象体Xに対して測定電圧を印加しつつ電流値を測定して、印加した測定電圧の電圧値と測定した電流値とに基づいて絶縁抵抗値を演算する。また、測定部2は、演算結果に基づいて測定結果データD2を生成して制御部5に出力する。なお、測定部2は、操作部3の測定終了スイッチが操作されて制御部5から絶縁抵抗値の測定終了を指示する制御信号S2が出力されるまで、絶縁抵抗値の測定と、測定結果データD2の生成および出力とを繰り返して実行する。
一方、制御部5は、測定部2から出力された測定結果データD2と、記憶部6に記憶されている測定条件データD1とに基づき、測定部2による測定値が、指定した測定レンジR(切り替えた測定レンジR)の測定値範囲の上限値(この例では、測定レンジR5の測定値範囲の上限値である999MΩ)よりも高いか否かを判別する(ステップ14)。この際に、測定部2による測定値が指定した測定レンジRの測定値範囲の上限値よりも高い値のときには、制御部5は、表示部4を制御して、測定値が基準値よりも高抵抗であるとのメッセージ(一例として、「>100MΩ」との文字列)を表示させ(ステップ15)、この測定処理10を終了する。これにより、表示部4に表示されたメッセージに基づき、測定対象体Xの絶縁抵抗値が基準値以上で、その測定対象体Xが合格であると判定することができる。
この場合、前述したように、この種の絶縁抵抗計を使用した測定処理時においては、基準値以上の抵抗値が測定されたときに、測定値の大小を問わず、その測定対象体Xを合格判定としている。このため、基準値以上の抵抗値が測定されたときには、測定値が基準値以上であるのを認識することができれば十分であって、正確な測定値の表示は不要となっている。したがって、設定された基準値を測定値範囲内に含む測定レンジRの上限値よりも高い測定値が測定されたときに上記のメッセージを表示させるこの絶縁抵抗計1では、例えば、基準値以上の抵抗値が測定されたときであっても測定値のふらつきが収まって正確な測定値が測定されるまで所定時間待機してから測定値を表示させる構成の絶縁抵抗計と比較して、測定対象体Xの合否判定に必要な情報を短時間で表示させることが可能となっている。これにより、この絶縁抵抗計1では、一連の測定処理に要する時間が十分に短くなっている。
一方、測定部2による測定値が、指定した測定レンジR(切り替えた測定レンジR)の測定値範囲の上限値よりも低いときには、制御部5は、その測定値が、指定した測定レンジRの測定値範囲の下限値(この例では、測定レンジR5の測定値範囲の下限値である90MΩ)よりも低いか否かを判別する(ステップ16)。この際に、測定部2による測定値が指定した測定レンジRの測定値範囲の下限値よりも低い値のときには、制御部5は、その時点において切り替えられている測定レンジR(この例では、測定レンジR5)よりも測定値範囲が段階低抵抗側の測定レンジR(この例では、測定値範囲が9.0MΩ〜99.9MΩの測定レンジR6)を指定して切り替えさせる制御信号S2を測定部2に出力する(ステップ17)。次いで、制御部5は、絶縁抵抗値の測定開始を指示する制御信号S2を測定部2に出力する(ステップ13)。
これに応じて、測定部2は、測定レンジR5から測定レンジR6に切り替えた後に、切り替え後の測定レンジR6で測定対象体Xの絶縁抵抗値を測定して測定結果データD2を制御部5に出力する。一方、制御部5は、測定部2から出力された測定結果データD2と、記憶部6に記憶されている測定条件データD1とに基づき、一例として、測定値が指定した測定レンジRの測定値範囲の上限値(この例では、測定レンジR6の測定値範囲の上限値である99.9MΩ)よりも低いと判別すると共に(ステップ14)、測定値が指定した測定レンジRの測定値範囲の下限値(この例では、測定レンジR6の測定値範囲の下限値である9.0MΩ)よりも高いと判別する(ステップ16)。次いで、制御部5は、測定値が指定された基準値(この例では、100MΩ)よりも低いと判別し(ステップ18)、表示部4を制御して、測定結果データD2に基づく測定値(例えば、「88MΩ」との文字列)を表示させる(ステップ19)。続いて、制御部5は、測定値(この例では、88MΩ)が警告値(この例では、10MΩ)よりも高いと判別し(ステップ20)、この測定処理10を終了する。これにより、表示部4に表示された測定値に基づき、測定対象体Xの絶縁抵抗値が基準値を下回っており、その測定対象体Xが不合格であると判定することができる。
なお、上記の例では、測定値が警告値よりも高い88MΩであったが、例えば、測定値が警告値よりも低い9.5MΩのときには(ステップ20)、制御部5は、表示部4を制御して、「9.5MΩ」との測定値の表示に加えて「NG」との文字列(警告表示)を表示させると共に、図示しないスピーカからブザー音(警告音)を出力させる(ステップ21)。これにより、表示部4に表示された測定値および警告表示や、ブザー音の出力に基づき、測定対象体Xの絶縁抵抗値が判定用の基準値および警告値を下回っており、その測定対象体Xが不合格であると判定することができる。
また、制御部5は、測定レンジR5に切り替えられている状態において、測定部2による測定値が、その測定レンジRの測定値範囲の上限値よりも低く(ステップ14)、かつ、その測定レンジRの測定値範囲の下限値よりも高いと判別したときには(ステップ16)、前述したように、その測定値が、指定された基準値(この例では、100MΩ)よりも高いか否かを判別する(ステップ18)。この際に、測定値が、指定された基準値よりも高いとき(一例として、測定値が200MΩのとき)には、制御部5は、表示部4を制御して、測定値が基準値よりも高抵抗であるとのメッセージ(この例では、「>100MΩ」との文字列)を表示させ(ステップ15)、この測定処理10を終了する。これにより、表示部4に表示されたメッセージに基づき、測定対象体Xの絶縁抵抗値が基準値以上で、その測定対象体Xが合格であると判定することができる。
一方、測定値が、指定された基準値よりも低いとき(一例として、測定値が95MΩのとき)には(ステップ18)、制御部5は、表示部4を制御して、測定結果データD2に基づく測定値(この例では、「95MΩ」との文字列)を表示させる(ステップ19)。次いで、制御部5は、測定値が警告値よりも高いと判別し(ステップ20)、この測定処理10を終了する。これにより、表示部4に表示された測定値に基づき、測定対象体Xの絶縁抵抗値が基準値を下回っており、その測定対象体Xが不合格であると判定することができる。
なお、合否判定の基準値が指定されている状態(測定条件データD1が記憶部6に記憶されている状態)において測定処理10を開始する例について上記したが、この絶縁抵抗計1では、基準値が指定されていないときには、従来の一般的な絶縁抵抗計と同様にして、測定値範囲が最も高抵抗の測定レンジRから順にレンジ切り替えが行われて絶縁抵抗値が測定される。具体的には、測定処理10の開始に先立って前述した合否判定の基準値が設定されていないときには(ステップ11)、制御部5は、測定値範囲が最も高抵抗の測定レンジR(この例では、測定値範囲が0.90T〜5.00TΩの測定レンジR1)を指定して切り替えさせる制御信号S2を測定部2に出力した後に(ステップ22)、絶縁抵抗値の測定開始を指示する制御信号S2を測定部2に出力する(ステップ13)。この後、前述したように、ステップ14〜18の一連の処理が実行されて、例えば、測定対象体Xについての絶縁抵抗値が表示部4に表示される(ステップ19)。
このように、この絶縁抵抗計1によれば、本発明における第Mの測定レンジが選択されたとき(この例では、測定レンジR5の測定値範囲である90MΩ〜999MΩに含まれる100MΩとの基準値が指定されて測定レンジR5が選択されたとき)に、制御部5が、測定処理時において本発明における第1の測定レンジから第(M−1)の測定レンジ(この例では、測定レンジR1〜R4)に切り替えさせることなく、測定レンジR5から本発明における第Nの測定レンジ(この例では、測定レンジR7)に向かって測定レンジRを順に切り替えさせて絶縁抵抗値を測定させることにより、使用形態に応じて、最初に切り替えられる測定レンジRを使用者が希望する任意の測定レンジに選択することができるため、測定レンジRの切り替え回数を必要最低限の十分に少ない回数とすることができる。したがって、この絶縁抵抗計1によれば、絶縁抵抗値の測定に要する時間を十分に短縮することができる。
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、合否判定の基準値が指定された(入力操作された)ときに、その基準値を測定値範囲内に含む測定レンジRが本発明における第Mの測定レンジとして選択されたとして絶縁抵抗値を測定する構成の絶縁抵抗計1を例に挙げて説明したが、例えば、測定レンジR1〜R7のいずれかを直接的に使用者に選択させる構成を採用することができる。このような構成においても、上記の絶縁抵抗計1と同様にして、使用形態に応じて、最初に切り替えられる測定レンジRを使用者が希望する任意の測定レンジに選択することができるため、測定レンジRの切り替え回数を必要最低限の十分に少ない回数とすることができる。したがって、この構成を採用した絶縁抵抗計によれば、絶縁抵抗値の測定に要する時間を十分に短縮することができる。
また、上記の絶縁抵抗計1では、合否判定用の基準値を測定値範囲内に含む測定レンジRが本発明における第Mの測定レンジとして選択されたとして一連の測定処理を実行する構成を採用しているが、本発明はこれに限定されない。具体的には、一例として、上記の絶縁抵抗計1において、警告値(コンパレータ機能用の基準値)が設定されたときに、この警告値に対して予め規定された条件を満たす測定レンジR(一例として、警告値の10倍の値を測定値範囲内に含む測定レンジR:「L倍=10倍」の例)が本発明における第Mの測定レンジとして選択されたとして、一連の測定処理を実行する構成を採用することができる。なお、コンパレータ機能については、上記の絶縁抵抗計1と同様であるため、その説明を省略する。このような構成の絶縁抵抗計では、上記の「警告値」が本発明における報知処理用基準値に相当し、「警告表示やブザー音の出力」が本発明における報知処理に相当する。
この場合、「第Mの測定レンジとして選択されたとする測定レンジ」は、上記の例示のような「報知処理用基準値(警告値)の10倍の値を測定値範囲内に含む測定レンジ」に限定されず、例えば、「報知処理用基準値(警告値)を測定値範囲内に含む測定レンジRよりも1段階高抵抗側の測定レンジR(「K段階=1段階」の例)」などがこれに含まれる。また、上記の例示における「10倍(L倍)の値」や「1段階(K段階)高抵抗側」などの詳細な条件については、使用者が任意に設定できるように構成することができる。
このような構成の絶縁抵抗計によれば、本発明における報知処理用基準値(この例では、コンパレータ機能用の警告値)が設定されたときに報知処理用基準値のL倍の値を測定値範囲内に含む測定レンジR(この例では、警告値の10倍の値を測定値範囲内に含む測定レンジR)、または、報知処理用基準値(警告値)を測定値範囲内に含む測定レンジRよりもK段階高抵抗側の測定レンジR(この例では、警告値を測定値範囲内に含む測定レンジRよりも1段階高抵抗側の測定レンジR)が本発明における第Mの測定レンジとして選択されたとして測定処理を実行することにより、前述した絶縁抵抗計1と同様にして測定レンジRの切り替え回数を必要最低限の十分に少ない回数とすることができるだけでなく、警告値(報知処理用基準値)を設定するだけで、最初に切り替えられる測定レンジRが自動的に選択されるため、この種の装置の操作に不慣れな使用者であっても、測定処理に先立って実施する条件設定作業を迅速かつ容易に実施することができる。
さらに、測定値が基準値よりも高いときに、測定値を表示することなく、メッセージを表示する構成の絶縁抵抗計1を例に挙げて説明したが、本発明における絶縁抵抗計の構成はこれに限定されず、測定値が基準値よりも高いときであっても、必要に応じて測定レンジRを高抵抗側の測定レンジRに切り替えて、正確な測定値を表示する構成を採用することもできる。
絶縁抵抗計1の構成を示すブロック図である。 絶縁抵抗計1における測定部2の測定レンジR1〜R7の一例について説明するための説明図である。 絶縁抵抗計1における制御部5によって実行される測定処理10のフローチャートである。
符号の説明
1 絶縁抵抗計
2 測定部
5 制御部
10 測定処理
D1 測定条件データ
S2 制御信号
R1〜R7 測定レンジ
X 測定対象体

Claims (2)

  1. 第1の測定レンジから第Nの測定レンジ(Nは、3以上の自然数)までの複数種類の測定レンジのうちの指定された当該測定レンジで測定対象体についての絶縁抵抗値を測定する測定部と、指定した前記測定レンジの対象測定値範囲内に含まれる前記絶縁抵抗値が測定されるまで前記第Nの測定レンジに向かって1段階低抵抗側の当該測定レンジを順に指定して当該絶縁抵抗値を測定させる測定処理を実行する制御部とを備えた絶縁抵抗計であって、
    前記制御部は、第Mの測定レンジ(Mは、2以上N以下の自然数)が選択されたときに、前記測定処理時において当該第Mの測定レンジから前記第Nの測定レンジに向かって1段階低抵抗側の当該測定レンジを順に指定し、かつ、合否判定用基準値が設定されたときに、当該合否判定用基準値を前記対象測定値範囲内に含む前記測定レンジが前記第Mの測定レンジとして選択されたとして前記測定処理を実行すると共に、当該合否判定用基準値以上の前記絶縁抵抗値が前記測定部によって測定されたときに前記測定対象体が合格であると判定し、当該合否判定用基準値を下回る前記絶縁抵抗値が前記測定部によって測定されたときに前記測定対象体が不合格であると判定する絶縁抵抗計。
  2. 第1の測定レンジから第Nの測定レンジ(Nは、3以上の自然数)までの複数種類の測定レンジのうちの指定された当該測定レンジで測定対象体についての絶縁抵抗値を測定する測定部と、指定した前記測定レンジの対象測定値範囲内に含まれる前記絶縁抵抗値が測定されるまで前記第Nの測定レンジに向かって1段階低抵抗側の当該測定レンジを順に指定して当該絶縁抵抗値を測定させる測定処理を実行する制御部とを備えた絶縁抵抗計であって、
    前記制御部は、第Mの測定レンジ(Mは、2以上N以下の自然数)が選択されたときに、前記測定処理時において当該第Mの測定レンジから前記第Nの測定レンジに向かって1段階低抵抗側の当該測定レンジを順に指定し、かつ、報知処理用基準値が設定されたときに、当該報知処理用基準値のL倍(Lは、予め設定された1よりも大きい任意の数)の値を前記対象測定値範囲内に含む前記測定レンジと、前記報知処理用基準値を前記対象測定値範囲内に含む前記測定レンジよりもK段階(Kは、予め設定された任意の数)高抵抗側の前記測定レンジとのいずれか予め規定された一方が前記第Mの測定レンジとして選択されたとして前記測定処理を実行すると共に、当該報知処理用基準値を下回る前記絶縁抵抗値が前記測定部によって測定されたときに報知処理を実行する絶縁抵抗計。
JP2008010582A 2008-01-21 2008-01-21 絶縁抵抗計 Expired - Fee Related JP5203724B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008010582A JP5203724B2 (ja) 2008-01-21 2008-01-21 絶縁抵抗計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008010582A JP5203724B2 (ja) 2008-01-21 2008-01-21 絶縁抵抗計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009174860A JP2009174860A (ja) 2009-08-06
JP5203724B2 true JP5203724B2 (ja) 2013-06-05

Family

ID=41030121

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008010582A Expired - Fee Related JP5203724B2 (ja) 2008-01-21 2008-01-21 絶縁抵抗計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5203724B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5836053B2 (ja) * 2011-10-25 2015-12-24 日置電機株式会社 測定装置
JP6021518B2 (ja) * 2012-08-27 2016-11-09 日置電機株式会社 抵抗測定装置および抵抗測定方法
JP6346909B2 (ja) * 2016-01-08 2018-06-20 白光株式会社 帯電防止靴の電気抵抗測定装置、測定方法及び測定プログラム

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05288778A (ja) * 1992-04-13 1993-11-02 Advantest Corp インピーダンス測定器
JP3640109B2 (ja) * 1996-07-26 2005-04-20 株式会社島津製作所 測定装置の自動レンジ切換え装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009174860A (ja) 2009-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006258686A (ja) 信頼性測定装置および測定方法
TWI487281B (zh) 用於使用積體電路接腳作為限流輸入及汲極開路輸出之系統及方法
JP5203724B2 (ja) 絶縁抵抗計
JP6021518B2 (ja) 抵抗測定装置および抵抗測定方法
JP4726575B2 (ja) 絶縁抵抗測定装置
JP2012058120A (ja) 試験装置
JP4917357B2 (ja) 測定装置
JP2010002315A (ja) 半導体試験装置とそのdc特性試験方法
KR101823762B1 (ko) 집적 회로를 테스트하는 디바이스 및 방법
JP2010025590A (ja) 試験装置及び試験プログラム
JP5092984B2 (ja) 半導体試験装置
JP6400347B2 (ja) 検査装置
JP2008304404A (ja) 計測装置
JP2005122497A (ja) アナログ機能記述を利用したテスト回路作成方法
JP4777794B2 (ja) 測定装置
JPS6329277A (ja) 論理集積回路の試験装置
JP2001296334A (ja) 集積回路および故障検出方法
EP3299950A1 (en) Display screen generating device, display screen generating method, and display screen generating program
JPS63279178A (ja) 集積回路測定装置
JP5003955B2 (ja) Icテスタ
JP6495110B2 (ja) 抵抗測定装置
JP2010002187A (ja) 半導体試験装置
JP5626992B2 (ja) 測定試験装置および測定試験方法
JPWO2023119359A5 (ja)
JP5936427B2 (ja) 測定装置および測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101227

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120621

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120626

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120822

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121106

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121128

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130212

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130214

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5203724

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160222

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees