JP2009174860A - 測定装置 - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 382
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 61
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 62
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 9
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000012508 change request Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
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Abstract
【解決手段】第1の測定レンジから第Nの測定レンジまでの複数種類の測定レンジのうちの指定された測定レンジで測定対象体についての絶縁抵抗値(電気的パラメータ)を測定する測定部と、絶縁抵抗値が測定されるまで第1の測定レンジから第Nの測定レンジに向かって測定レンジを順に指定して絶縁抵抗値を測定させる測定処理10を実行する制御部とを備えた測定装置であって、制御部は、第Mの測定レンジが選択されたときに(第Mの測定レンジを特定可能な基準値が設定されているときに:ステップ11)、測定処理時において第Mの測定レンジから第Nの測定レンジに向かって測定レンジを順に指定する(ステップ12,17)。
【選択図】図3
Description
2 測定部
5 制御部
10 測定処理
D1 測定条件データ
S2 制御信号
R1〜R7 測定レンジ
X 測定対象体
Claims (2)
- 第1の測定レンジから第Nの測定レンジ(Nは、3以上の自然数)までの複数種類の測定レンジのうちの指定された当該測定レンジで測定対象体についての電気的パラメータを測定する測定部と、前記電気的パラメータが測定されるまで前記第1の測定レンジから前記第Nの測定レンジに向かって当該測定レンジを順に指定して当該電気的パラメータを測定させる測定処理を実行する制御部とを備えた測定装置であって、
前記制御部は、第Mの測定レンジ(Mは、2以上N以下の自然数)が選択されたときに、前記測定処理時において当該第Mの測定レンジから前記第Nの測定レンジに向かって当該測定レンジを順に指定する測定装置。 - 前記制御部は、報知処理用基準値が設定されたときに当該報知処理用基準値に対して予め規定された第1の条件を満たす前記測定レンジが前記第Mの測定レンジとして選択されたとして前記測定処理を実行すると共に、当該報知処理用基準値に対して予め規定された第2の条件を満たす前記電気的パラメータが前記測定部によって測定されたときに報知処理を実行する請求項1記載の測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008010582A JP5203724B2 (ja) | 2008-01-21 | 2008-01-21 | 絶縁抵抗計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008010582A JP5203724B2 (ja) | 2008-01-21 | 2008-01-21 | 絶縁抵抗計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009174860A true JP2009174860A (ja) | 2009-08-06 |
JP5203724B2 JP5203724B2 (ja) | 2013-06-05 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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