JP5174879B2 - 導電物体の検出装置 - Google Patents

Description

本発明は、導電物体の検出装置に関する。

ＤＥ４１０２５４２Ａ１に開示された誘電近接スイッチが公知である。この誘電近接スイッチはオシレータを含んでおり、該オシレータは交番磁界を発生させ、移動部材が前記交番磁界を通過する時に自身の発振状態を変化させるものであり、負荷スイッチ起動用スイッチ信号を得るための評価回路に使用される。測定可能な振動状態の変化は、移動部材の典型的な材料特性及び該移動部材と前記スイッチとの距離や該スイッチに対する位置に依存する。これらのスイッチは従って様々な材料に対して比較的不特定的に反応するとともに本質的には移動部材と前記誘電近接スイッチ間の距離で反応する。

ＤＥ３９３４５９３Ｃ２に開示された誘電近接スイッチが公知であり、この誘電近接スイッチにおいては、矩形波信号を一次コイルに送り、誘導の法則に従って、矩形波信号の周波数を備えた矩形信号を二次コイルの出力に発生させるようにする。この変形例は従属信号を供給するセンサの設計に使用される。これは矩形波信号に従った連続上昇及び降下により達成される。

更に、ＥＰ０９３６７４１Ａ１に開示された誘導近接スイッチが公知であり。この誘導近接スイッチは単一のコイルを使用する。このコイルは伝送された電流パルスによって取得すべき誘電電圧を物体内で発生させて、これにより該物体内に電流を生じさせる。該電流が減衰することで前記電流パルスの終了後に前記コイル中に誘電電圧が発生し、該誘電電圧が適切に処理される。伝送電流パルスの範囲は１００マイクロ秒乃至２００マイクロ秒である。この方法を使用すると、減衰渦電流を取得するのと同一のコイルを使用して渦電流を発生させる。このセンサ用の金属ハウジングは強磁性であってはならないし、比較的高い比電気抵抗を示すものでなくてはならない。

ＤＥ４１０２５４２Ａ１ ＤＥ３９３４５９３Ｃ２ ＥＰ０９３６７４１Ａ１

本発明の目的は取得すべき物体の特定や特別の特徴、例えば、該物体の材料特性、材料組成、サイズ等を、好適には（本質的には）前記物体との距離に関係なく検出できる装置を提供することである。

本発明の目的は請求項１の装置により解決される。好適な実施例はそれらの従属項に開示される。

斯かる装置は３つのコイルを有する。該３つのコイルの内、２つのコイルを使用して磁界を生成し、残りの１つのコイルで電圧を検出する。或いは、逆に、１つのコイルで磁界を生成して、残りの２つのコイルで誘導電圧を検出する。更に、前記装置は、電子制御手段を有し、該電子制御手段は、磁界を生成するコイルに電流パルスを供給する間に（特に）及びまたは供給した後で誘電電圧を取得する。磁界の範囲内に伝導物体がある場合には、該物体が取得した誘電電圧中に検出可能な信号を生成する。検出した物体の材料特性及びサイズによって、取得した誘導電圧は、特定の特性を示すことができる。これらから、物体の材料、物体の材料組成及びまたは物体のサイズに関する結論を導き出せる。

第１及び第２のコイルは反対方向または同一方向へ巻回される。前記２つのコイルは相互に間隔をあけて配置することができる。これらのコイルを適切に接続することで反対の極性をもった磁界を生成することができる。第１及び第２のコイルを直列に接続することができる。しかしながら、２つのコイルは各々１つの電流源から（互いに独立して）電流を供給されるようにすることができる。

前記コイル装置（第１、第２及び第３コイルを備える）の両側で導電物体が反対の極性を備えた信号状態を生成して、両側の同一の効果が相殺される。

電流パルスは階段状の立上り及びまたは階段状の立下りを有するのが好適であり、例えば矩形パルスを備えている。好適な実施例では、電流パルスは矩形パルスの形状を有し、０．１ナノ秒から１ミリ秒の間の継続期間を有しており、斯かる継続期間は例えば凡そ１マイクロ秒から５０マイクロ秒の間が好適である。電流パルスが短くなればなるほど、または、立上りまたは立下りが短くなればなるほど、渦電流の励起スペクトルの周波数は高くなる。周波数の異なる部分を介して、周波数特定された物体の材料特性やサイズスケールの違いを特に差別化できる。従って、導電物体の組成に関するする結論を導き出せる。（階段状立上りの）最大電流値の例えば９０パーセントが達成できる立上り時間及びまたは階段状降下の初期値から１０パーセントまで電流が降下する減衰時間を０．２または０．１マイクロ秒より短くすることができる。

第１及び第２コイルが発生させる第３コイル中の誘電効果または第３コイルが発生させる第１及び第２コイル中の誘電効果は少なくとも部分的に互いに相殺される。この部分的な相殺は少なくとも９０パーセント或いは９９パーセントであるのが好適である。相殺効果は、検出すべき導電物体が存在しない場合には、取得した誘電電圧を本質的には零にする。これにより検出装置の感度が高められる。これは、１つの導電物体が存在すると、零ではない誘電電圧または基準電圧と異なる誘導電圧を発生させるからである。

第１及び第２コイル中に発生された誘電電圧が取得される場合、好適にはこれらの２つのコイルを接続して誘電電圧同士が互いに相殺し合うようにするのが好適であり、少なくとも部分的に、好適には少なくとも９０パーセントまたは９９パーセントだけ相殺し合うのが好適である。これによって、斯かる相殺は、検出すべき導電物体が存在しない場合には、本質的には２つの誘電電圧の合計が零となるようにするのが好適である。

発生した誘導電圧の方向は様々な時間で取得されるのが好適であり（時間依存取得）、電流パルスの最中及びまたはその後である。従って、各電流パルスに対して、例えば、５前後、１０前後または１００前後の測定値を取得することが可能である。

特に好適な実施例においては、取得した誘導電圧の１、２、３またはそれ以上の最大値及びまたは最小値及びまたは逆転点及びまたは零クロスオーバー（特徴ポイント）の誘導電圧は、取得する時間的経過によって影響される。導電物体の検出の評価基準として、例えば、最大値及びまたは最小値及びまたは逆転点及びまたは零クロスオーバー間の時間間隔を決定できる。これらの信号は、装置と検出すべき導電物体との間の距離とは本質的に無関係であるとの効果を有する。

信号レベルは距離で異なるが、例えば、最大値／最小値と零クロスオーバー間の時間は(本質的には)距離とは無関係である。また、電流パルスに対して幾つかの特徴点、例えば、１つの最大値及び１つの最小値または幾つかの最大値または幾つかの最小値または幾つかの零クロスオーバーを決定することができ。ここでは、幾つか（本実施例では少なくとも３つ）のこの種の特徴点間の時間間隔及びまたは前記電流パルスの開始と前記幾つかの特徴点間の時間を決定することができる。

また、電流パルスの開始から最大値／最小値または零クロスオーバーまたは逆転点までの経過期間を使用して検出した導電物体の特徴を決定することができる。

また、小さな物体と大きな物体間の識別は、この種の基準に基づいて可能となる。例えば、溶接飛沫で発生した金属粒子を、例えば、金属板のような大きな導電物体と区別して、センサの不調またはセンサ上の粒子堆積を検出することができる。

この種の一時的に決定した特徴に加えてまたは代わって、その他の特徴、例えば、最大値／最小値または逆転点の絶対値を使用することができる。

第１または第２のコイル領域に１、２または３以上の金属導電物体を検出装置の構成部品として設けることができる。この金属導電物体またはこれらの複数の金属導電物体で、発生した誘導電圧及びまたは基準物体の仕様のバランス即ち平衡を取ることができる。発生した誘導電圧の平衡を行なうには、例えば、ねじまたはピンを設けることができる。このねじまたはピンは、ほぼ磁界の範囲に亘って突出するように設けて、例えば、発生誘導電圧を零平衡させるのに使用することができる。零平衡をするためには、斯かるねじまたはピンを所望の信号(例えば、零平衡した信号)が生成されるまで調節することができる。発生誘導電圧を平衡させるまたは零平衡させるには導電物体が存在しないのが好適である。誘電干渉輪郭（例えばセンサ内またはセンサ上に組み付けた金属製機械部品によるもの）が存在する場合には、零平衡することで斯かる金属干渉輪郭の影響を低減または排除できる。このように、同一タイプの構造を備えたセンサを異なる用途目的（装着部品）に製造することができる。しかしながら、斯かるセンサは用途または干渉輪郭に従って零平衡にすることができる。

また、この種の物体で基準物体を生成して、同一または非常に似通った検出すべき導電物体が存在する場合に零信号を生じさせることもある。これは、例えば、ある硬貨を検出する場合に特に効果的である。電流パルスをかけて零信号または所定の信号が生成されるのは、検出すべき導電物体が特定の基準物体に多かれ少なかれ同一の時だけであり、検出すべき導電物体が基準物体と異なる場合には、零と異なる信号または所定の信号からずれた信号が生成され、該信号が適切に評価されて、検出すべき導電物体特に硬貨の識別を行なう。これに関して、生成した誘電電圧は、様々な時間または電流パルスの付与または切断後の一定の時間のみで取得可能となる。

基準物体が検出装置の構成部品として設けられる場合には、ねじまたはピンまたは平衡を行なうに適した物体で平衡または零平衡を行なうことができるが、この場合、検出すべき導電物体が存在し、該導電物体が基準物体と同一であり且つ以後に検出すべき物体のテスト位置に配置されていることが条件となる。

硬貨に代わりに、その他の導電物体もまた基準物体と比較することができる。これらの導電物体は、例えば、磨耗または摩滅するような物体であって、磨耗または摩滅度合いを取得する必要のある物体である。このことを実現するには、未磨耗または未摩滅物体を検査すべき物体と比較できる。例えば、電極キャップが挙げられる。電極キャップは、溶接機器の電極に嵌められて、時々清掃されるものであって、斯かる清掃が、例えば、切削によりなされるため、電極キヤップは、消耗されるものである。斯かる電極キャップを測定して摩滅の度合いを決定することができる。

発生した誘導電圧に影響を与えるためには、１つまたは幾つかのコイルを設けて、該コイルを使用して例えば零平衡を行なうことができる。斯かるコイルを前記第１のコイル及びまたは第２のコイルと直列または並列に接続することができるし、または、別個に例えば電流源に接続することができるし、または、抵抗または回路を介してショートさせることができる。

第３のコイルもまた２つの部品として形成することができる。この場合、第３のコイルは２つのコイル部品を備え、例えば、一方のコイル部品を前記第１のコイルに割り当て、他方のコイル部品を第２のコイルへ割り当てる。ここでは、前記２つのコイル部品を一緒に一つの巻型に巻きつけることが可能であるし、または、各コイル部品を個々の巻型へ巻きつけることが可能である。例えば、前記２つのコイル部品は直列に接続する。そして、第３のコイルはまた単一の部品として形成することもできる。即ち、一つの巻型へ巻きつけて単一の部品とする。

検出装置は金属ハウジング部または完全な金属ハウジングを備えることが好適である。これにより、前記センサを例えば酸やアルカリを含んだ蒸気等の攻撃的雰囲気を備えた環境中で使用することが可能となる。

金属ハウジング部または完全金属ハウジングはステンレス鋼または非鉄金属から生成することができる。ステンレス鋼または非鉄金属を介しても検出は可能であり、例えば高抵抗金属に限定することはない。センサの前面、即ち、検出すべき物体に臨む表面またはその検出位置をステンレス鋼または非鉄金属から生成することができる。この種の金属を介しても導電物体の検出は可能である。用途によってではあるが、一方または他方の金属をハウジング（部）として好適に使用しても良く、使用する金属の選定は検出様式及びセンサの雰囲気状態（周囲ガスまたは液体、温度、圧力等）に応じて行なうことができる。

検出装置は特に近接スイッチとしてまたは様々な金属の検出、コイン検出または物体上の磨耗または摩滅のレベルを検出できるように形成できる。近接スイッチとして形成する場合には、検出装置を表面下に装着することができる。これは変化点距離とは無関係に信号を検出することができるからである。検出装置を表面下に装着することで検出装置が損傷するのを容易に防ぐことができる。

従って、本発明によれば、例えば、機械のような装置であって、導電物体検出装置を備え、該装置が表面下に装着される機械を提供することが可能となる。

導電物体を検出する方法においては、電流パルスが第１及び第２のコイルに付与され、これにより該コイルが、極性が逆になった磁界を生成し、該磁界により第３のコイルに発生させた誘導電圧が取得される。

上記の代わりに、電流パルスを第３のコイルに付与し、第１及び第２のコイルの誘導電圧を取得することも可能である。斯かる誘導電圧は導電物体検出のための電流パルスの付与中及びまたは付与後一定の時間範囲内で取得するのが好適である。前記電流パルスは例えば矩形パルスの形状をした階段状立上りまたは階段状立下りを備える。

本発明によれば、取得すべき物体の特定や特別の特徴、例えば、該物体の材料特性、材料組成、サイズ等を装置自体と前記物体との距離に関係なく検出できる装置を実現することができる。

本発明の特定の実施例を添付図面に基づいて説明する。斯かる添付図面は以下の通りである。
図１a及び１bは、第１、第２及び第３のコイルの異なる接続方法を示す図である。 図２は、生成された磁界を示す図である。 図３は、本発明の検出装置の概略図である。 図４a、４b及び４cは、電流及び電圧軌跡を示す図である。 図５は、導電物体が存在する場合の磁界の概略図である。 図６は、検出装置の好適な変形例の概略図である。 図７a及び７bは、検出装置の代替構造を示す図である。

図１aは導電物体を検出する装置１の概略を示す。第１のコイル１０及び第２のコイル１１が図示されており、斯かるコイルは結線１７を介して直列に一体に接続される。これら２つのコイルは逆方向に巻回されて、電流パルスを発する第１の端子としての端子１３から端子１４へ流れる電流が右方向へ配向された磁界及び左方向へ配向された磁界を生成する。

前記２つのコイル１０及び１１の境界領域には別のコイル１２が配置され、該コイル１２により発生した誘導電圧を取得することが可能となる。この電圧は誘導電圧を取り出す第２の端子としての端子１５及び１６の間で取り出すことが可能である。

前記コイル１２はここではコイル１０及び１１が生成する磁界が透過する領域に配置される。

図１ｂには変形例が示されており、該変形例においてはコイル１０及び１１は同一方向へ巻回されるが、結線１８が異なるため電流は前記２つのコイル中を異なる（反対)方向へ流れ、この変形例においても、電流が端子１３から端子１４へ流れる時に極性が逆となる磁界が生成される。前記コイルは互いに独立して電源に接続することが可能である。それから、ここでは、前記コイルは、直列に接続されていない。

図１a及び図１ｂにおける巻線数は概略的に示しているにすぎない。コイル１０及び１１の巻回数は同一または５パーセントまたは１パーセントを超えて異ならないのが好適である。しかしながら、変形例によっては巻回数が最大５０パーセントまたは８０パーセントまで異なるものがあり得る。発生する信号への影響は、適切な電子的補正または適切な零平衡により補正することが可能である。

電流を端子１３及び１４へ付与する代わりに、磁界を生成する電流を第１の端子としてのコイル１２の端子１５及び１６へ付与することが可能である。この場合、誘導電圧を第２の端子としての端子１３及び１４間で取り出すことができる。コイル１２の磁界が制限なく且つ対称的に伝播する場合には、図１aにおいては巻線が反対方向へ巻回されているため、または、図１ｂにおいては回路が逆に接続されているために端子１３及び１４に生じる誘導電圧は零である。

コイル１０及び１１に発生した誘導電圧はまた互いに独立して取得することが可能である。ここでは、結線１７または１８を省略するとともに前記２つのコイルからの誘導電圧をコイル毎に分岐する。前記２つのコイルの各端子を差動回路へ接続することが可能であり、該差動回路は前記誘導電圧の差を出力信号として示すかまたは例えば差動増幅器の形態を取って増幅する。

図２は検出装置１の断面図である。コイル１２は２つのコイル１０及び１１の間に配置される。図２に電流が前記コイルを貫流する時にコイル１０が生成する磁界２０及びコイル１１が生成する磁界２１が図示されている。

図２から分かるように、前記２つのコイルの磁界は互いに逆になっており、コイル１２に更に影響を与えずに前記磁界を生成した場合には合計が零となる誘電電圧を得ることになる。

別の検出装置の構造を図３に概略的に示す。コイル１０、１１及びコイル１２とは別に電子制御手段２５が図示されており、該電子制御手段２５は対応する端子２８を備えた前記コイルに電流を供給するかまたは対応する誘電電圧を取り出すことが可能である。

電子制御手段２５は外部端子２６、２７へ接続することが可能である。これらの端子を使用して、例えば、装置１または電子制御手段２５へ電力を供給したり、または、測定信号を出力することが可能である。

コイル１０、１１及びコイル１２は例えばフェライト芯等の非磁性または軽磁性材料から成る巻型に巻回することが可能である。

図４a、４b並に４cに電流及び電圧の軌跡の例を図示する。図４aでは、矩形電流パルスが示されており、該矩形電流パルスにおいては特定の強さの電流が時間Ｔ１の間に流れる。この電流は例えば図１a及び図１ｂのコイル装置の端子１３及び１４間または図１a及び図１ｂのコイル装置の端子１５及び１６の間を流れる。

検出すべき導電物体が存在しない場合には、測定可能な誘電電圧は図４ｂに図示するように生じる。即ち、電流パルスに影響されない一定の零信号が生じる。

導電物体が存在する場合には、図４ｃに例として例示するように誘電電圧が生じる。時間Ｔ１において電流パルスが生じる間に、測定した誘電電圧Ｕが時間的な特性プロフィールを示す。このプロフィールは、最大値Ｍ及び零クロスオーバーＮまたは更なる特徴点、例えば、逆転点または同様な特徴を決定することで評価することが可能である。例えば、このプロフィールを特徴づけるために時間Δｔを決定することができ、これにより最大値Ｍ及び零クロスオーバーＮ間の時間間隔、即ち、Δｔ＝ｔ_Ｎ−ｔ_Ｍが与えられる。また、電流パルスの開始から逆転点までの時間を使用してプロフィールを特徴づけることが可能となる。

誘電電圧はまた最大値に代えて最小値を示すことが可能である。これにより、例えば、Δｔは最小値と零クロスオーバーとの間の時間間隔として示される。
Δｔの決定とは別に、図４ｃに図示する如く、電流パルスの付与から最大値Ｍに到達するまでの時間またはその他の特徴時間も決定することが可能である。

電圧Ｕの最大値点における絶対値を誘電電圧の評価に考慮することが可能である。

電流パルスの開始後の特定の時間または前記の幾つかの時間において誘電電圧を測定することが可能であり、斯かる誘電電圧の絶対値からまたは様々な時間において生成された符号から誘電物体３０の特徴に関する結論を引き出すことが可能である。

図５では、コイル１１の磁界３１が、検出すべき導電体３０の存在により影響を受けるようにすることが可能であることが示されている。図５に図示する如く、矢印３２は矢印３１よりも大きい。矢印３２はコイル１０が生成した磁界を表す。コイル１０及び１１により磁界３２及び３１が異なった影響を受けることから対称性が壊れて、コイル１２に誘電電圧が発生されることとなる。コイル１２に発生した誘電電圧は、典型的な特徴（特に特徴的な時間的形跡）を示し、該特徴により物体３０の状態に関する情報が提供される。

既に前述したように、コイル１０及び１１が磁界を生成する代わりに、磁界はコイル１２でも生成することが可能であり、この場合、物体３０の存在があるので該磁界は非対称となり、コイル１１では、コイル１０の誘電電圧と異なる誘電電圧が発生する。（図１a、１bで示す）適切な接続をすれば、この異なる誘電電圧で前記２つの誘電電圧が完全に補償されたりまたは相殺されたりすることにはならず、寧ろ零ではない誘電電圧となる。

図６には導電物体を検出する装置１が図示されている。該装置においては基準物体３５が、コイル装置の左側に設けられている。同一の導電物体３６またはほとんど同タイプの導電物体３６をコイル装置の右側に配置した場合には、電流パルスをコイル１０及び１１に付与すると、コイル１２が零に等しい誘電電圧を発生する。しかしながら、異なるタイプの導電物体、例えば、破線３７で例示する導電物体をコイル装置に対して設置した場合には、零ではない誘電電圧が発生する。これは検出すべき導電物体が、導電物体３５と同一または類似していないことを示すものである。

基準の導電物体３５の仕様を介して、試験すべき導電物体３６を、基準物体に対して、複数の特徴に関して比較することが可能である。材料組成、サイズ等のずれがあれば、得られる誘電電圧が零と異なる誘電電圧となる。前記物体３５及び３６において違いがあれば、誘電電圧における一時的な特徴軌跡が起こり得る。誘電電圧は、また、最大値及びまたは最小値及びまたは零クロスオーバーまたは逆転点を示すことが可能であり、斯かる最大値及びまたは最小値及びまたは零クロスオーバーまたは逆転点を検出評価して、前記２つの物体間の違いを定量化することが可能である。ここでは、最大値及びまたは最小値及びまたは零クロスオーバー及びまたは逆転点及びまたは前記ポイントでの電圧値間の時間間隔を評価することが可能である。また、最大値／最小値／零クロスオーバー／逆転点が起きる時間を、電流パルス付与から評価することが可能である。

前記２つの物体３５及び３６が同一でコイル装置に対して対称に配置されている場合には、また、コイルが同一で対称に配置されている場合には、同一振幅の電流パルスを双方のコイルに付与すると、一時的に一定の零信号が得られる。これからずれる場合には、前記２つの物体が異なることを示す。零信号を生成する代わりに、前記コイル装置または前記コイルへの電流供給は、物体３５、３６が同一である場合には、生成される誘導電圧の一時的な軌跡が零（基準）とは異なるものとなる。しかしながら、取得する誘電電圧のこの種の基準からのずれが更にある場合には、物体が異なることを示すものとなる。

２つの物体３５、３６を比較することにより、偽硬貨のチェック、または磨耗または摩滅した物体上の磨耗または摩滅の度合いの決定が可能となる。従って、例えば、溶接電極キャップの摩滅度合いも試験することが可能である。

前述したように、測定プロセスは、電流をコイル１２へ付与するとともにコイル１０及び１１に生じる誘電電圧が決定されるものとなる。

図７a及び図７ｂは導電物体を検出する装置の代替構造を示している。斯かる検出装置の構造では、コイル１１をコイル１０の内側へ配置するとともに、コイル１２をコイル１０と１１との間に配置する。複数のコイルが半径方向に互いの後ろ側に配置するようにされる。この点に関しては、第２及び第３のコイルは、第１のコイルに囲繞された空間を持った領域内に完全にまたは部分的に設けることが可能である。図７aは、図７ｂの平面図に図示したコイル装置の断面図を示す。

この構成においても、上述の識別方法により導電物体の検出が可能となる。
全ての図面において、コイル１０、１１及びコイル１２は、丸形または角形の形状にされて、配線が、例えば、円形または矩形または方形となるようにすることが可能である。

１０ 第１のコイル、１１ 第２のコイル； １２ 第３のコイル； １３、１４、１５、１６ 端子； ２０、２１ 磁界； ２５ 電子制御手段； ２８ 端子； ２９ ハウジング；３０ 導電物体。

Claims (11)

1. 導電物体を検出する装置であって、該導電物体を検出する装置は、
   階段状の立上り及び/或いは、階段状の立下りを持った少なくとも１つの特定の強さの電流パルスを発する第１の端子と誘電電圧を取り出す第２の端子を備え、前記電流パルス中及び/或いは、前記電流パルス後の誘電電圧の時間依存形跡を検出する電子制御手段と、
   少なくとも３つのコイルを備え、その内の
   ａ）第１のコイルと第２のコイルとは、該第１のコイルと第２のコイルが、第２の端子に接続された第３のコイルの磁界の領域内において、対抗する極性を持った磁界を発生するように第１の端子に接続され、そして、前記電子制御手段は、第３のコイルにおいて発生された誘電電圧の時間依存形跡を検知する、
   或いは、
   ｂ）第１のコイルと第２のコイルとは、第１の端子に接続された第３のコイルによって発生する磁界が、第１のコイル及び第２のコイルにおける誘電電圧を発生するように、第２の端子に接続され、そして、前記電子制御手段は、第１のコイル及び第２のコイルの誘電電圧の差電圧の時間依存形跡を検知する、
   コイル配置と、
   から成り、
   物体を検出するために、前記電子制御手段は、時間依存電圧形跡の特徴的な変化の様子に応答し、前記電流パルス中及び/或いは、前記電流パルス後に、少なくとも１つの最大点及び/或いは、少なくとも１つの最小点、及び/或いは、少なくとも１つの逆転点、及び/或いは、少なくとも１つの零クロスオーバーの形で、時間依存電圧形跡の少なくとも１つの特性点を検出し、そして、前記特徴的な変化を決定するために、１つあるいはそれ以上の特性点の時間間隔及び/或いは、電流パルスの開始と少なくとも１つの特性点との間の時間間隔を検出する、
   ことを特徴とする導電物体を検出する装置。
2. 請求項１に記載の装置であって、前記電流パルスが、０．１ナノ秒から１ミリ秒の間の継続期間を備えた矩形パルスの形状を有していることを特徴とする導電物体を検出する装置。
3. 請求項２に記載の装置であって、前記矩形パルスは、１マイクロ秒から５０マイクロ秒の間の継続期間を有していることを特徴とする導電物体を検出する装置。
4. 請求項１乃至３の何れかに記載の装置であって、前記第３のコイルが、電子制御手段の第２の端子に接続されるとき、第１のコイルと第２のコイルとは、第１のコイルと第２のコイルの磁界によって第３のコイルにおいて誘導された誘電電圧が、互いに少なくとも部分的に、特に、少なくとも９０％或いは９９％まで相殺されるように形成されることを特徴とする導電物体を検出する装置。
5. 請求項１乃至３の何れかに記載の装置であって、前記第３のコイルが、電子制御手段の第１の端子に接続されるとき、第１のコイルと第２のコイルとは、第１のコイル及び第２のコイルにおいて誘導され、差電圧として電子制御手段によって検出された誘電電圧が、互いに少なくとも部分的に、特に、少なくとも９０％或いは９９％まで相殺されるように形成されることを特徴とする導電物体を検出する装置。
6. 請求項４または５の何れかに記載の装置であって、検出すべき導電物体が存在しない場合には、誘電電圧は、互いに本質的に零に相殺されることを特徴とする導電体を検出する装置。
7. 請求項１乃至６の何れかに記載の装置であって、第１のコイル或いは第２のコイルのいずれかの領域において、金属導電物体が、発生した誘電電圧の平衡を行うための、或いは導電干渉輪郭の撹乱の影響を低減或いは取り除くための本装置の構成部品として、或いは、基準物体として、設けられることを特徴とする導電体を検出する装置。
8. 請求項１乃至７の何れかに記載の装置であって、１つまたは幾つかのコイルが更に設けられ、該コイルにより発生した前記誘電電圧が影響されることを特徴とする導電体を検出する装置。
9. 請求項１乃至８の何れかに記載の装置であって、該装置は、金属ハウジング部、或いは、非鉄金属或いは電気鋼からなる完全金属ハウジングから成り、該完全金属ハウジングは、少なくとも第１、第２及び第３のコイルを囲繞することを特徴とする導電体を検出する装置。
10. 請求項９に記載の装置であって、完全金属ハウジングは、電子制御手段の少なくとも一部或いは電子制御手段の全部を囲繞することを特徴とする導電体を検出する装置。
11. 請求項１乃至１０の何れかに記載の装置であって、該装置は、近接スイッチとして、或いは、金属検出装置として、或いは、硬貨検出装置として、或いは、摩耗または磨滅の度合いを検出する装置として形成されることを特徴とする導電体を検出する装置。
    

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