JP5154124B2 - プラズマ処理装置 - Google Patents
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Description
請求項7記載のプラズマ処理装置は、請求項6記載のプラズマ処理装置において、前記開口部側における前記遮蔽部材の端部の、前記開口部側における前記グランド電極の端部に対する突出量は3mm以下であることを特徴とする。
請求項10記載のプラズマ処理装置は、請求項9記載のプラズマ処理装置において、前記間隙は2.5mm以上且つ5.0mm以下であることを特徴とする。
請求項11記載のプラズマ処理装置は、請求項10記載のプラズマ処理装置において、前記間隙は3.5mm以上であることを特徴とする。
請求項12記載のプラズマ処理装置は、請求項1乃至11のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置において、前記溝状空間の断面におけるアスペクト比は3.0以上であることを特徴とする。
ラジカル:部材の表面に捕捉され易く、その傾向は、反応性の高いラジカルで顕著である
電子:移動に方向性がなく、各電子が自在に移動する
そして、本実施の形態では、上述した陽イオン、ラジカル及び電子の移動特性を考慮して、接地リング45をプラズマから移動する陽イオンから遮蔽し且つラジカルを捕捉する部材を接地リング45の近傍に設ける。具体的は、図1における接地リング45を遮蔽する、下記に詳述する遮蔽部材46をプラズマ処理装置10の排気流路18に設ける。
プラズマ処理装置10において接地リング45のグランド電極表面45c及び遮蔽部材46の間の間隙tを2.5mmに設定し、開口部側における遮蔽部材46の端部46aの開口部側における接地リング45の端部45bからの突出量T(図2参照。以下、単に「遮蔽部材46の突出量T」という。)を0mmに設定した。
ここで、「−1.75×10−5」が低下速度に該当する。
プラズマ処理装置10において間隙tを3.5mmに設定し、遮蔽部材46の突出量Tを3.0mmに設定した。
ここで、「−6.04×10−6」が低下速度(劣化速度)に該当する。
プラズマ処理装置10において遮蔽部材46を取り除き、実施例1と同様に、当該プラズマ処理装置10においてウエハWへのエッチング処理を繰り返し、各エッチング処理において処理空間PSを流れる直流電流の値を測定し、該測定された直流電流の値を図4のグラフに「○」で示した。そして、図4のグラフにおける比較例1の低下速度の近似式を算出したところ、下記式(3)が得られた。
ここで、「−1.21×10−4」が低下速度(劣化速度)に該当する。
プラズマ処理装置10において間隙tを4.0mmに設定し、遮蔽部材46の突出量Tを3.0mmに設定した。
プラズマ処理装置10において間隙tを5.0mmに設定し、遮蔽部材46の突出量Tを3.0mmに設定した。
まず、新品の接地リング45を備えるプラズマ処理装置10において、エッチング処理の際、間隙tや突出量Tの値を種々の値に変更してプラズマの揺れを観測した。そして、観測した結果を図6に示す表にまとめた。
次に、プラズマ処理装置10において、ウエハWのエッチング処理を50時間行った後、エッチング処理の際、間隙tや突出量Tの値を種々の値に変更してプラズマの揺れを観測した。そして、観測した結果を図7に示す表にまとめた。
PS 処理空間
10 プラズマ処理装置
11 収容室
12 サセプタ
16 側面被覆部材
18 排気流路
39 上部電極板
42 上部直流電源
45 接地リング
45c グランド電極表面
46 遮蔽部材
46a 端部
47 溝状空間
48 プラズマ
49 シース
Claims (18)
- 基板を収容してプラズマ処理を施す収容室と、
前記収容室内に配置され、前記基板を載置する載置台と、
通気穴を有し、前記載置台の下側外周に配置されて前記収容室を処理空間と排気空間とに仕切る排気プレートと、
前記載置台に設けられ、高周波電力が供給される第1の電極と、
前記載置台に載置された基板と対向するように前記収容室の上壁に設けられ、直流電圧が印加される第2の電極と、
前記第1の電極の下部を覆うように前記処理空間に配置される、前記第2の電極に対するグランド電極と、
前記収容室内を排気する排気装置とを備えるプラズマ処理装置であって、
前記処理空間において前記通気穴へ向かう排気の流れに沿い、該排気の流れと前記グランド電極との間に介在し、且つ、前記グランド電極との間に断面が長尺状の溝状空間が該長尺状の断面の短辺が前記排気の流れの上流に向けて開口して形成されるように前記収容室内に配置される遮蔽部材を備えることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 基板を収容してプラズマ処理を施す収容室と、
前記基板を載置し、導電体部に高周波電圧が供給されることで前記収容室内の処理空間に高周波電力を供給する第1の電極と、
前記第1の電極に対向して配置され、直流電圧が印加される第2の電極と、
前記処理空間からガスを前記収容室の外へ排気する流路を前記収容室の側壁と前記第1の電極の側壁とにより形成する排気流路と、
前記第1の電極の下方を覆うように前記排気流路に配置され、前記第2の電極に印加された直流電圧に対するグランド電極とを備えプラズマ処理装置であって、
前記グランド電極と間に溝状空間が形成されるように前記グランド電極を囲う遮蔽部材を備え、前記溝状空間は前記排気の流れの上流に向けて開口することを特徴とするプラズマ処理装置。 - 前記グランド電極は、環状で、断面がL字形状を有することを特徴とする請求項2記載のプラズマ処理装置。
- 前記導電体部を覆うように配置された、絶縁性材料からなる被覆部材を更に備えることを特徴とする請求項2又は3記載のプラズマ処理装置。
- 前記排気流路に配置された、多数の通気孔を有する板状の排気プレートを更に備えることを特徴とする請求項2乃至4のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 前記溝状空間の開口部側における前記遮蔽部材の端部は、前記開口部側における前記グランド電極の端部よりも前記排気の流れに沿って突出することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 前記開口部側における前記遮蔽部材の端部の、前記開口部側における前記グランド電極の端部に対する突出量は3mm以下であることを特徴とする請求項6記載のプラズマ処理装置。
- 基板を収容してプラズマ処理を施す収容室と、
前記収容室内に配置され、前記基板を載置する載置台と、
前記載置台に設けられ、高周波電力が供給される第1の電極と、
前記載置台に載置された基板と対向するように前記収容室の上壁に設けられ、直流電圧が印加される第2の電極と、
前記収容室内に設けられた構成部品の表面に露出する、前記第2の電極に対するグランド電極と、
前記収容室内を排気する排気装置とを備えるプラズマ処理装置であって、
前記収容室内において、前記構成部品の表面に沿い且つ前記グランド電極との間に断面が長尺状の溝状空間が該長尺状の断面の短辺が前記排気の流れの上流に向けて開口して形成されるように配置される遮蔽部材を備えることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 前記溝状空間を形成する前記グランド電極と前記遮蔽部材との間の間隙は0.5mmよりも大きいことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 前記間隙は2.5mm以上且つ5.0mm以下であることを特徴とする請求項9記載のプラズマ処理装置。
- 前記間隙は3.5mm以上であることを特徴とする請求項10記載のプラズマ処理装置。
- 前記溝状空間の断面におけるアスペクト比は3.0以上であることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 基板を収容してプラズマ処理を施す収容室と、
前記収容室内に設けられ、前記基板を載置するサセプタと、
前記サセプタに対向して配置されたシャワーヘッドと、
前記サセプタに備えられ、高周波電力が供給される第1の電極と、
前記シャワーヘッドに備えられ、直流電圧が印加される第2の電極と、
前記収容室の内側壁と前記サセプタの側面との間に形成された排気流路と、
前記排気流路内に配置され、前記第2の電極に対するグランド電極と、
前記排気流路を通じて前記収容室内のガスを外部へ排気する排気装置とを備えるプラズマ処理装置であって、
前記排気流路内での排気の流れと前記グランド電極との間に介在する遮蔽部材を備え、前記遮蔽部材は、前記グランド電極との間に所定間隙を置いて配置され、前記排気流れ方向における高さがグランド電極よりも高いことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 前記サセプタの側面は被覆部材により被覆されており、
前記グランド電極は、前記サセプタの前記被覆部材の表面に露出することを特徴とする請求項13記載のプラズマ処理装置。 - 前記開口部側における前記遮蔽部材の端部の、前記開口部側における前記グランド電極の端部に対する突出量は3mm以下であることを特徴とする請求項13又は14記載のプラズマ処理装置。
- 前記グランド電極は、シリコン又はシリコンカーバイトであることを特徴とする請求項1乃至15のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 前記遮蔽部材は、石英又は絶縁膜が溶射された金属部材であることを特徴とする請求項1乃至16のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 前記遮蔽部材は前記グランド電極と同心状に配置されることを特徴とする請求項1乃至17のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
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