JP5090188B2 - 顕微鏡装置 - Google Patents

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Description

本発明は、標本の観察または検査を行う顕微鏡装置及びその焦点深度拡大画像生成方法に関する。
半導体製造などのプロセスでは、デバイスパターンの欠陥検査や構造観察などに光学顕微鏡が広く使用されている。近年、デバイスパターンの微細化及び複雑化が急速に進んでおり、光学顕微鏡においては解像度のさらなる向上が望まれている。そのため、開口数NA(Numerical Aperture)が大きい対物レンズを使用することと、波長がより短い光、例えば紫外光を照明光に用いることが行われている。
対物レンズのNAを大きくした場合、あるいは照明光の波長を短くした場合には焦点深度が浅くなる。その場合、標本の段差が焦点深度より大きい部分があると、画像にぼけが生じるという問題点がある。そのため、高解像度で且つ焦点深度の深い画像を得ることが求められている。
また、半導体デバイスに用いられるAlやCu等の材料は、波長域が異なる紫外線に対して異なる反射率及び吸収率を有しており、紫外線顕微鏡では、この特性を利用した欠陥回線や構造解析等が行われている。具体的には、例えば、照明に用いる紫外光の波長域を変化させて半導体デバイスを観察し、そのときのデバイス材料の反射率の変化を観察画像の画素値の変化によって検出することでデバイス材料を特定することができる。このような複数の波長域の紫外光を用いる顕微鏡を複数波長紫外線顕微鏡と呼ぶ。
複数波長紫外線顕微鏡では、波長によって焦点深度が異なるため、長い波長域の観察画像では合焦できている部分が、短い波長の観察画像ではぼけている可能性がある。そのため短い波長域に対して焦点深度を拡大する必要がある。
従来、焦点深度を拡大する方法として種々の方法が考えられている。例えば、特許文献1には、光軸方向の異なる位置にそれぞれ焦点の合った複数枚の画像を加算し、回復フィルタを用いて加算画像を回復処理することにより、光軸方向の異なる位置にそれぞれ焦点の合った1枚の画像を復元する技術について開示されている。
加算画像を取得する方法として、焦点位置を連続的に変化させると同時に、撮像素子の受光部に結像される画像を蓄積して行く方法が考えられている。この方法では、撮像素子自体の光エネルギーの積算効果を利用し、連続的に焦点を変えた画像の入力と加算が撮像素子で同時に行われることになる。
ところで、上記の焦点位置を連続的に変えると同時に、撮像素子の積算効果で加算画像を取得する方法は、撮像素子を組み込むカメラのダイナミックレンジに制限があるために、輝度飽和した加算画像が発生しやすい。輝度飽和が生じないようにするためには、カメラの露光時間か、光源の照射光量を小さくすることが考えられるが、その場合、加算画像のS/Nが悪化するという問題点があった。
特許文献1の加算画像の取得方法では、標本の反射率の低い部分に合わせてカメラの露光時間と光源の出射光量を設定すると、反射率の高い部分で加算画像の輝度飽和が生じる可能性がある。
特許第3191928号公報
本発明の課題は、画質の良い焦点深度拡大画像を得ることのできる顕微鏡装置及び焦点深度拡大画像生成方法を提供することである。
本発明の顕微鏡装置は、光源部と、前記光源部からの光が照射される標本を撮像する撮像部と、対物レンズの焦点位置と標本との相対位置を変化させる焦準部と、標本の焦点が合った位置を基準にし、前記対物レンズの光軸方向に複数の取込領域を設定する設定部と、所望の露光時間と出射光量とにより定まる取込条件で、前記焦準部により前記相対位置を前記複数の取込領域のそれぞれの開始位置から終了位置まで変化させて複数の長時間露光画像を取得する制御部と、取得した前記複数の長時時間露光画像を加算して焦点深度拡大画像を生成する画像生成部とを備える。
上記の顕微鏡装置において、前記設定部は、標本の焦点が合った位置を基準にした所定の範囲の焦点深度拡大領域と、前記焦点深度拡大領域を複数の取込領域に分割するための分割数を設定する手段を有する。
上記の顕微鏡装置において、前記設定部は、標本の焦点が合った位置を基準にした所定範囲の焦点深度拡大領域と、前記焦点深度拡大領域を複数の取込領域に分割するときの各取込領域の開始位置及び終了位置と、各取込領域の露光時間及び光源部の出射光量を設定する手段を有する。
上記の顕微鏡装置において、前記制御部は、各取込領域に対して露光時間と出射光量の一方が設定された場合に、各取込領域の中間位置において、設定された露光時間と出射光量の一方と、所望の露光時間と出射光量の他方とにより定まる取込条件で撮像して長時間露光画像を取得し、取得した長時間露光画像の輝度が飽和しない範囲の最大値に、各取込領域の露光時間または出射光量の他方を調整する。
本発明によれば、画質の良い焦点深度拡大画像を得ることができる。
以下、本発明の好適な実施の形態について説明する。図1は、第1の実施の形態の顕微鏡装置100の構成を示す図である。
顕微鏡装置100は、顕微鏡本体101と光源装置102と制御装置103からなる。顕微鏡本体101は、標本11を載せるステージ12と、対物レンズ13と、対物レンズ13が取り付けられるレボルバ14と、ステージ12を移動させる焦準機構15と、架台16と、投光管17と、鏡筒18と、接眼ユニット19を有する。
対物レンズ13は、レボルバ14に対して着脱自在に取り付けられ、レボルバ14の回転動作に応じてステージ12上に配置される。
ステージ12は、図示しない平面駆動機構2より対物レンズ13の光軸に直交した水平平面内で自在に移動でき、対物レンズ13に対する標本11の観察位置を変化させる。また、ステージ12は、焦準機構15により垂直方向(対物レンズ13の光軸方向)に昇降移動され、標本11と対物レンズ13の焦点位置との相対位置を変化させ、標本11に対する対物レンズ13の焦点合わせを行う。焦準機構15は制御装置103と接続されており、制御装置103により動作が制御される。なお、焦準機構15は、ステージ12の代わりに対物レンズ13を垂直方向に昇降移動させる構成としても構わない。
投光管17は、図示しない照明光学系と観察光学系を内部に備えている。投光管17の上部には、カメラ(撮像部に対応する)18が設けられている。また、投光管17のファイバコネクタ17aには光ファイバ19が取り付けられ、光ファイバ19は、光源装置102の光量調整部20に接続されている。
投光管17内の照明光学系は、光ファイバ19を介して光量調整部20から導入される光を対物レンズ13を介して照明光として標本11に照射する。また、投光管17は、照明光学系によって照明された標本11の観察像を、対物レンズ13と協働し、観察光学系により結像する。カメラ18は、この観察像を撮像して観察画像を生成し、生成した観察画像データを制御装置103に出力する。
鏡筒21は、図示しない結像レンズを有し、ステージ11の下部に配置された図示しない照明装置によって照射される可視光をもとに、対物レンズ13と協働して標本11の可視観察像を結像する。この可視観察像は、接眼部22を介して目視で観察することができる。
光源装置102は、図示しない光源と、光源の光量を調整する光量調整部21を有する。以下、投光管17、光ファイバ19及び光源装置102を総称して光源部と呼ぶ。
制御装置(設定部、制御部及び画像生成部に対応する)103は、画像データ及び使用者により設定されるデータ等が入力される入力部23、制御データを出力する出力部24、GUI画面等を表示する表示部25と、記憶部26と、制御部27と、焦点深度拡大画像を生成する画像生成部28を有する。
入力部23は、キーボード、マウス、通信装置で構成され、表示部25により表示されるGUI(Graphical User Interface)画面を介して各種設定データ等の入力を行う。
出力部24は、通信装置、携帯型記録媒体等で構成され、観察画像データを含む各種観察データ及び処理データ等を外部に出力する。表示部25は、液晶ディスプレイ等からなり、観察画像、設定情報及び報知情報を表示する。
記憶部26は、ハードディスク、ROM及びRAM等からなり、顕微鏡装置100を制御するための制御プログラムを記憶すると共に、観察画像データを含む各種データを記憶する。
制御部27は、顕微鏡装置100の各部の動作を制御するためのものであり、光源装置102、カメラ18、ステージ12等の制御を行う。制御部27はMPU(演算処理装置)を有し、記憶部26に記憶されている制御プログラムをMPUが読み出して実行することで上記の制御を行う。また、制御部27は、焦点が合った位置を基準にして複数の取込領域の開始位置から終了位置までステージを12を連続的に移動させ、各取込領域の長時間露光画像を取得する。
画像生成部28は、各取込領域の長時間露光画像を加算して焦点深度拡大画像を生成する。
なお、制御装置103は、専用の装置でも汎用のパーソンルコンピュータ等で構成しても良い。パーソナルコンピュータは、例えば、制御プログラムに従って全体の制御を行うMPU等の演算処理装置、演算処理措置がワークメモリとして使用するメインメモリ、各のプログラムや処理結果のデータ等を記憶するハードディスク装置等の記憶装置、データの授受を行うインターフェース部、操作者からの指示を取得する入力装置、情報を表示する表示装置等を有する。
次に、以上のような構成の顕微鏡装置100の動作を、図2のフローチャートを参照して説明する。図2のフローチャートには、人が行う操作と制御装置103が実行する処理を合わせて示してある。
使用者は、ステージ12上に標本11を置き、可視光を標本11に照射して接眼部22を介して目視観察しながらステージ12を対物レンズの光軸方向に昇降移動させ、標本11の焦点合わせを行う。そして、焦点が合った位置をZ軸方向の基準位置(Z=0)として設定する(図2,S11)。焦点合わせ等の操作は、制御部27が自動的に行っても良い。
次に、使用者は、設定画面において、Z=0の基準位置から±Xの範囲を焦点深度拡大領域として設定し(S12)、さらに焦点深度拡大領域の分割数を設定する(S13)。焦点深度拡大領域の範囲と分割数が設定されると、例えば、制御部27は、焦点深度拡大領域を指定された分割数に分割し、各取込領域の開始位置、終了位置を計算して記憶部26に保存する。
次に、設定した分割数により定まる各取込領域に同じ光源部の出射光量とカメラ露光時間を設定する(S14)。このステップS14では、例えば、Z=0の基準位置で、所望の露光時間が設定された場合に、設定された露光時間で連続撮影を行い、撮像された画像を飽和させない範囲で出射光量を最大値に設定する。
次に、各取込領域の長時間露光画像を取得する(S15)。ステップS15では、例えば、各取込領域の開始位置から終了位置までステージ12を連続的に移動させ、ステージ移動中はカメラ18を露光状態に保ち複数の長時間露光画像を撮影する。
次に、各取込領域の長時間露光画像を加算して1つの加算画像を生成する(S16)。加算画像に対してフィルタ処理を行い焦点深度拡大画像を生成する(S17)。
図3は、第1の実施の形態の顕微鏡装置100における、焦点深度拡大領域の取込領域の設定及び取込条件の設定画面の一例を示す図である。この設定画面は、制御部27の制御の元に表示部25に表示される。
顕微鏡装置100の使用者は、基準位置(Z=0)に対する焦点深度拡大領域のZ軸方向(垂直方向)の正方向及び負方向の距離と、焦点深度拡大領域の分割数を設定する。
図3の例は、焦点深度拡大領域の距離として「±2000nm」が設定され、その焦点深度拡大領域の分割数として「8」が設定された場合を示している。
焦点深度拡大領域のZ軸方向の距離と分割数「8」が設定されると、制御部27は、+2000nm〜−2000nmの範囲を8つの取込領域に分割し、各取込領域の開始位置と終了位置を計算する。図3の例では、1番目の取込領域の開始位置として「−2000」、終了位置として「−1500」、2番目の取込領域の開始位置として「−1500」、終了位置として「−1000」・・・4番目の取込領域の開始位置として「−500」、開始位置として「0」が、制御部27により設定され、記憶部26に格納される。
次に、取込条件の設定画面で、各取込領域の露光時間と光源部の出射光量を設定する。例えば、取込領域番号「1」の1番目の取込領域の露光時間が設定されると、開始位置と終了位置から中間位置を算出し、その中間位置において、光源の出射光量を変化させて、その露光時間で連続撮影を行い、画像が飽和しない最大出射光量を求める。そして、その最大出射光量と露光時間を、各取込領域の出射光量と露光時間(取込条件)として設定する。
図3は、特定の位置または特定の取込領域において、露光時間を「5msec」としたときの最大出射光量が最大値の「30%」であった場合に、各取込領域の取込条件として同じ露光時間「5msec」と出射光量「30%」が自動的に設定される場合の例を示している。
なお、上記の説明では、露光時間を設定した後に、光源の出射光量を決めているが、光源の出射光量を先に決めて、その出射光量で連続撮影したときに、画像が飽和しない最大露光時間を求め、その露光時間を設定しても良い。
なお、各取込領域の取込条件を同一にする場合には、光源部の出射光量の制御、カメラ18の露光時間を制御するための制御データは同じで良いので、制御データを送受信するために要する時間を短縮できる。
図4は、焦点深度拡大領域の取込領域の説明図である。分割数として「8」が設定された場合には、図4に示すように、焦点が合った位置Z0を中心にして、Z軸の正方向に4つの取込領域に分割され、Z軸の負方向にも4つの取込領域(図示せず)に分割される。
露光時間と出射光量が設定されると、制御部27は、領域AのZ軸方向の開始位置Z4から終了位置Z3までの距離に基づいて、ステージ12の移動時間が露光時間と等しくなるような移動速度を算出する。そして、ステージ12を算出した移動速度で開始位置Z4から終了位置Z3まで連続して移動させ、その間カメラ18を露光状態にして長時間露光画像を取得する。取得した取込領域Aの長時間露光画像は記憶部26に格納される。
次に、制御部27は、ステージ12を開始位置Z3から終了位置Z2まで連続的に移動させ、その間カメラ18を露光状態にして取込領域Bの長時間露光画像を取得する。同様に、ステージ12を開始位置Z2から終了位置Z1まで連続的に移動させ、その間カメラ18を露光状態にして取込領域Cの長時間露光画像を取得する。さらに、ステージ12を開始位置Z1からZ0まで連続的に移動させ、その間カメラ18を露光状態にして取込領域Dの長時間露光画像を取得する。同様の撮影をZ軸の負方向の取込領域に対しても行う。最後に、8つの取込領域の長時間露光画像を加算して1枚の加算画像を生成し、この加算画像に対してフィルタリング処理を行い焦点深度拡大画像を生成する。
上述した第1の実施の形態は、焦点深度拡大領域を複数の取込領域に分割し、各取込領域の長時間露光画像を取得し、複数の長時間露光画像を加算して1つの焦点深度拡大画像を生成するようにした。これにより、焦点深度拡大領域全体で1枚の焦点深度拡大画像を生成する場合に比べて、各取込領域の露光時間を長く、あるいは出射光量を大きくすることができるので、輝度飽和がなく、S/Nの良い高画質な焦点深度拡大画像を生成することができる。
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。この第2の実施の形態は、各取込領域の中間位置において最適な露光時間と光源の出射光量を設定するようにしたものである。
図5は、第2の実施の形態における、取込領域と取込条件を設定するためのGUI画面の一例を示す図である。
図5の例は、焦点深度拡大領域の大きさとして「±2000nm」、分割数として「8」が設定された場合を示している。焦点深度拡大領域の大きさと分割数が設定されると、制御部27は、各取込領域の開始位置と終了位置を算出し、1番目の取込領域の開始位置として「−2000」、終了位置として「−1500」、2番目の取込領域の開始位置として「−1500」、終了位置として「−1000」・・が算出され、それらの数値が図5の設定画面の開始位置、終了位置として表示される。
次に、取込条件を設定するために、使用者が特定の取込領域、例えば1番目の取込領域を選択して露光時間と出射光量の一方を設定すると、制御部27は、ステージ12を1番目の取込領域の中間位置まで移動させ、設定された露光時間(または出射光量)で、露光時間と出射光量の他方を調整して輝度飽和が生じない長時間露光画像を得る。この長時間露光画像は、図5の設定用表示画像の部分に表示される。なお、使用者が、撮影された長時間露光画像を目視で確認し、輝度飽和が生じない範囲で光源の出射光量または露光時間を調整しても良い。
1番目の取込領域の取込条件の設定が完了したなら、2番目、3番目・・・の取込領域について取込条件を設定する。
なお、上記の説明では、露光時間を先に設定したが、光源の出射光量を先に設定し、その出射光量を元に露光時間を決めても良い。また、長時間露光画像を取り込む位置は、取込領域の中央位置に限らず任意の位置、あるいはステージ12を各取込領域の開始位置から終了位置まで移動させながら連続的に露光しても良い。
上述した第2の実施の形態によれば、焦点深度拡大領域の取込領域毎に好適な露光時間と出射光量を設定することができるので、焦点位置によって標本の反射率が異なる場合でも、良好な画質の焦点深度拡大画像を生成することができる。
次に、本発明の第3の実施の形態について説明する。この第3の実施の形態は、各取込領域の露光時間、光源の出射光量を任意に設定した場合に、加重係数を用いて各取込領域の長時間露光画像の補正を行うものである。
ここで、前述した設定画面において、設定されるi番目の取込領域の開始位置をPStart[i]、終了位置をPEnd[i]、i番目の取込領域の光源部の出射光量をL[i]、露光時間をE[i]としたときに、以下のようなk値を計算する。
k[i]=|PEnd「i]−PStart[i]|/(L[i]・E[i])
そして、j番目の取込領域のk値を基準として、他の取込領域のk値を正規化して加重係数を算出する。j番目の取込領域の加重係数sk[j]を「1」とすると、i番目の取込領域の加重係数sk[i]は、k値を用いて以下の式で表せる。
sk[i]=k[i]/k[j]
各取込領域の長時間露光画像に上記の加重係数を乗算して、乗算後の長時間露光画像の画像データを加算して1つの加算画像を得る。その加算画像をフィルタ処理して焦点深度拡大画像を生成する。
上述した第3の実施の形態によれば、焦点深度拡大領域を複数の取込領域に分割したときに、各取込領域の露光時間と光源部の出射光量が異なる場合でも、それぞれの取込領域の長時間露光画像に加重係数を乗算することで取込条件の違いを補正した正確な長時間露光画像を得ることができる。
次に、本発明の第4の実施の形態について説明する。この第4の実施の形態は、焦点深度拡大領域全体の開始位置から終了位置までステージ12を移動させて1枚の長時間露光画像を取得し、この長時間露光画像の輝度が飽和しない範囲で、光源部の最大の出射光量、あるいは最大露光時間を求めるものである。
この第4の実施の形態では、使用者は、図5の設定画面において、例えば、所望の露光時間(最大露光時間Efull)を設定する。制御部27は、設定された露光時間で、焦点深度拡大領域の開始位置から終了位置まで移動が完了するようにステージ12の移動を制御し、1枚の長時間露光画像を取得する。そして、長時間露光画像に輝度飽和が発生しないように出射光量を調整する。このような長時間露光画像の取得と出射光量の調整を繰り返して、輝度飽和が発生しない最大出射光量EFullを決める。
次に、各取込領域の光源の出射光量を設定する。例えば、i番目の取込領域のカメラ18の露光時間をE[i]とすると、この取込領域の好適な出射光量L[i]は、以下の式から求めることができる。
L[i]=LFull・EFull/E[i]
上記の式では、露光時間E[i]が設定されたときの好適な出射光量L[i]を求めているが、各取込領域の出射光量E[i]が設定された場合にも上記の式から好適な露光時間を算出できる。
なお、最大露光時間EFullは、例えば、使用者が望む、焦点深度拡大画像を取得するまでに要する処理時間により決めることができる。処理時間が決まれば、その時間を最大露光時間として設定し、焦点深度拡大領域の全体の長時間露光画像を撮影したときに、画像が飽和しない最大出射光量EFullを決めることができる。
上述した第4の実施の形態は、所望の最大露光時間EFullを設定し、焦点深度拡大領域全体の長時間露光画像を撮影し、その撮影結果から光源部の最大出射光量LFullを決めている。そして、各取込領域の露光時間(または出射光量)が設定されたときに、制御部27が、最大露光時間EFullと最大出射光量LFullから各取込領域の好適な露光時間(または出射光量)を自動的に設定することができる。これにより、各取込領域の取込条件の設定を短時間で行うことができ、かつ高画質な焦点深度拡大画像を得ることができる。
次に、図6は、本発明の第5の実施の形態の顕微鏡装置200の構成を示す図である。この第5の実施の形態は、異なる波長の光を照射して複数の焦点深度拡大画像を生成し、1枚のカラー画像のR成分、G成分、B成分を複数の焦点深度拡大画像で置換するものである。以下、図1の顕微鏡装置100と同じ要素には同じ符号を付けてそれらの説明は省略する。
図6において、光源装置202は、光量調整部32と波長選択部31を有する。光量調整部32は、図示しない光源から放射される紫外光の光量を制御部27の制御に従って調整する。波長選択部31は、制御部27により指定される波長の紫外光を選択して光ファイバ19に出力する。
使用者が、焦点深度拡大領域の範囲と分割数と各領域の取込条件を設定すると、各取込領域の長時間露光画像が取得される。このとき、制御部27は、各取込領域に対して波長の異なる紫外光を照射して3枚の長時間露光画像を取得する。そして、各取込領域の長時間露光画像を加算しフィルタ処理を施して、3つの波長の焦点深度拡大画像を生成する。さらに、予め用意した1枚のカラー画像のR成分、G成分、B成分として3つの波長の焦点深度拡大画像の画像データを設定する。
これにより、異なる波長の3枚の焦点深度拡大画像が、1枚のカラー画像のR、G、B成分として表示される。人間の目は、R、G、B成分の違いを認識し易いので、波長の異なる3種類の焦点深度拡大画像を同時に見ることで、標本11の欠陥等を目視で直感的に認識できる。
なお、標本11に対して焦点を合わせる場合、波長によって焦点深度が異なるために、長い波長域では焦点が合うが、短い波長域では焦点が合わない場合がある。そのため、第5の実施の形態では、各波長に対して同じ焦点深度拡大領域を設定し、全ての波長域で焦点が合った焦点深度拡大画像を生成している。
上述した第5の実施の形態によれば、波長の異なる光を標本に照射して複数の焦点深度拡大画像を生成し、それら複数の焦点深度拡大画像を1枚のカラー画像のR、G、B成分として表示することで、波長の異なる焦点深度拡大画像を同時に確認することができる。これにより、例えば、半導体デバイスの欠陥検査や構造解析を目視で容易に行うことができる。
本発明は上述した実施の形態に限らず、例えば、以下のように構成しても良い。
実施の形態では、分割数に基づいて各取込領域の大きさを同じにしたが、各取込領域の開始位置、終了位置を使用者が任意に設定できるようにしても良い。
第1の実施の形態の顕微鏡装置の構成を示す図である。 第1の実施の形態の顕微鏡装置の動作を示すフローチャートである。 設定画面の一例を示す図である。 焦点深度拡大領域の取込領域の説明図である。 第2の実施の形態の設定画面の一例を示す図である。 第5の実施の形態の顕微鏡装置の構成を示す図である。
符号の説明
100,200 顕微鏡装置
101 顕微鏡本体
102、202 光源装置
103 制御装置
12 ステージ
18 カメラ
20 光量調整部
23 入力部
24 出力部
25 表示部
26 記憶部
27 制御部
28 画像生成部

Claims (8)

  1. 光源の出射光量を調整する光量調整部を有する光源部と、
    前記光源部からの光が照射される標本を撮像する撮像部と、
    対物レンズの焦点位置と標本との相対位置を変化させる焦準部と、
    標本の焦点が合った位置を基準にした所定範囲である焦点深度拡大領域を前記対物レンズの光軸方向に分割してなる複数の取込領域と、前記複数の取込領域の各々に対する露光時間及び出射光量とを設定する設定部と、
    前記設定部で設定された露光時間と出射光量とにより定まる取込条件で、前記焦準部により前記相対位置を前記複数の取込領域のそれぞれの開始位置から終了位置まで変化させて複数の長時間露光画像を取得する制御部と、
    取得した前記複数の長時間露光画像を加算して焦点深度拡大画像を生成する画像生成部とを備え
    前記設定部は、前記複数の取込領域の各々に対して露光時間が設定された場合に、各取込領域の中間位置で前記光源部からの出射光量を前記光量調整部によって変化させながら各取込領域に対して設定された露光時間で連続撮影を行い、各取込領域の中間位置での連続撮影により取得された画像から各取込領域の画像が飽和しない最大出射光量を算出し、前記複数の取込領域の各々に対する出射光量を前記最大出射光量に設定する顕微鏡装置。
  2. 光源の出射光量を調整する光量調整部を有する光源部と、
    前記光源部からの光が照射される標本を撮像する撮像部と、
    対物レンズの焦点位置と標本との相対位置を変化させる焦準部と、
    標本の焦点が合った位置を基準にした所定範囲である焦点深度拡大領域を前記対物レンズの光軸方向に分割してなる複数の取込領域と、前記複数の取込領域の各々に対する露光時間及び出射光量とを設定する設定部と、
    前記設定部で設定された露光時間と出射光量とにより定まる取込条件で、前記焦準部により前記相対位置を前記複数の取込領域のそれぞれの開始位置から終了位置まで変化させて複数の長時間露光画像を取得する制御部と、
    取得した前記複数の長時間露光画像を加算して焦点深度拡大画像を生成する画像生成部とを備え
    前記設定部は、前記複数の取込領域の各々に対する露光時間が設定された場合に、前記焦点深度拡大領域の開始位置から終了位置まで移動しながら前記複数の取込領域のうちの一の取込領域に設定された露光時間で行う撮影を前記光源部からの出射光量を前記光量調整部によって変化させながら繰り返し行い、繰り返し行われた撮影により取得された画像から画像が飽和しない最大出射光量を算出し、前記最大出射光量に基づいて前記複数の取込領域の各々に対する出射光量を設定する顕微鏡装置。
  3. 前記設定部は、標本の焦点が合った位置を基準にした所定範囲である焦点深度拡大領域と、前記焦点深度拡大領域を複数の取込領域に分割するための分割数を設定するための入力を受け付ける手段を有する請求項1または2記載の顕微鏡装置。
  4. 前記設定部は、標本の焦点が合った位置を基準にした所定範囲である焦点深度拡大領域と、前記焦点深度拡大領域を複数の取込領域に分割するときの各取込領域の開始位置及び終了位置と、各取込領域の露光時間及び光源部の出射光量を設定するための入力を受け付ける手段を有する請求項1または2記載の顕微鏡装置。
  5. 前記制御部は、前記複数の取込領域の長時間露光画像を取得したときに、i番目の取込領域の開始位置と終了位置の差と、露光時間と出射光量を乗算した値との比kを基準として他の取込領域のk値を正規化した値を各取込領域の加重係数として求め、各取込領域の前記加重係数を各取込領域の長時間露光画像に乗算して、各取込領域の長時間露光画像を正規化する請求項1乃至のいずれか1項に記載の顕微鏡装置。
  6. 前記光源部は、波長の異なる複数の光を標本に照射し、
    前記画像生成部は、波長の異なる複数の光を照射したときの前記複数の長時間露光画像を加算して複数の焦点深度拡大画像を生成し、前記複数の焦点深度拡大画像をR、G、B成分として有する1枚のカラー画像を生成する請求項1乃至のいずれか1項に記載の顕微鏡装置。
  7. 標本の焦点が合った位置を基準にした所定範囲である焦点深度拡大領域と、前記焦点深度拡大領域を複数の取込領域に分割するための分割数と、前記複数の取込領域の各々に対する露光時間とを設定するための入力を受け付けて、
    標本の焦点が合った位置を基準にし、対物レンズの光軸方向に前記複数の取込領域を設定し、
    各取込領域の中間位置で光源部からの出射光量を変化させながら、各取込領域に対して設定された露光時間で連続撮影を行い、
    前記複数の取込領域の各々に対する出射光量を、各取込領域の中間位置での連続撮影により取得された画像から算出した、画像が飽和しない最大出射光量に設定し、
    設定された露光時間と出射光量とにより定まる取込条件で、焦準部により前記対物レンズの焦準位置と標本の相対位置を前記複数の取込領域のそれぞれの開始位置から終了位置まで変化させて複数の長時間露光画像を取得し、
    取得した前記複数の長時時間露光画像を加算して焦点深度拡大画像を生成する顕微鏡装置の焦点深度拡大画像生成方法。
  8. 標本の焦点が合った位置を基準にした所定範囲である焦点深度拡大領域と、前記焦点深度拡大領域を複数の取込領域に分割するための分割数と、前記複数の取込領域の各々に対する露光時間とを設定するための入力を受け付けて、
    標本の焦点が合った位置を基準にし、対物レンズの光軸方向に前記複数の取込領域を設定し、
    前記焦点深度拡大領域の開始位置から終了位置まで移動しながら前記複数の取込領域のうちの一の取込領域に設定された露光時間で行う撮影を前記光源部からの出射光量を前記光量調整部によって変化させながら繰り返し行い、
    前記複数の取込領域の各々に対する出射光量を、繰り返し行われた撮影により取得された画像から算出した、画像が飽和しない最大出射光量に基づいて設定し、
    設定された露光時間と出射光量とにより定まる取込条件で、焦準部により前記対物レンズの焦準位置と標本の相対位置を前記複数の取込領域のそれぞれの開始位置から終了位置まで変化させて複数の長時間露光画像を取得し、
    取得した前記複数の長時時間露光画像を加算して焦点深度拡大画像を生成する顕微鏡装置の焦点深度拡大画像生成方法。
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5090188B2 (ja) * 2008-01-10 2012-12-05 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
JP5672688B2 (ja) 2009-10-23 2015-02-18 ソニー株式会社 合焦装置、合焦方法、合焦プログラム及び顕微鏡
WO2011119678A2 (en) 2010-03-23 2011-09-29 California Institute Of Technology Super resolution optofluidic microscopes for 2d and 3d imaging
US9569664B2 (en) * 2010-10-26 2017-02-14 California Institute Of Technology Methods for rapid distinction between debris and growing cells
WO2012058233A2 (en) 2010-10-26 2012-05-03 California Institute Of Technology Scanning projective lensless microscope system
US9643184B2 (en) * 2010-10-26 2017-05-09 California Institute Of Technology e-Petri dishes, devices, and systems having a light detector for sampling a sequence of sub-pixel shifted projection images
CN103534627A (zh) 2011-03-03 2014-01-22 加州理工学院 光导像素
JP6136085B2 (ja) * 2011-10-05 2017-05-31 ソニー株式会社 画像取得装置、画像取得方法、およびコンピュータプログラム
JP5942390B2 (ja) * 2011-11-15 2016-06-29 ソニー株式会社 画像取得装置、画像取得方法及び画像取得プログラム
JP6069825B2 (ja) * 2011-11-18 2017-02-01 ソニー株式会社 画像取得装置、画像取得方法及び画像取得プログラム
DE102013003900A1 (de) * 2012-03-28 2013-10-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtmikroskop und Verfahren zur Bildaufnahme mit einem Lichtmikroskop
JP6325816B2 (ja) * 2013-12-27 2018-05-16 株式会社キーエンス 拡大観察装置、拡大画像観察方法、拡大画像観察プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体
JP2016051168A (ja) * 2014-08-29 2016-04-11 キヤノン株式会社 画像取得装置およびその制御方法
WO2016133787A1 (en) 2015-02-18 2016-08-25 Abbott Laboratories Methods, systems and devices for automatically focusing a microscope on a substrate
CN106017872B (zh) * 2016-07-04 2018-08-28 华中科技大学 适用于显微光学切片断层成像***的监控报警***及方法
JP2017058704A (ja) * 2017-01-04 2017-03-23 ソニー株式会社 画像取得装置、画像取得方法、およびコンピュータプログラム
JP2018116309A (ja) * 2018-04-12 2018-07-26 ソニー株式会社 画像取得装置、画像取得方法および顕微鏡
JP2019204009A (ja) * 2018-05-24 2019-11-28 オリンパス株式会社 顕微鏡システム
CN110996002B (zh) * 2019-12-16 2021-08-24 深圳市瑞图生物技术有限公司 显微镜聚焦方法、装置、计算机设备和存储介质

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3191928B2 (ja) * 1988-02-23 2001-07-23 オリンパス光学工業株式会社 画像入出力装置
DE3905619C2 (de) 1988-02-23 2000-04-13 Olympus Optical Co Bildeingabe-/Ausgabevorrichtung
JP2907465B2 (ja) * 1989-11-24 1999-06-21 オリンパス光学工業株式会社 画像入出力装置
JP3992302B2 (ja) * 1995-05-23 2007-10-17 オリンパス株式会社 画像入出力装置
JP3722535B2 (ja) * 1996-02-06 2005-11-30 オリンパス株式会社 走査型共焦点顕微鏡及びこの顕微鏡を使用した測定方法
JP4136011B2 (ja) * 1996-04-30 2008-08-20 オリンパス株式会社 焦点深度伸長装置
JPH11177873A (ja) * 1997-12-16 1999-07-02 Denso Corp 高速合焦電子カメラ
US6917377B2 (en) * 2000-02-04 2005-07-12 Olympus Optical Co., Ltd. Microscope system
US6502324B2 (en) * 2000-12-12 2003-01-07 International Business Machines Corporation Method of alignment between sheet materials, method of alignment, substrate assembling method and aligning apparatus
JP2002267943A (ja) * 2001-03-08 2002-09-18 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡撮影装置
JP3942861B2 (ja) * 2001-10-23 2007-07-11 独立行政法人科学技術振興機構 結像光学装置
JP2004347454A (ja) * 2003-05-22 2004-12-09 Mitsubishi Rayon Co Ltd シェーディング補正方法
US7394943B2 (en) * 2004-06-30 2008-07-01 Applera Corporation Methods, software, and apparatus for focusing an optical system using computer image analysis
CN1882031B (zh) * 2005-06-15 2013-03-20 Ffei有限公司 形成多聚焦堆图像的方法和设备
JP4648173B2 (ja) * 2005-12-01 2011-03-09 オリンパス株式会社 顕微鏡用デジタルカメラ、顕微鏡用デジタルカメラの制御方法およびプログラム
CN101078806A (zh) * 2006-05-26 2007-11-28 汪雪君 立体摄像显像***
CN2919282Y (zh) * 2006-07-03 2007-07-04 北京华旗资讯数码科技有限公司 复合式显微镜
JP4933878B2 (ja) * 2006-11-07 2012-05-16 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
JP5090188B2 (ja) * 2008-01-10 2012-12-05 オリンパス株式会社 顕微鏡装置

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