JP4933878B2 - 顕微鏡装置 - Google Patents
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Description
まず、本発明の実施の形態1にかかる顕微鏡装置について説明する。図1は、本実施の形態1にかかる顕微鏡装置としての紫外線顕微鏡装置100の全体構成を示す図である。この図に示すように、紫外線顕微鏡装置100は、大別して顕微鏡本体101と、光源装置102と、制御装置103とを備える。
つぎに、本発明の実施の形態2について説明する。図8は、本実施の形態2にかかる顕微鏡装置としての紫外線顕微鏡装置200の全体構成を示す図である。この図に示すように、紫外線顕微鏡装置200は、紫外線顕微鏡装置100の構成をもとに、顕微鏡本体101および制御装置103に替えて、顕微鏡本体201および制御装置203を備える。顕微鏡本体201は、顕微鏡本体101の構成をもとに、ビームスプリッタ61と分光計62とをさらに備え、制御装置203は、制御装置103の構成をもとに、記憶部18および制御部19に替えて、記憶部68および制御部69を備える。記憶部68は、ND設定値記憶テーブル68aと撮像パラメータ記憶テーブル68bを有し、制御部69は、光源制御部19a、撮像制御部69bおよび分光計測処理部69cを有する。その他の構成は実施の形態1と同じであり、同一構成部分には同一符号を付して示している。
2 ステージ
3 対物レンズ
4 レボルバ
5 焦準機構
6 架台
7 投光管
7a ファイバコネクタ
8 鏡筒
9 接眼ユニット
10 基準サンプル
11 波長選択ユニット
12 光ファイバ
12a 入射端面
13 駆動ユニット
14 カメラ
15 入力部
16 出力部
17 表示部
18 記憶部
18a ND設定値記憶テーブル
19 制御部
19a 光源制御部
19b 画像処理部
20 光軸
20A〜20C 反射光軸
21 光源
22 コレクタレンズ
23 選択反射光学系
23A〜23C ダイクロイックミラー
24A〜24C 折返光学系
25 全反射ミラー
26A〜26C 結像レンズ
27A〜27C 凹面鏡
27Aa,27Ba,27Ca 反射面
31,32A〜32C シャッタ
33,34A〜34C NDフィルタ
41 平行光
42A〜42C 反射光
43A〜43C 第1中間像
44A〜44C 第2中間像
45A〜45C 折返光
46 合成光
47,47A〜47C 光源像
50 GUI画面
51 波長域入力部
52 NDフィルタ設定ボリューム
53 画像表示部
54 統計値表示部
55 ボタン
61 ビームスプリッタ
62 分光計
68 記憶部
68a ND設定値記憶テーブル
68b 撮像パラメータ記憶テーブル
69 制御部
69b 撮像制御部
69c 分光計測処理部
100,200 紫外線顕微鏡装置
101,201 顕微鏡本体
102 光源装置
103,203 制御装置
104 波長選択光学系
EP1,EP2 射出瞳
Claims (9)
- 光源が発した光の中から選択的に抽出する複数の異なる波長域の照明光の光量を変化させる光量調整手段を有し、複数の前記異なる波長域の照明光を光量比可変に射出する光源装置と、
複数の前記異なる波長域の中から組み合わせられる2つの該異なる波長域ごとに所定反射率比を有した基準サンプルと、
前記光源装置が射出した前記異なる波長域ごとの前記照明光を前記基準サンプルに照射する照明手段と、
前記照明光が照射された前記基準サンプルの基準観察像を結像する結像手段と、
前記異なる波長域ごとに前記基準観察像を撮像して基準観察画像を生成する撮像手段と、
前記異なる波長域ごとに前記基準観察画像の画素値の統計値を算出する画像処理手段と、
前記光源装置が射出する前記照明光の前記波長域の組み合わせパターンごとに、前記所定反射率比と前記統計値とをもとに定められる前記光量調整手段の設定値を記憶した記憶テーブルと、
前記波長域の組み合わせパターンを指示する波長指示情報に応じ、前記記憶テーブルに記憶された前記設定値に基づいて前記光源装置に前記光量調整手段を設定変更させる制御を行う設定制御手段と、
を備えたことを特徴とする顕微鏡装置。 - 光源が発した光の中から選択的に抽出する複数の異なる波長域の照明光の光量を変化させる光量調整手段を有し、複数の前記異なる波長域の照明光を光量比可変に射出する光源装置と、
複数の前記異なる波長域の中から組み合わせられる2つの該異なる波長域ごとに所定反射率比を有した基準サンプルと、
前記光源装置が射出した前記照明光を前記基準サンプルに照射する照明手段と、
前記照明光が照射された前記基準サンプルの基準観察像を結像する結像手段と、
前記基準観察像を形成する観察光の分光強度分布を計測し、該分光強度分布の前記異なる波長域ごとの統計値を算出する分光計測手段と、
前記光源装置が射出する前記照明光の前記波長域の組み合わせパターンごとに、前記所定反射率比と前記統計値とをもとに定められる設定値を記憶した記憶テーブルと、
前記波長域の組み合わせパターンを指示する波長指示情報に応じ、前記記憶テーブルに記憶された前記設定値に基づいて前記光源装置に前記光量調整手段を設定変更させる制御を行う設定制御手段と、
を備えたことを特徴とする顕微鏡装置。 - 前記光量調整手段は、前記異なる波長域ごとに前記照明光の光量を変化させる波長別光量調整手段と、前記異なる波長域を一括して前記照明光の光量を変化させる一括光量調整手段との少なくとも一方を有し、
前記記憶テーブルは、前記波長域の組み合わせパターンごとに、前記波長別光量調整手段および前記一括光量調整手段の少なくとも一方の前記設定値を記憶し、
前記設定制御手段は、前記波長指示情報に応じ、前記記憶テーブルに記憶された前記設定値に基づいて前記光源装置に前記波長別光量調整手段および前記一括光量調整手段の少なくとも一方を設定変更させる制御を行うことを特徴とする請求項1または2に記載の顕微鏡装置。 - 前記統計値は、平均値、最大値、中央値または最頻値であることを特徴とする請求項1または2に記載の顕微鏡装置。
- 前記記憶テーブルは、前記光源装置が射出する前記照明光の全光量を前記波長域の組み合わせパターンごとに等しくさせる前記設定値を記憶することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の顕微鏡装置。
- 前記結像手段によって結像される観察像を撮像して観察画像を生成する撮像手段と、
前記撮像手段の分光感度情報をもとに定められる該撮像手段の撮像パラメータを前記異なる波長域ごとに記憶した撮像パラメータ記憶テーブルと、
前記波長指示情報に応じ、前記撮像パラメータ記憶テーブルに記憶された前記撮像パラメータに基づいて前記撮像手段に前記撮像パラメータを変更させる制御を行う撮像制御手段と、
を備えたことを特徴とする請求項2に記載の顕微鏡装置。 - 前記撮像パラメータは、前記撮像手段の露出時間またはゲインであることを特徴とする請求項6に記載の顕微鏡装置。
- 前記光源装置は、
光源が発した光を集光し、自光学系の光軸に対して傾斜した平行光を射出する集光光学系と、
前記平行光を複数の前記異なる波長域ごとに選択的に反射させる選択反射光学系と、
前記異なる波長域ごとに、前記選択反射光学系が反射した反射光を該反射光に対応する前記選択反射光学系の反射光軸に対して対称に折り返して射出する折返光学系と、
前記異なる波長域ごとに、前記反射光の光路を選択的に遮断および開放するシャッタ手段と、を備え、
前記選択反射光学系は、前記折返光学系が射出した折返光を再反射させ、
前記集光光学系は、前記選択反射光学系が再反射させた再反射光を集光して前記光源の光源像を結像し、
前記波長別光量調整手段は、前記異なる波長域ごとに、前記反射光の光路に設けられ、該反射光の光量を変化させ、
前記一括光量調整手段は、前記光源から前記選択反射光学系に至る第1光路または前記選択反射光学系から前記光源像に至る第2光路の少なくとも一方に設けられ、該第1光路および該第2光路を通過する光の光量を変化させることを特徴とする請求項3に記載の顕微鏡装置。 - 前記選択反射光学系は、複数の前記異なる波長域のうち1つの波長域の前記平行光を択一的に反射させるとともに該1つの波長域以外の前記平行光を透過させる選択反射素子を複数有し、
前記折返光学系は、前記異なる波長域ごとに、前記選択反射素子の反射光軸上に配置され、該選択反射素子によって反射された前記反射光を該反射光に対応する前記反射光軸に対して対称に折り返して射出することを特徴とする請求項8に記載の顕微鏡装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006301974A JP4933878B2 (ja) | 2006-11-07 | 2006-11-07 | 顕微鏡装置 |
US11/933,553 US7817335B2 (en) | 2006-11-07 | 2007-11-01 | Microscope apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006301974A JP4933878B2 (ja) | 2006-11-07 | 2006-11-07 | 顕微鏡装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008116845A JP2008116845A (ja) | 2008-05-22 |
JP4933878B2 true JP4933878B2 (ja) | 2012-05-16 |
Family
ID=39502797
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006301974A Expired - Fee Related JP4933878B2 (ja) | 2006-11-07 | 2006-11-07 | 顕微鏡装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7817335B2 (ja) |
JP (1) | JP4933878B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5090188B2 (ja) * | 2008-01-10 | 2012-12-05 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡装置 |
JP5185771B2 (ja) * | 2008-10-27 | 2013-04-17 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡 |
JP2012010276A (ja) * | 2010-06-28 | 2012-01-12 | Sony Corp | 画像処理装置、画像処理方法及び画像処理プログラム |
DE102011114336A1 (de) * | 2011-09-23 | 2013-03-28 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Durchlichtbeleuchtung für Lichtmikroskope und Mikroskopsystem |
JP6108774B2 (ja) * | 2012-11-08 | 2017-04-05 | キヤノン株式会社 | レーザ装置およびそれを用いた光音響装置 |
JP6862229B2 (ja) * | 2017-03-15 | 2021-04-21 | キヤノン株式会社 | 解析装置、撮像装置、解析方法、および、プログラム |
US11467389B2 (en) | 2018-04-18 | 2022-10-11 | Gentex Corporation | Confined field of view illumination |
JP7358817B2 (ja) * | 2019-07-24 | 2023-10-11 | ソニーグループ株式会社 | 画像処理装置、撮像装置、および画像処理方法、並びにプログラム |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001224015A (ja) * | 2000-02-07 | 2001-08-17 | Olympus Optical Co Ltd | 内視鏡装置及び光源装置 |
JP2002090640A (ja) | 2000-09-14 | 2002-03-27 | Olympus Optical Co Ltd | 紫外線顕微鏡 |
US7158294B2 (en) * | 2001-12-18 | 2007-01-02 | Olympus Optical Co., Ltd. | Laser scanning confocal microscope apparatus, image recording method, and recording medium |
DE10217545A1 (de) * | 2002-04-17 | 2003-11-06 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Mikroskop mit Positionserkennung von Wechslern optischer Elemente |
JP2003322801A (ja) | 2002-04-26 | 2003-11-14 | Olympus Optical Co Ltd | 紫外線顕微鏡 |
DE10227111B4 (de) * | 2002-06-17 | 2007-09-27 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Spektralmikroskop und Verfahren zur Datenaufnahme mit einem Spektralmikroskop |
JP4521155B2 (ja) * | 2002-11-27 | 2010-08-11 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡画像処理装置 |
DE10339311B4 (de) * | 2003-08-27 | 2006-04-27 | Leica Microsystems Cms Gmbh | System und Verfahren zur Einstellung eines Fluoreszenzspektralmesssystems zur Mikroskopie |
JP4258814B2 (ja) * | 2004-11-11 | 2009-04-30 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡の照明装置 |
JP2006154237A (ja) | 2004-11-29 | 2006-06-15 | Olympus Corp | 顕微鏡 |
EP1744194B1 (en) * | 2005-07-11 | 2017-05-10 | Olympus Corporation | Laser scanning microscope and image acquiring method of laser scanning microscope |
DE102005059338A1 (de) * | 2005-12-08 | 2007-06-14 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Untersuchung von Proben |
-
2006
- 2006-11-07 JP JP2006301974A patent/JP4933878B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-11-01 US US11/933,553 patent/US7817335B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090219614A1 (en) | 2009-09-03 |
JP2008116845A (ja) | 2008-05-22 |
US7817335B2 (en) | 2010-10-19 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110928 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120217 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |