JP5072911B2 - 半導体装置 - Google Patents
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Description
<A−1.構成>
図1は、本発明にかかる半導体装置100の全体図である。図1に示すのは、半導体チップ2をリードフレーム4に搭載した状態の一例に過ぎず、半導体チップ2の個数や配置、その他の周辺部の構成要素についても図1に示すような場合に限られるものではない。
架橋部4bを図2の示すように形成することで、チップ搭載部4cとリード部4aとを接続する熱伝導体としての架橋部4bの板厚t2(第2の板厚)はチップ搭載部4cの板厚t1(第1の板厚)およびリード部4aの板厚t3(第3の板厚)よりも薄く、そのため架橋部4bの断面積が小さく抑えられ、従来よりも熱伝導率が低くなる。よって、チップ搭載部4cに搭載された半導体チップ2において発生した熱が、チップ搭載部4cに伝わり、さらに架橋部4bを介してリード部4aへと伝わることを抑制し、半導体装置100と基板(図示せず)との接合部の温度上昇を抑制することが可能となる。
この発明にかかる実施の形態1によれば、リードフレーム4と、リードフレーム4上に搭載された半導体素子である半導体チップ2とを備える半導体装置であって、リードフレーム4は、半導体チップ2を搭載し、第1の板厚である板厚t1を有する半導体素子搭載部であるチップ搭載部4cと、チップ搭載部4cから延在し、板厚t1より薄い第2の板厚である板厚t2を有する架橋部4bと、架橋部4bから延在し、板厚t2より厚い第3の板厚である板厚t3を有するリード部4aとを備えることで、熱伝導体としての架橋部4bの、チップ搭載部4cとリード部4aとを結ぶ方向と垂直な方向の断面積を小さくすることにより、半導体チップ2による発熱をリード部4aへ熱伝導することを抑制し、半導体装置100と基板(図示せず)との接合部の温度上昇を抑制することが可能となる。
<B−1.構成>
図3は、図2に示した本発明にかかる半導体装置100を上面および側面から見た図である。図2に示したチップ搭載部4cには半導体チップ2が搭載されているが、簡単のため図示を省略する。なお、図中に示した寸法は、具体的設計における一例であり、本発明がこの寸法に限定されるわけではない。
この発明にかかる実施の形態2によれば、半導体装置において、架橋部4bに、切欠き101あるいは穴102が設けられたことで、半導体チップ2からリード部4aへの伝熱が更に抑制され、半導体装置100と基板(図示せず)との接合部の温度上昇を抑制することが可能となる。
<C−1.構成>
図4(a)は、リードフレーム4のリード部4aとチップ搭載部4cと、両者の接続部分である架橋部4bとを詳細に示した図であり、図4(b)は、架橋部4bとチップ搭載部4cとの間の端部103の形状をさらに詳細に示した図である。
曲げディプレス処理によって図4(a)に示すような構造を形成する場合、曲げた部分であるリード部4aの端部104に、肉寄りの影響で半導体チップ2を搭載できないエリアが形成されてしまうが、本発明においては架橋部4bを設けたことによりリード部4aの端部104は半導体チップ2の搭載位置より離れた位置に配置されるので、チップ搭載有効エリアは肉寄りの影響を受けることなく活用できる。
この発明にかかる実施の形態3によれば、半導体装置において、表面後退処理は、曲げディプレス処理であることで、絶縁シート(図示せず)との密着性を阻害するバリの発生を防ぎ、密着性を向上させることが可能となる。
<D−1.構成>
図5は、本発明にかかる半導体装置100の寸法の概略を示した図である。
H>Gが成り立つことにより、梱包時の積み重ねが垂直にできるため梱包ロスが少なくなる。
この発明にかかる実施の形態4によれば、半導体装置において、リード部4aの第3の板厚(板厚t3)より半導体素子搭載部であるチップ搭載部4cの第1の板厚(板厚t1)が薄いことで、梱包輸送時にはリード部4a同士のみが接触するように梱包することができるので、ダイパット(チップ搭載部4c)同士の干渉がなくなり、品質安定性を向上させることが可能となる。
Claims (4)
- リードフレームと、
前記リードフレーム上に搭載された半導体素子と、
を備える半導体装置であって、
前記リードフレームは、
前記半導体素子を搭載し、第1の板厚を有する半導体素子搭載部と、
前記半導体素子搭載部から延在し、前記第1の板厚より薄い第2の板厚を有する架橋部と、
前記架橋部から延在し、前記第2の板厚より厚い第3の板厚を有するリード部とを備え、
前記リード部の前記第3の板厚より前記半導体素子搭載部の前記第1の板厚が薄い、
半導体装置。 - 前記半導体素子搭載部と前記架橋部は、前記リードフレームの第1の面から表面後退処理が行われており、
前記リード部と前記架橋部は、前記リードフレームの第2の面から表面後退処理が行われている、
請求項1に記載の半導体装置。 - 前記表面後退処理は、曲げディプレス処理である、
請求項2に記載の半導体装置。 - 前記架橋部に、切欠きあるいは穴が設けられた、
請求項1〜3のいずれかに記載の半導体装置。
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