JP5057350B2 - 半導体集積回路、およびこれを備えた各種装置 - Google Patents
半導体集積回路、およびこれを備えた各種装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5057350B2 JP5057350B2 JP2009540943A JP2009540943A JP5057350B2 JP 5057350 B2 JP5057350 B2 JP 5057350B2 JP 2009540943 A JP2009540943 A JP 2009540943A JP 2009540943 A JP2009540943 A JP 2009540943A JP 5057350 B2 JP5057350 B2 JP 5057350B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit block
- power supply
- circuit
- semiconductor integrated
- interface unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0008—Arrangements for reducing power consumption
- H03K19/0016—Arrangements for reducing power consumption by using a control or a clock signal, e.g. in order to apply power supply
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/22—Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
- H03K17/24—Storing the actual state when the supply voltage fails
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Description
電源線またはグランド線に接続された第1の回路ブロックと、
前記第1の回路ブロックと同一の前記電源線または前記グランド線に接続された第2の回路ブロックと、
前記第1の回路ブロックが電源遮断状態から電源供給状態に遷移する、または電源供給状態から電源遮断状態に遷移する際における前記第2の回路ブロックの電源電位を検知する電源電位検知回路と、
前記第1の回路ブロックが電源遮断状態から電源供給状態に遷移する、または電源供給状態から電源遮断状態に遷移すると、前記第2の回路ブロックの機能を一旦停止させたうえで、前記電源電位検知回路の検知出力に基づいて、前記第2の回路ブロックの機能を復帰させる動作制御回路と、
を備える。
電源線またはグランド線に接続された第1の回路ブロックと、
前記第1の回路ブロックと同一の前記電源線または前記グランド線に接続された第2の回路ブロックと、
前記第1の回路ブロックが電源遮断状態から電源供給状態に遷移する、または電源供給状態から電源遮断状態に遷移すると、前記第2の回路ブロックの機能を一旦停止させたうえで、前記第2の回路ブロックの機能を復帰させる動作制御回路と、
前記第1の回路ブロックが非動作状態のときに、前記第1の回路ブロックと前記電源線または前記グランド線との接続を遮断する第1の電源遮断スイッチと、
前記第1の電源遮断スイッチによって、前記第1の回路ブロックと前記電源線または前記グランド線とを接続または遮断する時間を調整する遅延調整回路と、
を備える。
グランド線に接続された第1の回路ブロックと、
前記第1の回路ブロックと同一の前記グランド線に接続された第2の回路ブロックと、
前記第1の回路ブロックに電源を供給する第1の電源と、
前記第2の回路ブロックに電源を供給する第2の電源と、
前記第1の回路ブロックが電源遮断状態から電源供給状態に遷移する、または電源供給状態から電源遮断状態に遷移すると、前記第2の回路ブロックの機能を一旦停止させたうえで、前記第2の回路ブロックの機能を復帰させる動作制御回路と、
を備え、
前記第1の電源と前記第2の電源とは、各々独立した電源電位を各自の電源供給先に供給する。
前記動作制御回路は、前記検知出力に基づいて前記第2の回路ブロックの電源電位が安定したと判断すると、前記第2の回路ブロックの機能を復帰させる、
構成がある。
前記第2の回路ブロックに入力される入力データを記憶する記憶回路を、
さらに備え、
前記動作制御回路は、前記記憶回路が前記第2の回路ブロックの入力データを記憶した後に前記第2の回路ブロックの機能を一旦停止させ、
前記第2の回路ブロックは、機能復帰時に前記記憶回路から前記入力データを読み出す、
構成がある。
前記第1の回路ブロックに電源を供給する第1の電源と、
前記第2の回路ブロックに電源を供給する第2の電源と、
前記記憶回路に電源を供給する第3の電源と、
をさらに備え、
前記第1の電源と前記第2の電源と前記第3の電源とは、各々独立した電源電位を各自の電源供給先に供給する、
のがさらに好ましく、そうすれば、データの保存が別電源電圧で実施されるようになって、データの保持耐性が向上する。
前記第2の回路ブロックの停止期間をカウントするタイマ回路をさらに備える、
構成がある。
前記第1の回路ブロックに電源を供給する第1の電源と、
前記第2の回路ブロックに電源を供給する第2の電源と、
をさらに備え、
前記第1の電源と前記第2の電源とは、各々独立した電源電位を各自の電源供給先に供給する、
構成がある。この構成では、さらに、前記第2の電源が前記第2の回路ブロックに供給する電源電圧を、前記第1の電源が前記第1の回路ブロックに供給する電源電圧より高くするのが好ましく、そうすれば、第2の電源の電圧を第1の電源の電圧より高めることで、耐ノイズ性能が向上する結果、高速なスイッチング応答が可能となる。
前記遅延調整回路は、前記動作制御回路が前記第2の回路ブロックの電源状態の遷移処理を完了するより前に、前記第1の回路ブロックと前記電源線または前記グランド線との間の接続状態の移行処理が完了するように、前記第1の回路ブロックと前記電源線または前記グランド線とを接続または遮断する時間を調整する、
構成がある。
・上記電源ノイズの発生を抑制する、
または、
・上記電源ノイズが発生したとしても、動作中の回路ブロックの誤動作を防ぐ、
ことで、上記課題を解決した。
図1は本発明の最も簡易的な構成である実施の形態1を示す。実施の形態1の半導体集積回路は、第1の回路ブロック104と、第1の回路ブロック104と共通の電源101とグランド電源102とに接続された第2の回路ブロック105と、第1の電源遮断スイッチ制御回路107と、第2の電源遮断スイッチ制御回路112と、第1の電源遮断スイッチ108と、第2の電源遮断スイッチ113とを備える。さらにこの半導体集積回路は、第1の回路ブロック104の状態が電源遮断状態または電源供給状態に遷移する際において第2の回路ブロック105の機能を停止させる動作制御回路106を備える。以下、さらに詳細に説明する。
この期間においては、第1の電源遮断スイッチ108がオンしており、グランド電源102の電位が第1の回路ブロック104の擬似グランド電源VSSV1に供給される。このとき第1の回路ブロック104と第2の回路ブロック105とはともに動作状態である。
この時点に達すると、第1の電源遮断スイッチ制御回路107から供給される第1の電源遮断制御信号に基づいて第1の電源遮断スイッチ108がオン状態からオフ状態に移行するため、第1の回路ブロック104は電源遮断状態になる。この時点では第2の回路ブロック105は動作中である。図4で示すように時刻TS1以降の第1の回路ブロック104側の擬似グランド電源103の電位VSSVは、第1の回路ブロック104のリーク電流と第1の電源遮断スイッチ108のリーク電流との電流比に応じて、電源101の電源電位近傍まで上昇する。
時刻TS2以降、第1の電源遮断スイッチ制御回路107の第1の電源遮断制御信号に応じて第1の電源遮断スイッチ108がオンされることに伴い、第1の回路ブロック104は、電源遮断状態から電源供給状態に移行し始める。この間の擬似グランド電源103の電位VSSV1が電源101の電源電位からグランド電源102のグランド電位まで遷移する時間は、電源電位における電位精度に影響を与える。すなわち、この遷移時間がnsオーダーと短くなると、図4において破線で示されるように、ラッシュ電流に基づいて大きい振幅のノイズが発生して擬似グランド電源114に伝搬してしまい、電源電位精度を低下させてしまう。
・NOT回路106aで第1回路ブロック制御信号109を論理反転させることで、制御信号109aを生成し、
・遅延素子群106b,…で、第1回路ブロック制御信号109を所定時間だけ遅延させることで制御信号109bを生成し、
・NOR回路106cで、制御信号109aと制御信号109bとに基づいて否定論理和演算を行うことで、制御信号109cを生成し、
・NAND回路106dで、制御信号109cと第2回路ブロック制御信号110とに基づいて否定論理積演算を行うことで、動作制御信号(STREQ)111を生成する。
図2は本発明の実施の形態2を示す。実施の形態2の基本的な構成や制御方法は実施の形態1と同じであるが、実施の形態2における実施の形態1との間の第1の差異は、動作中の第2の回路ブロック207の擬似グランド電源204の電位を検知する電源電位検知回路213を備えることである。
図3は本発明の実施の形態3を示す。実施の形態3の基本的な構成や制御方法は実施の形態1,2と同じであるが、実施の形態3における実施の形態1,2との差異は、第1の回路ブロック307に電源を供給する第1の電源301と、第2の回路ブロック309に電源を供給する第2の電源302と、第1,第2の電源301,302より安定した動作が要求される回路ブロック(以下、第3の回路ブロック327という)に電源を供給する第3の電源303とをそれぞれ設けることで、第1〜第3の回路ブロック307,309,327に独立した電位を供給できるようにしたことである。
・記憶回路316のデータ保持動作を確実に保証することが可能になる、
・ノイズの影響を排除した正確なタイマ回路319の制御が可能になる、
といった利点を享受できる。
次に、本発明の半導体集積回路を備えた適用例を説明する。図8は、本発明に係る半導体集積回路を備えた通信装置の一例である携帯電話の概観を示す。携帯電話501は、ベースバンドLSI502とアプリケーションLSI503とを備える。ベースバンドLSI502とアプリケーションLSI503とはそれぞれ回路ブロックであって、これら回路ブロックでは、高周波送受信インターフェース部と外部入力インターフェース部とを介して受信する無線信号または有線信号に基づいて、その動作または非動作が制御される。
102 グランド電源
103 擬似グランド電源(VSSV1)
104 第1回路ブロック
105 第2回路ブロック
106 動作制御回路
107 第1の電源遮断スイッチ制御回路
108 第1の電源遮断スイッチ
109 第1回路ブロック制御信号
110 第2回路ブロック制御信号
111 動作制御信号(STREQ)
112 第2の電源遮断スイッチ制御回路
113 第2の電源遮断スイッチ
114 擬似グランド電源(VSSV2)
Claims (35)
- 電源線またはグランド線に接続された第1の回路ブロックと、
前記第1の回路ブロックと同一の前記電源線または前記グランド線に接続された第2の回路ブロックと、
前記第1の回路ブロックが電源遮断状態から電源供給状態に遷移する、または電源供給状態から電源遮断状態に遷移する際における前記第2の回路ブロックの電源電位を検知する電源電位検知回路と、
前記第1の回路ブロックが電源遮断状態から電源供給状態に遷移する、または電源供給状態から電源遮断状態に遷移すると、前記第2の回路ブロックの機能を一旦停止させたうえで、前記電源電位検知回路の検知出力に基づいて、前記第2の回路ブロックの機能を復帰させる動作制御回路と、
を備える、
半導体集積回路。 - 前記動作制御回路は、前記検知出力に基づいて前記第2の回路ブロックの電源電位が安定したと判断すると、前記第2の回路ブロックの機能を復帰させる、
請求項1の半導体集積回路。 - 前記第2の回路ブロックに入力される入力データを記憶する記憶回路を、
さらに備え、
前記動作制御回路は、前記記憶回路が前記第2の回路ブロックの入力データを記憶した後に前記第2の回路ブロックの機能を一旦停止させ、
前記第2の回路ブロックは、機能復帰時に前記記憶回路から前記入力データを読み出す、
請求項1の半導体集積回路。 - 前記第1の回路ブロックに電源を供給する第1の電源と、
前記第2の回路ブロックに電源を供給する第2の電源と、
前記記憶回路に電源を供給する第3の電源と、
をさらに備え、
前記第1の電源と前記第2の電源と前記第3の電源とは、各々独立した電源電位を各自の電源供給先に供給する、
請求項3の半導体集積回路。 - 前記第2の回路ブロックの停止期間をカウントするタイマ回路を、
さらに備える、
請求項1の半導体集積回路。 - 前記第1の回路ブロックに電源を供給する第1の電源と、
前記第2の回路ブロックに電源を供給する第2の電源と、
をさらに備え、
前記第1の電源と前記第2の電源とは、各々独立した電源電位を各自の電源供給先に供給する、
請求項1の半導体集積回路。 - 前記第2の電源が前記第2の回路ブロックに供給する電源電圧を、前記第1の電源が前記第1の回路ブロックに供給する電源電圧より高くする、
請求項6の半導体集積回路。 - 電源線またはグランド線に接続された第1の回路ブロックと、
前記第1の回路ブロックと同一の前記電源線または前記グランド線に接続された第2の回路ブロックと、
前記第1の回路ブロックが電源遮断状態から電源供給状態に遷移する、または電源供給状態から電源遮断状態に遷移すると、前記第2の回路ブロックの機能を一旦停止させたうえで、前記第2の回路ブロックの機能を復帰させる動作制御回路と、
前記第1の回路ブロックが非動作状態のときに、前記第1の回路ブロックと前記電源線または前記グランド線との接続を遮断する第1の電源遮断スイッチと、
前記第1の電源遮断スイッチによって、前記第1の回路ブロックと前記電源線または前記グランド線とを接続または遮断する時間を調整する遅延調整回路と、
を備える、
半導体集積回路。 - 前記遅延調整回路は、前記動作制御回路が前記第2の回路ブロックの電源状態の遷移処理を完了するより前に、前記第1の回路ブロックと前記電源線または前記グランド線との間の接続状態の移行処理が完了するように、前記第1の回路ブロックと前記電源線または前記グランド線とを接続または遮断する時間を調整する、
請求項8の半導体集積回路。 - 前記第2の回路ブロックが非動作状態のときに、前記第2の回路ブロックと前記電源線または前記グランド線との接続を遮断する第2の電源遮断スイッチを、
さらに備える、
請求項8の半導体集積回路。 - 前記第2の回路ブロックに入力される入力データを記憶する記憶回路を、
さらに備え、
前記動作制御回路は、前記記憶回路が前記第2の回路ブロックの入力データを記憶した後に前記第2の回路ブロックの機能を一旦停止させ、
前記第2の回路ブロックは、機能復帰時に前記記憶回路から前記入力データを読み出す、
請求項8の半導体集積回路。 - 前記第1の回路ブロックに電源を供給する第1の電源と、
前記第2の回路ブロックに電源を供給する第2の電源と、
前記記憶回路に電源を供給する第3の電源を、
さらに備え、
前記第1の電源と前記第2の電源と前記第3の電源とは、各々独立した電源電位を、各自の電源供給先に供給する、
請求項11の半導体集積回路。 - 前記第2の回路ブロックの停止期間をカウントするタイマ回路を備える、
請求項8の半導体集積回路。 - 前記第1の回路ブロックに電源を供給する第1の電源と、
前記第2の回路ブロックに電源を供給する第2の電源と、
をさらに備え、
前記第1の電源と前記第2の電源とは、各々独立した電源電位を、各自の電源供給先に供給する、
請求項8の半導体集積回路。 - 前記第2の電源が前記第2の回路ブロックに供給する電源電圧を、前記第1の電源が前記第1の回路ブロックに供給する電源電圧より高くする、
請求項14の半導体集積回路。 - グランド線に接続された第1の回路ブロックと、
前記第1の回路ブロックと同一の前記グランド線に接続された第2の回路ブロックと、
前記第1の回路ブロックに電源を供給する第1の電源と、
前記第2の回路ブロックに電源を供給する第2の電源と、
前記第1の回路ブロックが電源遮断状態から電源供給状態に遷移する、または電源供給状態から電源遮断状態に遷移すると、前記第2の回路ブロックの機能を一旦停止させたうえで、前記第2の回路ブロックの機能を復帰させる動作制御回路と、
を備え、
前記第1の電源と前記第2の電源とは、各々独立した電源電位を各自の電源供給先に供給する、
半導体集積回路。 - 前記第2の回路ブロックに入力される入力データを記憶する記憶回路を、
さらに備え、
前記動作制御回路は、前記記憶回路が前記第2の回路ブロックの入力データを記憶した後に前記第2の回路ブロックの機能を一旦停止させ、
前記第2の回路ブロックは、機能復帰時に前記記憶回路から前記入力データを読み出す、
請求項16の半導体集積回路。 - 前記記憶回路に電源を供給する第3の電源を、
さらに備え、
前記第1の電源と前記第2の電源と前記第3の電源とは、各々独立した電源電位を、各自の電源供給先に供給する、
請求項17の半導体集積回路。 - 前記第2の回路ブロックの停止期間をカウントするタイマ回路を備える、
請求項16の半導体集積回路。 - 前記第2の電源が前記第2の回路ブロックに供給する電源電圧を、前記第1の電源が前記第1の回路ブロックに供給する電源電圧より高くする、
請求項16の半導体集積回路。 - 請求項1の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続された高周波送受信インターフェース部および外部入力インターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記高周波送受信インターフェース部または前記外部入力インターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
通信装置。 - 請求項8の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続された高周波送受信インターフェース部および外部入力インターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記高周波送受信インターフェース部または前記外部入力インターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
通信装置。 - 請求項16の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続された高周波送受信インターフェース部および外部入力インターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記高周波送受信インターフェース部または前記外部入力インターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
通信装置。 - 請求項1の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続されたチューナ部およびインターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記チューナ部または前記インターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
情報再生装置。 - 請求項8の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続されたチューナ部およびインターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記チューナ部または前記インターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
情報再生装置。 - 請求項16の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続されたチューナ部およびインターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記チューナ部または前記インターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
情報再生装置。 - 請求項1の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続されたネットワークインターフェース部および外部入力インターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記ネットワークインターフェース部または前記外部入力インターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
画像表示装置。 - 請求項8の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続されたネットワークインターフェース部および外部入力インターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記ネットワークインターフェース部または前記外部入力インターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
画像表示装置。 - 請求項16の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続されたネットワークインターフェース部および外部入力インターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記ネットワークインターフェース部または前記外部入力インターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
画像表示装置。 - 請求項1の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続されたCCDインターフェース部および外部入力インターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記CCDインターフェース部または前記外部入力インターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
電子装置。 - 請求項8の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続されたCCDインターフェース部および外部入力インターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記CCDインターフェース部または前記外部入力インターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
電子装置。 - 請求項16の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続されたCCDインターフェース部および外部入力インターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記CCDインターフェース部または前記外部入力インターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
電子装置。 - 請求項1の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続されたナビゲーションインターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記ナビゲーションインターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
電子制御装置。 - 請求項8の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続されたナビゲーションインターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記ナビゲーションインターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
電子制御装置。 - 請求項16の半導体集積回路と、
前記半導体集積回路にそれぞれ接続されたナビゲーションインターフェース部と、
を備え、
前記第1の回路ブロックまたは前記第2の回路ブロックは、前記ナビゲーションインターフェース部を介して受信した無線信号または有線信号に基づいて、動作または非動作が制御される、
電子制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009540943A JP5057350B2 (ja) | 2008-02-27 | 2009-02-26 | 半導体集積回路、およびこれを備えた各種装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008046258 | 2008-02-27 | ||
JP2008046258 | 2008-02-27 | ||
PCT/JP2009/000854 WO2009107382A1 (ja) | 2008-02-27 | 2009-02-26 | 半導体集積回路、およびこれを備えた各種装置 |
JP2009540943A JP5057350B2 (ja) | 2008-02-27 | 2009-02-26 | 半導体集積回路、およびこれを備えた各種装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2009107382A1 JPWO2009107382A1 (ja) | 2011-06-30 |
JP5057350B2 true JP5057350B2 (ja) | 2012-10-24 |
Family
ID=41015789
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009540943A Expired - Fee Related JP5057350B2 (ja) | 2008-02-27 | 2009-02-26 | 半導体集積回路、およびこれを備えた各種装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8390146B2 (ja) |
JP (1) | JP5057350B2 (ja) |
CN (1) | CN101682325B (ja) |
WO (1) | WO2009107382A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5640136B2 (ja) * | 2013-11-01 | 2014-12-10 | 株式会社日立製作所 | 情報処理装置 |
JP6884084B2 (ja) * | 2017-10-13 | 2021-06-09 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 電力制御システム及び電力制御方法 |
KR102652805B1 (ko) * | 2018-03-12 | 2024-04-01 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 파워 게이팅 회로 및 그 제어 시스템 |
CN116930723B (zh) * | 2023-09-14 | 2023-12-08 | 苏州萨沙迈半导体有限公司 | 芯片及其测试电路 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002158576A (ja) * | 2000-11-17 | 2002-05-31 | Sharp Corp | 半導体集積回路 |
JP2003289245A (ja) * | 2002-03-28 | 2003-10-10 | Fujitsu Ltd | リーク電流遮断回路を有する半導体集積回路 |
JP2004229193A (ja) * | 2003-01-27 | 2004-08-12 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
JP2006050117A (ja) * | 2004-08-03 | 2006-02-16 | Fujitsu Ltd | 出力ドライバ回路及び半導体ic |
JP2008065732A (ja) * | 2006-09-11 | 2008-03-21 | Nec Electronics Corp | 半導体集積回路の設計方法及び設計システム |
Family Cites Families (52)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4542485A (en) * | 1981-01-14 | 1985-09-17 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor integrated circuit |
JPH04143819A (ja) * | 1989-12-15 | 1992-05-18 | Hitachi Ltd | 消費電力制御方法、半導体集積回路装置およびマイクロプロセツサ |
JPH07130175A (ja) * | 1993-09-10 | 1995-05-19 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP3239313B2 (ja) | 1994-03-17 | 2001-12-17 | 日本電信電話株式会社 | 論理回路 |
JP3341805B2 (ja) | 1996-05-28 | 2002-11-05 | 日本電信電話株式会社 | 論理回路 |
JP3732914B2 (ja) * | 1997-02-28 | 2006-01-11 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置 |
JPH10261946A (ja) * | 1997-03-19 | 1998-09-29 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
JP4397062B2 (ja) * | 1998-11-27 | 2010-01-13 | 株式会社ルネサステクノロジ | 電圧発生回路および半導体記憶装置 |
JP3829041B2 (ja) * | 2000-03-08 | 2006-10-04 | 株式会社東芝 | 強誘電体メモリ |
JP3916837B2 (ja) * | 2000-03-10 | 2007-05-23 | 株式会社東芝 | 強誘電体メモリ |
JP2002190572A (ja) * | 2000-12-20 | 2002-07-05 | Fujitsu Ltd | 半導体装置、レイアウトデータ設計装置、及び記録媒体 |
DE10120790A1 (de) * | 2001-04-27 | 2002-11-21 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zur Verringerung der Versorgungsspannung eines Schaltungsteils sowie Verfahren zum Aktivieren eines Schaltungsteils |
JP2002354707A (ja) * | 2001-05-21 | 2002-12-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
WO2003015279A2 (en) * | 2001-08-09 | 2003-02-20 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Electronic device and powerup method |
JP3786608B2 (ja) * | 2002-01-28 | 2006-06-14 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体集積回路装置 |
JP3595799B2 (ja) * | 2002-02-28 | 2004-12-02 | 松下電器産業株式会社 | 半導体集積回路及びそのリセット方法 |
JPWO2003085501A1 (ja) * | 2002-04-04 | 2005-08-11 | 松下電器産業株式会社 | 多電源半導体集積回路 |
JP4032955B2 (ja) * | 2002-12-17 | 2008-01-16 | 株式会社日立製作所 | 自動車用電子制御装置 |
JP2004226115A (ja) * | 2003-01-20 | 2004-08-12 | Elpida Memory Inc | 半導体装置及びその試験方法 |
GB2402271B (en) * | 2003-05-27 | 2006-04-19 | Research In Motion Ltd | Method and apparatus for handling a charging state in a mobile electronic device |
US7382178B2 (en) * | 2004-07-09 | 2008-06-03 | Mosaid Technologies Corporation | Systems and methods for minimizing static leakage of an integrated circuit |
US7453678B2 (en) * | 2004-08-24 | 2008-11-18 | Hamilton Sunstrand Corporation | Power interruption system for electronic circuit breaker |
KR100841440B1 (ko) * | 2004-10-22 | 2008-06-25 | 삼성전자주식회사 | 컨트롤러 전원공급장치 |
JP4197678B2 (ja) * | 2004-12-24 | 2008-12-17 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
JP4328290B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2009-09-09 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 電源回路、半導体集積回路装置、電子機器及び電源回路の制御方法 |
US7589584B1 (en) * | 2005-04-01 | 2009-09-15 | Altera Corporation | Programmable voltage regulator with dynamic recovery circuits |
JP4820571B2 (ja) * | 2005-04-15 | 2011-11-24 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
US7307899B2 (en) * | 2005-05-23 | 2007-12-11 | Intel Corporation | Reducing power consumption in integrated circuits |
JP4481879B2 (ja) * | 2005-06-03 | 2010-06-16 | パナソニック株式会社 | スイッチング電源装置 |
DE102005027691B4 (de) * | 2005-06-15 | 2007-11-08 | Infineon Technologies Ag | Schaltanordnung zur Aktivierung eines Schaltungsblocks und Verfahren hierzu |
JP4671786B2 (ja) * | 2005-07-04 | 2011-04-20 | パナソニック株式会社 | 半導体集積回路装置 |
JP4764696B2 (ja) * | 2005-10-07 | 2011-09-07 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路装置 |
US7684723B2 (en) * | 2005-12-20 | 2010-03-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus having storage battery |
JP2007172766A (ja) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体リーク電流検出器とリーク電流測定方法および電圧トリミング機能付半導体リーク電流検出器とリファレンス電圧トリミング方法およびこれらの半導体集積回路 |
DE102005061967B9 (de) * | 2005-12-23 | 2013-03-28 | Infineon Technologies Ag | Leistungsversorgungsanordnung zum Bereitstellen eines Ausgangssignals mit einem vorbestimmten Ausgangssignalpegel |
JP4490931B2 (ja) * | 2006-02-09 | 2010-06-30 | 矢崎総業株式会社 | 電圧検出装置 |
US7791406B1 (en) * | 2006-04-04 | 2010-09-07 | Marvell International Ltd. | Low leakage power management |
JP4374351B2 (ja) * | 2006-04-12 | 2009-12-02 | 矢崎総業株式会社 | 充電状態調整装置 |
US7571413B1 (en) * | 2006-06-28 | 2009-08-04 | Altera Corporation | Testing circuitry for programmable logic devices with selectable power supply voltages |
JP2008035200A (ja) * | 2006-07-28 | 2008-02-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路装置およびその関連技術 |
KR100824905B1 (ko) * | 2006-08-24 | 2008-04-23 | 삼성에스디아이 주식회사 | 하이브리드 배터리 및 그것의 완전 충전 용량 계산 방법 |
JP5077986B2 (ja) * | 2006-08-31 | 2012-11-21 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路 |
US7872447B2 (en) * | 2006-12-25 | 2011-01-18 | Panasonic Corporation | Electrical storage apparatus for use in auxiliary power supply supplying electric power from electric storage device upon voltage drop of main power supply |
JP5157313B2 (ja) * | 2007-08-15 | 2013-03-06 | 富士通株式会社 | 半導体装置 |
JP2009146467A (ja) * | 2007-12-11 | 2009-07-02 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置 |
US7894294B2 (en) * | 2008-01-23 | 2011-02-22 | Mosaid Technologies Incorporated | Operational mode control in serial-connected memory based on identifier |
JP2011511395A (ja) * | 2008-01-30 | 2011-04-07 | アギア システムズ インコーポレーテッド | 電子回路において歩留りを向上させるための方法及び装置 |
JP5297730B2 (ja) * | 2008-09-09 | 2013-09-25 | 矢崎総業株式会社 | 電圧検出装置 |
JP5208149B2 (ja) * | 2009-04-09 | 2013-06-12 | パナソニック株式会社 | 保護回路、及び電池パック |
JP5420433B2 (ja) * | 2010-01-14 | 2014-02-19 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置および電源装置 |
US8325511B2 (en) * | 2010-04-21 | 2012-12-04 | Texas Instruments Incorporated | Retain-till-accessed power saving mode in high-performance static memories |
JP5786388B2 (ja) * | 2010-05-17 | 2015-09-30 | 富士電機株式会社 | 低電圧誤動作防止回路を備えたスイッチング電源装置 |
-
2009
- 2009-02-26 WO PCT/JP2009/000854 patent/WO2009107382A1/ja active Application Filing
- 2009-02-26 US US12/598,392 patent/US8390146B2/en active Active
- 2009-02-26 JP JP2009540943A patent/JP5057350B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-02-26 CN CN2009800003280A patent/CN101682325B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002158576A (ja) * | 2000-11-17 | 2002-05-31 | Sharp Corp | 半導体集積回路 |
JP2003289245A (ja) * | 2002-03-28 | 2003-10-10 | Fujitsu Ltd | リーク電流遮断回路を有する半導体集積回路 |
JP2004229193A (ja) * | 2003-01-27 | 2004-08-12 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
JP2006050117A (ja) * | 2004-08-03 | 2006-02-16 | Fujitsu Ltd | 出力ドライバ回路及び半導体ic |
JP2008065732A (ja) * | 2006-09-11 | 2008-03-21 | Nec Electronics Corp | 半導体集積回路の設計方法及び設計システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8390146B2 (en) | 2013-03-05 |
WO2009107382A1 (ja) | 2009-09-03 |
CN101682325B (zh) | 2013-06-05 |
US20100133902A1 (en) | 2010-06-03 |
JPWO2009107382A1 (ja) | 2011-06-30 |
CN101682325A (zh) | 2010-03-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4953716B2 (ja) | 半導体集積回路およびその関連技術 | |
US9024665B2 (en) | Transmitter with voltage and current mode drivers | |
JP5260193B2 (ja) | 半導体集積回路及びそのスイッチングノイズ平準化方法 | |
US8265823B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device, communication device, information reproducing device, image display device, electronic device, electronic control device, and mobile body | |
JP5057350B2 (ja) | 半導体集積回路、およびこれを備えた各種装置 | |
JP4054634B2 (ja) | 半導体装置 | |
WO2015133987A1 (en) | High voltage tolerant word-line driver | |
TW201119227A (en) | Leakage reduction in electronic circuits | |
JP6158960B2 (ja) | 双方向バス上の信号をバス速度に基づいて選択的に終端するための方法および装置 | |
US7830178B2 (en) | Dynamic circuit | |
CN101197564B (zh) | 电子装置及包括该装置的通信装置 | |
US6700401B2 (en) | Reduced noise line drivers and method of operation | |
US8564354B2 (en) | Circuits and methods for latch-tracking pulse generation | |
KR20100038327A (ko) | 워드 라인 버퍼를 갖는 메모리 구조 | |
JP5027471B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
US8726060B2 (en) | Semiconductor integrated circuit for transmitting and receiving data signals in a source-synchronous scheme | |
JP2009105877A (ja) | 半導体集積回路、通信装置、情報再生装置、画像表示装置、電子装置、電子制御装置、及び移動体装置 | |
KR20130129052A (ko) | 클럭 버퍼 회로 및 클럭 버퍼링 방법 | |
JPH0537305A (ja) | ラツチ回路 | |
JP2008099517A (ja) | 情報処理装置、通信装置、情報再生装置、画像表示装置、電子装置、電子制御装置、及び移動体 | |
KR20050032828A (ko) | 전원 노이즈를 줄일 수 있는 반도체 메모리 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110608 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120703 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120724 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150810 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |