JP5040863B2 - 半導体発光装置 - Google Patents

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Description

本発明は、青色発光の半導体発光素子と蛍光体を用いて白色光を発光させる半導体発光装置に関する。
青色発光の半導体発光素子と蛍光体を用いて白色光を発光させる半導体発光装置としては、例えば下記の特許文献1に記載されている半導体発光装置などが知られている。この従来装置は、主光取り出し面の樹脂層の厚みを相対的に大きくすることで、色むらのない発光を得ようとしたものである。
その他の一般的な従来の半導体発光装置の断面図を図8に示す。この半導体発光装置900は、サファイア基板を有する青色発光の半導体発光素子20をセラミックス製の支持基板10の上にエポキシ樹脂からなる封止材30で封止して構成したものであり、封止材30には、青色光を黄色光に変換する蛍光体が含有されている。ここでは、半導体発光素子20は、そのサファイア基板が上を向くようにフェイスダウンで封止されている。この様な半導体発光装置900の場合、光軸から離れた周縁部の発光が黄色みがかることが一般に知られている。その状況を光学シミュレーションした結果を図9に示す。本図9の横軸は発光の出射方位を表しており、縦軸は光軸の色度を基準とした各方位の色度のx成分Cx の値を表している。このシミュレーション結果は、実測結果と非常によく一致するものであり、本グラフより、左右それぞれ60°から80°の辺りの色度が黄色側にシフトしていることが分かる。グラフ中の記号Δは、そのシフト幅の最大値を示している。
ただし、本光学シミュレーションは、以下のことを仮定して実施した。
(1)半導体発光素子20の発光スペクトルのピーク波長 446nm
(2)用いる蛍光体の発光スペクトルのピーク波長 564nm
(3)半導体発光装置900の各部の寸法(図8)
(a)半導体発光素子20の横幅W1 1000μm
(b)半導体発光素子20の高さH1 375μm
(c)封止材30の天上部の厚さH2 200μm
(d)封止材30の側壁部の厚さD1 250μm
(e)支持基板10の横幅W2 3500μm
(f)支持基板10の厚さD2 400μm
また、蛍光体の体積密度は、封止材30中の到る所で一定と仮定した。また、半導体発光素子20の発光強度の指向特性としては、図1に示すグラフ上の値を仮定した。図1の半円周上に示す角度は、サファイア基板の底面中央に立てた法線を基準として、その法線を含む面上で右回りに測った角度を示しており、光軸上で0°となる。以下、この角度のことを放射方位角と言い、その放射中心は発光層の中心とする。サファイア基板を有する半導体発光素子をフェイスダウンで発光させるとサファイア基板の周縁部に光が集まり易いため、通常は本図1に例示されるように、上記の放射方位角が約±45°になる付近(即ち、左右45°付近)に発光強度のピークが現れる。
特開2007−324630
上記の様な黄色側への色度シフトの問題を解決するために、本願発明者らは、半導体発光装置に用いる封止材を二層構造にすることを思い付いた。図2にその積層構造を示す。この半導体発光装置800は、半導体発光素子20を直接封止する第1の封止材40を蛍光体を含有しない透明な樹脂材で構成し、更にその外側から、蛍光体を含有する第2の封止材30で第1の封止材40を封止したものである。量産すべき封止材の形状は、その金型から封止材を抜き取り易くするために、随所にテーパ形状やR形状などを設けなくてはならないなどの制約が強い。しかしながら、封止材を二層構造にすることによって、蛍光体を含有させる第2の封止材30の厚さに関する設計の自由度を簡単に向上させることができることに、本願発明者らは気付いたのである。
そこで、半導体発光装置800に関する光学シミュレーションを実施した結果、その発光が光軸近傍を除く各部で幾らか青色がかって見えることが分った。その状況を図3に示す。図3においても図9と同様に、縦軸は光軸の色度を基準とした各方位の色度のx成分Cx の値を表している。このグラフより、左右それぞれ10°から80°の領域の色度が負の側、即ち青色側にシフトしていることが分かる。
ただし、本光学シミュレーションは、以下のことを仮定して実施した。
(1)半導体発光素子20の発光スペクトルのピーク波長 446nm
(2)用いる蛍光体の発光スペクトルのピーク波長 564nm
(3)半導体発光装置800の各部の寸法(図2)
(a)半導体発光素子20の横幅W1 1000μm
(b)半導体発光素子20の高さH1 375μm
(c)封止材30の天上部の厚さH2 200μm
(d)封止材40の高さH3 475μm
(e)支持基板10の横幅W2 3500μm
(f)支持基板10の厚さD2 400μm
(g)封止材30の周縁部の厚さD3 50μm
(h)封止材40の周縁部の厚さD4 50μm
(i)封止材30と封止材40の
各立ち下がり位置間の距離L1 250μm
また、半導体発光素子20の発光強度の指向特性としては、半導体発光装置900の場合と同様に図1に示すグラフ上の値を仮定した。また、蛍光体の体積密度は、第2の封止材30中の到る所で一定と仮定した。
この図3のシミュレーション結果では、光軸を基準とした色度Cx のシフト幅の最大値Δの値が半導体発光装置900の場合よりも0.003だけ減少しており、色ムラに関する一定の改善が見られる。
しかしながら、この半導体発光装置800においても、上記のシフト幅の最大値Δの値は、依然として0.015と大きく、色ムラに関する更なる改善が望まれる。
本発明は、上記の課題を解決するために成されたものであり、その目的は、サファイア基板を有する青色発光の半導体発光素子をフェイスダウンで封止した白色発光の半導体発光装置において、その発光の色ムラを極力低減させることである。
上記の課題を解決するためには、以下の手段が有効である。
即ち、本発明の第1の手段は、結晶成長基板を有する青色発光の半導体発光素子を支持基板の上に封止して構成される半導体発光装置において、その支持基板の上に上記の半導体発光素子を封止する透明な第1の封止材と、蛍光体を含有して第1の封止材を外側から更に封止する第2の封止材とを備え、上記の半導体発光素子を結晶成長基板が上を向くようにフェイスダウンで封止し、第1の封止材に、半導体発光素子の上方に位置する第1の天上面と、支持基板に接する接合部において裾野が支持基板の支持面に沿って延びた第1の山際部と、第1の天上面と第1の山際部との間に位置し、斜めに傾いた側壁からなる第1のテーパ部と、第1の天上面と第1のテーパ部とを曲面で繋ぐ第1のR部とを設け、第2の封止材に、第1の天上面の上方に位置する第2の天上面と、支持基板に接する接合部において裾野が支持基板の支持面に沿って延びた第2の山際部と、第2の天上面と第2の山際部との間に位置し、斜めに傾いた側壁からなる第2のテーパ部と、第2の天上面と第2のテーパ部とを曲面で繋ぐ第2のR部とを設け、第2の天上面に、第1の天上面に向って凸の湾曲形状の凹部を設けることである。
ただし、第1の封止材と第2の封止材の各源材料としては、生産性及び密着性の観点より、同種の透明樹脂を用いることが望ましいが、しかしながら、これらは、必ずしも同種の材料から形成する必要はない。
また、本発明の第2の手段は、上記の第1の手段において、第1の天上面に、第2の天上面に向って凸の湾曲形状の凸部を設けることである。
また、本発明の第3の手段は、上記の第1又は第2の手段において、支持基板の支持面に対する第2のテーパ部の傾斜角を、支持基板の支持面に対する第1のテーパ部の傾斜角よりも大きくすることである。
以上の本発明の手段により、前記の課題を効果的、或いは合理的に解決することができる。
以上の本発明の手段によって得られる効果は以下の通りである。
即ち、本発明の第1の手段によれば、上記の第1の封止材の外形は、上記の第1の天上面と第1の山際部と第1のテーパ部と第1のR部から形成されるが、この形状は、この第1の封止材の金型を作製することを可能とする条件、即ち、封止材を金型から抜き取り易くするための条件を満たすものとなるので、所望の半導体発光装置を量産する上で非常に都合がよい。また、上記の第2の封止材の外形についても、上記の第2の天上面と第2の山際部と第2のテーパ部と第2のR部から形成されるが、この形状も、この第2の封止材の金型を作製することを可能とする条件を満たすので、所望の半導体発光装置を量産する上で非常に都合がよい。
更に、上記の第2の天上面は、第1の天上面に向って凸の湾曲形状の凹部を有するように形成されるので、蛍光体を含有する第2の封止材の光軸上の厚さは、他の部位に比べて相対的に薄くなる。一方、結晶成長基板を有する半導体発光素子をフェイスダウンで封止する場合、図1に例示した通り、放射方位角が±45°付近の発光強度(即ち、より本質的には、発光層の中心から結晶成長基板の光放出面の稜線を通る線上付近の発光強度)に比べて、光軸上の発光強度は相対的に弱い。この結果、発光強度が強い部位の第2の封止材の厚さは相対的に厚くなり、発光強度が弱い部位の第2の封止材の厚さは相対的に薄くなる。即ち、第2の封止材に含まれる蛍光体は第2の封止材を通過する光量に応じて分配・配置される。したがって、蛍光体によって波長変換される光の量が、発光装置の各部の発光強度に応じて分配される。このため、本発明の半導体発光装置においては、従来よりも色ムラが低減され、また、量産にも好適な構造が得られる。
また、本発明の第2の手段によれば、上記の第1の天上面は、第2の天上面に向って凸の湾曲形状の凸部を有するように形成されるので、光軸上においては、この膨らみの分だけ、その上に積層される第2の封止材の厚さを薄く設定することができる。したがって、この様な設定によっても、発光強度が強い部位の第2の封止材の厚さは相対的に厚くなり、発光強度が弱い部位の第2の封止材の厚さは相対的に薄くなる。このため、上記の第2の手段によっても、従来よりも色ムラが低減され、また、量産にも好適な構造が得られる。
また、本発明の第3の手段によれば、第2の封止材の側壁部分(テーパ部と山際部)の厚さを支持基板の支持面に近付くほど薄くできるので、放射方位角が−90°から−60°付近及び60°から90°付近である半導体発光素子の側方の発光強度が弱い領域程、蛍光体の分布量を少なく設定することができる。したがって、この様な設定によっても、発光強度が強い部位の第2の封止材の厚さは、その他の部位の厚さよりも相対的に厚くなり、発光強度が弱い部位の第2の封止材の厚さは相対的に薄くなる。このため、上記の第3の手段によっても、従来よりも色ムラが低減され、また、量産にも好適な構造が得られる。
以下、本発明を具体的な実施例に基づいて説明する。
ただし、本発明の実施形態は、以下に示す個々の実施例に限定されるものではない。
図4に本実施例1の半導体発光装置100の断面図を示す。この半導体発光装置100は、サファイア基板を有する青色発光の半導体発光素子20をセラミックス製の支持基板10の上に封止して構成したものであり、半導体発光素子20を直接支持基板10の上に封止する第1の封止材40は、透明なシリコーン樹脂から形成されている。また、この第1の封止材40を外側から更に封止する第2の封止材30は、青色光を黄色光に変換する周知のYAG蛍光体を均一に含有する透明なシリコーン樹脂から形成したものである。半導体発光素子20は、サファイア基板の上に III族窒化物系化合物半導体を結晶成長により積層して製造したものであり、本半導体発光装置100においては、そのサファイア基板が上を向くようにフェイスダウンで封止されている。
上記の第1の封止材40は、支持基板10に接する接合部において裾野が支持基板の支持面に沿って延びた第1の山際部41を有し、その山際部41から上方には、傾斜角82.45°で斜めに傾いた側壁からなる第1のテーパ部42が延びている。ただし、この傾斜角は、支持基板の支持面から測った角度の内の大きくない方の角度で定義する。第1の封止材40の第1のR部44は、第1の封止材40の平頂な上面である第1の天上面43と第1のテーパ部42とを曲面で繋いでいる。第1の封止材40は、この様な形状で半導体発光素子20を支持基板10の上面に封止している。
この第1の封止材40は、第2の封止材30によって外側から更に封止されているため、第2の封止材30の外形は、第1の封止材40の外形に略沿って形成されている。即ち、第2の封止材30は、支持基板10に接する接合部において裾野が支持基板の支持面に沿って延びた第2の山際部31を備え、その山際部31からは、傾斜角85°で斜めに傾いた側壁からなる第2のテーパ部32が延びている。したがって、第2のテーパ部32の傾斜角は、第1のテーパ部42の傾斜角よりも大きく、このため、第2の封止材30の厚さは、第2のR部から第2の山際部に向うにつれて薄くなっている。また、第2の封止材30の上面である第2の天上面33は、第1の天上面に向って凸の湾曲形状の凹部から形成されており、これによって、第2の封止材30の天上部分には横幅W3深さd1の窪みが形成されている。そして、第2の封止材30の第2のR部34は、この第2の天上面33と第2のテーパ部32とを曲面で繋いでいる。
この半導体発光装置100に係わる光学シミュレーションの結果を図5のグラフに示す。このグラフの横軸は、放射方位角が−80°から+80°まで(左80°から右80°まで)の発光の方位を示しており、縦軸は、光軸上(方位角0°)の発光の色度を基準(0.00)とした各方位の色度のx成分Cx の相対値(シフト量)を示している。また、記号Δは全方位に渡るそのシフト幅の最大値を示している。このグラフから、本半導体発光装置100については、放射方位角が−70°から−10°までの間の領域、及び放射方位角が10°から70°までの間の領域において、色度に係わる若干の青色シフトが見られることが分かる。しかし、その色度のシフト幅は最大でも0.009と十分に小さい。また、青色は黄色よりも視感度が低いため、この青色側へのシフト量が示す色ムラは比較的認識されにくい。このことから、本実施例1の半導体発光装置100の構成に従えば、発光の色ムラが十分に抑制された白色発光の発光装置を製造できることが分かる。
この様に色ムラが効果的に減少した理由は、上記の構成に基づいて、第2のR部34における第2の封止材30の厚さを、第2の封止材30のその他の部位の厚さよりも相対的に厚くすることによって、図1の発光強度の指向特性に合致した量の波長変換が行われたためだと考えられる。即ち、半導体発光素子20は、サファイア基板を上側に向けてフェイスダウンで封止されているために、放射方位角が±45°付近の発光強度が強い、即ち、第2のR部34を貫く方向の光束密度が高いが、この発光強度に合わせて、位置が対応する第2のR部34における第2の封止材30の厚さが厚くなったことから、発光ムラが抑制されたものと思われる。
ただし、半導体発光装置100に係わる以上の光学シミュレーションは、以下のことを仮定して実施したものである。
(1)半導体発光素子20の発光スペクトルのピーク波長 446nm
(2)用いる蛍光体の発光スペクトルのピーク波長 564nm
(3)半導体発光装置100の各部の寸法(図4)
(a)半導体発光素子20の横幅 1000μm
(b)半導体発光素子20の高さ 375μm
(c)封止材30の天上部の厚さH2 250μm
(d)封止材40の高さH3 475μm
(e)支持基板10の横幅W2 3500μm
(f)支持基板10の厚さD2 400μm
(g)封止材30の周縁部の厚さD3 50μm
(h)封止材40の周縁部の厚さD4 50μm
(i)封止材30と封止材40の
各立ち下がり位置間の距離L1 250μm
(j)天上面33の窪みの深さd1 90μm
(k)天上面33の窪みの幅W3 1200μm
(l)天上面33の曲率半径 1993μm
また、半導体発光素子20の発光強度の指向特性としては、半導体発光装置800の場合と同様に図1に示すグラフ上の値を仮定した。即ち、半導体発光素子20は、放射方位角が±45°付近に発光強度のピークを有する指向特性を有するものとした。また、蛍光体の体積密度は、第2の封止材30中の到る所で一定と仮定した。
なお、第1のテーパ部42の望ましい傾斜角の角度が小さ過ぎると、広範にわたって青色側への色度シフトが顕著となり易い。また、この角度が大き過ぎると、第2の山際部31付近の第2の封止材30の厚さを薄くすることが難しくなる。
また、第2のテーパ部32の傾斜角は、第1のテーパ部42の傾斜角よりも、大きく設定することが望ましい。この角度差が大き過ぎると、第2の封止材30の金型からの抜き取りが難しくなる。また、この値が小さ過ぎると、第2の山際部31付近の第2の封止材30の厚さを薄くすることが難しくなる。
また、天上面33の窪みの深さd1の値が小さ過ぎると、本発明の作用・効果が得難くなる。また、この値が大き過ぎると、光軸付近の色度が青色側へシフトし易くなる。この適正範囲を守ることにより、第2の天上面33の窪みの深さd1の適正範囲を守ることができる。
なお、第1の封止材40の山際部41と第2の封止材30の山際部31の各形状は、いずれも支持基板10との接合面積を拡大するように寄与しているので、半導体発光装置100のこれらの封止材は、支持基板10からいずれも剥がれ難いという特長を有している。また、第1の封止材40と第2の封止材30とで同一の樹脂材料を用いることによっても、これらが互いに剥がれ難くなることに寄与している。
図6に本実施例2の半導体発光装置200の断面図を示す。この半導体発光装置200は、実施例1の半導体発光装置100と酷似の構造を有するものであり、第1の封止材40が備える第1の天上面43の形状以外については、各部とも形状及び寸法はいずれも同じである。半導体発光装置200の第1の天上面43は、第2の天上面33に向って凸の湾曲形状の凸部を有して形成されており、この膨らみの中央の最高点は、先の実施例1の半導体発光装置100の第1の天上面43の高さよりもh1=50μmだけ高く設定されている。また、第1の天上面43の凸部の曲率半径は、1829μmである。
なお、この凸部の高さh1が高過ぎると光軸上の発光が青色側にシフトして望ましくない。
上記の半導体発光装置200に係わる光学シミュレーションの結果を図7のグラフに示す。本光学シミュレーションは、上記の第1の天上面43の形状以外については、先の実施例1と同一の仮定条件の下に実施したものである。図7のグラフの横軸は、放射方位角が−80°から+80°までの発光の方位角を示しており、縦軸は、光軸上(方位角0°)の発光の色度を基準(0.00)とした各方位の色度のx成分Cx の相対値(シフト量)を示している。また、記号Δは全方位に渡るそのシフト幅の最大値を示している。このグラフから、本半導体発光装置200については、放射方位角が−60°から−20°までの間、及び放射方位角が20°から60°までの間の領域において、色度に係わる若干の青色シフトが見られることが分かる。しかし、その色度のシフト幅は最大でも0.009と十分に小さい。このことから、本実施例2の半導体発光装置200の構成に従っても、発光の色ムラが十分に抑制された白色発光の発光装置を製造できることが分かる。
〔その他の変形例〕
本発明の実施形態は、上記の形態に限定されるものではなく、その他にも以下に例示される様な変形を行っても良い。この様な変形や応用によっても、本発明の作用に基づいて本発明の効果を得ることができる。
(変形例1)
例えば、上記の各実施例では、支持基板10をセラミックス製としたが、支持基板10の材料は任意でよく、例えば樹脂基板の表面に金属被膜を成膜した板材から形成してもよい。また、上記の各実施例では、第1の封止材40や第2の封止材30をシリコーン樹脂から形成したが、これらの封止材には、透明な任意の樹脂材料を用いることができる。
フェイスダウンの半導体発光素子の発光強度の指向特性を例示するグラフ 半導体発光装置800の断面図 半導体発光装置800に係わる光学シミュレーションの結果を示すグラフ 実施例1の半導体発光装置100の断面図 半導体発光装置100に係わる光学シミュレーションの結果を示すグラフ 実施例2の半導体発光装置200の断面図 半導体発光装置200に係わる光学シミュレーションの結果を示すグラフ 従来の半導体発光装置900の断面図 半導体発光装置900に係わる光学シミュレーションの結果を示すグラフ
符号の説明
100 : 半導体発光装置
10 : 支持基板
20 : 半導体発光素子
30 : 第2の封止材
31 : 第2の山際部
32 : 第2のテーパ部
33 : 第2の天上面
34 : 第2のR部
40 : 第1の封止材
41 : 第1の山際部
42 : 第1のテーパ部
43 : 第1の天上面
44 : 第1のR部

Claims (3)

  1. 結晶成長基板を有する青色発光の半導体発光素子を支持基板の上に封止して構成される半導体発光装置において、
    前記支持基板の上に前記半導体発光素子を封止する透明な第1の封止材と、
    蛍光体を含有して前記第1の封止材を外側から更に封止する第2の封止材とを有し、
    前記半導体発光素子は、前記結晶成長基板が上を向くようにフェイスダウンで封止されており、
    前記第1の封止材は、
    前記半導体発光素子の上方に位置する第1の天上面と、
    前記支持基板に接する接合部において裾野が前記支持基板の支持面に沿って延びた第1の山際部と、
    前記第1の天上面と前記第1の山際部との間に位置し、斜めに傾いた側壁からなる第1のテーパ部と、
    前記第1の天上面と前記第1のテーパ部とを曲面で繋ぐ第1のR部とを有し、
    前記第2の封止材は、
    前記第1の天上面の上方に位置する第2の天上面と、
    前記支持基板に接する接合部において裾野が前記支持基板の支持面に沿って延びた第2の山際部と、
    前記第2の天上面と前記第2の山際部との間に位置し、斜めに傾いた側壁からなる第2のテーパ部と、
    前記第2の天上面と前記第2のテーパ部とを曲面で繋ぐ第2のR部とを有し、
    前記第2の天上面は、前記第1の天上面に向って凸の湾曲形状の凹部を有する
    ことを特徴とする半導体発光装置。
  2. 前記第1の天上面は、前記第2の天上面に向って凸の湾曲形状の凸部を有する
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体発光装置。
  3. 前記支持基板の支持面に対する前記第2のテーパ部の傾斜角は、前記支持基板の支持面に対する前記第1のテーパ部の傾斜角よりも大きい
    ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の半導体発光装置。
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