JP4973263B2 - 接続不良検出回路及び方法 - Google Patents
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Description
101:ドライバ回路
102:レシーバ回路
103:伝送線路
111、120、122:フリップフロップ回路
112:出力回路
113、117:ESD回路
114:出力端子
116:入力端子
118:入力回路
119、121:レシーバ
123、124:遅延回路
125:ESD接続切換え回路
126:判定回路
Claims (10)
- ドライバ回路とレシーバ回路とを接続する伝送線路の接続不良を検出する接続不良検出回路において、
前記ドライバ回路から前記伝送線路を介して前記レシーバ回路に向けてテスト信号を送出するテスト信号送出回路と、
テスト時に、前記テスト信号の前記レシーバ回路内での反射波の反射振幅を、前記テスト信号の初期振幅と前記反射振幅との和の電圧が前記ドライバ回路の電源電圧よりも低い制限電圧になる振幅に制限する反射振幅制御回路と、
前記テスト信号の送出後、所定のタイミングで、前記テスト信号送出回路の出力ノードの電圧を検出する電圧検出回路と、
前記電圧検出回路により検出された電圧が、前記ドライバ回路の電源電圧よりも低くかつ前記制限電圧よりも高く設定された判定電圧よりも高い場合、前記伝送線路に接続不良が発生していると判定する判定回路と、を備えることを特徴とする接続不良検出回路。 - 前記反射振幅制御回路は、テスト時は、前記テスト信号の振幅を前記制限電圧にクランプし、通常動作時には、前記伝送線路を介して伝送された信号を全反射させる、請求項1に記載の接続不良検出回路。
- 前記反射振幅制御回路は、前記レシーバ回路の入力端子に接続されたESD回路と、テスト時には前記ESD回路の陰極を低電位側電源に接続し、通常動作時には前記ESD回路の陰極を高電位側電源に接続するESD接続切換え回路とを含む、請求項1又は2に記載の接続不良検出回路。
- 前記電圧検出回路は、前記テスト信号の送出後、該テスト信号が前記伝送線路を往復する時間よりも後のタイミングで前記出力ノードの電圧を検出する、請求項1〜3の何れか一に記載の接続不良検出回路。
- 前記電圧検出回路は、前記テスト信号の送出後、該テスト信号が前記伝送線路を往復する時間よりも前のタイミングで前記出力ノードの電圧を検出する、請求項1〜4の何れか一に記載の接続不良検出回路。
- 前記電圧検出回路は、前記テスト信号の送出後、所定のタイミングで前記テスト信号送出回路の出力ノードの電圧を取り込み、該出力ノードの電圧が前記判定電圧よりも高いか否かによって、出力を“1”と“0”との間で反転させるフリップフロップ回路を含む、請求項1〜5の何れか一に記載の接続不良検出回路。
- 前記フリップフロップ回路は、前記出力ノードの電圧が前記判定電圧以上であれば“1”を、前記判定電圧よりも低ければ“0”を出力する、請求項6に記載の接続不良検出回路。
- 前記電圧検出回路が、前記テスト信号の送出後、該テスト信号が前記伝送線路を往復する時間が経過するよりも前のタイミングで前記出力ノードの電圧を取り込む第1のフリップフロップと、前記テスト信号が前記伝送線路を往復する時間の経過後に前記出力ノードの電圧を取り込む第2のフリップフロップ回路とを含む、請求項6又は7に記載の接続不良検出回路。
- 前記判定回路は、前記第1のフリップフロップの出力と前記第2のフリップフロップの出力とに基づいて、前記伝送線路に接続不良が発生しているか否か、及び、接続不良が前記伝送線路のドライバ端で発生しているか、レシーバ端で発生しているかを判定する、請求項8に記載の接続不良検出回路。
- ドライバ回路とレシーバ回路とを接続する伝送線路の接続不良を検出する接続不良検出方法であって、
テスト信号送出回路により、前記ドライバ回路から前記伝送線路を介して前記レシーバ回路に向けてテスト信号を送出し、
前記レシーバ回路にて、前記テスト信号に対して、前記テスト信号の反射波の反射振幅が、前記テスト信号の初期振幅と前記反射振幅との和の電圧が前記ドライバ回路の電源電圧よりも低い制限電圧になる振幅に制限された反射波を発生させ、
前記テスト信号の送出後、所定のタイミングで、前記テスト信号送出回路の出力ノードの電圧を検出し、
前記検出された電圧が、前記ドライバ回路の電源電圧よりも低くかつ前記制限電圧よりも高く設定された判定電圧よりも高い場合、前記伝送線路に接続不良が発生していると判定する、ことを特徴とする接続不良検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007074259A JP4973263B2 (ja) | 2007-03-22 | 2007-03-22 | 接続不良検出回路及び方法 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2008232892A JP2008232892A (ja) | 2008-10-02 |
JP4973263B2 true JP4973263B2 (ja) | 2012-07-11 |
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4973263B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5503307B2 (ja) * | 2010-01-25 | 2014-05-28 | 株式会社日立製作所 | 高速配線のインピーダンス補償方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3950247B2 (ja) * | 1999-02-16 | 2007-07-25 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路 |
JP4725159B2 (ja) * | 2005-03-30 | 2011-07-13 | 日本電気株式会社 | オープン検出回路、オープン検出方法及び半導体集積回路 |
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Publication number | Publication date |
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JP2008232892A (ja) | 2008-10-02 |
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A621 | Written request for application examination |
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RD01 | Notification of change of attorney |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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