JP2008232892A - 接続不良検出回路及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】レシーバ回路102の入力端子116には、ESD回路117が接続される。ESD回路117の陰極は、テスト時には、ESD接続切換え回路125により、GNDに接続される。フリップフロップ回路111は、テスト信号を出力する。テスト信号に対する反射振幅は、伝送線路103において接続不良が発生しているときには、Vddとなり、接続不良が発生していないときは、順バイアスのESD回路117によって制限された電圧Vfとなる。フリップフロップ回路122は、反射振幅がVfであれば“0”を、反射振幅がVddであれば“1”を出力する。判定回路126は、フリップフロップ回路122の出力に基づいて、接続不良発生の有無を判定する。
【選択図】図1
Description
101:ドライバ回路
102:レシーバ回路
103:伝送線路
111、120、122:フリップフロップ回路
112:出力回路
113、117:ESD回路
114:出力端子
116:入力端子
118:入力回路
119、121:レシーバ
123、124:遅延回路
125:ESD接続切換え回路
126:判定回路
Claims (11)
- ドライバ回路とレシーバ回路とを接続する伝送線路の接続不良を検出する接続不良検出回路において、
前記ドライバ回路から前記伝送線路を介して前記レシーバ回路に向けてテスト信号を送出するテスト信号送出回路と、
テスト時に、前記テスト信号の前記レシーバ回路内での反射波の反射振幅を、所定の振幅に制限する反射振幅制御回路と、
所定のタイミングで、前記テスト信号送出回路の出力ノードの電圧を取り込み、前記テスト信号の反射振幅を検出する反射振幅検出回路とを備えることを特徴とする接続不良検出回路。 - 前記反射振幅制御回路は、テスト時は、前記テスト信号を前記所定の振幅にクランプし、通常動作時には、前記伝送線路を介して伝送された信号を全反射させる、請求項1に記載の接続不良検出回路。
- 前記反射振幅制御回路は、前記レシーバ回路の入力端子に接続されたESD回路と、テスト時には前記ESD回路の陰極を低電位側電源に接続し、通常動作時には前記ESD回路の陰極を高電位側電源に接続するESD接続切換え回路とを含む、請求項1又は2に記載の接続不良検出回路。
- 前記反射振幅検出回路は、前記テスト信号の送出後、該テスト信号が前記伝送線路を往復する時間よりも後のタイミングで前記テスト信号の反射振幅を検出する、請求項1〜3の何れか一に記載の接続不良検出回路。
- 前記反射振幅検出回路は、前記テスト信号の送出後、該テスト信号が前記伝送線路を往復する時間よりも前のタイミングで前記テスト信号の反射振幅を検出する、請求項1〜4の何れか一に記載の接続不良検出回路。
- 前記反射振幅検出回路は、所定のタイミングで前記テスト信号送出回路の出力ノードの電圧を取り込み、該出力ノードの電圧が所定の判定電圧よりも高いか否かによって、出力を“1”と“0”との間で反転させるフリップフロップ回路を含む、請求項1〜3の何れか一に記載の接続不良検出回路。
- 前記フリップフロップ回路は、前記出力ノードの電圧が前記判定電圧以上であれば“1”を、前記判定電圧よりも低ければ“0”を出力する、請求項6に記載の接続不良検出回路。
- 前記判定電圧が、前記テスト信号の振幅よりも低く、かつ、前記反射振幅制御回路が制限するテスト信号の振幅よりも高い電圧に設定されている、請求項6又は7に記載の接続不良検出回路。
- 前記反射振幅検出回路が、前記テスト信号の送出後、該テスト信号が前記伝送線路を往復する時間が経過するよりも前のタイミングで前記出力ノードの電圧を取り込む第1のフリップフロップと、前記テスト信号が前記伝送線路を往復する時間の経過後に前記出力ノードの電圧を取り込む第2のフリップフロップ回路とを含む、請求項6〜8の何れか一に記載の接続不良検出回路。
- 前記第1のフリップフロップの出力と前記第2のフリップフロップの出力とに基づいて、前記伝送線路に接続不良が発生しているか否か、及び、接続不良が前記伝送線路のドライバ端で発生しているか、レシーバ端で発生しているかを判定する判定回路を備えている、請求項9に記載の接続不良検出回路。
- ドライバ回路とレシーバ回路とを接続する伝送線路の接続不良を検出する接続不良検出方法であって、
テスト信号送出回路により、前記ドライバ回路から前記伝送線路を介して前記レシーバ回路に向けてテスト信号を送出し、
前記レシーバ回路にて、前記テスト信号に対して、所定の振幅に制限された反射波を発生させ、
所定のタイミングで、前記テスト信号送出回路の出力ノードの電圧を取り込み、前記テスト信号の反射振幅を検出し、
前記検出された反射振幅に基づいて、接続不良発生の有無を検出することを特徴とする接続不良検出方法。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000236069A (ja) * | 1999-02-16 | 2000-08-29 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
JP2006278797A (ja) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Nec Corp | オープン検出回路、オープン検出方法及び半導体集積回路 |
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