JP4902511B2 - 半導体集積回路の高速テスト - Google Patents
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- 半導体集積回路の高速テストにおいて、
テスト開始後各フリップフロップのデータ出力端子が1回以上“0”から“1”または“1”から“0”に反転した場合に“1”を出力し続け、テスト開始後データ出力端子に全く変化がない場合は“0”を出力し続ける、
もう一つの出力端子(判定端子と呼ぶ)を各フリップフロップが備えることを特徴とする半導体集積回路の高速テスト。 - 請求項1における各フリップフロップの判定端子より取り出した各配線は1個または複数個のNANDゲートに入力されており、
高速テスト終了後にNANDゲートの出力が“0”であればそれに対応するフリップフロップはデータ出力に反転があったことを意味し、
フリップフロップ間で高速テストが実施されたと判定できることを特徴とする半導体集
積回路の高速テスト。 - 始点と終点が同一のフリップフロップ間においてパスが複数存在する場合、
その全てのパスがテストされたかを判定するため、それぞれのパスが合流するゲートの入力端子の直前から各々別の配線が引き出され、
それぞれ別のカウンタに入力されて、そのカウンタに入力された配線がテスト開始後1回以上“0”から“1”または“1”から“0”に反転した場合、カウンタは“1”を出力し続け、
入力された配線にデータの反転が全くない場合は“0”を出力し続けることにより、同一フリップフロップ間の全てのパスがテストされたか判定できることを特徴とする半導体集積回路の高速テスト。 - 請求項1におけるフリップフロップの判定端子及び請求項3におけるカウンタの出力端子において、
出力されたデータを高速テスト終了後に“0”に戻すため、各フリップフロップ及びカウンタにリセット用の入力端子を備えることを特徴とする半導体集積回路の高速テスト。
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