JP4881475B2 - アクティブマトリクス基板及び液晶表示装置 - Google Patents

アクティブマトリクス基板及び液晶表示装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4881475B2
JP4881475B2 JP2010507127A JP2010507127A JP4881475B2 JP 4881475 B2 JP4881475 B2 JP 4881475B2 JP 2010507127 A JP2010507127 A JP 2010507127A JP 2010507127 A JP2010507127 A JP 2010507127A JP 4881475 B2 JP4881475 B2 JP 4881475B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
line
auxiliary capacitance
gate electrode
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010507127A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2009125532A1 (ja
Inventor
修義 上田
宏之 飯田
崇晴 山田
了基 伊藤
堀内  智
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2010507127A priority Critical patent/JP4881475B2/ja
Publication of JPWO2009125532A1 publication Critical patent/JPWO2009125532A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4881475B2 publication Critical patent/JP4881475B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136213Storage capacitors associated with the pixel electrode

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Description

本発明は、アクティブマトリクス基板及び液晶表示装置に関するものである。
従来から、液晶表示装置は、薄型で低消費電力であるという特徴を生かして、テレビやパーソナルコンピュータ等の身近な機器に限らず、計測機器、医療機器及び産業機器全般の表示装置として広く使用されている。この液晶表示装置として、画像表示の最小単位である画素毎に薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor、以下、TFTと称する)が設けられ、精細な画像表示が可能なアクティブマトリクス駆動方式の液晶表示装置が知られている。
アクティブマトリクス駆動方式の液晶表示装置は、複数の上記TFT等が設けられたアクティブマトリクス基板と、アクティブマトリクス基板に対向して配置されて共通電極等が形成された対向基板と、これらアクティブマトリクス基板と対向基板との間に設けられた液晶層とを備えている。
図17は、従来のアクティブマトリクス基板の一部を概略的に示す平面図である。
アクティブマトリクス基板には、図17に示すように、互いに平行に延びる複数のソース線100と、互いに平行に延びる複数のゲート線101とが交差するように設けられている。そして、アクティブマトリクス基板には、これら各ソース線100と各ゲート線101との交差部付近に各TFT102が設けられ、それら各TFT102を覆う絶縁膜(図示省略)に形成された各コンタクトホール103を介して各TFT102にそれぞれ電気的に接続された複数の画素電極104(透過して図示)がマトリクス状に形成されている。
さらに、このアクティブマトリクス基板には、各ゲート線101の間に延びるように複数の補助容量線105が設けられている。これら各補助容量線105上には、各TFT102のドレイン電極106とそれぞれ一体に形成された複数の補助容量電極107が設けられており、互いに重なる各補助容量線105と補助容量電極107との間に各画素電極104に書き込まれた電位を保持するための補助容量が構成されている。
図18に、ゲート線、ソース線及び画素電極にそれぞれ印加される信号パターンの関係を示す。図18に示すように、ゲート線に電位Vghが印加されると、そのゲート線に接続されたTFTがオン状態になり、そのTFTに接続されたソース線に印加されている電位Vsがドレイン電極を介して画素電極に印加される。このとき、画素電極の電位Vpはソース線の電位と同じVsまで書き込まれるが、ゲート線に電位Vglが印加されると画素電極の電位が降下して書き込み終了時の電位Vpに対して差分ΔVgdが生じる。この画素電極の電位の降下による差分ΔVgdは、各画素におけるドレイン電極とゲート電極との間の寄生容量によって生じ、フィードスルー電圧と呼ばれる。このフィードスルー電圧ΔVgdが各画素において異なる場合には、輝度ムラやフリッカ等の表示不良が視認されやすくなる。
フィードスルー電圧ΔVgdは以下の式で簡易的に表される。尚、VgppはVghとVglとの差(Vgh−Vgl)を、Cgdはゲート電極とドレイン電極との間の寄生容量を、Csは補助容量を、Clcは液晶容量をそれぞれ示している。
ΔVgd=Vgpp×Cgd/(Clc+Cs+Cgd)
ところで、近年、テレビ等の表示画面を大型化することが要請されていることから、アクティブマトリクス基板が大型化している。アクティブマトリクス基板を作製するには、一般に、フォトリソグラフィーによって各配線や各電極等をパターン形成する。大型のアクティブマトリクス基板を作製する際のフォトリソグラフィーでは、ガラス基板上に塗布されたレジストをフォトマスクを介して露光する露光処理として、当該ガラス基板よりも小さいフォトマスクをガラス基板上に配置し、ガラス基板を段階的に移動させて、必要に応じてフォトマスクを交換しながら複数のショットに分割して露光するステップ分割露光方式の露光処理が行われる。
このステップ分割露光方式の露光処理では、複数のショットに分割してガラス基板上のレジストを露光するため、各ショットで露光されるガラス基板上の領域毎に規定された複数のブロック間において、比較的高いアライメント精度の露光が求められる。仮に、各ブロックにおいて露光装置のアライメントずれが生じた場合には、各配線、各電極及び半導体層等の配置関係が各ブロック間で異なるため、ゲート電極とドレイン電極との重なり面積で決定される寄生容量Cgdが各ブロック間で異なる。その結果、各ブロック間でフィードスルー電圧に差が生じ、表示画面において各ブロック間に輝度分かれが視認されやすくなる。
そこで、特許文献1に開示された液晶表示装置では、TFTにおける半導体層及びこれに重なるドレイン電極のゲート電極端を跨ぐ部分の幅をTFTのチャネル幅であるドレイン電極の幅よりも狭くすることにより、各ブロック間において上記チャネル幅に垂直な方向へのアライメントずれによって生じるゲート電極とドレイン電極との重なり面積の差を小さくしている。
特許第3881160号公報
しかし、特許文献1の液晶表示装置であっても、ドレイン電極を形成する際の露光処理において、各ブロック間で露光装置のアライメントずれが生じた場合には、ドレイン電極に一体に形成された補助容量電極と補助容量線との配置関係もゲート電極とドレイン電極との配置関係と共に各ブロック間で異なるため、補助容量電極と補助容量線との重なり面積で決定される補助容量Csも各ブロック間でばらつくことになる。その結果、各ブロック間において寄生容量Cgdのばらつき及び補助容量Csのばらつきが共に生じることにより、これら2つの要因が重なって各ブロック間でのフィードスルー電圧ΔVgdの差を十分に抑制できずに、上述したように表示画面に輝度分かれが視認される虞があるので、改善の余地がある。
本発明は、斯かる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、露光処理の各ショットで露光される基板上の領域毎に規定された複数のブロック間において、ゲート電極とドレイン電極との間の寄生容量により生じるフィードスルー電圧のばらつきを抑制することにある。
上記の目的を達成するために、この発明では、ゲート電極とドレイン電極との重なり面積の変動に合わせて補助容量電極と補助容量線との重なり面積も変動するように電極及び配線の配置構成を工夫したものである。
具体的に、本発明に係るアクティブマトリクス基板は、マトリクス状に規定された複数の画素領域と、上記各画素領域の間に互いに平行に延びるように設けられた複数のソース線と、上記各画素領域の間に上記各ソース線と交差する方向に互いに平行に延びるように設けられた複数のゲート線と、上記各ゲート線の間にそれぞれ延びるように設けられた複数の補助容量線と、上記各画素領域毎に設けられ、各々、対応する上記ゲート線に電気的に接続されたゲート電極、該ゲート電極に重なるように設けられた半導体層、上記ゲート電極及び上記半導体層に重なるように設けられて対応する上記ソース線に電気的に接続されたソース電極、上記ゲート電極端を跨いで該ゲート電極及び上記半導体層に重なるように設けられたドレイン電極、及び上記ゲート電極を覆い該ゲート電極と上記ドレイン電極との間に設けられた絶縁膜を有する複数のTFTと、上記各TFTのドレイン電極と同一の層において、上記各補助容量線に沿って延びると共に該各補助容量線に重なるように上記各画素領域にそれぞれ設けられた補助容量電極とを備えるアクティブマトリクス基板であって、上記各補助容量線は、上記絶縁膜によって覆われ、上記ゲート線に沿って延びるように設けられた容量幹線と、上記各画素領域毎に上記容量幹線から側方に突出するように一組だけ設けられた一対の容量支線とを有し、上記一対の容量支線は、各々、上記ソース線及びゲート線に対して斜め方向に延び、一端側が上記容量幹線に接続されると共に、他端側に向かうに連れて上記容量幹線から離間するように且つ同一のソース線側に接近するように形成され、上記各画素領域の補助容量電極は、上記容量幹線及び容量支線に沿って延びると共に該容量幹線及び容量支線に上記絶縁膜を介して重なるように設けられており、上記一対の容量支線に沿う補助容量電極部分において、上記ドレイン電極が上記ゲート電極端を跨いで該ゲート電極の外側から内側に入る方向の一方側の側端は上記容量支線の内側に配置されていると共に、上記ドレイン電極が上記ゲート電極端を跨いで該ゲート電極の内側から外側に出る方向の他方側の側端は上記容量支線の外側に配置されていることを特徴とする。
この構成によると、各補助容量電極が容量幹線及び容量支線の双方に重なるように設けられていることにより、各補助容量線と各補助容量電極との重なり面積が大きくなって補助容量が増加するため、フィードスルー電圧が小さくなる。そして、各画素領域の一対の容量支線に沿う補助容量電極部分において、ドレイン電極がゲート電極端を跨いでそのゲート電極の外側から内側に入る方向の一方側の側端は補助容量線(容量支線)の内側に配置されていると共に、ドレイン電極がゲート電極端を跨いでそのゲート電極の内側から外側に出る方向の他方側の側端は補助容量線(容量支線)の外側に配置されている。そのことにより、ゲート電極とドレイン電極との重なり面積の変動に伴いその変動に合わせてドレイン電極と同一の層に設けられた補助容量電極と補助容量線との重なり面積も変動する。すなわち、ドレイン電極がゲート電極端を跨いでそのゲート電極の外側から内側に入る方向側にドレイン電極がずれてドレイン電極とゲート電極との重なり面積が増加した場合には、補助容量電極もドレイン電極と同一方向側にずれて補助容量電極と補助容量線との重なり面積もドレイン電極がずれた分増加する。また、ドレイン電極がゲート電極端を跨いでそのゲート電極の内側から外側に出る方向側にドレイン電極がずれてドレイン電極とゲート電極との重なり面積が減少した場合には、補助容量電極もドレイン電極と同一方向側にずれて補助容量電極と補助容量線との重なり面積もドレイン電極がずれた分減少する。したがって、ゲート電極とドレイン電極との間の寄生容量の増減に合わせて補助容量電極と補助容量線との間の補助容量が増減するため、それら寄生容量と補助容量とのフィードスルー電圧に及ぼす影響が互いに打ち消し合うこととなる。しかも、この構成では、一対の容量支線のそれぞれに沿う補助容量電極部分において、上記一方側の側端が補助容量線の内側に配置されていると共に上記他方側の側端が補助容量線の外側に配置されているので、1本の容量支線に沿う補助容量電極部分のみにおいて同様な配置構造が採用されている場合に比べて、ゲート電極とドレイン電極との間の寄生容量の増減に合わせて増減する補助容量をより大きくすることが可能である。その結果、ゲート電極とドレイン電極との間の寄生容量によって生じるフィードスルー電圧のばらつきを良好に抑制することが可能になる
また、本発明に係る液晶表示装置は、上記アクティブマトリクス基板と、上記アクティブマトリクス基板に対向して配置された対向基板と、上記アクティブマトリクス基板と上記対向基板との間に設けられた液晶層とを備えることを特徴とする。
この構成によると、上記アクティブマトリクス基板を備えていることにより、ゲート電極とドレイン電極との間の寄生容量の増減に合わせて補助容量電極と補助容量線との間の補助容量が増減する結果、ゲート電極とドレイン電極との間の寄生容量によって生じるフィードスルー電圧のばらつきが抑制される。これにより、液晶表示装置において、表示画面に輝度分かれが視認され難くなる。
本発明によれば、各補助容量電極が容量幹線及び容量支線の双方に重なるように設けられているので、補助容量を増加させることができ、フィードスルー電圧を小さくできる。そして、各画素領域の一対の容量支線に沿う補助容量電極部分において、ドレイン電極がゲート電極端を跨いでそのゲート電極の外側から内側に入る方向の一方側の側端は容量支線の内側に配置されていると共に、ドレイン電極がゲート電極端を跨いでそのゲート電極の内側から外側に出る方向の他方側の側端は容量支線の外側に配置されているので、ゲート電極とドレイン電極との間の寄生容量によって生じるフィードスルー電圧のばらつきを良好に抑制できる。
図1は、液晶表示装置を概略的に示す平面図である。 図2は、図1のII−II線断面を概略的に示す図である。 図3は、参考例1における液晶表示装置の表示部の一部を拡大して概略的に示す平面図である。 図4は、参考例1におけるアクティブマトリクス基板の一部を拡大して概略的に示す平面図である。 図5は、図3のV−V線断面を概略的に示す図である。 図6は、ゲート絶縁膜が形成された状態のガラス基板を概略的に示す断面図である。 図7は、ドレイン電極及び補助容量電極が形成されたガラス基板を概略的に示す断面図である。 図8は、画素電極が形成された状態のガラス基板を概略的に示す断面図である。 図9は、参考例2における液晶表示装置の表示部の一部を拡大して概略的に示す平面図である。 図10は、参考例2におけるアクティブマトリクス基板の一部を拡大して概略的に示す平面図である。 図11は、図9のXI−XI線断面を概略的に示す図である。 図12は、実施形態におけるアクティブマトリクス基板の一部を拡大して概略的に示す平面図である。 図13は、参考例3における液晶表示装置の表示部の一部を拡大して概略的に示す断面図である。 図14は、参考例における液晶表示装置の表示部の一部を拡大して概略的に示す平面図である。 図15は、参考例におけるアクティブマトリクス基板の一部を拡大して概略的に示す平面図である。 図16は、その他の参考例におけるアクティブマトリクス基板の一部を拡大して概略的に示す平面図である。 図17は、従来のアクティブマトリクス基板の一部を拡大して概略的に示す平面図である。 図18は、ゲート線、ソース線及び画素電極にそれぞれ印加される信号パターンの関係を示す図である。 図19は、各画素領域における行方向の長さが列方向の長さの略3倍程度の従来のアクティブマトリクス基板の一部を拡大して概略的に示す平面図である。
(S) 液晶表示装置
(11) 画素
(11r) 赤色の画素
(11g) 緑色の画素
(11b) 青色の画素
(12) 画素群
(14) 液晶層
(15) シール材
(17) ソースドライバICチップ
(18) ゲートドライバICチップ
(20) アクティブマトリクス基板
(22) 画素領域
(23) 画素領域群
(24) ソース線
(25) ゲート線
(26) 補助容量線
(26a) 容量幹線
(26b) 容量支線
(27) TFT(薄膜トランジスタ)
(28) ゲート電極
(30) 半導体層
(31) ソース電極
(32) ドレイン電極
(33) 補助容量電極
(36) 画素電極
(36a) スリット(配向規制部)
(37) 配向膜(垂直配向膜)
(40) 対向基板
(44) 共通電極
(44a) スリット(配向規制部)
(45) 配向膜(垂直配向膜)
(46) 突出部(配向規制部)
以下、本発明の実施形態及び参考例を図面に基づいて詳細に説明する。尚、本発明は、以下の実施形態及び参考例に限定されるものではない。
《参考例1》
図1〜図8は、参考例1を示している。図1は、液晶表示装置Sを概略的に示す平面図である。図2は、図1のII−II線に沿って液晶表示装置Sを概略的に示す断面図である。図3は、液晶表示装置Sの一部を拡大して概略的に示す平面図である。図4は、液晶表示装置Sを構成する一方の基板20の一部を拡大して概略的に示す平面図である。図5は、図3のV−V線に沿って液晶表示装置Sを概略的に示す断面図である。尚、図4では、積層絶縁膜35及び各画素電極36を透過して図示している。
液晶表示装置Sは、図1及び図2に示すように、一対の基板20,40が貼り合わせられた液晶表示パネル10を備えている。この液晶表示パネル10は、アクティブマトリクス基板20と、アクティブマトリクス基板20に対向して配置された対向基板40と、これらアクティブマトリクス基板20と対向基板40との間に設けられた液晶層14とを備えている。この液晶表示パネル10は、画像表示を行う表示部Dと、表示部Dの外側に配置された非表示部である額縁部Fとを有している。
アクティブマトリクス基板20及び対向基板40は、例えば矩形状等に形成され、図2に示すように、液晶層14側の表面に配向膜37,45がそれぞれ設けられていると共に、液晶層14とは反対側の表面に偏光板(図示省略)がそれぞれ設けられている。これらアクティブマトリクス基板20と対向基板40との間には、エポキシ樹脂等からなる枠状のシール材15が配置されており、このシール材15の内側に液晶材料が封入されていることにより、上記液晶層14が設けられている。
表示部Dは、図3に示すように、マトリクス状に設けられた複数の画素11によって構成されている。これら複数の画素11は、行方向(図3中横方向)に並ぶ複数個毎に複数の画素群12を構成している。ここで、本明細書においては、画像表示の最小単位を「画素」と呼び、複数色の「画素」から1つの「画素群」が構成されていることとする。具体的に、本参考例における各画素群12は、行方向にストライプ状に配列された赤色、緑色及び青色の画素11r,11g,11bから構成されている。これら各画素11は、列方向(図3中縦方向)の長さが行方向の長さの略3倍程度に設けられている。尚、本参考例では、対向基板40に後述するブラックマトリクス43が設けられているので、ブラックマトリクス43の各開口部が形成された領域が各画素11に対応する。
アクティブマトリクス基板20には、図4に示すように、各画素11をそれぞれ構成する複数の画素領域22がマトリクス状に規定されている。すなわち、各画素11は各画素領域22と対向基板40とが液晶層14を介して対向することによってそれぞれ構成されており、複数の画素領域22は各画素群12に対応して行方向に並ぶ複数個毎に複数の画素領域群23を構成している。
このアクティブマトリクス基板20は、図5に示すガラス基板21を有し、ガラス基板21における表示部Dに、図4に示すように、各画素領域22の間に互いに平行に延びるように設けられた複数のソース線24と、各画素領域22の間に各ソース線24に交差する方向に互いに平行に延びるように設けられた複数のゲート線25と、各画素領域22毎に設けられたTFT27と、各TFT27にそれぞれ電気的に接続された複数の画素電極36とを備えている。
各ソース線24は列方向にそれぞれ延びるように線状に設けられており、各ゲート線25は行方向にそれぞれ延びるように線状に設けられている。各ゲート線25の間には、これら各ゲート線25に沿って延びるように補助容量線26が線状にそれぞれ設けられている。
各TFT27は、各ソース線24と各ゲート線25との交差部付近に設けられ、対応するソース線24及びゲート線25に接続されている。各画素領域群23における各TFT27は、互いに異なるソース線24に接続されていると共に同一のゲート線25に接続されている。これら各TFT27は、図5に示すように、ボトムゲート型のTFTであり、各々、対応するゲート線25に電気的に接続されたゲート電極28と、ゲート電極28に重なるように設けられた半導体層30と、ゲート電極28の一方側で半導体層30に接続されたソース電極31と、ゲート電極28の他方側で半導体層30に接続されたドレイン電極32とを有している。
上記各ゲート線25は、図中に示すように、各補助容量線26と共にガラス基板21の表面に形成されてゲート絶縁膜29によって覆われている。各TFT27の半導体層30は、ゲート絶縁膜29を介して各ゲート線25を一部跨ぐように形成されている。そうして、各半導体層30に重なる各ゲート線25の一部が、各TFT27のゲート電極28を構成している。
各半導体層30は、図示は省略するが、例えば真性アモルファスシリコン層及びn+アモルファスシリコン層が順に積層されて構成されている。n+アモルファスシリコン層はゲート電極28に重なる領域が一部除去されて2つに分断され、n+アモルファスシリコン層から露出した真性アモルファスシリコン層の領域がチャネル部30aを構成している。
各ソース電極31は、各ゲート線25の幅方向におけるゲート電極28の一端を跨いでそのゲート電極28及び半導体層30に重なるように形成されており、図4に示すように、対応するソース線24に接続されている。また、各ドレイン電極32は、ゲート電極28の他端を跨いでそのゲート電極28及び半導体層30に重なるようにソース電極31に対してチャネル部30aを挟んで離間して形成されている。
これら各ドレイン電極32と同一の層には各補助容量線26に沿って延びると共にそれら各補助容量線26に重なるように各画素領域22に補助容量電極33がそれぞれ設けられており、各画素領域22において、互いに重なる補助容量線26と補助容量電極33との間に画素電極36に書き込まれた電位を保持するための補助容量が構成されている。各補助容量電極33は、これら各補助容量電極33が設けられた各画素領域22のTFT27のドレイン電極32と一体に形成されている。
各画素領域22において、補助容量電極33は、図4に示すように、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の外側から内側に入る方向の一方側(図中下側)の側端が補助容量線26の内側に配置されていると共に、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の内側から外側に出る方向の他方側(図中上側)の側端が補助容量線26の外側に配置されている。そうして、各画素領域22における補助容量電極33は、一体に形成されたドレイン電極32の形成位置の列方向(図4中縦方向)のずれに起因して生じるゲート電極28とドレイン電極32との間の寄生容量の増減に合わせて補助容量線26とその補助容量電極33との間の補助容量が増減するように配置されている。
ここで、各ドレイン電極32及び各補助容量電極33は、各画素領域22において、ドレイン電極32とゲート電極28との間の寄生容量の大きさに拘わらずにその寄生容量によって生じるフィードスルー電圧を一定にする観点から、ドレイン電極32の形成位置のずれに起因して生じるドレイン電極32とゲート電極28との間の寄生容量の増減に対し、補助容量線26と補助容量電極33との間の補助容量と、液晶容量との和の増減が一致するように形成されていることが好ましい。
これら各TFT27及び各補助容量電極33には、窒化シリコン膜及びアクリル系樹脂膜(共に図示省略)が順に積層されてなる図5に示す積層絶縁膜35が積層されている。この積層絶縁膜35の表面には、上記各画素電極36が形成されている。
各画素電極36は、図4に示すように、列方向の長さが行方向の長さに対して略3倍程度長い矩形状に形成され、各画素領域22毎に設けられている。尚、本参考例では、各画素電極36が矩形状に形成されているとしているが、各画素電極36は、矩形状の電極を一部切り欠いた形状や一部突出させた形状等の種々の形状に形成することが可能である。
上記積層絶縁膜35には、各補助容量電極33に接続するための複数のコンタクトホール35aが形成されている。各コンタクトホール35a付近では液晶分子の配向が乱れやすいことから、これら各コンタクトホール35aは各補助容量電極33の中央部を露出するように形成されている。そのことにより、各コンタクトホール35a付近の領域が補助容量線26及び補助容量電極33によって遮光されて、光漏れによるコントラストの低下が抑制される。そして、それら各コンタクトホール35aを介して各補助容量電極33が各画素電極36に接続されていることにより、各TFT27のドレイン電極32が各補助容量電極33を介して各画素電極36に電気的に接続されている。
また、このアクティブマトリクス基板20は、図1及び図2に示すように、例えば隣接する2辺側が対向基板40から外側にL字状等に突出した実装部20aを額縁部Fに有している。実装部20aは、例えば、一辺側(図1中下辺側)に所定の数のゲート線25がそれぞれ接続された複数のゲートドライバIC(Integrated Circuit)チップ17が実装され、他辺側(図1中左辺側)に所定の数のソース線24がそれぞれ接続された複数のソースドライバICチップ18が実装されている。そして、これら実装部20aの各辺側には、各ゲートドライバICチップ17群及び各ソースドライバICチップ18群にそれぞれ電気的に接続され、これら各ドライバICチップ17,18に信号及び電源を供給する複数のフレキシブルプリント配線基板(図示省略)がそれぞれ実装されている。
上記対向基板40は、図5に示すように、ガラス基板41を有し、そのガラス基板41における表示部Dに、各画素電極36に重なり合うように各画素11の色に対応した色の複数のカラーフィルタ42が設けられ、これら各カラーフィルタ42を区画するようにブラックマトリクス43が設けられている。さらに、対向基板40の液晶層14側には、各カラーフィルタ42及びブラックマトリクス43を覆うように共通電極44が形成されている。
このように、液晶表示装置Sは、各ゲート線25にゲート信号を供給して各TFT27を順にオン状態にし、オン状態のTFT27に接続されたソース線24にソース信号を供給することにより、TFT27のソース電極31に印加された電位を各画素電極36に順に書き込んで各画素電極36と共通電極44との間で液晶層14に電圧を印加し、各画素11毎に液晶分子の配向を制御して所望の画像表示を行うように構成されている。
−製造方法−
次に、上記液晶表示装置Sの製造方法について説明する。
液晶表示装置Sを製造するには、まず、アクティブマトリクス基板20及び対向基板40をそれぞれ作製して両基板20,40に配向膜37,45を形成した後、これら両基板20,40をシール材15を介して互いに貼り合わせると共に、そのシール材15によって両基板20,40の間に液晶層14を封入することによって液晶表示パネル10を作製する。そして、その液晶表示パネル10に対して両面に偏光板を貼り付けた後に各ドライバICチップ17,18及び各フレキシブルプリント配線基板を実装する。本発明に係る液晶表示装置Sは、特にアクティブマトリクス基板20の構造に特徴があるので、アクティブマトリクス基板20の作製方法について、以下に図6〜図8を参照しながら詳述する。図6〜図8は、アクティブマトリクス基板20の作製方法を説明するための図であり、ガラス基板21の1つの画素領域22に対応する領域を概略的に示す断面図である。
アクティブマトリクス基板20を作製するには、まず、ガラス基板21の一方の表面全体に、例えばアルミニウムを含む金属膜(例えば厚さ50nm〜500nm程度)をスパッタリング法によって成膜した後、その金属膜をフォトリソグラフィーによってパターニングして、図6に示すように、各ゲート線(各ゲート電極28)25及び各補助容量線26を形成する。
このとき、フォトリソグラフィーでは、ガラス基板21上に塗布されたレジストをフォトマスクを介して露光する露光処理として、ガラス基板21よりも小さいフォトマスクをガラス基板21上に配置させ、ガラス基板21を段階的に移動させて、必要に応じてフォトマスクを交換しながら複数のショットに分割して露光するステップ分割露光方式の露光処理を行う。以降のフォトリソグラフィーについても説明は省略するがステップ分割露光方式の露光処理を行うものとする。
続いて、各ゲート線(各ゲート電極28)25及び各補助容量線26が形成された表面全体に、プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法によって窒化シリコン膜(例えば厚さ100nm〜500nm程度)等を成膜することにより、ゲート絶縁膜29を形成する。
次に、各ゲート絶縁膜29の全面に、プラズマCVD法によって真性アモルファスシリコン膜(例えば厚さ50nm〜100nm程度)と、リン等のn型不純物元素がドープされたn+アモルファスシリコン膜(例えば厚さ50nm〜100nm程度)とを連続して成膜した後に、これら真性アモルファスシリコン膜及びn+アモルファスシリコン膜をフォトリソグラフィーによってゲート電極28上に島状にパターニングして、図7に示すように、各半導体層30を形成する。
ここで、各半導体層30は、上述したようにアモルファスシリコン膜から形成してもよいが、ポリシリコン膜から形成してもよい。また、アモルファスシリコン膜又はポリシリコン膜にレーザーアニール処理を行って結晶性を向上させてもよい。
続いて、各半導体層30が形成されたゲート絶縁膜29の全面に、例えばアルミニウムを含む金属膜(例えば厚さ50nm〜500nm程度)をスパッタリング法によって成膜した後、その金属膜をフォトリソグラフィーによってパターニングすることにより、各ソース線24、各ソース電極31、各ドレイン電極32及び各補助容量電極33を形成する。
次に、各ソース電極31及び各ドレイン電極32をマスクとして、各半導体層のn+アモルファスシリコン層の一部をエッチングによって除去して、図8に示すように、チャネル部30aを形成することにより、各TFT27を形成する。
次に、プラズマCVD法によって各TFT27を覆うように窒化シリコン膜(例えば厚さ100nm〜300nm程度)等を成膜した後、スピンコーティング法によってアクリル系樹脂膜(例えば厚さ1000nm〜5000nm程度)等を成膜することにより、積層絶縁膜35を形成する。
次に、積層絶縁膜35における各補助容量電極33に重なる領域の一部をエッチングによって除去して、各コンタクトホール35aを形成する。その後、各コンタクトホール35aが形成された積層絶縁膜35の全面に、ITO(Indium Tin Oxide)等からなる透明導電膜(例えば厚さ100nm〜200nm程度)をスパッタリング法によって成膜した後、その透明導電膜をフォトリソグラフィーによってパターニングすることにより、各画素電極36を形成する。以上のようにして、アクティブマトリクス基板20が作製される。
−参考例1の効果−
したがって、この参考例1によると、各画素領域22において、補助容量電極33は、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の外側から内側に入る方向の一方側の側端が補助容量線26の内側に配置されていると共に、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の内側から外側に出る方向の他方側の側端が補助容量線26の外側に配置されている。そのことにより、ゲート電極28とドレイン電極32との重なり面積の変動に伴いその変動に合わせてドレイン電極32に一体に形成された補助容量電極33と補助容量線26との重なり面積を変動させることができる。すなわち、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の外側から内側に入る方向側(図4中下側)にドレイン電極32がずれてドレイン電極32とゲート電極28との重なり面積が増加した場合には、補助容量電極33もドレイン電極32と同一方向側にずれて補助容量電極33と補助容量線26との重なり面積をドレイン電極32がずれた分増加させることができる。また、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の内側から外側に出る方向側(図4中上側)にドレイン電極32がずれてドレイン電極32とゲート電極28との重なり面積が減少した場合には、補助容量電極33もドレイン電極32と同一方向側にずれて補助容量電極33と補助容量線26との重なり面積をドレイン電極32がずれた分減少させることができる。したがって、ゲート電極28とドレイン電極32との間の寄生容量の増減に合わせて補助容量電極33と補助容量線26との間の補助容量を増減させることができるため、それら寄生容量と補助容量とのフィードスルー電圧に及ぼす影響が互いに打ち消し合うこととなる。その結果、ステップ分割露光方式の露光処理を含むフォトリソグラフィーによって各配線24,25,26及び各電極28,31,32,33を形成したとしても、各ショットで露光されるガラス基板21上の領域毎に規定された複数のブロック間において、ゲート電極28とドレイン電極32との間の寄生容量によって生じるフィードスルー電圧のばらつきを抑制できる。これによって、表示画面に各ブロック間で輝度分かれが視認され難くすることができる。
参考例2
図9〜図11は、参考例2を示している。尚、以降の各参考例及び実施形態では、図1〜図8と同じ部分については同じ符号を付して、その詳細な説明を省略する。図9は、本参考例の液晶表示装置Sの1つの画素群12を概略的に示す平面図である。図10は、本参考例のアクティブマトリクス基板20の1つの画素領域群23を概略的に示す平面図である。図11は、図9のXI−XI線に沿って液晶表示装置Sを概略的に示す断面図である。
参考例の液晶表示装置Sは、いわゆるMVA(Multidomain Vertical Alignment)方式の液晶表示装置である。液晶層14は負の誘電率異方性を有する垂直配向型のネマチック液晶材料によって構成されており、配向膜37,45はそれぞれ垂直配向膜である。
アクティブマトリクス基板20及び対向基板40の液晶層14側には、図9及び図11に示すように、液晶層14を、各画素領域22毎に、つまり各画素11において、複数のドメインに分割するための複数の配向規制部36a,46がそれぞれ設けられている。アクティブマトリクス基板20の各配向規制部36aは、図10及び図11に示すように、各画素電極36に形成された開口部からなるスリット36aによって構成されている。また、対向基板40の各配向規制部46は、図11に示すように、液晶層14側に突出して形成された突出部46によって構成され、共通電極44と垂直配向膜45との間に設けられている。
上記各スリット36a及び各突出部46は、図9に示すように、各ゲート線25及び各ソース線24に対して斜め方向に延びるように線状に形成されている。これら各スリット36a及び各突出部46は、各画素11において、図9中上側半分の領域では図中左上から右下に延びるようにそれぞれ形成されて図中右上から左下に向かって交互に配置されている一方、図9中下側半分の領域では図中右上から左下に延びるようにそれぞれ形成されて図中左上から右下に向かって交互に配置されている。
また、本参考例のアクティブマトリクス基板20の各補助容量線26は、図10に示すように、各ゲート線25に沿って延びるように設けられた容量幹線26aと、その容量幹線26aから両側方に突出するように設けられた一対の容量支線26bとを有している。
各容量支線26bは、図9及び図11に示すように、各突出部46に重なるように形成され、各ソース線24及び各ゲート線25に対して斜め方向に延びるように形成されている。すなわち、複数の突出部46の一部は、各容量支線26bに重なるように形成されている。尚、図9及び図10では、容量支線26bを各配向規制部36a,46よりも太く図示しているが、容量支線26bは、各配向規制部36a,46と等しい太さに、又は配向規制部36a,46よりも太く形成されていてもよい。
また、各補助容量電極33は、図10に示すように、容量幹線26a及び各容量支線26bに沿って延びてこれら容量幹線26a及び各容量支線26bの双方に重なるように設けられている。そして、各画素領域22において、補助容量電極33は、容量幹線26a及び各容量支線26bにそれぞれ沿う部分のうち図10中上側の容量支線26bに沿う一の部分のみにおいて、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の外側から内側に入る方向の一方側(図10中下側)の側端がその容量支線26bの一方側の側端に沿って補助容量線26の内側に配置されていると共に、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の内側から外側に出る方向の他方側(図10中上側)の側端がその容量支線26bの他方側の側端に沿って補助容量線26の外側に配置されている。
参考例2の効果−
したがって、この参考例2によっても、各画素領域22において、補助容量電極33は、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の外側から内側に入る方向の一方側の側端が補助容量線26の内側に配置されていると共に、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の内側から外側に出る方向の他方側の側端が補助容量線26の外側に配置されているので、上記参考例1と同様の効果を得ることができる。
そのことに加えて、アクティブマトリクス基板20及び対向基板40の液晶層14側に、垂直配向膜37,45、及び液晶層14を各画素11において複数のドメインに分割するための複数の配向規制部36a,46がそれぞれ設けられているため、液晶層14に電圧が印加されていないときには、各スリット36a及び各突出部46の付近の液晶分子だけが各スリット36a及び各突出部46を中心として傾斜配向すると共に、それ以外の各スリット36a及び各突出部46から離れた液晶分子がアクティブマトリクス基板20(対向基板40)の表面に対して垂直に配向する。そして、液晶層14に電圧が印加されているときには、各スリット36a及び各突出部46から離れた液晶分子も各スリット36a及び各突出部46の付近における液晶分子の傾斜配向に整合するように配向する。そのことにより、視認角度によって光の透過量が変化することを抑制できて画像表示の際の視角特性を改善でき、視野角を広くすることができる。
さらに、各補助容量電極33が容量幹線26a及び容量支線26bの双方に重なるように設けられているため、補助容量電極33と補助容量線26との重なり面積が大きくなり補助容量が増加してフィードスルー電圧が小さくなる。そのことに加えて、補助容量電極33における補助容量線26の側端を跨ぐ部分を長くしてゲート電極28とドレイン電極32との間の寄生容量の増減に合わせて増減する補助容量を大きくすることが可能になる。これによって、ゲート電極28とドレイン電極32との間の寄生容量の増減に対する補助容量の増減を適正に調整してフィードスルー電圧のばらつきを可及的に抑制できる。
ところで、各配向規制部36a,46が設けられた領域では、液晶分子の配向が乱れやすいため、光の透過率が低下しやすいと共に光漏れが生じやすい。また、補助容量線26及び補助容量電極33が設けられた領域では、これら補助容量線26及び補助容量電極33によって光の透過が遮断されて光の透過率が低減する。本実施形態では、複数の突出部46の一部が各容量支線26bに重なるように形成されているため、それら複数の突出部46が補助容量線26及び補助容量電極33のいずれにも重ならずに形成されている場合に比べて、光の透過率の低下を抑制でき、且つ上記液晶分子が乱れやすい領域からの光漏れを抑制してコントラストを高めることができる。
《発明の実施形態》
図12は、発明の実施形態を示している。図12は、本実施形態のアクティブマトリクス基板20の1つの画素領域群23を概略的に示す平面図である。
本実施形態の液晶表示装置Sも、上記参考例2と同様に、MVA方式の液晶表示装置であり、各画素領域22の補助容量電極33において、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の外側から内側に入る方向の一方側の側端が補助容量線26の内側に配置されていると共に、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の内側から外側に出る方向の他方側の側端が補助容量線26の外側に配置されている。
そして、上記参考例2では、各補助容量電極33において、容量幹線26a及び各容量支線26bにそれぞれ沿う部分のうち図10中上側の容量支線26bに沿う一の部分のみにおける上記一方側の側端が補助容量線26の内側に配置されていると共に上記他方側の側端が補助容量線26の外側に配置されているとしたが、本実施形態では、各補助容量電極33において、図12に示すように、図中上下方向両側の各容量支線26bに沿う複数の部分における上記一方側(図中下側)の側端がそれら各容量支線26bの一方側の側端に沿って補助容量線26の内側に配置されていると共に上記他方側(図中上側)の側端がそれら各容量支線26bの他方側の側端に沿って補助容量線26の外側に配置されている。
−実施形態の効果−
したがって、この実施形態によっても、各画素領域22において、補助容量電極33は、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の外側から内側に入る方向の一方側の側端が補助容量線26の内側に配置されていると共に、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の内側から外側に出る方向の他方側の側端が補助容量線26の外側に配置されているので、上記参考例1と同様の効果を得ることができる。
さらに、各補助容量電極33における容量幹線26a及び各容量支線26bにそれぞれ沿う部分のうち各容量支線26bに沿う複数の部分において、上記一方側の側端が補助容量線26の内側に配置されていると共に上記他方側の側端が補助容量線26の外側に配置されていることにより、容量幹線26a及び各容量支線26bにそれぞれ沿う部分のうち一の部分のみにおいて上記一方側の側端が補助容量線26の内側に配置されていると共に上記他方側の側端が補助容量線26の外側に配置されている場合に比べて、ゲート電極28とドレイン電極32との間の寄生容量の増減に合わせて増減する補助容量をより大きくできる。これによって、ゲート電極28とドレイン電極32との間の寄生容量の増減に対する補助容量の増減を適正に調整してフィードスルー電圧のばらつきを可及的に抑制できる。
参考例3》
図13は、参考例3を示している。図13は、本参考例のアクティブマトリクス基板20の1つの画素領域22を概略的に示す平面図である。
上記参考例2及び実施形態では、MVA方式の液晶表示装置Sについて説明したが、本参考例の液晶表示装置Sは、いわゆるPVA(Patterned Vertical Alignment)方式の液晶表示装置である。
アクティブマトリクス基板20は上記参考例2と同様に構成されている。また、上記参考例2と同様に、アクティブマトリクス基板20及び対向基板40の各配向規制部36a,44aが配置され、アクティブマトリクス基板20の各配向規制部36aが各画素電極36に形成されたスリットによって構成されている。そして、対向基板40の各配向規制部44aは、図13に示すように、共通電極44に形成されたスリットによって構成されている。
尚、アクティブマトリクス基板20は上記実施形態と同様に構成されていてもよい。
参考例3の効果−
したがって、この参考例3によっても、アクティブマトリクス基板20が上記参考例2と同様に構成されているので、上記参考例1と同様の効果を得ることができる。
そして、アクティブマトリクス基板20及び対向基板40の双方の各配向規制部36a,44aがスリットによってそれぞれ構成されていても、液晶層14に電圧が印加されていないときには、各スリット36a,44aの付近の液晶分子だけが各スリット36a,44aを中心として傾斜配向すると共に、それ以外の各スリット36a,44aから離れた液晶分子がアクティブマトリクス基板20(対向基板40)の表面に対して垂直に配向する。そして、液晶層14に電圧が印加されているときには、各スリット36a,44aから離れた液晶分子も各スリット36a,44aの付近における液晶分子の傾斜配向に整合するように配向する。そのことにより、視認角度によって光の透過量が変化することを抑制できて画像表示の際の視角特性を改善でき、視野角を広くすることができる。
《参考例
図14及び図15は、参考例を示している。図14は、本参考例における液晶表示装置Sの1つの画素群12を概略的に示す平面図である。図15は、本参考例におけるアクティブマトリクス基板20の1つの画素領域群23を概略的に示す平面図である。
本参考例の複数の画素11は、図14に示すように、列方向にストライプ状に配列されて各ソース線24に沿って並ぶ複数色の画素11r,11g,11b毎に複数の画素群12を構成している。各画素11は、行方向の長さが列方向の長さの略3倍程度に設けられている。
そして、上記参考例1では、各画素領域群23における各TFT27が互いに異なるソース線24に接続されていると共に同一のゲート線25に接続されているとしたが、本参考例では、図15に示すように、各画素領域群23における各TFT27は、各ソース電極31が同一のソース線24に接続されていると共に、各ゲート電極28が互いに異なるゲート線25に接続されている。
また、上記参考例1と同様に、各画素領域22において、補助容量電極33は、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の外側から内側に入る方向の一方側(図15中下側)の側端が補助容量線26の内側に配置されていると共に、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の内側から外側に出る方向の他方側(図15中上側)の側端が補助容量線26の外側に配置されている。
−参考例の効果−
したがって、この参考例によっても、各画素領域22において、補助容量電極33は、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の外側から内側に入る方向の一方側の側端が補助容量線26の内側に配置されていると共に、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の内側から外側に出る方向の他方側の側端が補助容量線26の外側に配置されているので、上記参考例1と同様の効果を得ることができる。
ところで、図19に示すように、従来のアクティブマトリクス基板において、各画素領域108における行方向の長さが列方向の長さの略3倍程度に設けられている場合には、各画素領域における列方向の長さが行方向の長さの略3倍程度になっている場合に比べて、積層絶縁膜のコンタクトホール103付近の領域を補助容量線105で十分に遮光する観点から各ゲート線101と各補助容量線105との間隔109が小さくなり、これら各配線101,105が互いに短絡しやすくなるので、歩留りが低下しやすい。
これに対して、本参考例では、図15に示すように、各画素領域22において、補助容量電極33におけるドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の内側から外側に出る方向側(図中上側)の側端が補助容量線26の外側に配置されていることにより、コンタクトホール35aに対して補助容量線26の外側に補助容量電極33が配置された側の領域での遮光をその補助容量電極33によって十分に行うことが可能になるため、各ゲート線25と各補助容量線26との間隔38が小さくなることを抑制でき、これら各配線25,26の互いの短絡を抑制できる。
さらに、各画素領域群23において、各ソース電極31が同一のソース線24に接続されていると共に各ゲート電極28が互いに異なるゲート線25に接続されているため、各画素領域群23において、各ソース電極31が互いに異なるソース線24に接続されていると共に各ゲート電極28が同一のゲート線25に接続されている場合に比べて、各画素領域群23の各ソース電極31に接続されるソース線24の数を減らすことができる。そのことにより、ゲートドライバICチップ17よりも高価なソースドライバICチップ18の数を減らすことができるため、コストを低減できる。
《その他の参考例及び実施形態》
上記各参考例及び実施形態では、各画素領域22における補助容量電極33を、一体に形成されたドレイン電極32の形成位置の列方向のずれに起因して生じるゲート電極28とドレイン電極32との間の寄生容量の増減に合わせて補助容量線26とその補助容量電極33との間の補助容量が増減するように配置しているが、本発明はこれに限られず、図16に示すように、各画素領域22における補助容量電極33は、一体に形成されたドレイン電極32の形成位置の行方向(図中横方向)のずれに起因して生じるゲート電極28とドレイン電極32との間の寄生容量の増減に合わせて補助容量線26とその補助容量電極33との間の補助容量が増減するように配置されていてもよい。
具体的には、図16に示すように、各ゲート電極28が各ゲート線25から補助容量線26側(図中上側)に突出して設けられ、それら各ゲート電極28に重なるように各半導体層30が設けられ、各画素領域22において、ドレイン電極32は、一方側(図中左側)の側端が半導体層30の内側に配置されていると共に、他方側(図中右側)の側端が半導体層30の外側に配置されている。各補助容量線26には、各補助容量電極33に重なる部分に列方向に膨出した膨出部26cが設けられている。そして、各画素領域22において、補助容量電極33は、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の外側から内側に入る方向の一方側(図16中左側)の側端が補助容量線26における膨出部26cの一方側の側端に沿ってその補助容量線26の内側に配置されていると共に、ドレイン電極32がゲート電極28端を跨いでそのゲート電極28の内側から外側に出る方向の他方側(図16中右側)の側端が補助容量線26における各膨出部26cの他方側の側端に沿ってその補助容量線26の外側に配置されていてもよい。
このような構成であっても、ゲート電極28とドレイン電極32との間の寄生容量の増減に合わせて補助容量電極33と補助容量線26との間の補助容量を増減させることができるため、それら寄生容量と補助容量とのフィードスルー電圧に及ぼす影響が互いに打ち消し合うこととなる結果、ゲート電極28とドレイン電極32との間の寄生容量によって生じるフィードスルー電圧のばらつきを抑制することが可能になる。
上記各参考例及び実施形態では、各ドレイン電極32と各補助容量電極33とがそれぞれ一体に形成されているとしたが、本発明はこれに限られず、各ドレイン電極と各補助容量電極とは別個に形成されていてもよい。このように各ドレイン電極と各補助容量電極とが別個に形成されている場合には、例えば、各ドレイン電極及び各補助容量電極上に積層絶縁膜を貫通するコンタクトホールがそれぞれ形成され、それら各ドレイン電極及び各補助容量電極がコンタクトホールを介して各画素電極にそれぞれ接続されていることにより、各ドレイン電極と各補助容量電極とが電気的に接続されているようにアクティブマトリクス基板を構成する。
上記参考例2,3及び実施形態では、アクティブマトリクス基板20の各配向規制部36aが各画素電極36に形成された開口部からなるスリットによって構成され、対向基板40の各配向規制部46が突出部によって構成されているとしたが、本発明はこれに限られず、アクティブマトリクス基板20の各配向規制部が液晶層14側に突出して形成された突出部によって構成され、対向基板40の各配向規制部が共通電極44に形成された開口部からなるスリットによって構成されていてもよい。また、アクティブマトリクス基板20のスリットは、切欠部によって構成されていてもよい。このような構成であっても、上記参考例2,3及び実施形態と同様の効果を得ることが可能になる。
また、上記参考例2,3及び実施形では、各容量支線26bが各突出部46に重なるように形成されているとしたが、本発明はこれに限られず、各容量支線26bは各スリット36aに重なるように形成されて各スリット36aの一部が各容量支線26bに重なるように形成されていてもよく、複数の配向規制部36a,46の少なくとも一部が各補助容量線26及び各補助容量電極33の少なくとも一部に重なるように形成されていることが好ましい。
このように構成されていれば、付近で液晶分子の配向が乱れやすい複数の配向規制部36a,46の一部が光の透過を遮る各補助容量線26及び各補助容量電極33の少なくとも一部に重なるように形成されているので、その複数の配向規制部36a,46の一部がその他の領域に形成されている場合、つまり複数の配向規制部36a,46が補助容量線26及び補助容量電極33のいずれにも重ならずに形成されている場合に比べて、光の透過率の低下を抑制でき、且つ上記液晶分子の配向が乱れやすい領域からの光漏れが抑制されてコントラストを高めることが可能になる。
上記参考例では、図15に1つの線状に形成された補助容量線26を図示したが、本発明はこれに限られず、各画素領域群23における各ソース電極31が同一のソース線24に接続されると共に各ゲート電極28が互いに異なるゲート線25に接続されたアクティブマトリクス基板20において、上記参考例2と同様に、各補助容量線26が、ゲート線25に沿って延びるように設けられた容量幹線と、その容量幹線から側方に突出するように設けられた容量支線とを有していてもよく、さらに補助容量電極33がこれら容量幹線及び容量支線に重なるように設けられていてもよい。
上記各参考例及び実施形態では、アクティブマトリクス基板20が適用された液晶表示装置Sを例に挙げてそれぞれ説明したが、本発明はこれに限られず、有機エレクトロルミネッセンス表示装置等の他の表示装置に適用することも可能である。
以上説明したように、本発明は、アクティブマトリクス基板及び液晶表示装置について有用であり、特に、ゲート電極とドレイン電極との間の寄生容量によって生じるフィードスルー電圧のばらつきを抑制することが要望されるアクティブマトリクス基板及び液晶表示装置に適している。

Claims (2)

  1. マトリクス状に規定された複数の画素領域と、
    上記各画素領域の間に互いに平行に延びるように設けられた複数のソース線と、
    上記各画素領域の間に上記各ソース線と交差する方向に互いに平行に延びるように設けられた複数のゲート線と、
    上記各ゲート線の間にそれぞれ延びるように設けられた複数の補助容量線と、
    上記各画素領域毎に設けられ、各々、対応する上記ゲート線に電気的に接続されたゲート電極、該ゲート電極に重なるように設けられた半導体層、上記ゲート電極及び上記半導体層に重なるように設けられて対応する上記ソース線に電気的に接続されたソース電極、上記ゲート電極端を跨いで該ゲート電極及び上記半導体層に重なるように設けられたドレイン電極、及び上記ゲート電極を覆い該ゲート電極と上記ドレイン電極との間に設けられた絶縁膜を有する複数の薄膜トランジスタと、
    上記各薄膜トランジスタのドレイン電極と同一の層において、上記各補助容量線に沿って延びると共に該各補助容量線に重なるように上記各画素領域にそれぞれ設けられた補助容量電極とを備えるアクティブマトリクス基板であって、
    上記各補助容量線は、上記絶縁膜によって覆われ、上記ゲート線に沿って延びるように設けられた容量幹線と、上記各画素領域毎に上記容量幹線から側方に突出するように一組だけ設けられた一対の容量支線とを有し、
    上記一対の容量支線は、各々、上記ソース線及びゲート線に対して斜め方向に延び、一端側が上記容量幹線に接続されると共に、他端側に向かうに連れて上記容量幹線から離間するように且つ同一のソース線側に接近するように形成され、
    上記各画素領域の補助容量電極は、上記容量幹線及び容量支線に沿って延びると共に該容量幹線及び容量支線に上記絶縁膜を介して重なるように設けられており、
    上記一対の容量支線に沿う補助容量電極部分において、上記ドレイン電極が上記ゲート電極端を跨いで該ゲート電極の外側から内側に入る方向の一方側の側端は上記容量支線の内側に配置されていると共に、上記ドレイン電極が上記ゲート電極端を跨いで該ゲート電極の内側から外側に出る方向の他方側の側端は上記容量支線の外側に配置されている
    ことを特徴とするアクティブマトリクス基板。
  2. 請求項に記載のアクティブマトリクス基板と、
    上記アクティブマトリクス基板に対向して配置された対向基板と、
    上記アクティブマトリクス基板と上記対向基板との間に設けられた液晶層とを備える
    ことを特徴とする液晶表示装置。
JP2010507127A 2008-04-11 2009-02-04 アクティブマトリクス基板及び液晶表示装置 Expired - Fee Related JP4881475B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010507127A JP4881475B2 (ja) 2008-04-11 2009-02-04 アクティブマトリクス基板及び液晶表示装置

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008103531 2008-04-11
JP2008103531 2008-04-11
JP2010507127A JP4881475B2 (ja) 2008-04-11 2009-02-04 アクティブマトリクス基板及び液晶表示装置
PCT/JP2009/000430 WO2009125532A1 (ja) 2008-04-11 2009-02-04 アクティブマトリクス基板及び液晶表示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2009125532A1 JPWO2009125532A1 (ja) 2011-07-28
JP4881475B2 true JP4881475B2 (ja) 2012-02-22

Family

ID=41161670

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010507127A Expired - Fee Related JP4881475B2 (ja) 2008-04-11 2009-02-04 アクティブマトリクス基板及び液晶表示装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US8264630B2 (ja)
EP (1) EP2261880A4 (ja)
JP (1) JP4881475B2 (ja)
CN (1) CN101911160B (ja)
BR (1) BRPI0906409A2 (ja)
RU (1) RU2434308C1 (ja)
WO (1) WO2009125532A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5443619B2 (ja) * 2010-12-08 2014-03-19 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板および表示装置
WO2013099155A1 (ja) * 2011-12-26 2013-07-04 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板及びそれを備えた液晶表示パネル
KR20130128168A (ko) * 2012-05-16 2013-11-26 삼성전자주식회사 전원공급장치 및 이를 구비한 화상형성장치
JP6124668B2 (ja) 2013-04-26 2017-05-10 三菱電機株式会社 薄膜トランジスタ基板およびその製造方法
US10330994B2 (en) * 2015-06-05 2019-06-25 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate, liquid crystal panel, and method for manufacturing active matrix substrate
CN109791745A (zh) * 2016-09-27 2019-05-21 夏普株式会社 显示面板
US10895791B2 (en) * 2018-03-29 2021-01-19 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate and liquid crystal display device

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06235938A (ja) * 1993-02-10 1994-08-23 Toshiba Corp 液晶表示装置
RU2069417C1 (ru) 1994-06-08 1996-11-20 Акционерное общество открытого типа "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники и завод "Микрон" Способ изготовления тонкопленочных транзисторов матриц жидкокристаллических экранов
JPH09304790A (ja) * 1996-05-14 1997-11-28 Toshiba Corp アクティブマトリクス型液晶表示装置
JP2000002889A (ja) * 1998-06-16 2000-01-07 Mitsubishi Electric Corp 液晶表示装置
JP3881160B2 (ja) 2000-06-27 2007-02-14 株式会社アドバンスト・ディスプレイ Tftアレイ基板およびこれを用いた液晶表示装置
JP2003022057A (ja) * 2001-07-09 2003-01-24 Alps Electric Co Ltd 画像信号駆動回路および画像信号駆動回路を備えた表示装置
KR100469342B1 (ko) * 2001-07-11 2005-02-02 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자
JP2005128190A (ja) * 2003-10-23 2005-05-19 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> 表示用デバイスおよび画像表示装置
KR100995020B1 (ko) 2003-12-27 2010-11-19 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 및 그 제조방법
JP2006154080A (ja) * 2004-11-26 2006-06-15 Sharp Corp 液晶表示装置
TWI311337B (en) 2006-10-02 2009-06-21 Au Optronics Corporatio Multi-domain vertical alignment pixel structure and fabrication method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
CN101911160A (zh) 2010-12-08
WO2009125532A1 (ja) 2009-10-15
US8264630B2 (en) 2012-09-11
RU2434308C1 (ru) 2011-11-20
JPWO2009125532A1 (ja) 2011-07-28
EP2261880A1 (en) 2010-12-15
CN101911160B (zh) 2012-09-26
EP2261880A4 (en) 2011-11-23
BRPI0906409A2 (pt) 2015-10-06
US20100277661A1 (en) 2010-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5371063B2 (ja) 薄膜トランジスタ表示板及びこれを含む液晶表示装置
JP4738000B2 (ja) 液晶表示装置
US8908116B2 (en) Liquid crystal display device
JP5149910B2 (ja) アクティブマトリクス基板及び液晶表示装置
JP4881475B2 (ja) アクティブマトリクス基板及び液晶表示装置
JP5269355B2 (ja) アレイ基板及びそれを有する表示パネル
KR20100022762A (ko) 액정 표시 장치
US9235091B2 (en) Liquid crystal display device and manufacturing method thereof
JP2007052264A (ja) 液晶表示パネル
WO2010103676A1 (ja) アクティブマトリクス基板、表示パネル、表示装置、並びに電子機器
JP4837942B2 (ja) 液晶表示装置
US20090279036A1 (en) Display substrate, a method of manufacturing the same and a display apparatus having the same
JP2011013450A (ja) 液晶表示装置及びその製造方法
TWI406072B (zh) 畫素結構、主動元件陣列基板、顯示面板以及顯示裝置
KR102244836B1 (ko) 컬러필터를 포함하는 어레이 기판
JP6978243B2 (ja) アレイ基板と当該アレイ基板を有する液晶表示装置
JP2007305641A (ja) アクティブマトリクス基板および液晶表示パネル
US10330994B2 (en) Active matrix substrate, liquid crystal panel, and method for manufacturing active matrix substrate
US20230367166A1 (en) Method of manufacturing active matrix substrate and liquid crystal display device
JP2012047840A (ja) 表示装置
JP5154592B2 (ja) 液晶表示装置
WO2019153299A1 (zh) 一种显示屏及终端设备
JP5653669B2 (ja) 表示装置
JP5525705B2 (ja) 液晶表示装置
JP4355556B2 (ja) 液晶表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110412

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110603

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110712

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110907

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111108

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111202

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4881475

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141209

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees