JP4800901B2 - 電圧検出装置及び絶縁インタフェース - Google Patents

電圧検出装置及び絶縁インタフェース Download PDF

Info

Publication number
JP4800901B2
JP4800901B2 JP2006299234A JP2006299234A JP4800901B2 JP 4800901 B2 JP4800901 B2 JP 4800901B2 JP 2006299234 A JP2006299234 A JP 2006299234A JP 2006299234 A JP2006299234 A JP 2006299234A JP 4800901 B2 JP4800901 B2 JP 4800901B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
voltage detection
detection
cpu
line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2006299234A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007187649A (ja
Inventor
肇 岡本
聡 石川
亮輔 川野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yazaki Corp
Original Assignee
Yazaki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yazaki Corp filed Critical Yazaki Corp
Priority to JP2006299234A priority Critical patent/JP4800901B2/ja
Priority to US11/636,499 priority patent/US7405579B2/en
Publication of JP2007187649A publication Critical patent/JP2007187649A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4800901B2 publication Critical patent/JP4800901B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/382Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC
    • G01R31/3835Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC involving only voltage measurements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/396Acquisition or processing of data for testing or for monitoring individual cells or groups of cells within a battery
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/24Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Secondary Cells (AREA)

Description

本発明は、電圧検出装置に係り、特に、車載高圧バッテリを構成する互いに直列接続された複数の単位セルの両端電圧を検出する電圧検出装置に関するものである。
近年、エンジンと電動モータとを併用して走行するハイブリッド自動車(以下HEV)が普及してきている。このHEVは、上記エンジン始動用の12V程度の低圧バッテリと、上記電動モータ駆動用の高圧バッテリとの2種類のバッテリを備えている。上述した高圧バッテリは、ニッケル−水素電池やリチウム電池といった二次電池を単位セルとして、この単位セルを複数直列接続して高電圧を得ている。
上述した高圧バッテリは充放電を繰り返すうちに各単位セルの両端電圧、即ち充電状態(SOC)にばらつきが生じる。バッテリの充放電にあたっては、各単位セルの耐久性や安全確保の観点より、SOC(又は両端電圧)の最も高い単位セルが設定上限SOC(又は上限両端電圧値)に到達した時点で充電を禁止し、SOC(又は両端電圧)の最も低い単位セルが設定下限SOC(又は下限両端電圧値)に到達した時点で放電を禁止する必要がある。従って、各単位セルにSOCのバラツキが生じると、実質上、バッテリの使用可能容量が減少することになる。このため、HEVにおいては、登坂時にガソリンに対してバッテリエネルギーを補充したり、降坂時にバッテリにエネルギーを回生したりする、いわゆるアシスト・回生が不十分となり、実車動力性能や燃費を低下させることになる。そこで、各単位セルのSOCを均等化するために、各単位セルの両端電圧を検出する必要がある。
従来、上述した高圧バッテリを構成する各単位セルの両端電圧を検出する電圧検出装置として図7に示すような装置が考えられている(特許文献1)。図中引用符号Bは低圧バッテリである。低圧バッテリBは、図11に示すように、例えば一つの二次電池から構成されている。
また、図中引用符号Bは高圧バッテリである。上記高圧バッテリBは、エンジンと電動モータMを走行駆動源として併用するHEVにおいて前記電動モータMの電源として用いられ、その両端には電動モータMが必要に応じて負荷として接続されると共にオルタネータ等(図示せず)が必要に応じて充電器として接続される。
高圧バッテリBは、m個(mは任意の整数)のブロックB〜Bに分割されている。各ブロックB〜Bはそれぞれn個(nは任意の整数)の単位セルC11〜Cmnから構成されている。単位セルC11〜Cmnはそれぞれx個(xは任意の整数)の二次電池から構成されている。
電圧検出装置は、電圧検出手段としての電圧検出回路11〜1mと電圧検出制御手段としての低圧系CPU30とを備えている。低圧系CPU30は、低圧バッテリBからの電源供給を受けて動作し、電圧検出回路11〜1mを制御する。電圧検出回路11〜1mは、各ブロックB〜B毎に対応して設けられている。電圧検出回路11〜1mは、複数のブロックB〜Bのうち対応するブロックB〜Bを構成する単位セルC11〜Cmnのみから電源供給を受けて動作する。即ち、上述した電圧検出回路11〜1mは、対応するブロックB〜Bのマイナス側がグランドレベルになり、互いに異なるグランドレベルとなっている。これにより電圧検出回路11〜1mを構成するデバイスの耐圧を下げることができる。
電圧検出回路11〜1mは、単位セルC11〜Cmnの両端に切換回路21を介して接続された差動増幅器OPにより単位セルC11〜Cmnの両端電圧が検出される。差動増幅器OPによって検出された両端電圧はアナログ/デジタル(A/D)変換器22によりデジタル変換され、フォトカプラなどの絶縁インタフェースIF11〜IF1m及びバスラインBL11〜BL1mを介して低圧系CPU30に出力するように構成されている。
切換回路21は、低圧系CPU30から絶縁インタフェースIF31〜IF3m及びバスラインBL31〜BL3mを介して検出命令としての開閉制御信号が供給されると、単位セルC11〜Cmnの両端を順番に差動増幅器OPに接続するようになっている。
また、電圧検出回路11〜1mは、対応するブロックB〜Bの供給電圧から差動増幅器OP及びA/D変換器22の動作電源となる定電圧を出力する高圧系電源回路23と、該高圧系電源回路23−差動増幅器OP及びA/D変換器22間との間に設けた遮断スイッチSc1とを備えている。
低圧系CPU30は、バスラインBL2m及び絶縁インタフェースIF2mを介して電圧検出を行う必要のない間、電圧検出回路11〜1mの遮断スイッチSc1に対してオフ信号を出力する。これに応じて遮断スイッチSc1がオフされると差動増幅器OP及びA/D変換器22に対するブロックB〜Bからの電源供給が遮断され、省電力化を図っている。
特開2000−88898号公報
上述した従来の電圧検出装置は、差動増幅器OPによって検出された各単位セルC11〜Cmnの両端電圧を順番に低圧系CPU30に供給するために、各電圧検出回路11〜1m毎に、即ちブロックB〜Bの数だけ開閉制御信号を出力するための出力端子を低圧系CPU30に設ける必要があった。また、ブロックB〜Bの数だけ開閉制御信号を送信するためのバスラインBL11〜BL1mが必要になっていた。このため、部品点数が増え、低圧系CPU30も大型化して、コスト的に問題があった。
また、従来の構成の電圧検出装置は、低圧系CPU30が遮断スイッチSc1に直接、オフ信号を出力していた。このため、各ブロックB〜B毎にオフ信号を出力する出力端子を低圧系CPU30に設けたり、オフ信号を送信するためのバスラインBL21〜BL2mが必要になっていた。また、開閉制御信号と遮断スイッチSc1のオフ信号とを送信するバスラインBL11〜BL1m、BL21〜BL2mや絶縁インタフェースIF11〜IF1m、IF21〜IF2mをそれぞれ別々に設ける必要があり、これも低圧系CPU30の大型化、コスト高の原因となっていた。
そこで、本発明は、上記のような問題点に着目し、通信ラインを共通化することにより、構成が簡単となりコストダウンを図った電圧検出装置を提供することを課題とする。
上記課題を解決するためになされた請求項1記載の発明は、二次電池から成る単位セルが複数直列接続された高圧バッテリを分割した複数のブロックの一つから電源供給を受けてそのブロックを構成する単位セルの両端電圧を検出して得た検出結果を送信する複数の電圧検出手段と、前記高圧バッテリよりも供給電圧が低い低圧バッテリから電源供給を受けて前記複数の電圧検出手段に対して検出命令を送信する電圧検出制御手段と、前記複数の電圧検出手段の各々と前記電圧検出制御手段との間に設けられた通信ラインと、該通信ライン上に設けられ前記複数の電圧検出手段と前記電圧検出制御手段との間を電気的に絶縁した状態で通信可能にする絶縁インタフェースとを備えた電圧検出装置において、
前記通信ラインが、前記検出命令を送信するための第1通信ラインと、前記検出結果を送信するための第2通信ラインと、を有し、前記第1通信ラインが、一端で前記電圧検出制御手段に接続される第1主線と、前記第1主線の他端から分岐される複数の第1分岐線であって、それらの第1分岐線の他端でそれぞれ前記複数の電圧検出手段に接続される、複数の第1分岐線と、で構成され、前記第2通信ラインが、一端で前記電圧検出制御手段に接続される第2主線と、前記第2主線の他端から分岐される複数の第2分岐線であって、それらの第2分岐線の他端でそれぞれ前記複数の電圧検出手段に接続される、複数の第2分岐線と、で構成され、前記電圧検出制御手段が、前記複数のブロックの一つのアドレスを指定した前記検出命令を、前記第1通信ラインを通して、前記複数の電圧検出手段に対して送信するものであり、前記複数の電圧検出手段が、前記第1通信ラインを通して前記電圧検出制御手段から受信した検出命令に指定されたアドレスが自己のアドレスであるとき前記ブロックの両端電圧を検出するものであり、前記絶縁インタフェースが、前記第1主線の他端に設けられ光又は磁気信号を送信する第1送信素子と、前記第1分岐線の一端に設けられ前記光又は磁気信号を受信する複数の第1受信素子と、前記第2主線の他端に設けられ前記光又は磁気信号を受信する第2受信素子と、前記第2分岐線の一端に設けられ前記光又は磁気信号を送信する複数の第2送信素子とを有し、そして、前記第1送信素子、前記第1受信素子、前記第2送信素子及び前記第2受信素子が、前記第1送信素子及び前記第2送信素子の全てからの前記光又は磁気信号を前記第1受信素子及び前記第2受信素子の全てが受信できるように設けられていることを特徴とする電圧検出装置に存する。
請求項1記載の発明によれば、電圧検出制御手段が複数のブロックの一つのアドレスを指定した検出命令を送信する。検出命令は第1主線と第1分岐線とで構成された第1通信ラインによって分岐され、複数の電圧検出手段に対して同時に送信される。複数の電圧検出手段が電圧検出制御手段から受信した検出命令に指定されたアドレスが自己のアドレスであるとき単位セルの両端電圧を検出する。従って、検出命令にアドレスを指定して送信することにより、検出命令を伝送する第1通信ラインを複数の電圧検出手段毎に複数本設けなくても、別々のタイミングで複数の電圧検出手段に検出を行わせることができる。即ち、1本の第1主線を複数の第2分岐線に分岐した第1通信ラインを用いて検出命令を送信しても、別々のタイミングで複数の電圧検出手段に検出を行わせることができる。
また、請求項記載の発明によれば、複数の電圧検出手段が、第2通信ラインを用いて検出結果を電圧検出制御手段に送信する。第2通信ラインが、第2主線と第2分岐線とで構成されている。従って、検出結果を伝送するための第2通信ラインを複数の電圧検出手段毎に複数本も受ける必要がなく、1本の第2種線を分岐させて設けることができる。
また、請求項記載の発明によれば、第1送信素子、第1受信素子、第2送信素子及び第2受信素子が、第1送信素子及び第2送信素子の全てからの光又は磁気信号を第1受信素子及び第2受信素子の全てが受信できるように設けられているので、第1分岐線、第2分岐線上に絶縁インタフェースを設ける場合に比べて送信素子、受信素子の数を少なくすることができる。
請求項記載の発明は、前記複数の電圧検出手段には、それぞれ互いに抵抗値が異なる外付け抵抗が接続され、前記複数の電圧検出手段が、前記外付け抵抗の抵抗値を自己のアドレスとして認識するものであることを特徴とする請求項に記載の電圧検出装置に存する。
請求項記載の発明によれば、複数の電圧検出手段が、外付け抵抗の抵抗値を自己のアドレスとして認識する。従って、外付け抵抗の抵抗値を自己のアドレスとして認識することにより、電圧検出手段にアドレスを認識するための記憶手段や抵抗を内蔵させる必要がなく、複数の電圧検出手段の構成を共通化することができる。
請求項記載の発明は、前記複数の電圧検出手段が、前記ブロックを構成する単位セルの両端電圧を検出して当該検出結果を出力するセンサ部と、前記検出命令の受信に応じて前記センサ部からの検出結果を前記電圧検出制御手段に送信する制御部とを有し、前記電圧検出制御手段が、前記第1通信ラインを介して遮断命令を送信するものであり、前記制御部が、前記遮断命令を受信すると前記センサ部に対する電源供給を遮断するものであることを特徴とする請求項1又は2に記載の電圧検出装置に存する。
請求項記載の発明によれば、制御部が、検出命令の受信に応じてセンサ部からの検出結果を電圧検出制御手段に送信する。電圧検出制御手段が、前記第1通信ラインを介して遮断命令を送信する。制御部が、遮断命令を受信すると、センサ部に対する電源供給を遮断する。従って、電圧検出制御手段が直接、センサ部に対する電圧供給を遮断せずに、電圧検出手段内の制御部が第1通信ラインを介して遮断命令を受信するとセンサ部に対する電源供給を遮断することにより、遮断命令を伝送するラインとして第1通信ラインを流用することができる。
以上説明したように請求項1記載の発明によれば、検出命令にアドレスを指定して送信することにより、検出命令を伝送する通信ラインを複数の電圧検出手段毎に複数本設けなくても、別々のタイミングで複数の電圧検出手段に検出を行わせることができる。即ち、1本の第1主線を複数の第2分岐線に分岐した第1通信ラインを用いて検出命令を送信しても、別々のタイミングで複数の電圧検出手段に検出を行わせることができるので、構成が簡単となりコストダウンを図ることができる。
また、請求項記載の発明によれば、検出結果を伝送するための第2通信ラインを複数の電圧検出手段毎に複数本も受ける必要がなく、1本の第2種線を分岐させて設けることができるので、構成が簡単となりコストダウンを図ることができる。
また、請求項記載の発明によれば、第1分岐線、第2分岐線上に絶縁インタフェースを設ける場合に比べて送信素子、受信素子の数を少なくすることができるので、構成が簡単となりコストダウンを図ることができる。
請求項記載の発明によれば、外付け抵抗の抵抗値を自己のアドレスとして認識することにより、電圧検出手段にアドレスを認識するための記憶手段や抵抗を内蔵させる必要がなく、複数の電圧検出手段の構成を共通化することができるので、より一層コストダウンを図ることができる。
請求項記載の発明によれば、電圧検出制御手段が直接、センサ部に対する電圧供給を遮断せずに、電圧検出手段内の制御部が第1通信ラインを介して遮断命令を受信するとセンサ部に対する電源供給を遮断することにより、遮断命令を伝送するラインとして第1通信ラインを流用することができるので、より一層構成が簡単となりコストダウンを図ることができる。
参考例
以下、本発明の参考例を図面に基づいて説明する。図1は、本発明の電圧検出装置の参考例を示す回路図である。図中引用符号BLは低圧バッテリ(車載低圧バッテリ)である。低圧バッテリBLは、図1に示すように、例えば一つの二次電池から構成されている。低圧バッテリBLは、エンジンを始動するスタータStの動作電源として用いられ、その両端にはオルタネータ等が必要に応じて充電器として接続される。
また、図中引用符号Bは高圧バッテリである。上記高圧バッテリBは、エンジンと電動モータMを走行駆動源として併用するHEVにおいて前記電動モータMの電源として用いられ、その両端には電動モータMが必要に応じて負荷として接続されると共にオルタネータ等(図示せず)が必要に応じて充電器として接続される。
高圧バッテリBは、m個(mは任意の整数)のブロックB〜Bに分けられている。各ブロックB〜Bはそれぞれn個(nは任意の整数)の単位セルC11〜Cmnから構成されている。単位セルC11〜Cmnはそれぞれx個(xは任意の整数)の二次電池から構成されている。
電圧検出装置は、電圧検出手段としての電圧検出回路11〜1mと電圧検出制御手段としての低圧系CPU30とを備えている。低圧系CPU30は、低圧バッテリBからの電源供給を受けて動作し、電圧検出回路11〜1mを制御する。電圧検出回路11〜1mは、各ブロックB〜B毎に対応して設けられている。電圧検出回路11〜1mは、複数のブロックB〜Bのうち対応するブロックB〜Bを構成する単位セルC11〜Cmnのみから電源供給を受けて動作する。即ち、上述した電圧検出回路11〜1mは、対応するブロックB〜Bのマイナス側がグランドレベルになり、互いに異なるグランドレベルとなっている。これにより電圧検出回路11〜1mを構成するデバイスの耐圧を下げることができる。
電圧検出回路11〜1mはそれぞれ単位セルC11〜Cmnの両端電圧を検出する差動増幅器OPと、各ブロックB〜Bを構成する単位セルC11〜Cmnの一つの両端を差動増幅器OPに接続する選択スイッチ群24と、差動増幅器OPが検出した両端電圧をデジタル変換するA/D変換器22と、上記選択スイッチ群24を制御する制御部としての高圧系CPU25とを備えている。上記選択スイッチ群24は単位セルC11〜Cmnの両端に設けられた常閉のスイッチから構成されている。また、差動増幅器OP及びA/D変換器22が請求項中のセンサ部を構成している。
また、電圧検出回路11〜1mは、対応するブロックB〜Bの供給電圧から上記差動増幅器OP、A/D変換器22及び高圧系CPU25の動作電源となる定電圧を出力する高圧系電源回路23と、該高圧系電源回路23−差動増幅器OP及びA/D変換器22間との間に設けた遮断スイッチSc1とを備えている。この遮断スイッチSc1は高圧系CPU25によってオンオフが制御される。
また、上述した電圧検出回路11〜1mはそれぞれがワンチップで構成されている。また、電圧検出回路11〜1mには外付け抵抗R〜Rが接続されている。外付け抵抗R〜Rは各ブロックB〜Bのアドレスに対応するものであり、各々異なる抵抗値となっている。
また、上述した電圧検出回路11〜1mと低圧系CPU30との間には、第1通信ラインとしての送信用バスラインBL及び第2通信ラインとしての受信用バスラインBLが設けられている。送信用バスラインBLは、一端が低圧系CPU30に接続される第1主線Ltsと、この第1主線Ltsの他端から分岐複数の第1分岐線Lt1〜Ltmとで構成されている。第1分岐線Lt1〜Ltmは、その他端がそれぞれ複数の電圧検出回路11〜1mに接続される。受信用バスラインBLrは、一端が低圧系CPU30に接続される第2主線Lrsと、この第2主線Lrsの他端から分岐された複数の第2分岐線Lr1〜Lrmとで構成されている。第2分岐線Lr1〜Lrmは、その他端がそれぞれ複数の電圧検出回路11〜1mに接続される。また、第1分岐線Lt1〜Ltm上に送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtmが、第2分岐線Lr1〜Lrm上に受信用絶縁インタフェースIFr1〜IFrmがそれぞれ設けられている。即ち、送信用バスラインBL及び受信用バスラインBLの分岐点は、送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtm及び受信用絶縁インタフェースIFr1〜IFrmよりも低圧系CPU30側に設けられている。
絶縁インタフェースIFt1〜IFtm及びIFr1〜IFrmは、電圧検出回路11〜1mと低圧系CPU30とを電気的に絶縁した状態で結合するものである。低圧系CPU30及び電圧検出回路11〜1mは、絶縁インタフェースIFt1〜IFtm及びIFr1〜IFrmによって互いに絶縁した状態で情報の送受信を行うことができる。これにより、高圧バッテリBと低圧バッテリBとの絶縁を保つことができる。絶縁インタフェースIFt1〜IFtm及びIFr1〜IFrmとしては、例えば発光素子及び受光素子から成るフォトカプラといった光を媒体にしたものや、磁気カプラといった磁気を媒体にしたものが公知である。
図2に送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtmとしてフォトカプラを用いたときの図1に示す電圧検出装置の詳細な電気接続図を示す。同図において、電圧検出回路11〜1mの詳細や、受信用絶縁インタフェースIFr1〜IFrm、受信用バスラインBLについては省略してある。同図に示すように、送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtmは、低圧側に設けられた発光素子LEと、高圧側に設けられた受光素子LDとを有している。同図に示すように、低圧バッテリBからの電源はトランジスタTr1のコレクタ−エミッタ間を介して各送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtmの発光素子LEに供給されている。各発光素子LEは互いに並列に接続されている。上記トランジスタTr1のベースは低圧系CPU30に接続され、低圧系CPU30によってオンオフ制御される。低圧系CPU30がトランジスタTr1をオンすると、発光素子LEに低圧バッテリBからの電源が供給されて、発光素子LEが発光する。
一方、受光素子LDは対応するブロックB〜Bを構成する単位セルC11〜Cmn間に接続されている。受光素子LDは発光素子LEからの光を受光するとオンして、高圧系CPU25に電気信号を供給する。以上の構成によれば、低圧系CPU30から電気的に絶縁した状態で電気信号を高圧系CPU25に送信することができる。また、上述した低圧系CPU30とトランジスタTr1のベースとの接続ライン、トランジスタTr1のエミッタと各発光素子LEとの接続ライン及び受光素子LDと高圧系CPU25の接続ラインが送信用バスラインBLを構成していることが明らかである。
図3に受信用絶縁インタフェースIFr1〜IFrmとしてフォトカプラを用いたときの図1に示す電圧検出装置の詳細な電気接続図を示す。同図において、電圧検出回路11〜1mの詳細や、送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtm、送信用バスラインBLについては省略してある。同図に示すように、受信用絶縁インタフェースIFr1〜IFrmは、低圧側に設けられた受光素子LDと、高圧側に設けられた発光素子LEとを有している。同図に示すように、発光素子LEはそれぞれ、トランジスタTr2のコレクタ−エミッタ間を介して対応するブロックB〜Bを構成する単位セルC11〜Cmnから電源供給を受けている。上記トランジスタTr2のベースは各高圧系CPU25に接続され、高圧系CPU25によってオンオフ制御される。高圧系CPU25がトランジスタTr2をオンすると、発光素子LEに対応する各ブロックB〜Bを構成する単位セルC11〜Cmnからの電源が供給されて、発光素子LEが発光する。
一方、受光素子LDは互いに並列に低圧バッテリB−グランド間に接続されている。また、低圧系CPU30からの受信用バスラインBLは低圧系CPU30から複数の電圧検出回路11〜1mに向かって分岐した後、各々が受光素子LDのグランド側に接続されている。受光素子LDは発光素子LEからの光を受光するとオンして、受信用バスラインBLを介して低圧系CPU30に電気信号を供給する。以上の構成によれば、高圧系CPU25から絶縁した状態で電圧信号を低圧系CPU30に送信することができる。また、高圧系CPU25とトランジスタTr2のベースとの接続ライン、トランジスタTr2のエミッタと発光素子LEとの接続ライン及び低圧系CPU30と各受光素子LDのグランド側との接続ラインが受信用バスラインBLを構成していることが明らかである。
上述した構成の電圧検出装置の動作を図4に示す低圧系CPU30の低圧系電圧検出処理手順を示すフローチャート、図5に示す高圧系CPU25の初期処理手順を示すフローチャート及び図6に示す高圧系CPU25の高圧系電圧検出処理手順を示すフローチャートを参照して以下説明する。各高圧系CPU25は、各々高圧系電源回路23からの電源投入に応じて初期処理をスタートして、外付けの抵抗R〜Rの抵抗値を読み取り、自己のアドレスとして図示しない記憶手段に記憶させた(図5のステップS301)後、スリープモードに移行して(ステップS302)、初期処理を終了する。ここでスリープモードとは、低圧系CPU30、高圧系CPU25の動作クロックを通常モード時の高周波クロックから低周波クロックに切り替えることを言う。
一方、低圧系CPU30は、図4に示すように、イグニッションスイッチのオフ後、低圧系電圧検出処理を開始する。まず、低圧系CPU30は、イグニッションスイッチオフ後、高圧バッテリBの電圧が安定するまでの一定時間が経過するのを待つ(ステップS201)。次に、低圧系CPU30は、送信用バスラインBLに対してウエイクアップ信号を出力した後(ステップS202)、電源オン信号を出力し(ステップS203)、さらにその後イネーブル信号を出力する(ステップS204)。ウエイクアップ信号、電源オン信号及びイネーブル信号は、送信用バスラインBLによって分岐され、各送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtmを介して高圧系CPU25に供給される。ウエイクアップ信号、電源オン信号、イネーブル信号はこの順番で全高圧系CPU25に対して送信される。
上記ウエイクアップ信号の供給により、高圧系CPU25は、図6に示すように、高圧系電圧検出処理を開始し、動作クロックを低周波クロックから高周波クロックに切り換えて、スリープモードから通常モードに移行する(ステップS401)。その後、高圧系CPU25は低圧系CPU30からの電源オン信号を受信すると(ステップS402でY)、遮断スイッチSc1をオンする(ステップS403)。これにより各電圧検出回路11〜1mを構成する差動増幅器OP及びA/D変換器22に対して対応する各ブロックB〜Bから電源が供給される。さらに、高圧系CPU25は低圧系CPU30からイネーブル信号を受信すると(ステップS404でY)、受信したタイミングで動作クロックをリセットさせて初期化を行う(ステップS405)。
一方、低圧系CPU30は、図4に示すように、図示しない記憶手段に設けたアドレスエリアYに1を代入した後(ステップS205)、送信用バスラインBLに対してブロックBのアドレスを指定した検出命令を出力する(ステップS206)。検出命令は、送信用バスラインBLによって分岐され、各送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtmを介して高圧系CPU25に供給される。即ち、検出命令は全高圧系CPU25に対して送信される。
一方、高圧系CPU25は、図6に示すように、低圧系CPU30から検出命令を受信すると(ステップS406でY)、その検出命令に指定されたアドレスが自己のアドレスであるか否かを判断する(ステップS407)。自己のアドレスでなかった場合(ステップS407でN)、直ちにステップS409に進む。一方、自己のアドレスであった場合(ステップS407でY)、電圧検出を実行した後(ステップS408)、ステップS409に進む。
電圧検出について詳しく述べると、高圧系CPU25は、選択スイッチ群24を制御してブロックBを構成する単位セルCY1〜CYnの両端を順番に差動増幅器OPに接続する。これによりA/D変換器22から高圧系CPU25に対して単位セルCY1〜CYnの両端電圧のデジタル値が順番に供給される。これに応じて高圧系CPU25は受信用絶縁インタフェースIFrYに対して自己のアドレスを指定した単位セルCY1〜CYnの両端電圧のデジタル値を送信する。受信用絶縁インタフェースIFrYに対して送信された単位セルCY1〜CYnの両端電圧のデジタル値は、受信用バスラインBLを介して低圧系CPU30に受信される。
低圧系CPU30は、ブロックBのアドレスが指定された単位セルCY1〜CYnの両端電圧のデジタル値を受信して、図示しない記憶手段に記憶すると(図4のステップS207)、アドレスエリアYにY+1を代入する(ステップS208)。代入した結果、Yがm以下であれば(ステップS209でN)、低圧系CPU30は再びステップS205に戻る。一方、Yがmより大きければ(ステップS209でY)、低圧系CPU30は全単位セルC11〜Cmnの電圧検出が終了したとして、ステップS210に進む。
次に、低圧系CPU30は、各単位セルC11〜Cmnの両端電圧にバラツキがなければ再度電圧検出が必要ないと判断して(ステップS210でN)、次のステップS211及びS212に進む。一方、低圧系CPU30は、各単位セルC11〜Cmnの両端電圧にバラツキがあれば図示しない均等化装置に均等化命令を出力し、均等化装置から均等化終了を受信すると再度電圧検出が必要であると判断して(ステップS210でY)、再びステップS204に戻ってイネーブル信号を送信する。
ステップS211及びS212において低圧系CPU30は、送信用バスラインBLに対して電源オフ信号(遮断命令)、スリープ命令をこの順に出力した後、処理を終了する。電源オフ信号、スリープ命令は、送信用バスラインBLによって分岐され、各送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtmを介して高圧系CPU25に供給される。即ち、電源オフ信号、スリープ命令は全高圧系CPU25に対して送信される。
上記イネーブル信号を受信すると(図6のステップS409でY)、全高圧系CPU25は、再びステップS405に進む。また、上記電源オフ信号を受信すると(ステップS410でY)、全高圧系CPU25は、遮断スイッチSc1をオフにする(ステップS411)。これにより各電圧検出回路11〜1mを構成する差動増幅器OP及びA/D変換器22に対して対応する各ブロックB〜Bから電源が遮断される。その後、スリープ命令を受信すると(ステップS412でY)、高圧系CPU25は通常モードからスリープモードに移行した後(ステップS413)、処理を終了する。
以上の電圧検出装置によれば、低圧系CPU30が複数のブロックB〜Bの一つのアドレスを指定した検出命令を送信する。検出命令は第1主線Ltsと第1分岐線Lt1〜Ltmとで構成された送信用バスラインBLによって分岐され、複数の電圧検出回路11〜1m内の高圧系CPU25に対して同時に送信される。高圧系CPU25は、低圧系CPU30から受信した検出命令に指定されたアドレスが自己のアドレスであるとき自ブロックの単位セルの両端電圧を検出すると共にその検出結果を低圧系CPU30に対して送信する。一方、高圧系CPU25は、自己のアドレスでないとき検出結果を低圧系CPU30に送信しない。従って、検出命令にアドレスを指定して送信することにより、検出命令を伝送するバスラインを複数の電圧検出手回路11〜1m毎に複数本設けなくても、別々のタイミングで複数の電圧検出手回路11〜1mに検出を行わせることができる。即ち、第1主線Ltsと第1分岐線Lt1〜Ltmとで構成された送信用バスラインBLを用いて検出命令を送信しても、別々のタイミングで複数の電圧検出回路11〜1mに検出を行わせることができるので、構成が簡単となりコストダウンを図ることができる。
また、以上の電圧検出装置によれば、複数の電圧検出回路11〜1m内の高圧系CPU25が、受信用バスラインBLを用いて検出結果を低圧系CPU30に送信する。受信用バスラインBLが、第2主線Lrsと第2分岐線Lr1〜Lrmとで構成されている。従って、検出結果を伝送するための受信用バスラインBLを、複数の電圧検出回路11〜1m毎に複数本設ける必要がなく、1本の第2主線Lrsを分岐させて設けることができ、構成が簡単となりコストダウンを図ることができる。
また、上述した電圧検出装置によれば、第1主線Ltsと第1分岐線Lt1〜Ltmとの分岐点が送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtmよりも低圧系CPU30側に設けられている。また、第2主線Lrsと第2分岐線Lr1〜Lrmとの分岐点が受信用絶縁インタフェースIFr1〜IFrmよりも低圧系CPU30側に設けられている。これにより、低圧系CPU30は、対応するブロックB〜Bを構成する単位セルC11〜Cmnのみから電源供給を受けている、即ち、互いにグランドレベルが異なる複数の電圧検出回路11〜1mと送信用バスラインBL及び受信用バスラインBLを用いて通信することができ、第1、第2主線Lts、Lrsから分岐した第1、第2分岐線Lt1〜Ltm、Lr1〜Lrmで構成される送信用バスラインBL及び受信用バスラインBLを用いても電圧検出回路11〜1mの耐圧を下げることができる。
また、上述した電圧検出装置によれば、複数の電圧検出回路11〜1mが、外付け抵抗R〜Rの抵抗値を自己のアドレスとして認識する。従って、外付け抵抗R〜Rの抵抗値を自己のアドレスとして認識することにより、電圧検出回路11〜1mにアドレスを認識するための記憶手段や抵抗を内蔵させる必要がなく、複数の電圧検出回路11〜1mの構成を全て共通化して、コストダウンを図ることができる。
また、上述した電圧検出装置によれば、低圧系CPU30が、送信用バスラインBLを介して遮断命令を送信する。高圧系CPU25が、遮断命令を受信すると、差動増幅器OP及びA/D変換器22に対する電源供給を遮断する。従って、低圧系CPU30が直接、差動増幅器OP及びA/D変換器22に対する電源供給を遮断せずに、電圧検出回路11〜1m内の高圧系CPU25が送信用バスラインBLを介して遮断命令を受信すると差動増幅器OP及びA/D変換器22に対する電源供給を遮断することにより、遮断命令を伝送するラインとして送信用バスラインBLを流用して、コストダウンを図ることができる。
なお、上述した参考例では、電圧検出手段を構成するセンサ部としては、差動増幅器を用いたものについて説明していたが、本発明はこれに限ったものではない。センサ部としては、単位セルC11〜Cmnの両端電圧に応じた電気信号を出力するものであればよく、例えば分圧抵抗を用いたものであってもよい。
また、上述した参考例のように、遮断命令を伝送するラインとして送信用バスラインBLtを用いるのが最適であるが、本発明はこれに限ったものではない。即ち、検出命令を送信する送信用バスラインBLtとは別のラインを用いて遮断命令を送信するようにしてもよい。
また、上述した参考例によれば、高圧系CPU25は、外付け抵抗R1〜Rmの抵抗値そのものを自己のアドレスとして認識していたが、本発明はこれに限ったものではない。例えば、電圧検出回路11〜1m内に外付け抵抗R1〜Rmの抵抗値とコード化したアドレスとの関係を示すテーブルを予め記憶手段内を内蔵させ、高圧系CPU25は、記憶手段から外付け抵抗R1〜Rmの抵抗値に対応するアドレスを読み取り、読み取ったアドレスを自己のアドレスと認識させてもよい。この場合も全ての電圧検出回路11〜1mに同じテーブルを記憶させる構成となるため、複数の電圧検出回路11〜1mの構成を全て共通化することができる。
また、上述した参考例によれば、高圧系CPU25は、外付け抵抗R1〜Rmの抵抗値により自己のアドレスを認識していたが、本発明はこれに限ったものではない。つまり、予め電圧検出回路11〜1m内に自己アドレスを記憶した記憶手段や自己アドレスに応じた抵抗値の抵抗を内蔵するようにしてもよい。
第1実施形態
なお、上述した参考例によれば、送信用バスラインBLt及び受信用バスラインBLrのラインを分岐させて、第1、第2分岐線Lt1〜Ltm、Lr1〜Lrm上に送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtm及び受信用絶縁インタフェースIFr1〜IFrmとを設けていた。これに対して、本発明は、図7に示すように、送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtm及び受信用絶縁インタフェースIFr1〜IFrmを用いて送信用バスラインBLt及び受信用バスラインBLrを分岐させている。
図7において、図1について上述した参考例と同等の部分には同一符号を付してその詳細な説明は省略している。また、電圧検出回路11〜1mの詳細については省略してある。参考例と同様に、送信用バスラインBLtは、一端が低圧系CPU30に接続される第1主線Ltsとこの第1主線Ltsから分岐され他端がそれぞれ複数の電圧検出回路11〜1mの高圧系CPU25に接続される複数の第1分岐線Lt1〜Ltmとで構成されている。
受信用バスラインBLも同様に、一端が低圧系CPU30に接続される第2主線Lrsとこの第2主線Lrsから分岐され他端がそれぞれ複数の電圧検出回路11〜1mの高圧系CPU25に接続される複数の第2分岐線Lr1〜Lrmとで構成されている。
第2実施形態では、絶縁インタフェースIFの構成が異なる。絶縁インタフェースIFは、第1主線Ltsの他端に設けられ光信号を送信する第1発光素子LE(第1送信素子)と、第1分岐線Lt1〜Ltmの一端にそれぞれ設けられ光信号を受信する複数の第1受光素子LD1〜LDm(第1受信素子)と、第2主線Lrsの他端に設けられ光信号を受信する第2受光素子LD0(第2受信素子)と、第2分岐線Lrs〜Lrmの一端にそれぞれ設けられ光信号を送信する複数の第2発光素子LE〜LE(第2送信素子)とを有している。
また、第1発光素子LE及び第2発光素子LE〜LEの全てからの光信号を複数の第1受光素子LD1〜LDmと第2受光素子LD0との全てが受信できるように、第1発光素子LE、第2発光素子LE〜LE、第1受光素子LD〜LD及び第2受光素子LDが配置されている。
具体的には、図8に示すように、絶縁インタフェースIFは、集積回路の基板B上に第1発光素子LE及び第2発光素子LE〜LEを並べた発光列と、第1受光素子LD〜LD及び第2受光素子LDを並べた受光列とを互いに並列配置して1パッケージで設けられる。さらに、第1発光素子LE及び第2発光素子LE〜LEの光軸を受光列に向けて、第1受光素子LD〜LD及び第2受光素子LDの受光軸を発光列に向けることが考えられる。
また、第1発光素子LE、第2発光素子LE〜LE、第1受光素子LD〜LD及び第2受光素子LDを搭載する基板に対向する位置に反射部材を設け、第1発光素子LE及び第2発光素子LE〜LEの光軸及び第1受光素子LD〜LD及び第2受光素子LDの受光軸を反射部材に向けることも考えられる。
具体的な配線としては、図9(A)に示すように、第1発光素子LEは、低圧系CPU30によってオンオフ制御されるトランジスタTr1を介して低圧バッテリBからの電源供給を受けている。そして、低圧系CPU30がトランジスタTr1をオンすると、第1発光素子LEに低圧バッテリBからの電源が供給されて、発光素子LEが発光する。第2受光素子LD0は、低圧バッテリB間に接続されて、光信号を受光するとオンして第2主線Ltsを介して低圧系CPU30に電気信号を供給する。
一方、第2発光素子LE〜LEは、図9(B)に示すように、対応する高圧系CPU25によってオンオフされるトランジスタTrY(Yは任意の整数)を介して各ブロックB1〜Bmから電源供給を受けている。そして、高圧系CPU25がトランジスタTrYをオンすると、第2発光素子LEに対応するブロックBからの電源が供給されて、第2発光素子LEが発光する。第1受光素子LD〜LDは、対応するブロックB間に接続されて、光信号を受光するとオンして第2分岐線Lr1〜Lrmを介して高圧系CPU25に電気信号を供給する。
上述した構成の電圧検出装置によれば、低圧系CPU30が、第1主線Ltsを通して第1発光素子LEの発光を制御してブロックBのアドレスを指定した検出命令を出力すると、全ての第1受光素子LD1〜LDmが検出命令を受信して第1分岐線Lt1〜Ltmを通して電圧検出回路11〜1mに伝送される。
一方、高圧系CPU25がそれぞれ、第2分岐線Lr1〜Lrmを通して第2発光素子LD1〜LDmの発光を制御して自己のアドレスを指定した検出結果を出力すると、第2受光素子LD0が検出結果を受信して第2主線Ltsを通して低圧系CPU30に伝送される。
参考例に示すように、第1分岐線Lt1〜Ltm及び第2分岐線Lr1〜Lrm上に送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtm及び受信用絶縁インタフェースIFr1〜IFrmを設ける場合、発光素子、受光素子がそれぞれ2m個ずつ必要であった。これに対して、第2実施形態に示す構成では、発光素子、受光素子がそれぞれ(m+1)個ずつとなり、送信素子、受信素子の数を少なくなり、コストダウンを図ることができる。
なお、上述した第1実施形態では、参考例と同様に動作させていたが、本発明はこれに限ったものではない。第1実施形態によれば、第1発光素子LE0の光信号を第2受光素子LD0も受信することができる。これを利用して、第1発光素子LE0から出力される検出命令を第2受光素子LD0で受光できるか否かによって第1発光素子LE0、第2受光素子LD0の故障判断を低圧系CPU30にさせることも考えられる。
また、上述した第1実施形態では、絶縁インタフェースIFとしてフォトカプラを用い、送信手段として発光素子、受信手段として受光素子を用いていたが、本発明はこれに限ったものではない。例えば、絶縁インタフェースIFとして、送信手段が磁気信号を送信し、受信手段が磁気信号を受信する磁気カプラを用いても良い。
第2実施形態
また、上述した第1実施形態によれば、図8に示すように、1パッケージの絶縁インタフェースIFは、発光素子LE0及び第2発光素子LE1〜LEmの両端にそれぞれ接続される端子と、第1受光素子LD1〜LDm及び第2受光素子LD0の両端にそれぞれ接続される端子とを設けていたが、本発明はこれに限ったものではない。例えば、図10に示すように設けてもよい。
図10において、図1について上述した参考例と同等の部分には同一符号を付してその詳細な説明は省略している。また、図10ではブロックが2つの場合について説明する。電圧検出回路11、12の詳細については省略してある。参考例と同様に、送信用バスラインBLtは、一端が低圧系CPU30に接続される第1主線Ltsとこの第1主線Ltsから分岐され他端がそれぞれ2つの電圧検出回路11、12の高圧系CPU25に接続される複数の第1分岐線Lt1、Lt2とで構成されている。
受信用バスラインBLrも同様に、一端が低圧系CPU30に接続される第2主線Lrsとこの第2主線Lrsから分岐され他端がそれぞれ複数の電圧検出回路11、12の高圧系CPU25に接続される複数の第2分岐線Lr1、Lr2とで構成されている。第2実施形態では、絶縁インタフェースIFの構成が異なる。絶縁インタフェースIFは、ブロックの数+1個分、即ち3つの絶縁デバイスD1〜D3が1パッケージにして設けられている。絶縁デバイスD1〜D3は各々、発光素子LE及び受光素子LDから構成されている。絶縁デバイスD1〜D3は、単一光媒体によってパッケージされている。
絶縁インタフェースIFは、絶縁デバイスD〜Dを構成する発光素子LE及び受光素子LDの両端のうち何れか一方の端部が共通接続された共通端子Tと絶縁デバイスD1〜D3を構成する発光素子LE及び受光素子LDの両端の他方の端部が各々接続された端子Tとを有する。
絶縁デバイスDの共通端子Tcは、低圧系CPU30を介して高圧バッテリBからの電源に接続されている。絶縁デバイスDの発光素子LEが接続された端子Tは、第1主線Ltsに接続されている。絶縁デバイスDの受光素子LDが接続された端子Tは、第2主線Lrsに接続されている。
絶縁デバイスD、Dの共通端子Tcは各々、電圧検出回路11、12を介して各ブロックB、Bからの電源に接続されている。絶縁デバイスD、Dの発光素子LEが接続された端子Tは、第1分岐線Lt1、Lt2に接続されている。絶縁デバイスD、Dの受光素子LDが接続された端子Tは、第2分岐線Lr1、Lr2に接続されている。
また、絶縁インタフェースIFは、発光素子LEの全てからの光を受光素子LDの全てが受光できるように設けられている。
上述した構成の電圧検出装置によれば、低圧系CPU30が、第1主線Ltsを通して絶縁デバイスDの発光素子LEの発光を制御してブロックBのアドレスを指定した検出命令を出力すると、全ての絶縁デバイスD、Dの受光素子LDが検出命令を受信して第1分岐線Lt1、Lt2を通して電圧検出回路11、12に伝送される。
一方、高圧系CPU25がそれぞれ、第2分岐線Lr1、Lr2を通して絶縁デバイスD、Dの発光素子LDの発光を制御して自己のアドレスを指定した検出結果を出力すると、絶縁デバイスDの受光素子LDが検出結果を受信して第2主線Ltsを通して低圧系CPU30に伝送される。
参考例に示すように、第1分岐線Lt1〜Ltm及び第2分岐線Lr1〜Lrm上に送信用絶縁インタフェースIFt1〜IFtm及び受信用絶縁インタフェースIFr1〜IFrmを設ける場合、発光素子、受光素子がそれぞれ2m個ずつ必要であった。これに対して、第3実施形態に示す構成では、発光素子、受光素子がそれぞれ(m(ブロックの数)+1)個ずつとなり、送信素子、受信素子の数を少なくなり、コストダウンを図ることができる。
また、第2実施形態によれば、共通端子Tcが絶縁デバイスD1〜D3を構成する発光素子LE及び受光素子LDの両端のうち何れか一方の端部が共通接続されているので、図8に示す第1実施形態に比べて端子の数を少なくすることができ、コストダウンを図ることができる。
また、第2実施形態によれば、絶縁デバイスD1〜D3が、単一光媒体によってパッケージされるので、より構成が簡単となり、コストダウンを図ることができる。
また、前述した実施形態は本発明の代表的な形態を示したに過ぎず、本発明は、実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
本発明の電圧検出装置の参考例を示す回路図である。 送信用絶縁インタフェースとしてフォトカプラを用いたときの図1に示す電圧検出装置の詳細な電気接続図である。 受信用絶縁インタフェースとしてフォトカプラを用いたときの図1に示す電圧検出装置の詳細な電気接続図である。 図1に示す電圧検出装置を構成する低圧系CPU30の電圧検出処理手順を示すフローチャートである。 図1に示す電圧検出装置を構成する高圧系CPU25の初期処理手順を示すフローチャートである。 図1に示す電圧検出装置を構成する高圧系CPU25の電圧検出処理手順を示すフローチャートである。 本発明の電圧検出装置の第1実施形態を示す回路図である。 図7に示す絶縁インタフェースを構成する発光素子、受光素子の詳細な配置図である。 (A)及び(B)は各々、図7に示す電圧検出装置の詳細な電気接続図である。 本発明の電圧検出装置の第2実施形態を示す回路図である。 従来の電圧検出装置の一例を示す回路図である。
符号の説明
低圧バッテリ(車載低圧バッテリ)
高圧バッテリ(車載高圧バッテリ)
〜B ブロック
BL 送信用バスライン(第1通信ライン)
BL 受信用バスライン(第2通信ライン)
11〜Cmn 単位セル
IFt1〜IFtm 送信用絶縁インタフェース(絶縁インタフェース)
IFr1〜IFrm 受信用絶縁インタフェース(絶縁インタフェース)
IF 絶縁インタフェース
ts 第1主線
t1〜Ltm 第1分岐線
rs 第2主線
r1〜Lrm 第2分岐線
LE 第1発光素子(第1送信素子)
LE〜LE 第2発光素子(第2送信素子)
LD 第2受光素子(第2受信素子)
LD〜LD 第1受光素子(第1受信素子)
OP 差動増幅器(センサ部)
〜R 外付け抵抗
11〜1m 電圧検出回路(電圧検出手段)
22 A/D変換器(センサ部)
25 高圧系CPU(制御部)
30 低圧系CPU(電圧検出制御手段)

Claims (3)

  1. 二次電池から成る単位セルが複数直列接続された高圧バッテリを分割した複数のブロックの一つから電源供給を受けてそのブロックを構成する単位セルの両端電圧を検出して得た検出結果を送信する複数の電圧検出手段と、前記高圧バッテリよりも供給電圧が低い低圧バッテリから電源供給を受けて前記複数の電圧検出手段に対して検出命令を送信する電圧検出制御手段と、前記複数の電圧検出手段の各々と前記電圧検出制御手段との間に設けられた通信ラインと、該通信ライン上に設けられ前記複数の電圧検出手段と前記電圧検出制御手段との間を電気的に絶縁した状態で通信可能にする絶縁インタフェースとを備えた電圧検出装置において、
    前記通信ラインが、前記検出命令を送信するための第1通信ラインと、前記検出結果を送信するための第2通信ラインと、を有し、
    前記第1通信ラインが、一端で前記電圧検出制御手段に接続される第1主線と、前記第1主線の他端から分岐される複数の第1分岐線であって、それらの第1分岐線の他端でそれぞれ前記複数の電圧検出手段に接続される、複数の第1分岐線と、で構成され、
    前記第2通信ラインが、一端で前記電圧検出制御手段に接続される第2主線と、前記第2主線の他端から分岐される複数の第2分岐線であって、それらの第2分岐線の他端でそれぞれ前記複数の電圧検出手段に接続される、複数の第2分岐線と、で構成され、
    前記電圧検出制御手段が、前記複数のブロックの一つのアドレスを指定した前記検出命令を、前記第1通信ラインを通して、前記複数の電圧検出手段に対して送信するものであり、
    前記複数の電圧検出手段が、前記第1通信ラインを通して前記電圧検出制御手段から受信した検出命令に指定されたアドレスが自己のアドレスであるとき前記ブロックの両端電圧を検出するものであり、
    前記絶縁インタフェースが、前記第1主線の他端に設けられ光又は磁気信号を送信する第1送信素子と、前記第1分岐線の一端に設けられ前記光又は磁気信号を受信する複数の第1受信素子と、前記第2主線の他端に設けられ前記光又は磁気信号を受信する第2受信素子と、前記第2分岐線の一端に設けられ前記光又は磁気信号を送信する複数の第2送信素子とを有し、そして、
    前記第1送信素子、前記第1受信素子、前記第2送信素子及び前記第2受信素子が、前記第1送信素子及び前記第2送信素子の全てからの前記光又は磁気信号を前記第1受信素子及び前記第2受信素子の全てが受信できるように設けられていることを特徴とする電圧検出装置。
  2. 前記複数の電圧検出手段には、それぞれ互いに抵抗値が異なる外付け抵抗が接続され、
    前記複数の電圧検出手段が、前記外付け抵抗の抵抗値を自己のアドレスとして認識するものであることを特徴とする請求項に記載の電圧検出装置。
  3. 前記複数の電圧検出手段が、前記ブロックを構成する単位セルの両端電圧を検出して当該検出結果を出力するセンサ部と、前記検出命令の受信に応じて前記センサ部からの検出結果を前記電圧検出制御手段に送信する制御部とを有し、
    前記電圧検出制御手段が、前記第1通信ラインを介して遮断命令を送信するものであり、
    前記制御部が、前記遮断命令を受信すると前記センサ部に対する電源供給を遮断するものであることを特徴とする請求項1又は2に記載の電圧検出装置。
JP2006299234A 2005-12-12 2006-11-02 電圧検出装置及び絶縁インタフェース Active JP4800901B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006299234A JP4800901B2 (ja) 2005-12-12 2006-11-02 電圧検出装置及び絶縁インタフェース
US11/636,499 US7405579B2 (en) 2005-12-12 2006-12-11 Voltage detector and insulator interface

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005357307 2005-12-12
JP2005357307 2005-12-12
JP2006299234A JP4800901B2 (ja) 2005-12-12 2006-11-02 電圧検出装置及び絶縁インタフェース

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007187649A JP2007187649A (ja) 2007-07-26
JP4800901B2 true JP4800901B2 (ja) 2011-10-26

Family

ID=38138654

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006299234A Active JP4800901B2 (ja) 2005-12-12 2006-11-02 電圧検出装置及び絶縁インタフェース

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7405579B2 (ja)
JP (1) JP4800901B2 (ja)

Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101124179B1 (ko) 2003-04-09 2012-03-27 가부시키가이샤 니콘 노광 방법 및 장치, 그리고 디바이스 제조 방법
TWI457712B (zh) 2003-10-28 2014-10-21 尼康股份有限公司 照明光學裝置、投影曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法
TWI512335B (zh) 2003-11-20 2015-12-11 尼康股份有限公司 光束變換元件、光學照明裝置、曝光裝置、以及曝光方法
TWI360837B (en) 2004-02-06 2012-03-21 Nikon Corp Polarization changing device, optical illumination
EP1881521B1 (en) 2005-05-12 2014-07-23 Nikon Corporation Projection optical system, exposure apparatus and exposure method
WO2008107737A1 (en) * 2007-03-05 2008-09-12 Nokia Corporation Providing feedback in an electronic circuit
FR2916049B1 (fr) * 2007-05-11 2009-07-03 Commissariat Energie Atomique Procede de diagnostic d'elements defectueux dans un systeme autonome, alimente par une source d'alimentation intermittente
JP5080153B2 (ja) * 2007-07-04 2012-11-21 矢崎総業株式会社 異常検出装置
CN101755188A (zh) 2007-07-18 2010-06-23 株式会社尼康 测量方法、载台装置、及曝光装置
US7755326B1 (en) * 2007-07-31 2010-07-13 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Battery monitoring and charging system
JP5267029B2 (ja) 2007-10-12 2013-08-21 株式会社ニコン 照明光学装置、露光装置及びデバイスの製造方法
US8379187B2 (en) 2007-10-24 2013-02-19 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9116346B2 (en) 2007-11-06 2015-08-25 Nikon Corporation Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP2009159649A (ja) * 2007-12-25 2009-07-16 Hitachi Ltd 蓄電装置制御システム及びそれを用いた鉄道車両
JP5582678B2 (ja) 2007-12-25 2014-09-03 矢崎総業株式会社 電圧検出装置
JP5496191B2 (ja) * 2008-07-01 2014-05-21 エルエスアイ コーポレーション フラッシュ・メモリにおける書き込み側セル間干渉軽減のための方法および装置
KR100995075B1 (ko) * 2008-08-26 2010-11-18 삼성에스디아이 주식회사 배터리 관리 시스템 및 그 구동 방법
US8261158B2 (en) 2009-03-13 2012-09-04 Fusion-Io, Inc. Apparatus, system, and method for using multi-level cell solid-state storage as single level cell solid-state storage
US8266503B2 (en) 2009-03-13 2012-09-11 Fusion-Io Apparatus, system, and method for using multi-level cell storage in a single-level cell mode
JP5099085B2 (ja) * 2009-07-28 2012-12-12 株式会社デンソー 組電池の状態監視装置
JPWO2011024477A1 (ja) * 2009-08-31 2013-01-24 三洋電機株式会社 バッテリモジュール、バッテリシステムおよび電動車両
US8315092B2 (en) * 2010-01-27 2012-11-20 Fusion-Io, Inc. Apparatus, system, and method for determining a read voltage threshold for solid-state storage media
US8661184B2 (en) 2010-01-27 2014-02-25 Fusion-Io, Inc. Managing non-volatile media
US8854882B2 (en) 2010-01-27 2014-10-07 Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc Configuring storage cells
US8380915B2 (en) 2010-01-27 2013-02-19 Fusion-Io, Inc. Apparatus, system, and method for managing solid-state storage media
US9245653B2 (en) 2010-03-15 2016-01-26 Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc Reduced level cell mode for non-volatile memory
JP5508923B2 (ja) * 2010-04-09 2014-06-04 日立ビークルエナジー株式会社 蓄電モジュール
US8766653B2 (en) * 2011-03-15 2014-07-01 Automotive Research & Testing Center Measuring device for measuring insulation resistance of an electric vehicle
JP5639942B2 (ja) * 2011-03-28 2014-12-10 カヤバ工業株式会社 蓄電装置及びハイブリッド建設機械
JP5647926B2 (ja) * 2011-03-29 2015-01-07 カヤバ工業株式会社 蓄電装置
US9399402B2 (en) 2011-04-21 2016-07-26 Lear Corporation Proximity detection circuit for on-board vehicle charger
US9211798B2 (en) 2011-07-28 2015-12-15 Lear Corporation Multistage power supply system and method for providing uninterrupted power to vehicle circuitry
JP5844106B2 (ja) * 2011-09-28 2016-01-13 三洋電機株式会社 車両用の電源装置とこの電源装置を備える車両
US9233611B2 (en) * 2011-11-10 2016-01-12 Lear Corporation Proximity detection circuit having short protection
US9440538B2 (en) 2011-11-11 2016-09-13 Lear Corporation Housekeeping circuit having trickle charge capabilities
JP5620428B2 (ja) * 2012-03-26 2014-11-05 株式会社東芝 電池セル監視回路、および電池セル監視システム
US9341665B2 (en) * 2012-04-18 2016-05-17 Lear Corporation Method and apparatus for high voltage isolation monitor for a vehicle
US8571738B1 (en) 2012-06-13 2013-10-29 Jtt Electronics Ltd Automotive vehicle battery power system monitoring systems, apparatus and methods
US8804415B2 (en) 2012-06-19 2014-08-12 Fusion-Io, Inc. Adaptive voltage range management in non-volatile memory
JP6156029B2 (ja) * 2013-09-30 2017-07-05 株式会社Gsユアサ 状態監視装置、状態監視方法
JP5850017B2 (ja) * 2013-10-15 2016-02-03 株式会社デンソー バッテリ監視装置
KR102291153B1 (ko) * 2014-10-31 2021-08-19 현대모비스 주식회사 오접속 보호회로를 구비하는 dc-dc 컨버터
JP2017049199A (ja) * 2015-09-04 2017-03-09 トヨタ自動車株式会社 電圧監視装置
DE102016105544A1 (de) * 2016-03-24 2017-09-28 Epcos Ag Vorrichtung zur Messung eines Zustands eines elektrischen Schalters, elektrischer Schalter und Verfahren zur Messung eines Zustands eines elektrischen Schalters
CN111624451B (zh) * 2019-02-28 2021-06-08 宁德时代新能源科技股份有限公司 储能***及其绝缘检测方法
CN113777521B (zh) * 2020-05-22 2023-05-09 宁德时代新能源科技股份有限公司 高压互锁电路及其检测方法

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05216501A (ja) * 1992-02-06 1993-08-27 Toshiba Corp デジタル制御装置の出力回路
JPH08140204A (ja) * 1994-11-08 1996-05-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 組電池の監視装置
JP3293410B2 (ja) * 1995-06-09 2002-06-17 松下電器産業株式会社 組電池の監視装置
JP3339252B2 (ja) * 1995-06-14 2002-10-28 松下電器産業株式会社 組電池の監視装置
JPH11230997A (ja) * 1997-12-10 1999-08-27 Yazaki Corp 電気自動車用電圧センサ
JP4003278B2 (ja) * 1998-02-20 2007-11-07 ソニー株式会社 電池の電圧検出回路と電池の電圧検出方法
JPH11341689A (ja) * 1998-05-25 1999-12-10 Seiko Instruments Inc バッテリー状態監視回路及びバッテリー装置
JPH11355904A (ja) * 1998-06-08 1999-12-24 Honda Motor Co Ltd バッテリ状態検出装置およびバッテリ状態検出ユニット
JP3360613B2 (ja) * 1998-06-25 2002-12-24 トヨタ自動車株式会社 電池制御装置
JP2000057430A (ja) * 1998-08-07 2000-02-25 Sanyo Electric Co Ltd 自動販売機の制御装置
JP3674328B2 (ja) * 1998-09-03 2005-07-20 日産自動車株式会社 電気車用組電池制御装置
JP4146548B2 (ja) * 1998-09-11 2008-09-10 松下電器産業株式会社 電池電圧の検出装置
JP2001289886A (ja) * 2000-04-03 2001-10-19 Sanyo Electric Co Ltd 電池電圧測定装置
JP2002042906A (ja) * 2000-07-21 2002-02-08 Honda Motor Co Ltd 電池電圧検出装置及び該装置を用いたハイブリッド車両の制御装置
JP2002185033A (ja) * 2000-12-18 2002-06-28 Yokogawa Electric Corp 多チャンネル型の半導体リレー及びフォトカプラ
JP3823840B2 (ja) * 2002-02-14 2006-09-20 日産自動車株式会社 組電池の電圧検出装置
JP4256807B2 (ja) * 2004-03-22 2009-04-22 矢崎総業株式会社 スイッチング回路及び個別電圧計測装置
US7521896B2 (en) * 2004-07-20 2009-04-21 Panasonic Ev Energy Co., Ltd. Abnormal voltage detector apparatus for detecting voltage abnormality in assembled battery
US20060103350A1 (en) * 2004-11-12 2006-05-18 Akku Power Electronic Co., Ltd. [an equalizing-charge charger]
JP5050325B2 (ja) * 2005-07-12 2012-10-17 日産自動車株式会社 組電池用制御装置
JP5048963B2 (ja) * 2006-04-06 2012-10-17 パナソニック株式会社 電池システム

Also Published As

Publication number Publication date
US7405579B2 (en) 2008-07-29
JP2007187649A (ja) 2007-07-26
US20070132457A1 (en) 2007-06-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4800901B2 (ja) 電圧検出装置及び絶縁インタフェース
US8140281B2 (en) Voltage detecting device
JP4490926B2 (ja) 電圧検出装置
JP4490928B2 (ja) 電圧検出装置
JP4374351B2 (ja) 充電状態調整装置
JP5080153B2 (ja) 異常検出装置
JP5202918B2 (ja) 電池電圧調整装置
JP4917494B2 (ja) 電圧調整装置
US8278878B2 (en) Voltage detection apparatus
US8193763B2 (en) Battery apparatus, battery control apparatus, and motor drive unit
JP5535531B2 (ja) 断線検出装置
KR20180045954A (ko) 배터리 관리 시스템 및 그 제어방법
US20180013297A1 (en) Battery management system for vehicle
US8428896B2 (en) Malfunction detecting apparatus
JP5513138B2 (ja) 基板
JP2007212282A (ja) 電圧検出装置
JP2009058363A (ja) 電圧検出装置
JP7021646B2 (ja) 電池監視装置
JP2010256155A (ja) 断線検出装置
JP5416491B2 (ja) 断線検出装置
JP6048300B2 (ja) 電池監視装置、及び、電池ユニット
JP2017005889A (ja) 電池パック
KR101573629B1 (ko) 차량의 시동 제어 장치 및 방법
JP7164059B2 (ja) 電池監視装置
JP2023010707A (ja) 電池監視装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091028

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110506

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110517

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110708

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110802

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110804

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140812

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4800901

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250