JP4645741B2 - 電子制御装置 - Google Patents
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Description
図1に、第1実施形態によるマイクロコンピュータ(以下、「マイコン」ともいう。)10を示す。
電子制御装置としてのマイコン10は、CPU20、ROM30、RAM40、レジスタ50、図示しないフラッシュメモリ等を中心として構成されている。マイコン10は、例えば車両に搭載され、車両の燃料噴射弁、ブレーキ、ドア等の制御対象に対する制御を実施する。
次に、ROM30に記憶されているデータが正常であるか異常であるかをチェックするデータチェックについて説明する。ROM30の記憶領域は、前述した制御部32と監視部34と予備36とによる機能分割とは別に、図2に示すように複数の所定容量の分割領域に分割されている。図2では、ROM30の記憶領域は分割領域A〜分割領域Zに分割されているが、分割数はこれに限るものではない。図2において、予備36は省略されている。
図3から図5にマイコン監視ルーチンを示す。マイコン10は、ROM30の監視部34に記憶されている監視プログラムをCPU20が実行することにより、演算手段、判定手段、再試行手段として機能する。図3から図5において「S」はステップを表している。図3から図5に示すマイコン監視ルーチンは、システムの立ち上げ時、あるいは、通常制御実行中の所定タイミングで実行される。
図3に示すマイコン監視のメインルーチンでは、S300においてCPU20は、マイコン監視処理を実施する。マイコン監視処理の詳細については図4および図5で説明する。マイコン監視処理の結果、マイコン10が正常であれば(S302:Yes)、S304においてCPU20は、制御部32に記憶されている制御プログラムによる通常制御の実施を許可して本ルーチンを終了する。マイコン10が異常であれば(S302:No)、S306においてCPU20は、マイコン10による車両制御を中止して本ルーチンを終了する。
図3に示すS300のマイコン監視処理としてCPU20は、図4のS310に示すROM30のデータチェック、S312に示すRAM40のデータチェックを実施する。S310に示すROM30のデータチェックについては後述する。
図4に示すS310で実施されるROM30のデータチェックルーチン1の詳細を図5に示す。図5のデータチェックにおいては、チェック演算として加算を実行する。
図4に示すS310で実施される第2実施形態によるROM30のデータチェックルーチン2の詳細を図6に示す。第1実施形態では、分割領域に対し、チェック演算として1種類の加算を実施した。これに対し、第2実施形態では、分割領域に対する1回目のチェック演算の結果が異常である場合、該当する分割領域に対して第1のチェック演算とは異なる第2のチェック演算によりチェック演算を再試行する。第2実施形態では、第1のチェック演算として加算を実施し、第2のチェック演算として減算を実施する。また、第2実施形態では、調整ワードを分割領域に設けず、分割領域毎にチェック演算を実施した結果が、予め分割領域毎にチェック演算を実施しておいた値と一致するか否かを判定する。
図6のS340〜SS350は、図5のS320〜SS330と実質的に同一処理であるから説明を省略する。
上記実施形態では、不揮発性メモリとしてROMに対するデータチェックを実施した。これに対し、フラッシュメモリ等の書換え可能な不揮発性メモリに対してデータチェックを実施してもよい。書換え可能な不揮発性メモリに対してデータチェックを実施する場合、プログラムの更新等、書換えの頻度が低い書換え可能な不揮発性メモリに対してデータチェックを実施することが望ましい。
Claims (6)
- 所定のデータを記憶しており、記憶領域が複数の分割領域に分割されている不揮発性メモリと、
前記不揮発性メモリに記憶されているデータが正常であるか異常であるかをチェックするためのチェック演算を前記分割領域毎に実施する演算手段と、
前記演算手段による前記チェック演算の結果が正常であるか異常であるかを判定する判定手段と、
前記判定手段による判定結果が異常である前記分割領域に対してだけ前記演算手段に前記チェック演算の再試行を所定回数実施させる再試行手段と、
を備えることを特徴とする電子制御装置。 - 前記演算手段は、使用されるデータを記憶している前記分割領域だけに前記チェック演算を実施することを特徴とする請求項1に記載の電子制御装置。
- 前記演算手段は、データチェック終了後の次処理で使用されるデータを記憶している前記分割領域を選択して前記チェック演算を実施することを特徴とする請求項1または2に記載の電子制御装置。
- 前記再試行手段は、前記演算手段が前記チェック演算として第1のチェック演算を実施した結果、前記判定手段による判定結果が異常である前記分割領域に対し、前記チェック演算として前記第1のチェック演算とは異なる第2のチェック演算を前記演算手段に再試行させることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の電子制御装置。
- 前記判定手段は、前記分割領域に対する前記演算手段による前記第2のチェック演算の結果が異常である場合、該当する前記分割領域のデータが異常であると判定し、
前記再試行手段は、前記演算手段による前記第2のチェック演算の結果が正常であると前記判定手段が判定すると、前記分割領域に対する前記第1のチェック演算を前記演算手段に再試行させる
ことを特徴とする請求項4に記載の電子制御装置。 - 前記判定手段は、前記分割領域に対する前記演算手段による前記第2のチェック演算の結果が正常であり、前記演算手段により再試行された前記第1のチェック演算の結果が異常である場合、前記演算手段による前記第1のチェック演算が異常であると判定し、前記演算手段により再試行された前記第1のチェック演算の結果が正常である場合、該当する前記分割領域と前記演算手段による演算とは正常であると判定することを特徴とする請求項5に記載の電子制御装置。
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---|---|---|---|---|
JP5285720B2 (ja) * | 2011-01-31 | 2013-09-11 | 京楽産業.株式会社 | 遊技機 |
JP5635941B2 (ja) * | 2011-04-22 | 2014-12-03 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 自動車用電子制御装置 |
JP5821445B2 (ja) * | 2011-09-09 | 2015-11-24 | 富士通株式会社 | ディスクアレイ装置及びディスクアレイ装置制御方法 |
JP5923034B2 (ja) * | 2012-12-27 | 2016-05-24 | 大陽日酸株式会社 | メモリの動作確認装置および動作確認方法 |
US9990278B2 (en) * | 2014-10-20 | 2018-06-05 | Cypress Semiconductor Corporation | Overlaid erase block mapping |
CN108153611B (zh) * | 2018-01-10 | 2021-02-23 | 芜湖美的厨卫电器制造有限公司 | 故障自检方法、故障自检装置、微控制器和可读存储介质 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0742609A (ja) * | 1993-07-28 | 1995-02-10 | Nippondenso Co Ltd | 車両用制御装置のメモリチェック装置 |
JPH1139231A (ja) * | 1997-07-17 | 1999-02-12 | Unisia Jecs Corp | 車両用電子制御装置 |
JP2006195739A (ja) * | 2005-01-13 | 2006-07-27 | Denso Corp | 電子制御装置 |
JP2006268266A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Mitsubishi Electric Corp | コントロールユニット |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55128641A (en) * | 1979-03-23 | 1980-10-04 | Nissan Motor Co Ltd | Controlling system for vehicle |
JP2553732B2 (ja) | 1990-04-16 | 1996-11-13 | 松下電器産業株式会社 | 電子燃料噴射装置 |
US5867505A (en) * | 1996-08-07 | 1999-02-02 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for testing an integrated circuit including the step/means for storing an associated test identifier in association with integrated circuit identifier for each test to be performed on the integrated circuit |
KR20010006400A (ko) * | 1997-04-16 | 2001-01-26 | 가나이 쓰토무 | 반도체 집적 회로 및 메모리의 검사 방법 |
JPH10299565A (ja) | 1997-04-21 | 1998-11-10 | Unisia Jecs Corp | 車両用電子制御ユニットの自己診断装置 |
JPH11316259A (ja) | 1998-04-30 | 1999-11-16 | Toshiba Corp | 半導体試験装置およびこれを用いた半導体試験方法 |
US6216226B1 (en) * | 1998-10-02 | 2001-04-10 | International Business Machines Corporation | Method and system for dynamically selecting a boot process within a data processing system |
JP2000207897A (ja) | 1999-01-12 | 2000-07-28 | Nec Corp | 電気的書換可能な不揮発性メモリのテスト方法および電気的書換可能な不揮発性メモリのテストプログラムを記録した情報記録媒体 |
US6370661B1 (en) * | 1999-04-26 | 2002-04-09 | Ip-First, Llc | Apparatus for testing memory in a microprocessor |
US6715116B2 (en) * | 2000-01-26 | 2004-03-30 | Hewlett-Packard Company, L.P. | Memory data verify operation |
US7143321B1 (en) * | 2000-04-29 | 2006-11-28 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | System and method for multi processor memory testing |
JP2004133635A (ja) | 2002-10-09 | 2004-04-30 | Honda Motor Co Ltd | 制御用コンピュータ |
US7162625B2 (en) * | 2003-03-10 | 2007-01-09 | Dell Products L.P. | System and method for testing memory during boot operation idle periods |
US7383492B2 (en) * | 2003-03-20 | 2008-06-03 | Emc Corporation | First-in/first-out (FIFO) information protection and error detection method and apparatus |
US7356744B2 (en) * | 2005-05-12 | 2008-04-08 | Pc-Doctor, Inc. | Method and system for optimizing testing of memory stores |
-
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0742609A (ja) * | 1993-07-28 | 1995-02-10 | Nippondenso Co Ltd | 車両用制御装置のメモリチェック装置 |
JPH1139231A (ja) * | 1997-07-17 | 1999-02-12 | Unisia Jecs Corp | 車両用電子制御装置 |
JP2006195739A (ja) * | 2005-01-13 | 2006-07-27 | Denso Corp | 電子制御装置 |
JP2006268266A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Mitsubishi Electric Corp | コントロールユニット |
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