JP5821445B2 - ディスクアレイ装置及びディスクアレイ装置制御方法 - Google Patents
ディスクアレイ装置及びディスクアレイ装置制御方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5821445B2 JP5821445B2 JP2011197543A JP2011197543A JP5821445B2 JP 5821445 B2 JP5821445 B2 JP 5821445B2 JP 2011197543 A JP2011197543 A JP 2011197543A JP 2011197543 A JP2011197543 A JP 2011197543A JP 5821445 B2 JP5821445 B2 JP 5821445B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- area
- raid group
- data check
- control unit
- areas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1076—Parity data used in redundant arrays of independent storages, e.g. in RAID systems
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/2221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/44—Indication or identification of errors, e.g. for repair
- G11C29/4401—Indication or identification of errors, e.g. for repair for self repair
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2211/00—Indexing scheme relating to details of data-processing equipment not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00
- G06F2211/10—Indexing scheme relating to G06F11/10
- G06F2211/1002—Indexing scheme relating to G06F11/1076
- G06F2211/1073—Problems due to wear-out failures in RAID systems
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0668—Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
- G06F3/0671—In-line storage system
- G06F3/0683—Plurality of storage devices
- G06F3/0689—Disk arrays, e.g. RAID, JBOD
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Information Retrieval, Db Structures And Fs Structures Therefor (AREA)
Description
次に、図5を参照して、本実施例に係るディスクアレイ装置のコントロールモジュールのハードウェア構成について説明する。図5は、実施例に係るディスクアレイ装置のコントロールモジュールのハードウェアの構成図である。ここでは、ディスクアレイ装置がコントロールモジュール301とコントロールモジュール302とを有しており、コントロールモジュール301とコントロールモジュール302が接続されている場合で説明する。また、コントロールモジュール301とコントロールモジュール302とは、同じ構成を有するため、コントロールモジュール301を例に説明する。
2 ホスト
10 コントロールモジュール(CM)
11 ハードディスク群
101 CA制御部
102 キャッシュ制御部
103 RAID制御部
104 構成記憶部
105 データチェック制御部
106 DA制御部
110 ハードディスク
111〜113 RAIDグループ
131 ボリューム設定部
132 データチェック実行部
141 構成定義
Claims (6)
- RAIDグループが設定された複数のハードディスクと、
前記RAIDグループに1つ又は複数の使用領域を設定する使用領域設定部と、
前記RAIDグループに設定された最も小さい使用領域のサイズよりも未使用領域のサイズが小さい場合、前記使用領域が設定されている領域のみを診断対象の領域と決定し、未使用領域のサイズが前記RAIDグループに設定された最も小さい使用領域のサイズ以上の場合、前記RAIDグループの全ての領域を診断対象の領域と決定する診断対象決定部と、
前記診断対象決定部が決定した診断対象の領域に対して周期的な診断を実行する診断実行部と
を備えたことを特徴とするディスクアレイ装置。 - 前記診断対象決定部は、前記RAIDグループにおける全ての領域に対する未使用領域の割合を求め、求めた割合が所定値より小さい場合、前記使用領域が設定されている領域のみを診断対象とし、求めた割合が所定値以上の場合、前記RAIDグループの全ての領域を診断対象とすることを特徴とする請求項1に記載のディスクアレイ装置。
- 前記診断対象決定部は、前記RAIDグループの未使用領域が所定サイズよりも小さい場合、前記使用領域が設定されている領域のみを診断対象とし、前記RAIDグループの未使用領域が所定サイズ以上の場合、前記RAIDグループの全ての領域を診断対象とすることを特徴とする請求項1に記載のディスクアレイ装置。
- 複数のハードディスクを用いて設定されたRAIDグループに1つ又は複数の使用領域を設定し、
前記RAIDグループに設定された最も小さい使用領域のサイズよりも未使用領域のサイズが小さい場合、前記使用領域が設定されている領域のみを診断対象の領域と決定し、未使用領域のサイズが前記RAIDグループに設定された最も小さい使用領域のサイズ以上の場合、前記RAIDグループの全ての領域を診断対象の領域と決定し、
決定した診断対象の領域に対して周期的な診断を実行する
ことを特徴とするディスクアレイ装置制御方法。 - RAIDグループが設定された複数のハードディスクと、
前記RAIDグループに1つ又は複数の使用領域を設定する使用領域設定部と、
前記RAIDグループにおける全ての領域に対する未使用領域の割合を求め、求めた割合が所定値より小さい場合、前記使用領域が設定されている領域のみを診断対象の領域と決定し、求めた割合が所定値以上の場合、前記RAIDグループの全ての領域を診断対象の領域と決定する診断対象決定部と、
前記診断対象決定部が決定した診断対象の領域に対して周期的な診断を実行する診断実行部と
を備えたことを特徴とするディスクアレイ装置。 - RAIDグループが設定された複数のハードディスクと、
前記RAIDグループに1つ又は複数の使用領域を設定する使用領域設定部と、
前記RAIDグループの未使用領域が所定サイズよりも小さい場合、前記使用領域が設定されている領域のみを診断対象の領域と決定し、前記RAIDグループの未使用領域が所定サイズ以上の場合、前記RAIDグループの全ての領域を診断対象の領域と決定する診断対象決定部と、
前記診断対象決定部が決定した診断対象の領域に対して周期的な診断を実行する診断実行部と
を備えたことを特徴とするディスクアレイ装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011197543A JP5821445B2 (ja) | 2011-09-09 | 2011-09-09 | ディスクアレイ装置及びディスクアレイ装置制御方法 |
US13/557,282 US9164838B2 (en) | 2011-09-09 | 2012-07-25 | Disk array device and disk array device control method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011197543A JP5821445B2 (ja) | 2011-09-09 | 2011-09-09 | ディスクアレイ装置及びディスクアレイ装置制御方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013058169A JP2013058169A (ja) | 2013-03-28 |
JP5821445B2 true JP5821445B2 (ja) | 2015-11-24 |
Family
ID=47830891
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011197543A Active JP5821445B2 (ja) | 2011-09-09 | 2011-09-09 | ディスクアレイ装置及びディスクアレイ装置制御方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9164838B2 (ja) |
JP (1) | JP5821445B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6287613B2 (ja) * | 2014-06-17 | 2018-03-07 | 富士通株式会社 | 制御装置、および診断制御プログラム |
CN106875980A (zh) * | 2017-02-17 | 2017-06-20 | 紫光华山信息技术有限公司 | 硬盘测试方法及装置 |
KR20220007212A (ko) | 2020-07-10 | 2022-01-18 | 삼성전자주식회사 | Raid 스토리지 장치, 호스트 장치 및 raid 시스템 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04167046A (ja) | 1990-10-31 | 1992-06-15 | Toshiba Corp | 記憶装置の動作監視装置 |
US5933847A (en) * | 1995-09-28 | 1999-08-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Selecting erase method based on type of power supply for flash EEPROM |
US7012835B2 (en) * | 2003-10-03 | 2006-03-14 | Sandisk Corporation | Flash memory data correction and scrub techniques |
JP2007065788A (ja) | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Hitachi Ltd | ディスクアレイ装置及びその制御方法並びにプログラム |
JP4984613B2 (ja) * | 2006-04-10 | 2012-07-25 | 富士通株式会社 | Raid装置の制御方法、raid装置、およびraid装置の制御プログラム |
JP2009151393A (ja) | 2007-12-18 | 2009-07-09 | Nec Corp | 記憶媒体制御装置、記憶媒体管理システム、記憶媒体の制御方法、及び記憶媒体の制御プログラム |
JP4606455B2 (ja) * | 2007-12-20 | 2011-01-05 | 富士通株式会社 | ストレージ管理装置、ストレージ管理プログラムおよびストレージシステム |
JP5217452B2 (ja) | 2008-01-25 | 2013-06-19 | 富士通株式会社 | 情報処理装置及びシステム、並びに、記憶領域管理方法及びプログラム |
JP4645741B2 (ja) * | 2009-01-09 | 2011-03-09 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
US8347043B2 (en) * | 2009-03-25 | 2013-01-01 | Hitachi, Ltd. | Storage management task distribution method and system on storage virtualizer |
US8166269B2 (en) * | 2009-11-05 | 2012-04-24 | Oracle America, Inc. | Adaptive triggering of garbage collection |
JP5531656B2 (ja) * | 2010-02-08 | 2014-06-25 | 富士通株式会社 | ストレージ装置、パトロール方法、パトロールプログラム及びストレージシステム |
-
2011
- 2011-09-09 JP JP2011197543A patent/JP5821445B2/ja active Active
-
2012
- 2012-07-25 US US13/557,282 patent/US9164838B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9164838B2 (en) | 2015-10-20 |
US20130067165A1 (en) | 2013-03-14 |
JP2013058169A (ja) | 2013-03-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10366032B2 (en) | Information processing apparatus and multipath control method | |
US8880801B1 (en) | Techniques for reliability and availability assessment of data storage configurations | |
JP4749255B2 (ja) | 複数種類の記憶デバイスを備えたストレージシステムの制御装置 | |
KR101561854B1 (ko) | Fpga 기반의 비실장형 스토리지 테스트 장치 | |
JP5057792B2 (ja) | 性能ボトルネックを緩和する機能を備えたストレージシステム | |
KR101547317B1 (ko) | 스토리지 테스트 장치에서 로직 블록 어드레스와 데이터 버퍼 주소를 이용한 불량 블록 검출 시스템 | |
JP2006146833A (ja) | ディスク装置の整合性検査支援方法およびディスクアレイ装置の整合性検査方法 | |
JP4905511B2 (ja) | 記憶装置の制御部及び制御方法 | |
JP2013041547A5 (ja) | ||
JP2008146141A (ja) | ストレージシステムと記憶領域の選択方法並びにプログラム | |
JP2008065433A (ja) | 計算機システム及び性能チューニング方法 | |
JP5488709B2 (ja) | ストレージ制御装置における基準時間設定方法 | |
JP5821445B2 (ja) | ディスクアレイ装置及びディスクアレイ装置制御方法 | |
US20130219119A1 (en) | Writing new data of a first block size to a second block size using a write-write mode | |
JP6088837B2 (ja) | ストレージ制御装置、ストレージ制御方法、ストレージシステムおよびプログラム | |
US20170046070A1 (en) | Storage control device | |
WO2014030249A1 (ja) | ボリュームのi/o性能の検証システム及び検証方法 | |
US20120011317A1 (en) | Disk array apparatus and disk array control method | |
US20160196064A1 (en) | Storage control device, control method and storage system | |
US10592349B2 (en) | Storage control device and storage apparatus | |
JP4605374B2 (ja) | 記憶装置の試験方法及び装置 | |
JP2021174087A (ja) | ストレージ制御装置およびバックアップ制御プログラム | |
JP2009020703A (ja) | ストレージ装置、ストレージ管理装置、ストレージ管理方法、およびストレージ管理プログラム | |
JP4563314B2 (ja) | ストレージシステム制御装置、ストレージシステム制御プログラム、ストレージシステム制御方法 | |
US9639417B2 (en) | Storage control apparatus and control method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140508 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150218 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150303 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150422 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150908 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150921 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5821445 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |