JP4543317B2 - 不揮発性メモリのデータ制御方法 - Google Patents

不揮発性メモリのデータ制御方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4543317B2
JP4543317B2 JP2004354324A JP2004354324A JP4543317B2 JP 4543317 B2 JP4543317 B2 JP 4543317B2 JP 2004354324 A JP2004354324 A JP 2004354324A JP 2004354324 A JP2004354324 A JP 2004354324A JP 4543317 B2 JP4543317 B2 JP 4543317B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
read
determined
memory
nonvolatile memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004354324A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006163811A (ja
Inventor
工 清水
徹也 小林
義貴 木内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2004354324A priority Critical patent/JP4543317B2/ja
Publication of JP2006163811A publication Critical patent/JP2006163811A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4543317B2 publication Critical patent/JP4543317B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Description

本発明は、学習値等のデータを不揮発性メモリに記憶させ、マイコンが読み出して使用する車載機器の制御装置における不揮発性メモリのデータ制御方法に関する。
従来、車両に搭載されたバッテリやエンジンの制御において、出荷時の校正値や過去の制御に基づいて演算された学習値等のデータを不揮発性メモリに記憶させ、次回の制御時に記憶している学習値を使用して、より的確な制御を行う制御方法がある。このとき、不揮発性メモリから読み出したデータにデータエラーがあると読み出した学習値データが不良となり、正確な制御ができなくなる。このような記憶されたデータのあるビットに対する電荷抜け等によるデータエラーに対し様々なデータエラーの識別とデータ復元方法が考案されている。
例えば、従来から行われている簡易な方法(従来例1)としては、図7(a)に示すように一個の不揮発性メモリの異なる2つの記憶領域に同一のデータ、もしくは片方の記憶領域には本来のデータを反転させたミラーデータを一対のデータとして書き込む方法がある。この場合の製品の制御時のデータの読み込みと処理のフローチャートは、図7(c)に示すように、マイコンは不揮発性メモリの異なる2つの記憶領域に書き込まれている一対のデータ、すなわち、データNo1とデータNo1(またはデータNo1のミラーデータ)を読み込み、2つのデータを比較して(S72)正常であればデータを確定して出力し、正常動作を開始する(S73)。ただし、読み込んだ2つのデータを比較して(S72)ビットエラー等の不良が発見されて不揮発性メモリの異常判定(S74)がなされても正しいデータを復元することは不可能である。
また、同様に簡易なデータエラーの識別の方法(従来例2)として、不揮発性メモリの記憶領域に書き込まれるデータにSUM値(加算値)を付与して、読み込み時にSUM値を使用してデータエラーを識別する方法(図7(b))もあるが、エラーが発見されても正しいデータを復元することは不可能である。
データエラーがある場合でもデータを復元して正しいデータを出力することができるようにした方法(従来例3)として、図8(a)に示すように、一個の不揮発性メモリの異なる3つ以上の記憶領域に同じデータを順次記憶させ、製品の制御時には記憶されているデータを順次読み出し、マイコンにおいて読み出した各データを多数決処理することで記憶領域単位のデータ不良が発生しても、マイコンは正しいデータを出力することができるようにした方法がある。
データの読み込みと処理のフローチャートは、図8(b)に示すように不揮発性メモリの異なる3つの記憶領域に書き込まれているデータ3個を読み込み(S81)、2つのデータを比較して(S82)正常であればデータを確定して出力し、正常動作を開始する(S83)。ただし、読み込んだデータに異常があると判定した場合には読み込まれたデータ3個について多数決処理をして(S84)正しいデータが確定されるときは正常動作を開始する(S83)ことができる。ただし、同一データがないときは不揮発性メモリの異常判定(S85)がなされることとなる。
さらに、特許文献1に開示されている方法(従来例4)は、図9に示すように記憶対象の同じデータを異なる3つ以上の不揮発性メモリチップ(不揮発性メモリNo1、不揮発性メモリNo2、不揮発性メモリNo3、…)に分散して記憶させ、製品の制御時には記憶されているデータを順次読み出し、マイコンにおいて読み出した各データを多数決処理することにより、メモリセル単位のデータ不良のみならず不揮発性メモリチップ単位のデータ不良が発生してもマイコンは正しいデータを出力することができる構成としている。
また、図10に示す方法(従来例5)は、マイコン内のRAMにデータが保持される構成の場合で、不揮発性メモリの2つの記憶領域に書き込まれている2個のデータを読み込み、RAMに保持されている1個のデータと多数決処理を行うことで、データエラーを識別するとともに、データを復元して出力することが可能な構成となっているがRAMのデータを保持するためにマイコンには常時電源(スタンバイ電源)を印加しておく必要がある。
特開平11−164486号公報
しかしながら、上記従来例1及び2の場合は、不揮発性メモリから読み込んだデータの良、不良の識別をすることは可能であるが、データエラーが発見されても、正しいデータを復元して製品の正常動作に必要なデータを出力することができない。
また、従来例3、4及び5の場合は、データエラーが一部のデータにとどまる限り、正しいデータを復元して出力することができる。しかし、従来例3のように1つの不揮発性メモリから3個以上のデータを毎回読み込み比較する構成では、データ確定まで時間がかかるという問題がある。
従来例4の場合は、3個以上のデータを毎回読み込み多数決処理する構成なので、3個以上の不揮発性メモリから平行して読み込むことが出来ればデータ確定までの時間は短くすることが出来るが、3個以上の不揮発性メモリを持つことになるのでコストが上昇する。
従来例5の場合は、RAMに常時電源を加えておく必要があるのでスタンバイ電源を持つシステムでしか使用できないという問題がある。
本発明は、上記の問題点に鑑みなされたもので、不揮発性メモリを使用したデータの書き込み、読み出し及び読み出したデータの処理において、高信頼性を確保しつつ高速でデータの読み出し及び処理を行い、かつ、コストを低減した不揮発性メモリのデータ制御方法を提供することをその目的としている。
上記目的を達成するために発明は、車両に搭載された車載機器の学習値を表すデータを複数の異なるメモリ領域に書き込み、および読み出しをすることが可能な記憶部を有する不揮発性メモリと、前記のデータを記憶部に記憶させるとともに、記憶されているデータを記憶部から読み出し、読み出したデータが正常であるか否かを判定する演算部を有するマイコンと、から構成される車載機器の制御装置において、同一のデータを複数のメモリ領域に書き込み、データを演算部が読み出すときは、最初に2個のデータを1組目として読み出し、読み出した2個のデータを比較し、データエラーがないと判定したときはデータを正常であると確定して外部に出力し、データにデータエラーがあると判定したときは、2組目の2個のデータを読み出し、読み出した2組目の2個のデータを比較し判定を行い、データが正常であると確定するまで順次記憶部から各組のデータを読み出し、判定を実施するものであり、マイコンの演算部が不揮発メモリのメモリ領域から読み出す2個のデータの各組の組み合わせは、図4に示すようにメモリ領域に記憶されている1個のデータをその他の全てのメモリ領域に記憶されているデータと順に2個ずつ組み合わせて、各組を構成することを特徴としている。
発明は、同一データを複数のメモリ領域に書き込み、記憶しておき、読み出し時には、まず最初に2個のデータを1組目として読み出し、2個のデータを比較してデータエラーがないか判定する。データエラーがなければ読み出した1組目のデータは正常であると確定して外部に出力されてデータの読み出しと確定作業は終了する。
もし、1組目として読み出した2個のデータを比較してデータエラーが発見されたときは、さらに2組目の2個のデータを読み出し、比較し判定を行う。データエラーがなければ読み出した2組目のデータは正常であると確定して外部に出力されてデータの読み込みと確定作業は終了する。
このように、データエラーが発見されたときは、順次次の組の2個のデータを読み出し、比較する作業を繰り返し、不揮発性メモリに記憶されている全てのデータに異常があると判定されたときは、不揮発性メモリデータ異常の判定がなされる。
従って、本構成によれば、一部の読み出したデータに不良があっても、メモリ領域に記憶された全ての組のデータがすべて不良にならない限り、正しいデータを確定して出力することができる。
さらに、従来例3及び4のように3個のデータを常時読み出し多数決処理を行うものではなく、通常は2個のデータを読み出し比較、判定する構成なので、データ確定に要する時間を大幅に短縮できる。その結果、例えばエンジンの制御部に使用するものであれば車両起動に要する時間を短縮できるという効果が期待できる。
また、本構成は次の効果もある。すなわち、不揮発性メモリは書き込み、読み出しのアクセスの回数により劣化が促進され、データエラーが発生し易くなる。本発明の特徴は、通常は1組目のデータにアクセスすることでデータの読み出し、確定が終了することがほとんどで2組目以降のデータにアクセスすることは少ない。従って、2組目以降のデータはアクセスによる劣化がほとんど無いため、従来方式(例えば、3つのデータに毎回アクセスする従来例3及び4など)に比較して不揮発性メモリチップの寿命が長くなるメリットがある。さらにまた、マイコンの演算部が不揮発メモリのメモリ領域から読み出す2個のデータの各組の組み合わせは、図4に示すようにメモリ領域に記憶されている1個のデータをその他の全てのメモリ領域に記憶されているデータと順に2個ずつ組み合わせて、各組を構成するので、n個のメモリ領域にデータを格納した場合、データの読み出し時の組数はn(n−1)/2と非常に多くなる。従って、所定数のデータ組を確保するために必要とされるメモリ容量は相対的に少ないものですむこととなる。
なお、本発明でいうメモリ領域とは、不揮発性メモリにおいてデータの書き込み、読み出しが行われる最小の記憶単位を意味している。
好適な態様によれば、不揮発性メモリのデータ制御方法において、2個のデータを不揮発性メモリから読み出し、演算部において比較し、データにデータエラーがあると判定したときは、さらにデータの判定作業を続け、データが正常であると確定した後に、データエラーがあると判定された組のデータを正常なデータに更新する書き込みを行うことを特徴としている。
本構成によれば、メモリ領域に格納されているデータが不良となった場合、正常なデータが確定され次第、直ちにデータ不良の組のデータが書き換えられ正しいデータに更新されるので、次回のデータ読み出し時にはデータ確定までの処理時間を短縮することができる。
以上説明したように本発明の不揮発性メモリのデータ制御方法によれば、不揮発性メモリを使用したデータの書き込み、読み出し及び読み出したデータの処理において、高速でデータの読み出し及び判定処理を行い、かつ、データエラーに対してもデータ復元が可能な機能を持ちながら高信頼性を確保し、簡易な方法でコストを低減した不揮発性メモリのデータ制御方法を提供することができる。
以下に、本発明による不揮発性メモリのデータ制御方法の実施形態について実施の形態1及び実施の形態2に基づいて説明する。
(実施の形態1)図1は、本発明の不揮発性メモリのデータ制御方法が適用される装置の概略の構成を示す一例であって、1は車載機器を電子制御する制御装置(ECU)で、2は制御装置の制御対象である車載機器(例えば、エンジンやバッテリ)である。3は学習値等のデータを不揮発性メモリに書き込み、読み出し及び読み出したデータの比較判定を行う演算部を有するマイコン4を備え、かつ、車載の各種センサ(図示せず)の検出信号を入力し、車載機器2を制御する制御信号を発するマイコン装置である。5は学習値等のデータが記憶され、電源がOFF(イグニッションキーがOFF)のときでもデータの記憶が保持される不揮発性メモリである。
この構成において、不揮発性メモリ5とマイコン4とで実施されるデータの読み出しとデータの良、不良の比較判定と正常動作開始までの動作について図2及び図3に基づいて説明する。図2は、データの読み出しとデータの良、不良の比較判定処理のフローチャートであり、図3は、不揮発性メモリ5に格納されるデータとデータの読み出し時の組み合わせを模式的に表したものである。
図3の構成は、不揮発性メモリ5の記憶部である各メモリ領域に車載機器2の制御用学習データである同一のデータNo1(又はデータNo1のミラーデータ)がマイコン4によって書き込まれたものである。
なお、本発明の不揮発性メモリの複数のメモリ領域に書き込み、製品の起動時に読み出されるデータは、本来の学習値を表すデータと本来のデータを反転して作成したミラーデータのどちらでもよい。通常、ミラーデータは、ハード的な信頼性を考慮して用いられるものであり、本発明を実施するに際して本来のデータを用いても、また、ミラーデータを用いても何らその作用効果上差異はない。従って、本発明では、両者を同一のデータとして取り扱っている。
また、メモリ領域とは、前述したように不揮発性メモリにデータの書き込み、読み出しを行うときの最小の記憶単位をさしている。
そして、読み出し時における2個のデータを一対とした組の構成は図3に示すようにアドレス番号順に組を構成したものである。従って、メモリ領域がn個あれば、データ組数はn/2組できることとなる。
図2のフローチャートで、まず、ステップ21(S21)において、図3の不揮発性メモリ5に格納されている1組目のデータ(すなわち、アドレス1及び2が指定するメモリ領域のデータ)をマイコン4は読み出す。次に、ステップ22(S22)でマイコン4はマイコン内の演算部で読み出した1組目の2個のデータ(データNo1とデータNo1、又はデータNo1とデータNo1のミラーデータ)を比較し、2個のデータにデータエラーがないかどうか判定する。2個のデータにデータエラーがなければデータは正常であると確定してステップ23(S23)に進み、データの読み出しと比較判定の処理作業は終了する。すなわち、1組のデータ(2個のデータ)を不揮発性メモリ5から読み出し、比較判定することで正常なデータを確定し、出力することができる。
ただし、読み出した1組目のデータを比較し、データエラーがあり異常であると判定されたときは、ステップ24に進み、2組目のデータ(データ組2のデータ)を読み出し、ステップ25で2組目のデータの比較判定がなされる。2組目のデータにデータエラーがなく正常であればデータは正常であると確定してステップ23に進み、データの読み出しと比較判定の処理作業は終了する。しかし、2組目のデータでも異常判定がなされたときは、ステップ26においてデータ組の順番を判定し、ステップ24に進むかステップ27に進むかを決定する。このようにして、順次各組のデータの読み込みと判定を繰り返し格納されている最終のデータ組まで異常判定がなされた場合には、ステップ27において不揮発性メモリデータ不良が確定し、データの読み出しと比較判定の処理作業は終了する。
従って、実施の形態1の構成によれば、正常データ確定に必要な不揮発性メモリへのアクセス回数を最低限におさえ、データの読み出し及びデータ処理時間を短縮することが出来る。
なお、不揮発性メモリ5に格納されるデータとデータの読み出し時のデータ組の組み合わせについては、上記の図3に示された方法(データ組の構成方法1)以外に図4あるいは図5の方法を用いてもよい。
図4に示す方法(データ組の構成方法2)は、不揮発性メモリ5の各メモリ領域に同一のデータNo1(又はデータNo1のミラーデータ)を書き込むことは図3に示す方法と同じであるが、読み出し時における2個一対の組の構成は図4に示すように、一つのメモリ領域に格納されているデータが他の全てのメモリ領域に格納されているデータと対となるように全ての組み合わせで2個一対の組を構成するもので、n個のメモリ領域(記憶されたデータの数)からは、n(n−1)/2組のデータ組数を作ることができ、少ないメモリ容量で多くのデータ組を構成することができる。
また、図5に示す方法(データ組の構成方法3)は、互いに隣接する2個のデータを一対としてデータ読み出し時のデータ組を構成したものでn個のメモリ領域から(n−1)組のデータ組数を作ることができる。
なお、データ組の構成方法は、上記のデータ組の構成方法1〜3の方法に限定されるものではなく、不揮発メモリのメモリ容量を考慮して決定されるべきもので、データ読み出し時に2個のデータが順次読み出せるものであれば、その他の構成方法を実施することができる。
(実施の形態2)次に、実施の形態2の動作について、図6のフローチャートに基づいて説明する。実施の形態2が実施される機器や回路の構成は、実施の形態1と同一で図1に示す構成である。
この構成において、マイコン4が不揮発性メモリ5に格納されているデータを2個1組として読み出し、比較判定を行い、正常データ確定まで順次データ読み出しと比較判定を繰り返すことは、実施の形態1の場合と同じであるが、正常データ確定後、データ異常であった組のデータを新しく正しいデータを書き込むことにより更新する機能(S66)を備えたものである。実施の形態2の構成では実施の形態1の場合に比較して、次回の製品起動時のデータ読み込み、正常データ確定までのデータ処理時間を短縮出来る効果がある。
実施の形態1から実施の形態2への変更は、回路変更等のハードウエアの変更は必要なく、ソフトウエアの変更のみで対応可能である。
なお、このときの不揮発性メモリ5に格納されたデータの読み出し時のデータ組の構成は、図3〜5に示す方法のいずれを用いてもよいし、また、データ読み出し時に2個のデータが順次読み出せるものであれば、その他の構成方法を用いることができるのは、実施の形態1の場合と同様である。
なお、実施の形態1及び2の説明では、不揮発メモリの各メモリ領域に記憶するデータとして、本来のデータと本来のデータのミラーデータの両者を同一のデータと定義しているが、その他にLSB−MSB変換を行ったデータを同一データとして適用してもよい。
本発明の実施の形態における概略の全体構成を示す説明図である。 本発明の実施の形態1を示すフローチャートである。 本発明の不揮発メモリにおけるデータ格納とデータ読み出し時のデータ組の構成方法1の説明図である。 本発明の不揮発メモリにおけるデータ格納とデータ読み出し時のデータ組の構成方法2の説明図である。 本発明の不揮発メモリにおけるデータ格納とデータ読み出し時のデータ組の構成方法3の説明図である。 本発明の実施の形態2を示すフローチャートである。 従来例1及び2の不揮発メモリにおけるデータ格納とフローチャートの説明図である。 従来例3の不揮発メモリにおけるデータ格納とフローチャートの説明図である。 従来例4の不揮発メモリにおけるデータ格納と動作の説明図である。 従来例5の不揮発メモリにおけるデータ格納と動作の説明図である。
符号の説明
1:電子制御装置(ECU)
2:車載機器
3:マイコン装置
4:マイコン(演算部)
5:不揮発メモリ

Claims (2)

  1. 車両に搭載された車載機器を制御するための学習値を表すデータを書き込み、および読み出しをすることが可能な複数のメモリ領域を有する不揮発性メモリと、
    該データを該メモリ領域に書き込み記憶させるとともに、記憶されている該データを該メモリ領域から読み出し、読み出した前記データが正常であるか否かを比較判定する演算部を有するマイコンと、を備える該車載機器の制御装置において、
    同一の前記データを複数の前記メモリ領域に書き込み、前記データを前記演算部が読み出すときは、最初に2個の前記データを1組目として読み出し、読み出した2個の前記データを比較し、データエラーがないと判定したときは前記データを正常であると確定して外部に出力し、前記データにデータエラーがあると判定したときは、2組目の2個の前記データを読み出し、読み出した2組目の2個の前記データを比較判定し、前記データが正常であると確定するまで前記メモリ領域から順次各組のデータを読み出し、比較判定を実施するものであり、
    前記演算部が前記メモリ領域から読み出す2個の前記データの各組の組み合わせは、前記メモリ領域に記憶されている1個の前記データをその他の全ての前記各メモリ領域に記憶されている前記データ1個と順に組み合わせて2個とし、各組を構成することを特徴とする不揮発性メモリのデータ制御方法。
  2. 前記演算部が前記メモリ領域から組を構成している2個の前記データを読み出し、比較し、該データにデータエラーがあると判定したときは、前記データが正常であると確定した後に、データエラーがあると判定された組の該データを正常な該データに更新する書き込みを行うことを特徴とする請求項1に記載の不揮発性メモリのデータ制御方法。
JP2004354324A 2004-12-07 2004-12-07 不揮発性メモリのデータ制御方法 Expired - Fee Related JP4543317B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004354324A JP4543317B2 (ja) 2004-12-07 2004-12-07 不揮発性メモリのデータ制御方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004354324A JP4543317B2 (ja) 2004-12-07 2004-12-07 不揮発性メモリのデータ制御方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006163811A JP2006163811A (ja) 2006-06-22
JP4543317B2 true JP4543317B2 (ja) 2010-09-15

Family

ID=36665765

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004354324A Expired - Fee Related JP4543317B2 (ja) 2004-12-07 2004-12-07 不揮発性メモリのデータ制御方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4543317B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7873803B2 (en) * 2007-09-25 2011-01-18 Sandisk Corporation Nonvolatile memory with self recovery
JP5095344B2 (ja) * 2007-10-19 2012-12-12 本田技研工業株式会社 データ書き込み装置
JP5855453B2 (ja) * 2011-12-28 2016-02-09 ダイハツ工業株式会社 車載用記憶処理装置
US9684464B2 (en) 2012-11-30 2017-06-20 Chuo University Semiconductor storage device and control method for same
JP6956566B2 (ja) * 2017-08-30 2021-11-02 日立Astemo株式会社 車両情報記憶装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61243551A (ja) * 1985-04-22 1986-10-29 Fujitsu Ten Ltd スタンバイramのチエツク方法
JPS6234260A (ja) * 1985-08-07 1987-02-14 Canon Inc 不揮発性メモリアクセス方式
JPS62147043U (ja) * 1986-03-07 1987-09-17
JPS63298602A (ja) * 1987-05-29 1988-12-06 Daikin Ind Ltd 空気調和装置のバックアップ装置
JPH01161558A (ja) * 1987-12-18 1989-06-26 Fuji Electric Co Ltd デジタル処理装置のデータ読出し方法
JPH0944416A (ja) * 1995-08-03 1997-02-14 Shinko Electric Co Ltd コンピュータによるデータ処理システムの停電時のデータ保護方法と停電時のデータ保護機能を備えたデータ処理システム
JPH1153487A (ja) * 1997-07-31 1999-02-26 Tokin Corp Icカードにおける書き込みデータの有効性判定方法
JP2000067588A (ja) * 1998-08-19 2000-03-03 Saginomiya Seisakusho Inc データ記憶装置及びデータ記憶装置の制御方法
JP2002055885A (ja) * 2000-08-11 2002-02-20 Denso Corp データ修復装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61243551A (ja) * 1985-04-22 1986-10-29 Fujitsu Ten Ltd スタンバイramのチエツク方法
JPS6234260A (ja) * 1985-08-07 1987-02-14 Canon Inc 不揮発性メモリアクセス方式
JPS62147043U (ja) * 1986-03-07 1987-09-17
JPS63298602A (ja) * 1987-05-29 1988-12-06 Daikin Ind Ltd 空気調和装置のバックアップ装置
JPH01161558A (ja) * 1987-12-18 1989-06-26 Fuji Electric Co Ltd デジタル処理装置のデータ読出し方法
JPH0944416A (ja) * 1995-08-03 1997-02-14 Shinko Electric Co Ltd コンピュータによるデータ処理システムの停電時のデータ保護方法と停電時のデータ保護機能を備えたデータ処理システム
JPH1153487A (ja) * 1997-07-31 1999-02-26 Tokin Corp Icカードにおける書き込みデータの有効性判定方法
JP2000067588A (ja) * 1998-08-19 2000-03-03 Saginomiya Seisakusho Inc データ記憶装置及びデータ記憶装置の制御方法
JP2002055885A (ja) * 2000-08-11 2002-02-20 Denso Corp データ修復装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006163811A (ja) 2006-06-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6085334A (en) Method and apparatus for testing an integrated memory device
US5841711A (en) Semiconductor memory device with redundancy switching method
US20070171739A1 (en) Semiconductor memory devices and methods of testing for failed bits of semiconductor memory devices
US8201037B2 (en) Semiconductor integrated circuit and method for controlling semiconductor integrated circuit
US20060140027A1 (en) Semiconductor memory device and method of operating the same
JPH04315898A (ja) 半導体集積回路
US8347150B2 (en) Method and semiconductor memory with a device for detecting addressing errors
US7372750B2 (en) Integrated memory circuit and method for repairing a single bit error
JP2005293659A (ja) メモリ装置とリファレンス電流設定方法
US20030156453A1 (en) Integrated memory and method for operating an integrated memory
JP2005332436A (ja) 半導体装置及びそのテスト方法
CN116153378A (zh) 错误检查刷写操作方法和使用该方法的半导体***
JP4543317B2 (ja) 不揮発性メモリのデータ制御方法
JP2004521430A (ja) メモリエラー処理のための方法及び回路装置
JP3371682B2 (ja) 半導体記憶装置
JP3106947B2 (ja) 不揮発性半導体記憶装置
JP3866345B2 (ja) 半導体記憶装置及び半導体記憶装置の試験方法
JP6700082B2 (ja) 半導体装置、電池監視システム、及びデータ読み出し方法
JPH0554697A (ja) 半導体メモリ
KR100282520B1 (ko) 플래쉬 메모리의 오류셀 보상회로 및 방법
JP2001229682A (ja) 不揮発性半導体記憶装置
JPH0287397A (ja) 半導体集積回路
JP2907114B2 (ja) Eepromの1ビット誤り訂正方法とその装置
JP2000194605A (ja) フラッシュメモリのリフレッシュ装置、そのリフレッシュ方法及びフラッシュメモリ
CN114627950A (zh) 存储器测试方法、***、设备及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070123

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100329

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100401

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100519

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100603

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100616

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130709

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4543317

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130709

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees