JP4496456B2 - プローバ装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、回路端子(パッド)が平面状に配列された半導体ウエハ、半導体集積回路チップ、液晶デバイスなどの回路検査に使用可能であり、さらには2つの電子デバイス装置間の電気的接続あるいは回路端子が平面状に配列されているCSP(チップサイズパッケージ)用ソケットとの電気的接続等に使用可能なプローバ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体技術の進歩に伴って電子デバイスの集積度が向上し、半導体ウエハ上に形成される各半導体チップにおいても回路配線の占めるエリアが増加し、そのため、各半導体チップ上の回路端子(パッド)の数も増加し、それにつれてパッド面積の縮小化、パッドピッチの狭小化などによるパッド配列の微細化が進んでいる。同時にCSPの検査に用いるソケットの接続端子配列も微細化している。
【0003】
特に、パッド配列が微細化(狭ピッチ化)したことで問題となるのは、電子デバイスの電気的特性試験や回路検査の際に、半導体チップのパッドに接触させて電気的導通を得るための接触子(プローブ)の構造を微細化に合わせたものとしなければならないということであり、パッド配列の微細化の進歩に対応するために種々な手段が用いられている。
【0004】
例えば、被検査半導体チップのパッドと検査装置との間に、外力に対して弾性的に変形する弾性変形部を有する薄板状材料からなる複数の接触子をエリア配列した接触子組立体(特開平2001−091537号公報)を介在させる手段がある。このような接触子組立体と半導体チップの試験回路とを電気的に接続する手段として、従来、プローブカードと呼ばれるプリント配線基板が用いられている。
【0005】
一般にプローブカードにおいて、片持梁のカンチレバー方式と称する方式の針状接触子を採用した場合においては、半導体チップのパッドと接触する接触子の先端部分は狭ピッチであるが、プローブカードの回路端子に接続している根元の部分はピッチを粗くできる関係から、接触子をプローブカードの回路端子に半田等の接続手段によって固着し、電気的導通を達成することが可能であった。
【0006】
これに対し、接触子がプリント配線基板の回路端子に垂直に固定される垂直型接触子(例えば、特開平1−189932号公報)においては、半導体チップ上のパッドピッチとプリント配線基板上の回路端子ピッチとが同等のピッチ間隔で構成されることが必要となる。しかし、プリント配線基板では回路パターンを微細化することは困難であり、したがって回路端子の面積も広く、かつ配線幅も広くならざるを得ず、微細化が進むにつれて垂直型接触子を半導体チップのパッドピッチに合わせてプリント配線基板に垂直に固定することは不可能であった。
【0007】
このように、プリント配線基板においては、平面的エリアが接触子と回路端子の他に配線によって占有され、基本的には回路端子の狭ピッチ化対応を妨げるように作用している。また、回路端子が格子状エリア配列型又は2列チドリ配列型などの場合には、内側にある回路端子から外側に電気的接続を達成する手段として多層プリント配線基板を用いる方法も存在しているが、多層化するためにはスルーホール(基板に垂直に開けられた穴)と称する層間の配線を電気的に接続する手段が必要になり、このスルーホールの占める空間が回路端子配列の狭ピッチ化を妨げる原因にもなっている。
【0008】
また、多層基板のほかにも格子状エリア配列型の垂直型接触子に対応する接続方法として、接触子とプリント配線基板間を、電線を用いて半田付け手段で接続する方法がとられている。しかし、電線を細くし本数を増やしてみても半田付け可能なピッチ間隔には限界があるため、電線の本数も限界に達している。このように、いずれの方法も狭ピッチ化に対応することが難しいのみならず、多大な人的工数を必要とし、高価になる欠点を有していた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので、半導体チップ上のパッドの狭ピッチ化に対応して開発された垂直型接触子を用いたプローバ装置において、狭ピッチ化されて組み立てられた垂直型接触子と粗ピッチのままのプリント配線基板又はコネクターの接続端子との接続上の問題点を解決することによって、狭ピッチ化された半導体チップの電気的特性検査を容易にし、また、CSP用ソケットとの接続や、電子デバイスと電子デバイスの接続などコネクターとしての使用も可能な多機能の要素を備えたプローバ装置を提供するものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明は、被検査半導体チップにプローブを接触させ、プローブを介して検査装置との間で電気的接続を行うプローバ装置において、プローブに垂直型接触子を使用し、この垂直型接触子の複数本を規則的に配列して一体化した接触子組立体と、非導電性フレキシブルフィルムの表面に配線が接着形成されたフレキシブルフラットケーブルと、フレキシブルフラットケーブルの一端を固定する固定装置とを有し、固定装置に固定されたフレキシブルフラットケーブルの一端に形成された配線端子と接触子組立体とを接触させ、他端に形成された配線端子をプリント配線基板又はコネクターに接続させ、接触子組立体とフレキシブルフラットケーブルとプリント配線基板又はコネクターを介して被検査半導体チップと検査装置とが電気的に接続される構成となっている。
【0011】
また、本発明は、規則的に配列された垂直型接触子が、フレキシブルフラットケーブルの一端に形成された配線端子の端面に垂直に接触する構成であり、また、フレキシブルフラットケーブルの一端に形成された配線端子の配列は、規則的に配列された垂直型接触子の配列に対応している構成であり、また、フレキシブルフラットケーブルの一端に形成された配線端子の配列は線配列であり、また、一端に配線端子が線配列されたフレキシブルフラットケーブルを複数本集合させ、配線端子のエリア配列を構成している。
【0012】
また、本発明は、フレキシブルフラットケーブルの一端に形成された配線端子が、フレキシブルフラットケーブルを構成する非導電性フレキシブルフィルムの一端面より若干突き出して構成され、また、フレキシブルフラットケーブルは一端が幅狭部となり他端が幅広部となる帯状を有し、幅狭部に形成される狭ピッチの配線と幅広部に形成される粗ピッチの配線とがそれぞれ連結されて構成されている。
【0016】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の第1の実施の形態を示す図で、プローバ装置の概略構造を示す斜視図である。また、図2は図1の中央部分の拡大詳細図である。
【0017】
図1及び図2に示すプローバ装置は、下記の各部分から構成されている。1は導電性材料からなり途中に湾曲部6を有する垂直型接触子、5は複数の垂直型接触子1を一体化した線配列型の接触子組立体5a、2は非導電性のフレキシブルフィルムに形成された銅箔などの配線パターンを有するフレキシブルフラットケーブル(以下、FFCと略称する)、3はFFCの一端を固定する固定装置、4はFFCの他端を接続するプリント配線基板である。なお、FFCならびに固定装置は4方向に向けて設置されるが、図面では一部を省略している。また、各構成部分のさらに詳細な説明は、以下の図面を用いて説明する。
【0018】
図3は本発明に用いる垂直型接触子の構造ならびに配置構成を示す拡大図である。図3に示すように、垂直型接触子1はベリリウム銅などの導電性かつ機械的強度の高い板状あるいは針状の材料で形成され、中間部にU字型の湾曲部6を設けて弾力を持たせ、垂直方向に加わる外力を吸収できる構造となっている。湾曲部6以外は垂直に形成され、上部先端7及び下部先端8は尖った形状としている。この複数本の垂直型接触子1は、図示していない支持基板にそれぞれ固定されて接触子組立体5aとして一体化され、この接触子組立体5aは、これも図示していない移動機構によって、X−Y−Z方向ならびにθ方向への移動による位置決めが可能である。
【0019】
この垂直型接触子1は、上部先端7が半導体チップ(図示せず)のパッドと接触できるように構成されており、半導体チップのパッド配列及びピッチに合わせて配列組立されている。ここでは、半導体チップが形成された半導体ウエハを吸着手段等によりパッドが下向きとなるように上方にセットして使用する場合について説明しているが、天地を逆にして使用することももちろん可能である。また、ここでは、半導体チップのパッドが直線状に1列に並んだ場合(線配列型)に用いる接触子組立体5aについて説明しているが、複数列に並んだ場合(エリア配列型)については後の第2の実施の形態で説明する。
【0020】
一方、垂直型接触子1の下部先端8は、FFC2の一端部端面から突出する配線端子9aの端面(切断面)と接触するようにし、垂直型接触子1とFFC2との電気的導通を可能としている。そのためのFFC2の構造について、次に説明する。
【0021】
図4は本発明に用いるフレキシブルフラットケーブル(FFC)の構造を示す斜視図である。図4に示すように、FFC2は、ポリイミドフィルムなどの非導電性フレキシブルフィルム10の一面にベリリウム銅などの箔を貼着し、エッチング等で所望の配線11を形成して一体化されている。FFC2は一端が幅狭部12を有し、他端が幅広部13を有する帯状に形成され、垂直型接触子1と対向する幅狭部12には垂直型接触子1と同じ狭ピッチ配列で配線11が形成され、配線11の先端の配線端子9aとなる部分はフレキシブルフィルム10の端面から若干突出している。これは垂直型接触子1と配線端子9aとの間で良好な電気的導通を確実にするためである。また、フレキシブルフィルム10の他端の幅広部13には、粗ピッチ配列で配線11が形成され、配線11の先端は幅広部13の端面から大きく突出して配線端子9bとなり、プリント配線基板やコネクター端子と接続される。この突出した配線端子9bは、図4では2グループに分かれているが特にこのような形状に限定するものではない。さらに、必要に応じてフレキシブルフィルム10の両面に銅箔を貼り付けて配線11を両面に形成することももちろん可能である。
【0022】
このFFC2の持つ重要な機能は、狭ピッチ配線の形成が容易であること、狭ピッチから粗ピッチへと配線ピッチを変換できること、また、配線の方向を自在に変換できること、さらにポリイミドフィルム等のフレキシブルフィルムと配線を一体化することによって、製造の簡素化、取り扱いの利便性の向上、配線全体の強度強化を図るなどがあげられる。
【0023】
図5は本発明におけるFFCの固定方法ならびにFFCと垂直型接触子の接続方法を説明する固定装置の側面図である。図5に示すように、固定装置3はFFC2を押し当ててクランプするための固定用ブロック14とクランパー15、クランパー15を開閉させるためのネジ16などから構成されている。なお、固定装置3は非導電性材料で構成されている。
【0024】
まず、FFC2の一端の幅狭部12を、配線11が形成されている面を固定用ブロック14に向けて当接させ、ネジ16でクランパー15を回動させてFFC2を固定用ブロック14に押し付けてクランパー15で固定する。この際、FFC2の固定位置としては、フレキシブルフィルムの端面を固定用ブロック14の上面位置に合わせ、上面の各辺に沿って1列に配線端子9aとなる部分を固定用ブロック14の上面からわずかに突出させて位置させる。同様にして固定用ブロック14の4方向(図5では1方向のみ記載)にFFC2を固定する。これにより、半導体チップの4辺に線配列されたパッドピッチと全く同一のピッチを有する配線端子9aが固定用ブロック14の4辺周囲に形成され、FFC2と固定装置3とで接触子接続構造体を構成している。
【0025】
次に、これも半導体チップのパッドピッチと全く同一のピッチで一体に組み立てられた垂直型接触子1の接触子組立体5aを配線端子9aに位置合わせし、垂直型接触子1の下部先端8と配線端子9aとを弾力的に接触させる。一方、一端の幅狭部12が固定装置3に固定されたFFC2は、変形が自由であるためクランパー15の下を潜り抜けて他端側は図1で示したようにプリント配線基板4に達し、図4に示した幅広部13側に粗ピッチで配列形成された配線端子9bを半田あるいは熱圧着により接続する。
【0026】
次に、本発明の第2の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。実施の形態1では、半導体チップ上に線配列された狭ピッチパッドに対応した接続が可能な接触子組立体を有するプローバ装置について言及してきたが、本実施の形態では、半導体チップ上にパッドをエリア配列(面配列)した場合に使用可能な接触子組立体を有するプローバ装置について説明する。
【0027】
図6は本実施の形態における固定装置を示す斜視図、また、図7はその分解斜視図である。本実施の形態では、パッドが格子状にエリア配列された半導体チップの検査などに使用可能な接触子組立体を備えている。図6、図7では、パッドが4列8行の場合を示している。エリア配列型の接触子組立体5bは、パッドピッチに合わせた32本の垂直型接触子1の組立体であり、組立構造、可動手段などは第1の実施の形態で示した線配列型接触子組立体5aと同じであるので説明は省略する。また、垂直型接触子1の形状や材質も同じであるが、配置が密となるため湾曲部が互いに接触しないように、必要に応じて上下位置や向きを変えて配置することが求められる。また、FFC2も形状や材質が同じであるが、固定手段や配置の状態が異なるので以下に説明する。
【0028】
FFC2の固定には、非導電性材料で構成されるフラット配線分離固定装置17と、同じく非導電性材料で構成されるフラット配線位置決め固定装置18が用いられる。フラット配線分離固定装置17には、半導体チップのパッド配列に合わせた位置に4行のスリット19が開けられ、スリット19の幅及び長さは、FFC2の幅狭部12がちょうど嵌る寸法とする。また、フラット配線位置決め固定装置18には、4行8列の32個の小孔20が開けられ、小孔20の大きさはFFC2の幅狭部12の端面からわずか突出して形成されている配線端子9aがちょうど嵌る大きさとする。そして、フラット配線分離固定装置17及びフラット配線位置決め固定装置18は、図示していない支持部材にスリット位置と小孔列位置を合わせて取り付けられている。また、小孔20の配列は、必要に応じて格子状あるいは列をずらしてチドリ状としてもよい。
【0029】
このように構成されている固定装置にFFC2を固定する方法について説明する。まず、FFC2を4本準備し、それぞれフラット配線分離固定装置17の下側からFFC2の一端の幅狭部12をスリット19に通し、さらに、その上部に設けられているフラット配線位置決め固定装置18の小孔20に配線端子9aを差し込み、配線端子9aの先端をフラット配線位置決め固定装置18の上面からわずか突出させることによって位置決めがなされる。この状態でスリット19に接着剤を充填してFFC2を固定させ、接触子接続構造体を組立る。なお、本実施の形態では、固定装置としてフラット配線分離固定装置17およびフラット配線位置決め固定装置18の両方をを用いる場合を説明しているが、必要に応じていずれか一方でも良い。図7はフラット配線位置決め固定装置18のみを用いた場合を示す。
【0030】
このようにして格子状またはチドリ状にエリア配列された配線端子9aに接触子組立体5bを位置合わせして接触させる。図8はこの接触状態を示す部分拡大断面図で、配線端子9aの端面(切断面)に垂直型接触子1の下部先端8を接触させ、電気的導通を達成する状態を示している。配線端子9aの先端はフラット配線位置決め固定装置18の上面よりわずか突き出しているため、垂直型接触子1との間で良好な電気的接続が可能である。
【0031】
一方、FFC2の他端側がプリント配線基板に接続される状態を、図9の拡大斜視図を用いて説明する。一端の幅狭部がそれぞれフラット配線分離固定装置17に固定された4枚のFFC2は、フラット配線分離固定装置17の下側からそれぞれプリント配線基板4に向けて延在され、他端の幅広部13はそれぞれ端部位置をずらして重ね合わされ、幅広部13の端部から粗ピッチで露出している配線端子9bが4行8列になるように配列させる。この配列は、格子状でも良いし半田付け性を考慮してチドリ配列としても良い。図9はチドリ配列を示している。また、FFC2は重ね合わせてもフレキシブルフィルムと配線が交互に積層されるので電気的には全く問題がない。
【0032】
この粗ピッチに配列されたFFC2の配線端子9bが接続されるプリント配線基板4には、下面側にこの配線端子9bと接続するための接続端子21が配線端子9bとピッチ配列を合わせて設けられている。そして、積層された幅広部13の端面より露出した配線端子9bはフレキシブルフィルムの厚さ分だけ段差となって配列されているため、配線端子9bを上に反らすなどして段差を解消し、プリント配線基板4側の接続端子21との電気的接続を容易にしている。
【0033】
このように構成されたFFCの粗ピッチ配線端子とプリント配線基板側の接続端子とを位置合わせし、半田付けあるいは熱圧着などで接続する。これにより、エリア配列型の接触子組立体を用いたプローバ装置においても、プリント配線基板との電気的接続を容易に行うことができる。
【0034】
次に、本発明の第3の実施の形態について、図面を参照して説明する。今まで述べてきた第1と第2の実施の形態では、被検査半導体チップからの信号をプローブ、FFC、プリント配線基板を介して試験装置に電気的接続する構成について説明してきたが、本実施の形態では、プリント配線基板に替ってコネクターを介在させ、プローブ、FFC、コネクターを介して試験装置に電気的接続する構成としたものである。
【0035】
図10は第3の実施の形態を示す図で、コネクターが接続されたFFCを示す斜視図である。FFC2の構成や固定方法については、既に図4等で詳細に説明してあるのでここでは省略する。コネクター22は一般に用いられているものでよく、FFC2の幅広部13に形成されている粗ピッチ配線端子との間で半田接続が可能であれば問題はない。また、図3では、2個の雌型のコネクター22が並列に接続されているが、これは2個に限るものではない。また、図2に示したようにFFCが4方向に配列される場合は、それぞれのFFCにコネクターを接続してもよいし、FFCのフレキシビリティを利用して1本にまとめ、1個のコネクターに集合させてもよい。いずれにしても、被検査体と試験装置の間にコネクターを介在させたことによって、配線の集合や分岐の自由度を大幅に向上させることができる。その結果、狭ピッチの回路端子を有する2個の電子デバイス同士を、コネクターを介することによって接続することも可能となる。
【0036】
【発明の効果】
以上述べてきたように、本発明のプローバ装置によれば、FFCの持つ機能を生かすことによって、次のような効果が得られる。すなわち、FFC上に狭ピッチで形成された配線端子の端面(断面)をそのまま利用して、垂直型接触子の接続点となる接触子接続構造体をFFCの一端を固定装置に固定するだけで組み立てられるようにしたことである。また、この接続点につながる配線をFFC上で狭ピッチから粗ピッチへと変換することによって、プリント配線基板又はコネクターへの接続を容易に行えるようにしたことである。
【0037】
その結果、平面状に回路端子(パッド)が狭ピッチで配列された半導体ウエハ、半導体集積回路チップ、液晶デバイスなどの回路検査はもちろん、コネクター機能を利用することによって2つの電子デバイス間の電気的接続あるいは回路端子が平面状に配列されているCSP用ソケットとの電気的接続等、広い応用範囲にわたって使用可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態を示す斜視図である。
【図2】図1の中央部分の拡大図である。
【図3】第1の実施の形態に用いる線配列型接触子組立体の構成を説明する斜視図である。
【図4】本発明に用いるFFCの構造を示す斜視図である。
【図5】本発明の第1の実施の形態を示す図で、FFC固定装置の側面図である。
【図6】本発明の第2の実施の形態を示す図で、FFC固定装置を説明する斜視図である。
【図7】図6の分解斜視図である。
【図8】第2の実施の形態に用いるエリア配列型接触子組立体の構成を示す拡大断面図図である。
【図9】第2の実施の形態を示す図で、FFCとプリント配線基板との接続構造を示す斜視図である。
【図10】第3の実施の形態を示す図で、FFCとコネクターとの接続構造を示す斜視図である。
【符号の説明】
1 垂直型接触子
2 FFC(フレキシブルフラットケーブル)
3 固定装置
4 プリント配線基板
5a 線配列型接触子組立体
5b エリア配列型接触子組立体
6 湾曲部
7 上部先端
8 下部先端
9a 狭ピッチ配線端子
9b 粗ピッチ配線端子
10 フレキシブルフィルム
11 配線
12 幅狭部
13 幅広部
14 固定用ブロック
15 クランパー
16 ネジ
17 フラット配線組立分離固定装置
18 フラット配線位置決め固定装置
19 スリット
20 小孔
21 接続端子
22 コネクター

Claims (4)

  1. 被検査半導体チップにプローブを接触させ、プローブを介して検査装置との間で電気的接続を行うプローバ装置において、プローブに垂直型接触子を使用し、この垂直型接触子の複数本を規則的に配列して一体化した接触子組立体と、非導電性フレキシブルフィルムの表面に配線が接着形成されたフレキシブルフラットケーブルと、フレキシブルフラットケーブルの一端を固定する固定装置とを有し、固定装置に固定されたフレキシブルフラットケーブルの一端に形成された配線端子と接触子組立体とを接触させ、前記フレキシブルフラットケーブルの他端に形成された配線端子をプリント配線基板又はコネクターに接続させ、接触子組立体とフレキシブルフラットケーブルとプリント配線基板又はコネクターを介して被検査半導体チップと検査装置とが電気的に接続され、
    規則的に配列された垂直型接触子の下部先端が、フレキシブルフラットケーブルの一端に形成された配線端子の端面に垂直に当接して接触せしめられ、且つ、
    前記垂直型接触子は、上部先端と下部先端の中間部にU字型の湾曲部を設けて弾力を持たせ、垂直方向に加わる外力を吸収できる構造となっており、当該垂直型接触子の弾性変形方向もまた前記フレキシブルフラットケーブルの一端に形成された配線端子の端面に垂直になるよう設定されていることを特徴とするプローバ装置。
  2. 一端に配線端子が線配列されたフレキシブルフラットケーブルを複数本集合させ、配線端子のエリア配列を構成したことを特徴とする請求項1記載のプローバ装置。
  3. フレキシブルフラットケーブルの一端に形成された配線端子は、フレキシブルフラットケーブルを構成する非導電性フレキシブルフィルムの一端面より若干突き出していることを特徴とする請求項2記載のプローバ装置。
  4. フレキシブルフラットケーブルは一端が幅狭部となり他端が幅広部となる帯状を有し、幅狭部に形成される狭ピッチの配線と幅広部に形成される粗ピッチの配線とがそれぞれ連結されていることを特徴とする請求項3記載のプローバ装置。
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