JP4402021B2 - 半導体集積回路 - Google Patents
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Description
2 高速クロック発生回路部
3 パルス発生回路部
4 クロック安定待ち回路部
5 動作時に必要となる周波数のクロックを発生する回路部
6 活性化制御回路部
7 スキャンパス制御回路部
8 組合せ回路部
9 SRL部
10 順序回路部
100 制御信号
101 入力クロック
301、302、310、401 低速クロック動作のスキャンチェーン部
303 スキャン入力
304 スキャン段数切り替え回路部
311、402 高速クロック動作のスキャンチェーン部
312 スキャン段数切り替え回路部
403 制御信号
404 活性化制御回路部の具体例
500 制御信号
501 選択回路
502 どの故障を対象にしてパターン生成するかを制御する回路部
600 半導体集積回路
601 LSI検査装置
602 クロック安定待ち回路からの制御信号
603 DC測定対象信号
604 ファンクションテスト回路
605 LSI検査装置の制御回路
606 LSI検査装置の割り込み処理回路
607 DC測定回路
608 測定データ保持回路
Claims (6)
- 外部から入力される比較的低速なクロック信号の分周クロック信号を発生する分周回路と、前記分周クロック信号に基づいて通常動作時と同じ高速なクロック信号を発生するPLL回路などの高速クロック発生回路と、前記高速クロック発生回路が発生するクロック信号が安定しているかどうかを判定するクロック安定待ち回路と、前記高速クロック信号を一定期間のみ出力するパルス発生回路と、前記クロック安定待ち回路から出力される信号に基づいてスキャンパス構成を切り替えるスキャンパス制御回路と、活性化させる順序回路を前記クロック安定待ち回路から出力される信号に基づいて切り替える活性化制御回路とを備えた半導体集積回路。
- 前記分周回路は、前記外部から入力される比較的低速なクロック信号と前記分周クロック信号との位相関係に基づいて分周比の切り替える請求項1記載の半導体集積回路。
- 前記クロック安定待ち回路は、前記分周回路から出力されたクロック信号を入力とし、そのクロック信号をカウントすることでクロック信号が安定しているかどうかを判定する請求項1記載の半導体集積回路。
- 前記パルス発生回路は、前記クロック安定待ち回路によりクロックが安定していると判断された後、スキャンパステストで高速クロック信号をキャプチャするか否かに応じてパルス発生回数を切り替える請求項1記載の半導体集積回路。
- 前記スキャンパス制御回路は、前記高速クロック信号で動作するグループと前記外部から入力される比較的低速なクロック信号で動作するグループでスキャンパスを構成する請求項1記載の半導体集積回路。
- 前記活性化制御回路は、前記クロック安定待ち回路から出力される信号に基づいて順序回路のシフト動作/通常動作モードを切り替える請求項1記載の半導体集積回路。
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