JP4385747B2 - 半導体装置の実装構造 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体装置、特に冷却を必要とする電力用半導体装置の実装構造に関する。
ここで問題にするバスバーとは電流を外部の素子と授受するため配線構造であり、例えば下記特許文献1に記載されたものが知られている。
図16は電力用半導体装置に取り付け、主電流を外部の素子と授受するためのバスバーの構成の一例を示す図である。図中、104は半導体装置、101と102は第1のバスバー、103は第2のバスバーで、ここではバスバー101と102とで103を挟みこむ構成になっている。107は前記バスバー同士を絶縁する絶縁材である。105は前記バスバーが接続する電気素子(ここでは電界コンデンサ)、106は半導体装置104に接続する別のバスバー、108、109は電気素子105からさらに外部に繋がるバスバーである。
たとえば、この構成で半導体装置104が高温を発するとすると、その熱流はバスバー101〜103を伝って電気素子105へと伝わってしまう。あらゆる金属は電気抵抗と熱抵抗は比例関係にあり、電気的低抵抗を必要とするバスバーでは、熱もよく伝わってしまう。一般に半導体は150℃以上にはならないが、昨今ではワイドギャップ半導体も電力用途に使われるようになってきており、バスバーを伝って周囲の、それほど高温に耐えられない電気素子へ熱が伝わってしまう問題は従来よりも重要になってきている。
特開平2000−102260号公報
以上説明したように、従来構造のバスバーは低損失で電流を流すが、同時に熱もよく伝えるため、バスバーの一端に接続した半導体装置が高温になると、その熱が他端にまで届いてしまう、という問題点があった。その他端に接続した装置が、たとえば高温に耐えられない電解コンデンサのような装置であった場合、途中のバスバー自体を冷却しなければならないが、冷却装置の性能にもそれぞれ限界があるため、十分な冷却を施そうとするとバスバー長が長くなり、配線インダクタンスが増大し、また装置全体の規模が大きくなってしまう。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、バスバーが高温を伝えてしまうという問題を回避し、かつ、配線インダクタンスが低く、コンパクトな実装構造を提供することを目的とするものである。
上記目的を達成するために、本発明では、一端が発熱する半導体装置の第1の主端子に接続され、他端が前記半導体装置よりも低温に維持する必要のある装置の第1の主端子に接続された第1のバスバーが、蛇行する部分を有するように構成している。上記バスバーは、例えば、互いに対向する第1と第2の主面をもつバスバーであり、互いに対抗する第1と第2の主面をもつ電力用半導体装置の該第1の主面にある第1の電極に前記バスバーの第1の主面が接続している構造である。
本発明によれば、バスバーの一端が高温の半導体装置に接しながら、他端にその熱を伝えたくない構造において、バスバーの長手方向に沿って熱が伝わる経路長が長いことで冷却効果を向上できる。つまり、蛇行によって、コンパクトな空間内で放熱に必要な距離を稼ぐことができる。なお、電気抵抗も増加するが、システム全体への影響は小さく、また、配線インダクタンスは直線的に伸びたバスバーよりも低減できる。
以下、図面を用いて本発明を説明する。
図1は参考例であるバスバー構造を説明する平面図である。図中番号、1は板状のバスバーで、一般にはアルミや銅など、電気伝導度の高い金属よりなる。なお、本図では、バスバー1が主面に平行な面内で蛇行している。
2は第1の端子で、半導体装置4の第1の主面にある第1の電極と接続している。ここで半導体装置4は半導体チップでも、チップサイズパッケージでも、モジュール型パッケージでもよい。
3はバスバー1の第2の端子で、ここではモータや平滑コンデンサなど、あまり高温に対応できない素子が接続されることを想定している。
5は、これら素子が接続されるネジ孔であるが、以下のほとんどの図では黒丸で代用して表記している。
本発明では半導体装置4が高温を発することを前提としている。このように第1の端子2と第2の端子3を結ぶバスバー1が蛇行して、熱が伝わる距離を伸ばすことで、途中の放熱領域を増やして第2の端子3の温度が上昇するのを抑制することができる。
図2は、他の参考例を説明する斜視図である。図中番号は前記図1と同様である。この例では、バスバー1は帯が折り畳まれるような方向に蛇行している。このような構成の方が、熱膨張などによる応力は受けないという利点がある。なお、この図2では模式的にバスバーの厚みの表現を省略している。
図3は前記図1に対応した変形例の平面図で、蛇行したバスバー1が自身の縁部同士を近接させている部分を多く有する構造である。つまり、バスバー1の蛇行部に、自身の縁の一部同士を互いに近接させて併走する部分を有する構造である。このような構造は、たとえば金属板に切り込みを入れてバスバー1とすることによって容易に形成できる。このようにすると、バスバー内で電流が対向して流れる部分が増え、しかも縁が近接しているためバスバー周囲への放射磁場が抑制され、図1の場合より配線インダクタンスが低減する。
図4は図3と同様の構成を図2の形態に適用した平面図である。なお、この図で蛇行している部分はバスバーの厚みを表現している。
また、図5は図3に対応し、半導体装置4の対抗する2つの主面のそれぞれにある、2つの主電極(図示せず)に接続する一対のバスバー1と1’とが、互いに主面を近接させて同じパターンで蛇行併走する構造を示した斜視図である。なお、この図ではバスバーの厚みは模式的に省略している。このようにすると、1つのバスバー内での対向電流と、バスバー間の対向電流の相乗効果で、全体の配線インダクタンスはさらに低下する。なお、図中の破線は2つのバスバーの間に挟まれた半導体装置4を暗示している。
図6は図4に対応した平面図で、バスバー対が主面を対向近接したまま併走蛇行するもので、図5と同様の効果を有する。なお、ここで蛇行部はバスバーの厚みを描いている。
図7は図3のような構造においてバスバー1の蛇行部に放熱効率を向上させるための、放熱用突起61をもつ参考例を示す斜視図である。突起の間を風が吹きぬけることによって冷却効率を増すことができる。放熱用突起61はバスバー1の両面にあってよいし、図示はしないが勿論、スリット状のフィンでもよい。いかなる冷却機構でも単位面積当たりの放熱能力には上限があるが、このようにバスバーを蛇行せしめて冷却すれば、装置全体としてはこの上限を超える能力を得ることができる。
図8は、図2のような構造においてバスバー1の横に放熱フィン62を張り出した参考例を示した斜視図である。
図9ならびに図10は、前記図3のバスバーに電気的に絶縁した放熱フィンを取り付けた構成を示す図であり、図9は平面図、図10は図9中の線分A−A’に沿って紙面に垂直な断面で切った断面図である。
これらの図に示すようにバスバー1はその主面と平行に蛇行しつつ、電気絶縁材7を介して金属製の放熱基板8と接続している。放熱基板8にはさらに、多数の放熱フィン6が設けられている。このような構成にすると、電気絶縁材7を介するために放熱性は多少低下するが、放熱器が絶縁されるため、バスバー1に高電圧を印加することが出来る。
また、図11の断面図に示すように、放熱フィン6の代りにヒートパイプもしくは水管で冷却する方法もある。図11中で、63はバスバー1に沿って蛇行するヒートパイプもしくは水管の断面であり、溶接部64にて放熱基板8に固定されている。また、電機絶縁材7は電気的に絶縁性を有すると共に、熱伝導性のよい材料(例えばセラミック材料など)を用いることが望ましい。
なお、図9や図11に示したように、放熱基板8をバスバーのある範囲全体に一面に設けた場合には、他のバスバーのための放熱機構と放熱基板8を共有でき、場合によっては放熱基板8を筐体の一部として活用するなど、設計自由度が増加する。また、蛇行するバスバーから出る放射電磁界は、金属製の冷却器に誘起される誘導電流によって減少するので、配線インダクタンスはさらに低くなる、つまり一体化した金属製の冷却機構の存在により、蛇行するバスバーを流れる電流に対して鏡像効果を得ることができ、インダクタンスが低減する、という効果もある。
次に図12は、バスバー1と放熱基板8とを熱的に接続する電気絶縁材7が、図中の破線領域のみに存在するような実施例を示す平面図である。図12では、破線で示した電気絶縁材7は、バスバー1の全体ではなく、破線で示すように一部のみ配置されている。半導体装置4の直下では、大きなサイズの電気絶縁材を用いている。また、図13は図12中の線分A−A’に沿って切った断面図である。
前記図11に示したように、バスバー全域で電気絶縁材と熱的に接続し、電気絶縁材も放熱機構(冷却器板8)と全域で熱的に接続していると、バスバーのうち蛇行して隣り合っている部分同士で冷却機構などを介して熱が伝わりやすく、蛇行させた効果が薄れることがある。その点、図12のように電気絶縁材のサイズ、すなわちバスバー1から冷却器板8への熱流路を小さくすると、バスバー1から放熱機構(冷却器板8)への熱伝導は悪くなるが、半導体装置4の熱が端子3に伝わらないようにするという目的のためには、図12のような構成の方がかえって効率的な場合もある。
また、たとえば空冷の場合、発熱部から放熱機構の空気界面に至る固体部分の熱抵抗に比べて、放熱器から気相への熱伝達率は桁違いに大きいので、前記固体部分の熱抵抗が数倍になっても、放熱効率全体にはそれほど大きな影響を及ぼさない。
なお、ここでバスバー1と電気絶縁材7との固着部分は、バスバー1の蛇行の振幅の中心線上(図12のA−A’線上)に配置してある。このようにすると、バスバー1の素材と放熱機構の素材の熱膨張係数差による応力を無理なく緩和できる。また、バスバー1の振動を考えた場合も、あるいは重心を考えた場合も最適である。
また、放熱基板8と電気絶縁材7との熱膨張係数差が気にならなければ、たとえば電気絶縁材7は前記図9のように大きな面積のものを使用し、図12中の破線領域でのみ、放熱基板8との固着しているような構成も可能である。
なお、前記図9〜図13に示した構成は、図5に示した構成と組み合わせて、半導体装置4の主電極に接続する一対のバスバーを両面から冷却する構造にしてもよい。
次に、図14は、図12の変形例を示すバスバー形状のみの平面図で、バスバー1の蛇行の最大振幅部である図中、丸で囲んだ9の部分でバスバー1の幅が局所的に狭くなっている。この部分の存在によってバスバー1にかかる応力が緩和されるという効果がある。
図15は、図4のような構成において、図12と同様に、バスバー1の振幅の中央部で直方体の電気絶縁材7の一側面がバスバー1と接し、立方体の隣接する面が放熱基板8に接続している構成である。つまり直方体の電気絶縁材7の横面がバスバー1に固着され、電気絶縁材7の底面が放熱基板8に固着された構造である。この構成では、配線インダクタンスを抑制しつつ、熱応力も抑制し、コンパクトな構成で第1の端子2の熱流が第2の端子3へ届かない機構を実現している。
参考例であるバスバー構造を説明する平面図。 他の参考例を説明する斜視図。 図1に示した参考例の変形例の平面図。 図3と同様の構成を図2の形態に適用した平面図。 一対のバスバーが、互いに主面を近接させて同じパターンで蛇行併走する構造を示した斜視図。 一対のバスバーが主面を対向近接したまま併走蛇行する構造を示す平面図。 バスバーの蛇行部に放熱用突起をもつ参考例を示す斜視図。 バスバーの横に放熱フィンを張り出した参考例を示した斜視図。 バスバーに電気的に絶縁した放熱フィンを取り付けた構成の平面図。 図9中の線分A−A’に沿って紙面に垂直な断面で切った断面図。 ヒートパイプもしくは水管で冷却する構造を示す断面図。 電気絶縁材7が一部にのみ設置された実施例を示す平面図。 図12中の線分A−A’に沿って切った断面図。 図12の変形例を示すバスバー形状のみの平面図。 図12の他の変形例を示す平面図。 バスバー構造の一例を示す図。
符号の説明
1、1’…バスバー 2、3…端子
4…半導体装置 5、5’…ネジ孔
6…放熱フィン 61…放熱用突起
62…放熱フィン 63…ヒートパイプまたは水管
64…溶接部 7…電気絶縁材
8…放熱基板 9…バスバーのくびれ部

Claims (3)

  1. 一端が発熱する半導体装置の第1の主端子に接続され、他端が前記半導体装置よりも低温に維持する必要のある装置の第1の主端子に接続された第1のバスバーが、蛇行する部分を有し、
    前記第1のバスバーの前記主面に、電気絶縁材を介して金属製の冷却機構を有し、
    前記第1のバスバーの蛇行する領域が、蛇行の中心線と交差する部分でのみ、前記絶縁材が前記第1のバスバー並びに前記冷却機構と固着している、ことを特徴とする半導体装置の実装構造。
  2. 前記冷却機構が、前記絶縁材との固着部単位で、金属部分が独立している、ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の実装構造。
  3. 前記第1のバスバーの前記蛇行部に、幅の狭い領域を有する、ことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の実装構造。
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