JP4335304B2 - 光学的情報記録方法、光学的情報記録媒体、および再生方法 - Google Patents
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Description
本実施の形態では、ディスクの記録密度を表す識別子を、当該ディスクを再生することにより判断し、記録密度の低いディスクの場合は、要素数が少ない補正テーブルを用いて記録を行う。これにより、余分なテスト記録工程を経ることがないという利点がある。本実施の形態では、第1・第2・第3の3種類の記録密度に対して補正テーブルの要素数を異ならせる例を示す。各々の記録密度には、(第1の記録密度)>(第2の記録密度)>(第3の記録密度)の関係がある。図1および図2は、この実施の形態1を実現するための記録再生装置(光学的情報記録装置)の概略構成を示すブロック図である。
あっても良い。
次に、図4のフローチャート、および図5〜図7の動作図を用いて、本実施の形態の記録再生装置の動作について説明する。
記録密度判別工程(S403)の判別結果が第1の記録密度(即ち、記録密度が最も高い)場合には、選択回路切り換え工程(S404)により、選択回路204および205を、それぞれ第1の遅延量設定回路206および208側に切り換える。これにより、記録パルスのエッジ位置を、前符号長と記録符号長との組み合わせ、記録符号長と後符号長との組み合わせに応じて設定できる状態にする。
一方、判別結果が第2の記録密度(即ち、第1の記録密度より低い)の場合の動作は以下のようになる。選択回路切り換え工程(S408)により、選択回路204は、変調回路5からの記録データ信号18を第2の遅延量設定回路207および209に入力するよう切り換わる。これにより、記録パルスのエッジ位置を、記録符号長のみに対応して設定できる状態にする。
さらに、判別結果が第3の記録密度(即ち、第2の記録密度より低い)の場合には、選択回路切り換え工程S411により選択回路204および205をそれぞれ直接遅延回路210および211に送出して、テスト記録を行わずに終了する。
本実施の形態の効果を確かめるために、記録密度を異ならせて行った比較実験(実施例)について次に説明する。光ディスク1の基板には、直径120mm、厚さ0.6mmのポリカーボネート樹脂を用いた。この基板には、凸凹形状の位相ピットを予めコントロールトラック領域としてプリフォーマットした。コントロールトラック領域には、ディスクへの記録密度を表す情報を識別子として記録した。
Δ(3,3)F=Δ(4,3)F=Δ(5,3)F=Δ(6,3)F
Δ(3,4)F=Δ(4,4)F=Δ(5,4)F=Δ(6,4)F
・・・
Δ(6,3)L=Δ(6,4)L=Δ(6,5)L=Δ(6,6)L
のようにテーブル要素の値を等しくすれば、(表3)および(表4)の補正テーブルと同様の効果が得られることになる。
実施の形態1で述べた形態の他にも、ディスクの記録特性が異なる場合に補正テーブルの要素数を異ならせるものとした場合にも、同様の特別の効果を得ることができる。即ち、記録密度が同等でもディスク自体が熱干渉の小さい記録特性を有するものである場合には、補正テーブルの要素数を少なくしても記録マークのエッジ位置の変動が無視できるほど小さくなる。従って、テスト記録に要する時間を短縮することが可能となる。
図8に本実施の形態で用いる光ディスク1(光学的情報記録媒体)の俯瞰図を示す。図8では光ディスクの内部の説明のために、光ディスク1の一部分を切り取った状態で示してある。この光ディスクは記録再生用レーザ光の入射側から見て手前に位置する第1の情報層801と、奥に位置する第2の情報層802とからなる。識別子305は、各情報層に独立に存在し、補正精度に対応した識別子が記録されている。
以下では実施の形態2での比較実験(実施例)について説明する。光ディスク1の作製は以下のようにして行った。基板として、直径120mm、厚さ1.1mmのポリカーボネート樹脂を用い、表面にスパイラル状の幅0.25μm、ピッチ0.32μm、深さ20nmの溝を形成した。またこの基板には、凸凹形状の位相ピットを予めコントロールトラック領域としてプリフォーマットした。
本実施の形態は、ディスク上の識別子を再生することにより記録条件を識別し、例えばディスクへの記録線速度が低く、記録パルスのエッジを大きく変化させても記録マークのエッジ位置への影響が少ない記録特性を有するディスクでは、補正テーブルの各要素の分解能を低くして記録することにより、余分なテスト記録工程を経ることがないというものである。
実施の形態3を実現するための記録再生装置(光学的情報記録装置)の概略構成は図1と同様である。図9は図1における記録パルスエッジ補正回路8の詳細な構成を示す図である。図10は本実施の形態の動作を説明するフローチャート、また図11は本実施の形態の動作を説明する記録パルス信号の波形図である。
本実施の形態の効果を確かめるために、記録条件として線速度を異ならせて行った比較実験(実施例)について次に説明する。光ディスク1は、実施の形態1と同様の方法で作製した。
本実施の形態は、ディスクに対してランダムパターンの記録再生を行ってBERを測定し、BERが一定値よりも高い場合のみ、補正テーブルの要素数を増やしてテスト記録することにより、記録密度の低いディスクや熱干渉の小さいディスクでは余分なテスト記録工程を経ることがないというものである。
図12は、この実施の形態4を実現するための記録再生装置(光学的情報記録装置)の概略構成を示すブロック図である。本実施の形態における記録パルスエッジ補正回路8の構成は図2と同様のものを用いることができる。図12が実施の形態1の構成(図1)と異なるのは、識別子検出回路17に代わってBER測定回路1201を設けている点である。
Claims (3)
- 光学的情報記録媒体に情報を記録する光学的情報記録方法であって、
前記光学的情報記録媒体の情報記録条件または情報記録特性を識別する識別工程と、
記録マークを所定の位置に形成するために、記録パルス位置を補正する記録パルス補正工程とを含み、
前記記録パルス補正工程において、前記識別工程において識別された情報記録条件または情報記録特性に応じて、前記記録パルス位置の補正精度を異ならせ、記録パルス位置の補正量を補正精度に応じて規定した補正テーブルを用いて、前記記録パルス位置を補正することを特徴とする光学的情報記録方法。 - 請求項1に記載の光学的情報記録方法によって記録マークが記録されることで、情報が記録される、
光学的情報記録媒体。 - 請求項1に記載の光学的情報記録方法によって前記光学的情報記録媒体に記録された記録マークを読み取ることで、情報を再生する、
再生方法。
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