JP4198712B2 - 金属検出装置 - Google Patents
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Description
この金属検出機10は、所定周波数の信号Dを出力する信号発生器11と、信号Dを受けて被検査体1の搬送路2に所定周波数の交番磁界Eを発生する送信コイル12と、その交番磁界Eを等量ずつ受ける位置で被検査体1の搬送方向に沿って配置され、互いに差動接続された2つの受信コイル13a、13bを有し、交番磁界E中を通過する物体による磁界の変化に対応した信号を検出するための磁界変化検出部13と、磁界変化検出部13の出力信号Rを信号Dと同一周波数の信号によって同期検波する検波部16と、検波部16の出力信号に基づいて被検査体1に金属が混入しているか否かを判定する制御部17とを有している。
このときの信号Rには、混入金属の交番磁界Eへの影響によって生じる信号成分だけでなく、被検査体1自身(包装材等も含む)の交番磁界Eへの影響によって生じる信号成分が含まれており、この被検査体1自身による信号成分によって混入金属の検出限界が決定されてしまう。
信号発生器21と、
前記信号発生器21から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル22と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された2つの受信コイル23a、23bを含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部23と、
前記磁界変化検出部23の出力信号を、前記信号発生器21から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部26と、
前記検波部26の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段31と、
表示器36とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ前記交番磁界中に通過させたときに前記検波部26から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを記憶しているメモリ33を備え、
前記メモリ33に記憶されている異物サンプルの両データ間の関係に基づいて、前記判定手段31が前記しきい値によって検出可能な最小の金属の大きさを前記表示器36に表示させることを特徴としている。
操作部35を備え、
該操作部35の操作により前記異物サンプルの大きさを指定できるようにし、該指定された大きさに対応するしきい値を前記判定手段31に設定することを特徴としている。
信号発生器21と、
前記信号発生器21から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル22と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された2つの受信コイル23a、23bを含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部23と、
前記磁界変化検出部23の出力信号を、前記信号発生器21から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部26と、
前記検波部26の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段31と、
表示器36とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ前記交番磁界中に通過させたときに前記検波部26から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを記憶しているメモリ33と、
前記判定手段31によって被検査体に金属が混入していると判定されたとき、該被検査体について前記検波部26から出力された信号の最大振幅と、前記メモリ33に記憶されている異物サンプルの両データ間の関係に基づいて、被検査体に混入している金属の大きさを求めて前記表示器36に表示させる混入金属表示手段34とを設けたことを特徴としている。
信号発生器21と、
前記信号発生器から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル22と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された2つの受信コイル23a、23bを含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部23と、
前記磁界変化検出部23の出力信号を、前記信号発生器21から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部26と、
前記検波部26の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段31と、
表示器36とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ交番磁界中に通過させたときに検波部26から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータを記憶するとともに、設定モードで良品サンプルを交番磁界中に通過させた時に検波部26から出力される信号のデータを記憶するメモリ33を備え、
前記メモリ33に記憶されている前記異物サンプルの両データと前記良品サンプルのデータに基づいて、前記異物サンプルと前記良品サンプルの出力比が最大となる最適検波位相を求め、さらに該最適検波位相における前記良品サンプルと前記異物サンプルの検波出力の比と前記異物サンプルの大きさの関係を求めるとともに、前記比の基準値に対応する前記しきい値を前記判定手段31に設定することを特徴としている。
前記交番磁界に対する前記搬送路の位置が変更可能であり、
変更により設定した異なる複数の前記位置において良品サンプルを前記交番磁界中に通過させて各位置ごとに前記しきい値を求め、各位置と当該各位置に対応する各しきい値によって検出可能な異物の大きさとを前記表示器36に表示することを特徴としている。
前記メモリ33に、大きさが異なる金属の複数の異物サンプルの大きさを示すデータと、該異物サンプルが前記交番磁界中を通過したときに前記検波部26から出力されるべき信号のデータとをそれぞれ対応させたマスターデータがあらかじめ記憶されており、
該異物サンプルを実際に該交番磁界中にそれぞれ通過させて該検波部26から出力される信号のデータを用いて、該メモリ33に記憶している該マスターデータを補正することを特徴としている。
図1は、本発明を適用した金属検出装置20の構成を示している。
また、検波部26の検波位相は、混入金属に対する感度を決定するためのパラメータである。
例えば、操作部35の操作によって検波位相と判定のためのしきい値の設定処理が選択されると、移相器26aの移相量Δθを基準値(例えば0)に設定した状態で、メモリ33の所定領域33aに異物サンプルのデータDmが記憶されているか否かを判定する(S1、S2)。
r=(Xm2+Ym2)1/2
θ=tan−1(Ym/Xm)
で表される。
なお、本例において以下に説明する構成、作用、効果以外については第1の例と実質的に同一であるので、上述した第1の例における説明(図面を含む)を援用して可及的に繰り返しを避け、必要に応じ第1の例における参照符号を用いて説明を行うものとする。
これらの図において、金属検出装置120は、基台121、被検査体の搬送路をなすコンベア130、ヘッド140およびコントローラ150により構成されている。
本例の金属検出装置は、前述したようにコンベア130に対するヘッド140の位置(コンベア130の高さ)を調整することができる機構を備えており、コンベア130の高さ以外の条件が同一であってもコンベア130の高さを異なる値に設定すれば、被検査体に混入している金属の検出感度も異なったものとなる場合がある。
Claims (6)
- 信号発生器(21)と、
前記信号発生器から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル(22)と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された2つの受信コイル(23a, 23b)を含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部(23)と、
前記磁界変化検出部の出力信号を、前記信号発生器から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部(26)と、
前記検波部の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段(31)と、
表示器(36)とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ前記交番磁界中に通過させたときに前記検波部から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを記憶しているメモリ(33)を備え、
前記メモリに記憶されている異物サンプルの両データ間の関係に基づいて、前記判定手段が前記しきい値によって検出可能な最小の金属の大きさを前記表示器に表示させることを特徴とする金属検出装置。 - 操作部(35)を備え、
該操作部の操作により前記異物サンプルの大きさを指定できるようにし、該指定された大きさに対応するしきい値を前記判定手段に設定することを特徴とする請求項1記載の金属検出装置。 - 信号発生器(21)と、
前記信号発生器から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル(22)と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された2つの受信コイル(23a 、23b )を含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部(23)と、
前記磁界変化検出部の出力信号を、前記信号発生器から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部(26)と、
前記検波部の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段(31)と、
表示器(36)とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ前記交番磁界中に通過させたときに前記検波部から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータとを記憶しているメモリ(33)と、
前記判定手段によって被検査体に金属が混入していると判定されたとき、該被検査体について前記検波部から出力された信号の最大振幅と、前記メモリに記憶されている異物サンプルの両データ間の関係に基づいて、被検査体に混入している金属の大きさを求めて前記表示器に表示させる混入金属表示手段(34)とを設けたことを特徴とする金属検出装置。 - 信号発生器(21)と、
前記信号発生器から出力された信号を受けて、該信号の周波数に等しい周波数の交番磁界を被検査体の搬送路に発生させる送信コイル(22)と、
前記交番磁界を受ける位置で前記搬送路に沿って配置された2つの受信コイル(23a 、23b )を含み、前記交番磁界中を通過する物体による磁界の変化に対応する信号を出力する磁界変化検出部(23)と、
前記磁界変化検出部の出力信号を、前記信号発生器から出力された信号と等しい周波数の信号によって同期検波する検波部(26)と、
前記検波部の出力信号としきい値とを比較して、被検査体に混入している金属の有無を判定する判定手段(31)と、
表示器(36)とを有する金属検出装置において、
大きさが異なる金属の複数の異物サンプルをそれぞれ交番磁界中に通過させたときに検波部から出力される信号のデータと各異物サンプルの大きさを示すデータを記憶するとともに、設定モードで良品サンプルを交番磁界中に通過させた時に検波部から出力される信号のデータを記憶するメモリ(33)を備え、
前記メモリに記憶されている前記異物サンプルの両データと前記良品サンプルのデータに基づいて、前記異物サンプルと前記良品サンプルの出力比が最大となる最適検波位相を求め、さらに該最適検波位相における前記良品サンプルと前記異物サンプルの検波出力の比と前記異物サンプルの大きさの関係を求めるとともに、前記比の基準値に対応する前記しきい値を前記判定手段に設定することを特徴とする金属検出装置。 - 前記交番磁界に対する前記搬送路の位置が変更可能であり、
変更により設定した異なる複数の前記位置において良品サンプルを前記交番磁界中に通過させて各位置ごとに前記しきい値を求め、各位置と当該各位置に対応する各しきい値によって検出可能な異物の大きさとを前記表示器に表示することを特徴とする請求項4記載の金属検出装置。 - 前記メモリに、大きさが異なる金属の複数の異物サンプルの大きさを示すデータと、該異物サンプルが前記交番磁界中を通過したときに前記検波部から出力されるべき信号のデータとをそれぞれ対応させたマスターデータがあらかじめ記憶されており、
該異物サンプルを実際に該交番磁界中にそれぞれ通過させて該検波部から出力される信号のデータを用いて、該メモリに記憶している該マスターデータを補正することを特徴とする請求項1乃至5の何れかに記載の金属検出装置。
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