JP4188284B2 - 金属検出機およびその制御方法 - Google Patents
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Description
12 搬送コンベアの第1の端
13 搬送コンベアの第2の端
14 第1の搬送方向
15 被検査体
16 搬送路
100 搬送機駆動制御部
110 進入センサ
120 搬送制御部
130 コンベア駆動部
200 信号検出情報処理設定部
210 磁界変化検出部
211 信号発生器
212 送信コイル
213a、213b 受信コイル
214a、214b 移相器
215a、215b ミキサ
216a、216b 帯域フィルタ
217a、217b アナログデジタル変換器
220 制御部
230 操作部
240 表示器
D 信号発生器が発生する交流信号
E 送信コイルが発生させる交流磁界
L、L' 移相器の出力信号
R 受信コイルから出力される差動信号
X、Y BPFから出力される信号
Dx、Dy アナログデジタル変換器から出力される信号
Claims (4)
- 第1の端および第2の端を有し、被検査体(15)を搬送するための搬送コンベア(11)と、
前記搬送コンベアを駆動するためのコンベア駆動部(130)と、
前記搬送コンベアの搬送路(16)における検出領域に磁界を発生させ、前記被検査体が前記磁界中を通過するときの磁界変化を検出する磁界変化検出部(210)と、
前記磁界変化検出部によって検出された磁界変化量に基づいて、前記磁界中を通過する前記被検査体に金属が混入しているか否かを判断する制御部(220)と、
前記コンベア駆動部を制御して、前記被検査体の標準試料が前記検出領域を繰り返し通過するように前記搬送コンベアの搬送を制御する搬送制御部(120)と、
前記被検査体の標準試料を前記第1の端から前記第2の端に向かう第1の搬送方向(14)に第1の搬送速度で前記被検査体の標準試料を搬送させたときに、前記磁界変化検出部から得られる情報に基づいて、前記磁界変化の検出条件の設定を行わせる予備設定部(230)とを備えた金属検出機において、
前記被検査体が前記搬送路中の予め決められた位置に進入したことを検出する進入センサ(110)を備え、
前記搬送制御部は、前記進入センサからの信号に基づいて前記コンベア駆動部の駆動時間を制御して、前記被検査体の標準試料を前記第2の端から前記第1の端に向かう第2の搬送方向に前記第1の搬送速度と異なる第2の搬送速度で搬送し、前記第1の端と前記検出領域との間であって前記検出領域を同じ搬送条件で前記第1の搬送方向に繰り返し通過させる開始点に前記被検査体の標準試料を停止させることを特徴とする金属検出機。 - 請求項1に記載の金属検出機を構成する前記搬送コンベアの搬送を制御して、前記被検査体の標準試料が前記検出領域を繰り返し通過するように制御する方法であって、
前記被検査体の標準試料を、前記第1の搬送方向に搬送する制御を行う第1方向搬送制御ステップと、
前記第1方向搬送制御ステップでの制御により前記第1の搬送速度で搬送された前記被検査体の標準試料を、前記第1の搬送方向と反対の第2の搬送方向に前記第1の搬送速度と異なる第2の搬送速度で搬送する制御を行う第2方向搬送制御ステップとを備え、
前記第2方向搬送制御ステップは、前記第2の搬送方向に搬送された前記被検査体の標準試料が前記予め決められた位置に進入したことを検出する前記進入センサからの信号に基づいて、前記コンベア駆動部の駆動時間を制御して、前記被検査体の標準試料を前記第2の端から前記第1の端に向かう第2の搬送方向に搬送し、前記第1の端と前記検出領域との間であって前記検出領域を同じ搬送条件で前記第1の搬送方向に繰り返し通過させる開始点に前記被検査体の標準試料を停止させることを特徴とする金属検出機の制御方法。 - 前記第2方向搬送制御ステップは、前記第2の搬送速度を、前記第1の搬送速度よりも低速になるように制御を行うことを特徴とする請求項2に記載の金属検出機の制御方法。
- 前記第2方向搬送制御ステップは、前記進入センサが前記被検査体の標準試料を検出した後の所定時間経過後に、前記第2の搬送速度を減速させて前記被検査体の標準試料を前記第1の搬送方向の搬送を行う前記開始点に停止させることを特徴とする請求項2に記載の金属検出機の制御方法。
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- 2004-06-07 JP JP2004168803A patent/JP4188284B2/ja not_active Expired - Fee Related
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