KR100634648B1 - 금속 검출 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (6)
- 신호 발생기(21);상기 신호 발생기로부터 출력된 신호를 받아서, 상기 신호의 주파수와 동일한 주파수의 교번 자계를 피검사체의 반송로에 발생시키는 송신 코일(22);상기 교번 자계를 받는 위치에서 상기 반송로를 따라 배치된 2개의 수신 코일(23a, 23b)을 포함하며, 상기 교번 자계 속을 통과하는 물체로 인한 자계의 변화에 대응하는 신호를 출력하는 자계 변화 검출부(23);상기 자계 변화 검출부의 출력신호를, 상기 신호발생기로부터 출력된 신호와 동일한 주파수의 신호에 의해 동기 검파하는 검파부(26);상기 검파부의 출력신호와 문턱값을 비교하여, 피검사체에 혼입되어 있는 금속의 유무를 판정하는 판정수단(31); 및표시기(36)를 갖는 금속 검출 장치에 있어서,크기가 다른 금속의 복수의 이물질 샘플을 각각 상기 교번 자계속으로 통과시켰을 때 상기 검파부로부터 출력되는 신호의 데이터와 각 이물질 샘플의 크기를 나타내는 데이터를 기억하고 있는 메모리(33)를 구비하고,상기 메모리에 기억되어 있는 이물질 샘플의 데이터를 토대로 하여, 상기 판정수단에 의해 검출가능한 금속의 크기를 상기 표시기에 표시시키는 것을 특징으로 하는 금속 검출 장치.
- 제 1 항에 있어서,조작부(35)를 구비하고,상기 조작부의 조작에 의해 상기 이물질 샘플의 크기를 지정할 수 있도록 하여, 상기 지정된 크기에 대응하는 문턱값을 상기 판정 수단에 설정하는 것을 특징으로 하는 금속 검출 장치.
- 신호 발생기(21);상기 신호 발생기로부터 출력된 신호를 받아서, 상기 신호의 주파수와 동일한 주파수의 교번 자계를 피검사체의 반송로에 발생시키는 송신 코일(22);상기 교번 자계를 받는 위치에서 상기 반송로를 따라 배치된 2개의 수신 코일(23a, 23b)을 포함하며, 상기 교번 자계 속을 통과하는 물체로 인한 자계의 변화에 대응하는 신호를 출력하는 자계 변화 검출부(23);상기 자계 변화 검출부의 출력신호를, 상기 신호발생기로부터 출력된 신호와 동일한 주파수의 신호에 의해 동기 검파하는 검파부(26);상기 검파부의 출력신호와 문턱값을 비교하여, 피검사체에 혼입되어 있는 금속의 유무를 판정하는 판정수단(31); 및표시기(36)를 갖는 금속 검출 장치에 있어서,크기가 다른 금속의 복수의 이물질 샘플을 각각 상기 교번 자계속으로 통과시켰을 때 상기 검파부로부터 출력되는 신호의 데이터와 각 이물질 샘플의 크기를 나타내는 데이터를 기억하고 있는 메모리(33)와,상기 판정수단에 의해 피검사체에 금속이 혼입되어 있다고 판정되었을 때, 상기 피검사체에 대해 상기 검파부로부터 출력된 신호와, 상기 메모리에 기억되어 있는 이물질 샘플의 데이터를 토대로 하여, 피검사체에 혼입되어 있는 금속의 크기를 구해 상기 표시기에 표시시키는 혼입 금속 표시 수단(34)을 설치한 것을 특징으로 하는 금속 검출 장치.
- 신호 발생기(21);상기 신호 발생기로부터 출력된 신호를 받아서, 상기 신호의 주파수와 동일한 주파수의 교번 자계를 피검사체의 반송로에 발생시키는 송신 코일(22);상기 교번 자계를 받는 위치에서 상기 반송로를 따라 배치된 2개의 수신 코일(23a, 23b)을 포함하며, 상기 교번 자계 속을 통과하는 물체로 인한 자계의 변화에 대응하는 신호를 출력하는 자계 변화 검출부(23);상기 자계 변화 검출부의 출력신호를, 상기 신호발생기로부터 출력된 신호와 동일한 주파수의 신호에 의해 동기 검파하는 검파부(26);상기 검파부의 출력신호와 문턱값을 비교하여, 피검사체에 혼입되어 있는 금속의 유무를 판정하는 판정수단(31); 및표시기(36)를 갖는 금속 검출 장치에 있어서,크기가 다른 금속의 복수의 이물질 샘플을 각각 교번 자계속으로 통과시켰을 때 검파부로부터 출력되는 신호의 데이터와 각 이물질 샘플의 크기를 나타내는 데이터를 기억함과 동시에, 양호품 샘플을 교번 자계속으로 통과시켰을 때 검파부로 부터 출력되는 신호의 데이터를 기억하는 메모리(33)를 구비하고,상기 메모리에 기억되어 있는 이물질 샘플의 데이터와 양호품 샘플의 데이터를 토대로 하여, 이물질 샘플과 양호품 샘플의 출력비가 최대가 되는 최적 검파 위상을 구하고, 또 상기 최적 검파 위상에 있어서의 양호품 샘플과 각 이물질 샘플의 검파출력의 비와 각 이물질 샘플의 크기의 관계를 구함과 동시에, 상기 비의 기준값에 대응하는 상기 문턱값을 설정하는 것을 특징으로 하는 금속 검출 장치.
- 제 4항에 있어서,상기 교번 자계에 대한 상기 반송로의 위치가 변경가능하며,변경에 의해 설정한 상이한 복수의 상기 위치에서 양호품 샘플을 상기 교번 자계속으로 통과시켜 각 위치마다 상기 문턱값을 구하여, 각 위치와 상기 각 위치에 대응하는 각각의 문턱값에 의해 검출가능한 이물질의 크기를 상기 표시기에 표시하는 것을 특징으로 하는 금속 검출 장치.
- 제 1항 내지 제 5항 중 어느 하나에 있어서,크기가 다른 금속의 복수의 이물질 샘플을 상기 금속 검출 장치의 상기 교번 자계속으로 각각 통과시켜 상기 검파부로부터 출력되는 신호의 데이터를 마스터 데이터로서 취득하고,상기 마스터 데이터를 다른 상기 금속 검출 장치의 상기 메모리에 기억시킴과 동시에, 상기 복수의 이물질 샘플을 다른 상기 금속 검출 장치의 교번 자계 속 으로 각각 통과시켜 검파부로부터 출력되는 신호의 데이터에 의해 상기 마스터 데이터를 보정하는 것을 특징으로 하는 금속 검출 장치.
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