JP4086934B2 - 記録媒体上の画像のディジタル表現を発生するための方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 41
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 51
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 43
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 5
- 230000010076 replication Effects 0.000 claims description 2
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 10
- 210000003128 head Anatomy 0.000 description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 2
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 2
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/00795—Reading arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/024—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original
- H04N1/028—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information pick-up
- H04N1/02815—Means for illuminating the original, not specific to a particular type of pick-up head
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
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- Signal Processing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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- Image Processing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
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- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Description
【発明の分野】
この発明は、分析スキャナに取付けられた記録媒体に含まれる画像(イメージ)の欠陥による影響を検出および/または低減するための装置および方法に関する。
【0002】
【先行技術の説明】
画像の電子表現を発生するための典型的な分析スキャナにおいて、記録媒体上の画像はさまざまな方法によって透明ドラムまたはフラットベッドなどの記録媒体支持表面に取付けられる。これらの各々の方法においては、走査される画像の区域に異物、スクラッチまたは油の泡が確実に存在しないようにしなければならない。以前は、取付が有効であるかどうかは取付けられた画像を目視検査することによって判断されたが、通常の照射ではこのような欠陥を識別することは困難である。
【0003】
欠陥が識別されると、異物など簡単に取除くことができるものもあるが、このような解決策によっては十分に完全な画像が得られなかったり、欠陥に対処するために自動工程が好ましかったりする用途が多い。一例を挙げると、記録媒体に記録される画像はその後の処理、記憶および出力などのためにディジタル化される必要がある。これは従来、記録媒体を走査し、記録媒体から放射されて画像レンズに当たる光を感知し、その後、受取られた光をピクセルごとにディジタル化することによって達成されてきた。スクラッチなどの欠陥があれば、欠陥に当たる光は画像レンズから散乱し、この結果画像には暗い縞模様が生ずる。これらの暗い縞模様はディジタル化された画像内に永久に記録される。これは以前は、エアブラシ技術を用いるか、または拡散源を用いて透明体をすべての方向から照射することのいずれかによって対処されてきた。第1の試みの問題としては、時間がかかることおよびスクラッチを認識しそれに対処できるオペレータの技術が必要であることが挙げられ、第2の試みは光の効率が非常に悪い。
【0004】
プレート物体の表面状態を判断するための1つの試みがUS−A−4989973に記載されている。プレート物体の方に光が方向づけられ、プレート物体から拡散反射した光に応答して光路外に置かれたセンサが電気信号を発生する。プレート物体の表面状態は拡散反射を基準として判断される。実際は拡散光を正確に感知することは困難である。
【0005】
US−A−3920311は顕微鏡対物レンズの視野内で物体を簡単に観察できるようにする顕微鏡照明器を記載している。これは欠陥の検出にはかかわらない。
【0006】
US−A−5058982は反射によって不透明物体を検査するためのシステムを記載している。
【0007】
EP−A−0678910は半球形カバーに収められた半導体ディスクの表面を照射するための照射装置を記載している。これは十分に自動化した品質管理を可能にする。
【0008】
WO 93−13406は、光カードなどの光記録媒体の表面上の欠陥を識別するための装置を記載している。このシステムは反射によって機能する。
【0009】
【発明の概要】
この発明の第1の局面に従って、記録媒体支持部の表面またはその上に取付けられる記録媒体にある欠陥を検出するための方法が提供され、この方法は支持表面を源からの放射ビームで照射するステップを含み、この支持部は放射に対して透過的であり、さらにこの方法は放射源からずれて配置された放射吸収表面に対して支持表面を観察するステップを含み、観察方向は照射ビームが支持表面に当たる方向からずれた角度をなす方向であり、放射ビームは支持部を通過しており、さらにこの方法は高輝度の領域を検出することにより欠陥の存在を決定するステップを含む。
【0010】
取付けられた記録媒体、記録媒体支持表面自体または媒体と媒体支持表面との間にある欠陥を観察するための新しい方法が考案された。この方法は、表面が観察される方向からずれた角度で支持表面を照射することにかかわる。欠陥のないスキャナ表面の領域が観察方向に沿って観察されると、この方法は放射源からの直接光線が確実に観察者の視線からずれるようにし、かつ領域が確実に実質的に暗くなるようにする。しかしながら、媒体、媒体支持表面またはそれらの間に欠陥があれぱ、光線は観察者の視線の中に散乱することとなる。この結果、欠陥に対応する高輝度区域によって観察領域は実質的に暗くなることとなる。
【0011】
このような方法はさまざまな異なった方法で実施され得ることを認識されたい。たとえばこの工程は支持部が裸眼で観察されるよう手動で行なわれてもよく、これに代えてこの方法は自動化されてもよく、この場合、観察手段はある形の走査システムであってもよい。
【0012】
いずれの場合にも、典型的には放射は表面に対する法線からずれた角度で記録媒体支持表面に当り、表面は法線に沿って観察されるが、法線からずれた角度で支持表面を観察しかつ法線照射をもたらすことは可能であると考えられる。これにより表面の配向および観察が簡単になる。
【0013】
放射吸収表面はさまざまな形であってもよいが、好ましくは、ビーム源が発生する実質的にすべての波長を吸収する形のものである。可視波長の場合、放射吸収表面は好ましくは黒であるか、または暗い青である。
【0014】
さらに、この発明の第2の局面に従った装置を用いることもできるが、さまざまな放射源を用いることが可能である。この発明の第2の局面においては、照射装置であって、走査される記録媒体がその上に位置づけられて用いられる分析スキャナの記録媒体支持表面を隣接して位置づけるためのものが提供され、この装置は、少なくとも部分的にその長さに沿って延びるスロットを備えたハウジングと、ハウジング内に支持され、それにより放射ビームがスロットを通過する、少なくとも1つの放射源と、放射吸収表面とを含み、この放射吸収表面は放射源からずれて配置されて、ビーム方向からずれた方向に媒体支持表面を通してスロットを観察するときに背景を形成するようにする。
【0015】
照射するための放射源は発光ダイオード、光バルブまたは半導体レーザのいずれであってもよいが、好ましくは、蛍光チューブである。蛍光チューブには長い照射源をもたらすという利点がある。したがって、単一チューブは画像支持表面に対して配置されると、多数の源の使用を必要とせず、支持表面の長さに沿って光線をもたらすことができる。
【0016】
湾曲ミラーまたはレンズなどの焦点合わせ手段を用いて放射ビームを発生することもできるが、典型的には、装置は放射をビームにする放射シールドをさらに含むこととなる。焦点合わせ手段を用いるよりもシールドを用いると構成が遙に簡単になる。
【0017】
欠陥の観察を助けるために、放射シールドには好ましくは放射吸収表面が組込まれる。シールドとスクリーンとが切離されている場合よりも、構成が簡単になる。
【0018】
放射シールドはハウジング内であればどこに置かれてもよいが、好ましくは背景表面がスロットと対面するようスロットと向かい合ってハウジング内に配置される。これにより、それに対してスキャナ表面または記録媒体が観察される背景がもたらされる。
【0019】
画像支持表面はフラットベッドスキャナにおけるように平らな表面であるか、または分析シリンダスキャナにおけるようにシリンダドラムであってもよい。
【0020】
ハウジングは所望の形であればいかなるものであってもよいが、典型的にはチューブである。これにより、平らな取付表面の下またはシリンダドラムの中のいずれかに容易に挿入できるようになる。
【0021】
照射は単一源によってもたらされてもよいが、典型的には装置は少なくとも2つの放射源を含み、これらの少なくとも2つの放射源は、スロットの中心およびチューブの軸を通る面のまわりで左右対称に支持される。左右対称に取付けられた2つの源を用いると、2つの異なった方向からの光線は欠陥への入射光線になる。これには、より多くの放射が散乱するため、観察時に欠陥が明るく見えるようになり、かつ欠陥を確実に均一に照射するという利点がある。
【0022】
この装置は、この発明の第1の局面による方法を実施するようにする照射をもたらす。欠陥が検出されると、異物などそれらのうちいくらかは手で取除くことができる。それでもなおいくらかの欠陥は残り、これらはさらなる自動工程を実施することにより対処され得る。これに代えて、場合によっては手動方法よりも自動方法の方が好ましいこともあり、たとえば多数の画像が短い時間で取扱われなければならない場合には自動方法の方が好ましい。
【0023】
欠陥が自動的に取扱われるようにするために、この発明の第3の局面に従って、記録媒体上の画像のディジタル表現を発生するための方法が提供され、この方法は、
a) 第1の態様で媒体を照射して媒体からの放射が感知装置に当たるようにし、この感知装置が媒体の外観の第1のディジタル表現を発生するステップと、
b) 第2の態様で媒体を照射し、それにより媒体上の欠陥からの放射の輝度が媒体の他の部分からの放射と比較して高められるようにし、かつ感知装置に放射が当たるようにして媒体の外観の第1のディジタル表現を発生するようにするステップと、
c) 第1のディジタル表現を変形して、第2のディジタル表現を基準とすることにより欠陥による影響をなくして画像のディジタル表現を発生するステップとを含む。
【0024】
この発明の第4の局面に従って、記録媒体上の画像のディジタル表現を発生するための装置が提供され、この装置は上に記録媒体が配置され得る記録媒体支持部と、支持部上の媒体を放射で照射するための手段と、支持部上の媒体からの放射を感知し、かつ照射されている媒体の外観のディジタル表現を発生するための感知装置と、感知装置に接続された処理手段とを含み、装置はこの発明の第1の局面による方法を実施するようにされている。
【0025】
さらに、この発明の第1または第2の局面のうちいずれかに関連または独立して、記録媒体上の欠陥を自動的に取扱うための新しい方法および装置が考案された。このプロセスは第1に媒体が全体的に均等に照射され、第2に欠陥が強調されるよう、2つの異なった態様で媒体を本質的に照射することにより達成される。これらの2つの照射態様は、別個の光源を用いるか、または1つの位置から別の位置に移動された単一源を用いることにより達成することができる。特に、照射の第2の態様は、欠陥のみによって散乱した光が画像レンズに受取られるように光源をずらしておくか、またはこの発明の第2の局面による照射装置を用いることにより、達成することができる。
【0026】
ステップc)はさまざまな方法で実施することができる。非常に簡単な試みでは、できれば適切な加重修正の後に、第2のディジタル表現が第1のディジタル表現に加えられ得る。
【0027】
より高度な試みでは、第2のディジタル表現は欠陥の位置を識別するマスクを形成するよう処理され、第1のディジタル表現は欠陥による影響をなくするようマスクの制御のもとで修正される。この修正は内挿または複製技術であるか、またはガイドとしてマスクを用いてもとの欠陥部分を強調する、電子エアブラシ技術などの技術的な方法であってもよい。
【0028】
マスクの作成はしきい値技術を用いて行なうことができる。たとえば、予め定められたしきい値と記憶された各ピクセル値とを比較するか、画像区域にわたる変数であり得るしきい値を自動的に計算するか、または背景から欠陥を選択するよう設計されたある他のアルゴリズムを用いることにより行なわれる。
【0029】
第2の試みは第1の試みよりも好ましい。なぜなら、ステップb)の間、感知装置によって画像の部分が依然として感知されるおそれがあり、これをなくす必要がある。たとえば、透明体の場合には、透明体の乳剤が光をさらに散乱させ、それにより透明体上に画像の、付加的な微かな複製を発生することとなる。
【0030】
ステップ(a)および(b)はこれに代えて単一走査の間に2つの照射源から瞬間的に光を発することにより、いかなる順番で、または同時に行なわれてもよい。
【0031】
第3および第4の局面は不透明な記録媒体によって実現することができるが、好ましくは媒体は透明であり、一方の側から照射され、感知装置は他方の側から出された放射を検出するよう位置付けられる。
【0032】
処理手段は別個のハードウェアコンポーネント、適切にプログラムされたコンピュータまたはこれらの2つの組合せの形であってもよい。
【0033】
記録媒体はポジまたはネガを含んでもよく、これらは好ましくは、透過光によって第1の態様で走査されることとなる。透過光または反射光のいずれかを用いると第2の態様で記録媒体を走査することができる。
【0034】
照射源は典型的には可視波長範囲の光を発生することとなるが、場合によっては可視波長範囲外の波長で動作することもある。
【0035】
典型的には、2つの源が設けられるが、場合によっては、記録媒体を迅速に十分に走査できるようにするために2つより多い源が用いられてもよく、または単一の移動可能な源が用いられてもよい。一般に放射は可視光を含むが、可視範囲外の波長、たとえばUVまたは赤外線を含んでもよい。
【0036】
発明による装置および方法のいくつかの例は添付の図面を参照して説明される。
【0037】
【詳細な説明】
図1から3に示される装置は不透明チューブ1を含み、この不透明チューブ1は、長さが約800mmであり、直径が約85mmであり、スロット2を有し、このスロット2の長さは約450mmであり、幅は約30mmであり、チューブの長さに沿って延びる。チューブ1の内部にはチューブの軸に平行に、横方向に間隔をあけて配置された2つの蛍光チューブ3および4がある。これらはほぼ半球状の固定具5および6によって定位置に保たれる。好ましい実施例においては、蛍光チューブ3および4の他方の端部を支持するよう2つの付加的な固定具15および16がさらに含まれる。固定具5はチューブ1を通って延びるねじ7および8によって定位置に保たれる。残りの固定具6、15および16を定位置に保つために、これに似たねじ(図示せず)が用いられる。
【0038】
チューブ1が潰れないようにするために、1対の支持ストラット9および19がそれぞれの対の固定具5および6ならびに15および16間に横方向に延びる。チューブの柔軟性を高めるようスロット2の反対側でチューブ1の外面に長方形の溝10が位置づけられる。これによりスロット幅の調整が容易になる。選択されたスロット幅に応じて、異なったストラット9および19が用いられることとなる。
【0039】
装置は1対の放射シールド11および12をさらに含み、これらは図2に示され、図1では省略されている。これらのシールドはスロット2を通る直接放射を蛍光チューブ3および4から遮蔽し、かつスロット2と関連して2つの放射ビーム13および14を規定する。これらのビームはスロット2を通り、交差して最大照射区域17を形成する。
【0040】
好ましい実施例において、チューブ1ならびにシールド11および12は、蛍光チューブ3および4によって放射され、それらの上に当たるすべての放射を吸収するよう黒くされている。黒いシールド11および12により、それに対して支持表面および透明体を観察することができる背景が提供される。
【0041】
図3は照射装置の平面図を示す。この図では、スロット2の面に対して垂直な角度でチューブの方を見ると、スロットを通して黒いシールド11および12しか見えないことが明らかである。放射シールド11および12はチューブ1に沿った途中にあり、固定具5および6は一端に、固定具15および16は他方端にある。
【0042】
蛍光チューブ3および4は固定具5、6、15および16の孔を通して取付けられるため、チューブの端部は固定具の外側端部から突出する。チューブ3および4の突出端部23および24はそれぞれ放射を吸収するよう黒くされている。これにより、装置の有効性を低減するおそれのある、支持表面への不所望な照射が避けられる。
【0043】
チューブ3および4はリード20および21によって電源装置18に接続される。各リードはそれぞれ2つのワイヤ25および26ならびに27および28を含む。リード20および21はチューブ1の一端に入り、ここで各リード20および21からのワイヤ25および27がそれぞれチューブ3および4のうち1つに接続される。残りのワイヤ26および28は放射シールド11および12の背後を通り、蛍光チューブ3および4の他方端に接続される。
【0044】
この発明の方法の一例を実施するために、装置は分析スキャナ(図2)のドラム29の内部に挿入され、いくつかの支持手段またはブラケット(図示せず)によって記録媒体支持表面29Aに隣接して定位置に保たれてもよく、または装置は必要に応じてユーザが装置を位置づけることのできるよう手で保持されてもよい。シリンダドラムスキャナの使用は制限的なものではなく、装置はフラットベッドスキャナと等しくうまく機能し得ることに留意されたい。ドラムは上に取付けられる透明体30を有してもよいし、または有さなくてもよい。装置は、欠陥22がチェックされるドラムの領域が最大照射区域17内に含まれるように位置づけられる。その後、観察方向に沿って、スロット2の方を観察者が見ることにより領域が検査される。
【0045】
一般的には、好ましい観察方向は支持表面29Aに対する法線に沿った方向であり、この場合光ビームは観察方向からずれた角度でドラム表面に当たる。さらに、光源3および4はスロット2のエッジによって観察者からは見えない。このため、観察方向100に沿って見ている観察者の目に直接、放射光線が入射することはない。したがって、黒い背景に対して観察する時、ドラムおよび透明体は実質的に暗く見える。
【0046】
分析スキャナドラム29はスクラッチまたは汚点などの欠陥22を含み得る。取付けられた透明体もまた、異物およびスクラッチを含む欠陥による影響を受けることとなり、透明体が油で取付けられる場合にはスキャナ表面29Aと透明体30との間に油の泡が形成されるおそれがある。これらの欠陥22に入射する光線は散乱することとなる。散乱光の中には観察者の目に入射するものもある。
【0047】
このため、観察領域は高輝度の区域により均一に暗く見えることとなる。これらの区域はドラムまたは透明体のいずれかにある欠陥の位置に対応する。典型的な透明体の外観の一例が図4に示される。
【0048】
図4はスキャナドラム29に取付けられた透明体30の目視検査によって見える画像を表わす。観察すると、ドラム29および透明体30は低輝度の区域により実質的に明るく見えるのではなく、高輝度の区域により実質的に暗く見えるという点で画像はネガであると考えられる。
【0049】
マーク31および32はそれぞれドラム29および透明体30のスクラッチの結果として見える画像を表わす。異物はすべて、1点から光線を散乱することとなり、したがって異物は照射点33として観察することができる。最後に、透明体30とドラム表面29との間に油の泡があると、わずかに輝度の高い領域34が形成されることとなり、この領域34はさらに輝度の高い外周35によって囲まれる。高輝度の外周は泡のエッジを形成する油に多く散乱することにより生じる。
【0050】
この発明は目視検査に制限されるのではなく、光感知スキャナなどの代替的な検出手段と関連して照射装置を用いることもできることに注目されたい。装置がスキャナと用いられる場合には、たとえば赤外線などの不可視照射を用いることもできる。この場合ドラム表面を照射するために用いられる放射線の波長をスキャナが確実に検出できるようにしなければならない。
【0051】
欠陥が検出されると、それらのうちいつらかは取除くことができる。これはさまざまな方法で行なうことができ、欠陥の種類に大きく依存する。たとえば、媒体支持部の表面または記録媒体上の異物は表面をきれいにすることにより取除くことができる。媒体と支持表面との間にある油の泡は再度取付けるか、その領域に圧力を加えて、集められた油を分散することにより減らすことができる。さらに、支持表面にスクラッチがある場合には、それを取り換えることが必要であろう。
【0052】
欠陥の補償を可能にする装置が図5に示され、これは透明シリンダまたはフラットベッドなどの記録媒体支持部51を含む。像が映し出される透明体52は支持部51の表面に固定される。支持部51の上方には、走査ヘッド53が位置づけられ、この走査ヘッド53はモータ55によって回転する親ねじ54に取付けられる。支持部51の下方には第1の光源56が位置づけられる。これに代えて支持部51は、透明体が上に置かれるギャップを規定してもよい。
【0053】
記録媒体支持部51は透明体52をヘッド53の下で第1の方向に走査されるよう移動することができ、第1の方向は、親ねじ54が回転すると、それに沿ってヘッド53が移動する第2の方向に直交する。源56はヘッド53とともに移動するよう取付けられる。このように、透明体52全体を走査ヘッド53で走査することができる。
【0054】
走査ヘッド53は画像レンズ57を含み、これは光または放射検出器58の下に取付けられる。検出器58は、透明体52を通過し、(かつ透明体52上の画像によって変調された)光を受取る。検出器58から得られた電気信号は線59に沿ってプロセッサ60に送られる。プロセッサ60は信号をディジタル化し、それらをストア61に送り、このストア61では、受取られた光の輝度を表わす透明体52の各ピクセルに対する値がストアされる。
【0055】
この例では白黒画像の走査が説明されたが、この発明はカラー画像にも適用することができ、この場合走査ヘッド3は従来の態様で適切に変形されることとなる。
【0056】
最後に、補助光源62が設けられ、この補助光源62はビーム63を発生し、このビーム63はヘッド53から透明体52を通って延びる縦軸からずれる。この源は単に、図5に示されるようなずらしておかれた源であってもよいが、蛍光チューブ3および4を別個に起動することができるならば、図1の照射装置を用いていわゆるずれた照射をもたらすようにすることもできる。
【0057】
次に、図5に示した装置の動作を説明する。
初めに、透明体52が支持部51に取付けられ、源56が活性化(作動)する。源62は不活性の(停止した)ままである。源56は全体的に均一に、ヘッド53の下方にある透明体52を照射し(図6のステップ70)、透明体52の小さな区域からの光はCCD検出器58上にレンズ57によって焦点合わせされる。検出器は当業者には周知である形の、CCD検出器アレイなどのいかなる適切な検出器であってもよい。親ねじ54が回転して走査ヘッド53がモータ55の制御下で親ねじに沿って(源56の移動に対応して)移動するようにし、支持部51は直交方向に移動する。このように、透明体52のすべての部分の画像がCCD検出器58上に映し出される(ステップ71)。検出器58からの信号は線59に沿ってプロセッサ60にダウンロードされ、このプロセッサ60で信号はディジタル化され、その後、それぞれのピクセルに対応するストア61の適切な位置にストアされる(ステップ72)。
【0058】
次に、光源56が不活性化(停止)し、光源62が活性化(作動)する。源62からの光は鋭角をなして透明体52上に当たるため、実質的には透明体52上のスクラッチなどの欠陥によって回折または屈折した光のみが画像レンズ57に方向づけられることとなる。透明体52上の乳剤により光のうちいくらかを散乱させることもできるが、これは一般的には、スクラッチによって散乱する光よりも遙に弱い(ステップ73)。透明体52は再度走査され(ステップ74)、源62はヘッド53の移動とともに動き、透明体52の外観の、ディジタル化された第2の画像がストア61にストアされる(ステップ75)。
【0059】
画像は、スクラッチなどの欠陥から予期される光の輝度のみが上回るように設定された、予め定められた輝度しきい値と比較され得る。その後マスク画像が生成され、このマスク画像においては、各ピクセルが、スクラッチを示すために十分な光がないかあるかをそれぞれ示す単一の2進値「0」または「1」を含む。
【0060】
次にプロセッサ60はマスク画像を用いて、ディジタル化された第1の画像にあるスクラッチを突き止め、マスク画像において「1」で識別されたピクセルのストア値と、隣接するピクセルに基づいた内挿値とを置換える(ステップ77)。このように第1の画像のスクラッチによる影響が取除かれる。
【0061】
示した例では、2つの源56および62が用いられる。場合によっては、可動クレードルに源56を取付けて、源62の位置に示される位置から調節できるようにすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】照射装置の斜視図である。
【図2】図1に示した装置が分析スキャナドラムに取付けられたときの断面図である。
【図3】図1に示した装置の平面図である。
【図4】照射装置を用いて観察した典型的な画像を表わす図である。
【図5】欠陥による影響を低減するために用いられる装置の概略的なブロック図である。
【図6】図5に示した装置の動作を示すフロー図である。
【符号の簡単な説明】
1 ハウジング
2 スロット
3,4 放射源
Claims (9)
- 記録媒体上の画像のディジタル表現を発生するための方法であって、前記方法は
a)第1の方向で前記媒体を照射して前記媒体からの放射が感知装置に当たるようにし、前記感知装置が前記媒体の外観の第1のディジタル表現を発生するようにするステップと、
b)前記第1の方向と異なる第2の方向から前記媒体を照射して、それにより前記媒体の欠陥からの放射の輝度が、前記媒体の他の部分からの放射と比較して高められ、かつ前記感知装置に前記放射が当たるようにして前記媒体の外観の第2のディジタル表現を発生するようにするステップと、
c)前記第1のディジタル表現を変形して前記第2のディジタル表現を基準にして前記欠陥による影響を取除いて、前記画像のディジタル表現を発生するようにするステップとを含み、
前記ステップc)が、内挿または複製方法によって欠陥に対応する各ピクセルに対して前記第1のディジタル表現に値を発生するステップを含む、方法。 - 前記ステップc)が、前記第2ディジタル表現が先のステップで加重された後に必要であれば前記第1のディジタル表現に前記第2のディジタル表現を加えるステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記ステップc)が、前記第2のディジタル表現からマスクを作成し、かつ前記マスクを基準にして前記第1のディジタル表現を変形するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記マスクが、ストアされた各ピクセル値と予め定められたしきい値とを比較することによって作成される、請求項3に記載の方法。
- 前記ステップa)において前記媒体が垂直に照射され、前記ステップb)において前記媒体が垂直ではない方向から照射される、請求項1から4のいずれかに記載の方法。
- 前記放射が可視光を含む、請求項1から5のいずれかに記載の方法。
- 前記ステップaおよびbがシーケンシャルに行なわれる、請求項1から6のいずれかに記載の方法。
- 前記媒体が透過的であり、かつ一方の側から照射され、前記感知装置
が他方の側から出される放射を検出するよう位置づけられる、請求項1から7のいずれかに記載の方法。 - 前記記録媒体が透明体またはフォトグラフィックネガを含む、請求項1から8のいずれかに記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GBGB9613685.8A GB9613685D0 (en) | 1996-06-28 | 1996-06-28 | An illumination unit |
GB9613685:8 | 1996-06-28 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1090198A JPH1090198A (ja) | 1998-04-10 |
JP4086934B2 true JP4086934B2 (ja) | 2008-05-14 |
Family
ID=10796097
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17031597A Expired - Fee Related JP4086934B2 (ja) | 1996-06-28 | 1997-06-26 | 記録媒体上の画像のディジタル表現を発生するための方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6091834A (ja) |
EP (1) | EP0816833A3 (ja) |
JP (1) | JP4086934B2 (ja) |
GB (1) | GB9613685D0 (ja) |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69733946T2 (de) | 1996-05-10 | 2006-05-24 | Eastman Kodak Co. | Farbsensor mit luminanzpriorität |
US6442301B1 (en) | 1997-01-06 | 2002-08-27 | Applied Science Fiction, Inc. | Apparatus and method for defect channel nulling |
US6380539B1 (en) | 1997-01-30 | 2002-04-30 | Applied Science Fiction, Inc. | Four color trilinear CCD scanning |
JP2002503066A (ja) | 1998-02-04 | 2002-01-29 | アプライド、サイエンス、フィクション、インコーポレーテッド | 赤外線ラインを備えた多重線形アレイセンサ |
WO1999046729A1 (en) | 1998-03-13 | 1999-09-16 | Applied Science Fiction, Inc. | Image defect correction method |
US6437358B1 (en) * | 1999-02-04 | 2002-08-20 | Applied Science Fiction, Inc. | Apparatus and methods for capturing defect data |
US6792162B1 (en) * | 1999-08-20 | 2004-09-14 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus to automatically enhance the quality of digital images by measuring grain trace magnitudes |
AU7586800A (en) | 1999-09-16 | 2001-04-17 | Applied Science Fiction, Inc. | Method and system for altering defects in a digital image |
WO2001027688A2 (en) | 1999-10-08 | 2001-04-19 | Applied Science Fiction, Inc. | System and method for correcting defects in digital images through selective fill-in from surrounding areas |
EP1226710A1 (en) | 1999-10-08 | 2002-07-31 | Applied Science Fiction | Method and apparatus for differential illumination image-capturing and defect handling |
US6924911B1 (en) | 1999-10-12 | 2005-08-02 | Eastman Kodak Company | Method and system for multi-sensor signal detection |
US6711302B1 (en) | 1999-10-20 | 2004-03-23 | Eastman Kodak Company | Method and system for altering defects in digital image |
US6683995B2 (en) | 1999-12-23 | 2004-01-27 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for correcting large defects in digital images |
US6704458B2 (en) | 1999-12-29 | 2004-03-09 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for correcting heavily damaged images |
US7164511B2 (en) | 1999-12-29 | 2007-01-16 | Eastman Kodak Company | Distinguishing positive and negative films system and method |
US6862117B1 (en) | 1999-12-30 | 2005-03-01 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for reducing the effect of bleed-through on captured images |
US6720560B1 (en) | 1999-12-30 | 2004-04-13 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for scanning images |
WO2002025345A2 (en) | 2000-09-22 | 2002-03-28 | Applied Science Fiction | Lens focusing device, system and method for use with multiple light wavelengths |
US20020106134A1 (en) * | 2000-09-22 | 2002-08-08 | Dundon Thomas A. | Multiple-orientation image defect detection and correction |
US6987892B2 (en) | 2001-04-19 | 2006-01-17 | Eastman Kodak Company | Method, system and software for correcting image defects |
JP3516937B2 (ja) * | 2001-09-19 | 2004-04-05 | 株式会社Pfu | 画像読み取りシステムの制御方法およびその制御プログラム |
US7215427B2 (en) * | 2001-12-18 | 2007-05-08 | Kba-Giori S.A. | Device for controlling material |
WO2018132258A1 (en) | 2017-01-10 | 2018-07-19 | Sunspring America, Inc. | Technologies for identifying defects |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS503355A (ja) * | 1973-05-11 | 1975-01-14 | ||
DD122314A3 (ja) * | 1974-04-25 | 1976-10-05 | ||
DE3027373A1 (de) * | 1979-07-20 | 1981-03-19 | Hitachi, Ltd., Tokyo | Verfahren und einrichtung zur oberflaechenpruefung |
DE3266654D1 (en) * | 1982-06-03 | 1985-11-07 | Hell Rudolf Dr Ing Gmbh | Scanning method and arrangement |
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JPH02223021A (ja) * | 1988-11-18 | 1990-09-05 | Csk Corp | 光記録媒体の欠陥識別方法及びその装置 |
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US5883714A (en) * | 1996-10-07 | 1999-03-16 | Phase Metrics | Method and apparatus for detecting defects on a disk using interferometric analysis on reflected light |
-
1996
- 1996-06-28 GB GBGB9613685.8A patent/GB9613685D0/en active Pending
-
1997
- 1997-06-26 EP EP97304585A patent/EP0816833A3/en not_active Withdrawn
- 1997-06-26 JP JP17031597A patent/JP4086934B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-11-27 US US09/200,906 patent/US6091834A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6091834A (en) | 2000-07-18 |
EP0816833A3 (en) | 1998-08-26 |
JPH1090198A (ja) | 1998-04-10 |
EP0816833A2 (en) | 1998-01-07 |
GB9613685D0 (en) | 1996-08-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040511 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060922 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061003 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20061228 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20070109 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070605 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070926 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20071011 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080122 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080220 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110228 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120229 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120229 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130228 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140228 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |