JP3930333B2 - 物品表面の検査システム - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は,物品表面を撮影した画像によって物品の外観を検査する方法と装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
物品表面の状態を検査する方法として,一般に種々の方法が知られているが,とりわけCCDカメラにより物品を撮影し,その画像を演算処理することによって物品表面の状態を検査する方法が採用されている。この場合,例えばCCDカメラで撮影した画像中において被検査面を示している画素から10点程度選択してそれらの輝度の平均値を標準値として定め,測定対象点の画素の輝度をこの標準値と比較して,物品表面の状態を検査することが行われている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら,このような従来の検査方法によると,物品の表面状態の変化や,太陽光や室内照明などといった外部環境の変化,画像の撮影をするための照明の有無等により,検査結果が安定しないという問題があった。また一方,検査結果を安定させるために外部環境などの影響を排除するには,多大な投資が必要であった。
【0004】
本発明の目的は,外部環境などに影響されずに安定して物品表面の状態を検査できる方法とシステムを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは,希土類金属からなる円盤形状磁石のメッキされた表面をCCDカメラで撮影し,その画像において色むら,シミ,膨れ,欠け等を観察し,種々検討した結果,被検査面(メッキ表面)の光学的測定値,特に輝度は外部環境や物品の種類によって異なるが,CCDカメラで撮影された画像中において被検査面を示している画素の輝度は,被検査面が平面もしくは曲率の小さい曲面である場合はほぼ一定な値を示し,±20%程度の正規分布となり,一方,被検査面にシミや,膨れ,ヘアクラックなどの不良がある場合は,画像中においてその不良箇所を示している画素の輝度は,特異な値を示すことを見いだした。
【0006】
かかる知見に基づき,本発明によれば,物品の被検査面をCCDカメラにより撮影し,その画像によって物品表面を検査するシステムであって,物品のほぼ真上から照明する光源と物品の真上に位置するCCDカメラとを備える検査手段と,物品の外周緑部を照明する光源と物品の真上に位置するCCDカメラとを備える検査手段と,物品の表面に対して垂直な方向に対して斜めに傾いた光軸を中心として配置されている光源とCCDカメラとを備える検査手段と,を備え,各CCDカメラで撮影された画像中において被検査面を示している画素から,点対称もしくは線対称である2つの画素を選択し,それらを比較することによって物品の表面を検査することを特徴とする,検査システムが提供される。
【0007】
この検査システムは,被検査面を示している画素の全部について比較することが好ましい。また,2つの画素を選択するに際し,例えば点対称もしくは線対称である画素を選択することができる。選択された2つの画素について,例えば輝度を比較する。その場合,選択された2つの画素の輝度の比を求め,その比が所定の範囲外である画素が所定の数連続する場合に,物品表面の状態を不良と判断することができる。
【0008】
この場合,制御装置による検査結果により,物品を分別する分別装置を備えていても良い。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下,本発明の好ましい実施の形態を図面を参照にして説明する。図1は,本発明の実施の形態にかかる検査システム1の概略的な構成を示す平面図である。この実施の形態では,物品の一例であるNd−Fe−B−C系焼結磁石からなるワークWの外観を連続的に検査する検査システム1として構成されている。
【0010】
ワーク(希土類磁石)Wは,円形あるいは角形等の平板形状をなしている。このような平板形状をなすワークWは,焼成によって得られた丸棒状や角棒状の焼結品をスライス状に切断することにより形成されており,例えば厚みが数mm程度で直径や一辺の長さが10mm程度である。このため,ワークWの表面W1と裏面W2はいずれも切断面に形成されている。
【0011】
図1に示す検査システム1において,ワークWが,ホッパー10から整列フィーダー11及びリニアフィーダー12を経て供給されて切り出し装置13によって一枚ずつ取り出され,第1のコンベア14の始端部(図1では,第1の搬送コンベア14の左端部)にワークWが一枚ずつ供給される。整列フィーダー11は,ホッパー10から供給されたワークWに振動を加えることにより,ワークWの表面W1を上に向けた姿勢に揃えて,次のリニアフィーダー12に受け渡すようになっている。切り出し装置13は,図1において反時計回転方向に回転し,その搬送中においてワークWの厚さを二つの厚さ検査装置15,16によって検査するようになっている。
【0012】
第1のコンベア14は,切り出し装置13から受け渡されたワークWの表面W1を上に向けた姿勢で,その始端部から終端部に向けて(図1中の右向きに)ワークWを搬送していく。第1のコンベア14の終端部(図1では,第1のコンベア14の右端部)には,第2のコンベア20の始端部(図1では,第2のコンベア20の左端部)が接続されており,これら第1のコンベア14と第2のコンベア20によってワークWを搬送する搬送装置を構成している。
【0013】
第1のコンベア14の終端部と第2のコンベア20の始端部の接続箇所には,ワークWを裏返しに反転させる反転装置21が配置されている。反転装置21は,第1のコンベア14から受け渡されたワークWを反転させ,ワークWの裏面W2を上に向けた姿勢にさせるようになっている。第2のコンベア20は,こうして反転装置21によって裏面W2を上に向けた姿勢にさせられたワークWを,その始端部から終端部に向けて(図1中の右向きに)搬送していく。
【0014】
第1のコンベア14に沿って,分別装置25とワークWの表面W1側の外観を検査する3つの検査手段26,27,28が配置されている。分別装置25は,厚さ検査装置15,16によって検査されたことにより,厚さが所定範囲にあると判定されたワークWはそのまま第1のコンベア14によって図1中の右向きに搬送させるが,厚さが所定範囲を越えていると判定されたワークWは領域30に排出させ,厚さが所定範囲未満と判定されたワークWは領域31に排出させる。これにより,厚さが所定範囲にあるワークWだけが,次の検査手段26,27,28に供給されるようになっている。
【0015】
一方,第2のコンベア20に沿って,ワークWの裏面W2側の外観を検査する3つの検査手段35,36,37と分別装置38が配置されている。分別装置38は,第1のコンベア14に沿って配置された検査手段26,27,28と第2のコンベア20に沿って配置された検査手段35,36,37によって検査したことにより,外観が正常であると判定されたワークWは,第2のコンベア20の終端部においてシュート40を経て収納領域41に搬出させるが,外観が不良であると判定されたワークWは,第2のコンベア20の終端部においてシュート42を経て領域43に搬出させ,外観が判定できなかったワークWは,第2のコンベア20の終端部においてシュート45を経て領域46に搬出させるようになっている。
【0016】
ここで,第1のコンベア14に沿って配置された検査手段26と第2のコンベア20に沿って配置された検査手段35は同様の構成を有しており,図2は,これら検査手段26,35の説明図である。第1のコンベア14もしくは第2のコンベア20によって搬送されるワークWの上方に光源50が配置されており,この光源50によりほぼ真上からワークWを照明している。光源50はリング形状をなしており,この光源50からワークWに照射された反射光が光源50の中央に配置されたコンバージョンレンズ51に入光し,ズームレンズ52を経てCCDカメラ53によってワークWの画像が撮影される。検査手段26,35においては,これらコンバージョンレンズ51,ズームレンズ52及びCCDカメラ53はいずれもワークWの真上(検査手段26にあってはワークWの表面W1に対して垂直,検査手段35にあっては裏面W2に対して垂直)に位置している。こうして,検査手段26においては,第1のコンベア14によって搬送されるワークWの表面W1に対して垂直(真上)の方向から被検査面(表面W1)を撮影し,検査手段35においては,第2のコンベア20によって搬送されるワークWの裏面W2に対して垂直(真上)の方向から被検査面(裏面W2)を撮影する。
【0017】
また,第1のコンベア14に沿って配置された検査手段27と第2のコンベア20に沿って配置された検査手段36も,基本的には図2で説明した検査手段26,35と同様の構成を有しており,図3に示すように,リング状の光源55によってワークWを照明し,その反射光がコンバージョンレンズ56に入光し,ズームレンズ57を経てCCDカメラ58によってワークWの画像が撮影されるようになっている。これらコンバージョンレンズ56,ズームレンズ57及びCCDカメラ58はいずれもワークWの真上(検査手段27にあってはワークWの表面W1に対して垂直,検査手段36にあっては裏面W2に対して垂直)に位置しており,検査手段27においては,第1のコンベア14によって搬送されるワークWの表面W1に対して垂直の方向から撮影し,検査手段36においては,第2のコンベア20によって搬送されるワ−クWの裏面W2に対して垂直の方向から撮影する。但し,これら検査手段27,36にあっては,光源55が(光源50に比べて)大径であり,ワークWの周囲からワークWの外周緑部に対して光を照射している。図示の形態にあっては,ワークWの外周緑部に対して斜め45°に下向きに光を照射するように構成されている。これにより,光源55から照射された光はワークWの外周緑部で反射するので,CCDカメラ58はワークWの外周緑部を撮影するようになっている。
【0018】
また,第1のコンベア14に沿って配置された検査手段28と第2のコンベア20に沿って配置された検査手段37も,基本的には図2で説明した検査手段26,35と同様の構成を有しており,図4に示すように,リング状の光源60によってワークWを照明し,その反射光がコンバージョンレンズ61に入光し,ズームレンズ62を経てCCDカメラ63によってワークWの画像が撮影されるようになっている。但し,先に説明した検査手段26,35や検査手段27,36がワークWに対してほぼ真上から光を照射し,コンバージョンレンズ51,56,ズームレンズ52,57及びCCDカメラ53,58がいずれもワークWの真上(ワークWの表面W1もしくは裏面W2に対して垂直)に配置されていたのに対し,この検査手段28,37にあっては,図4に示すように,光源60とコンバージョンレンズ61,ズームレンズ62及びCCDカメラ63がいずれも,ワークWの表面W1もしくは裏面W2に対して垂直な方向Xに対してα°だけ斜めに傾いた光軸Yを中心として配置されている点が異なっている。この場合,傾斜角αは,例えば5°〜10°程度である。
【0019】
なお,これら検査手段26,35の光源50及び検査手段28,37の光源60としては,例えばハロゲンランプのリング照明が用いられ,検査手段27,36の光源55としては,例えばハロゲンランプの内径照射照明が用いられる。
【0020】
また,これら検査手段26,35,検査手段27,36及び検査手段28,37において,コンバージョンレンズ51,56,61としては,例えば清和光学製のCV−05(0.5倍),CV−025(0.25倍)のレンズが用いられる。この場合,最大径が32Φ以下の点対称形状のワークWであればCV−025(0.25倍)のレンズを使用し,最大径が16Φ以下の点対称形状のワークWであればCV−05(0.5倍)のレンズを使用するなどといったように,ワークWの大きさや検査基準などによって使用するレンズを変更すると良い。
【0021】
また,これら検査手段26,35,検査手段27,36及び検査手段28,37において,ズームレンズ52,57,62としては,例えば清和光学製のMS−501(0.75〜4.5)の高解像度ズームレンズが用いられる。CCDカメラ53,58,63としては,例えば東京電子製のCS3910(解像度1280×1030),竹中システム製のFC−1300(解像度1280×1030),SONY製のXC−7500(解像度512×480)などが用いられる。なお,東京電子製のCS3910及び竹中システム製のFC−1300には画像入力ボードとしてファースト製のFHC−331LVを用いると良く,SONY製のXC−7500には画像入力ボードとしてファースト製のRICE−001を用いると良い。
【0022】
図1に示すように,これら検査手段26,35,検査手段27,36及び検査手段28,37で撮影された画像は,制御装置70に入力されるようになっている。制御装置70は,こうして入力された画像によって後述するようにワークWの表面を検査し,その検査結果に基づいて第2のコンベア20の終端部に配置された分別装置38を制御する。これにより,前述のように外観が正常なワークWのみを収納領域41に搬出させ,外観が不良のワークWを領域43に搬出させると共に,外観が判定できなかったワークWを領域46に搬出させるようになっている。
【0023】
さて,以上のように構成された検査システム1において,表面W1を上に向けた姿勢にされたワークWが,切り出し装置13により第1のコンベア14の始端部に一枚ずつ供給される。そして分別装置25により,厚さが所定範囲にあるワークWのみがそのまま第1のコンベア14によって図1中の右向きに搬送されていく。
【0024】
この搬送中において,検査手段26,27,28によりワークWの表面W1側の外観が検査される。即ち,先ず検査手段26の光源50で照明され,CCDカメラ53によってワークWの表面W1の画像が撮影されて,その画像が制御装置70に入力される。こうしてCCDカメラ53で撮影され,制御装置70に入力されるワークWの表面W1の画像Aは,例えばワークWの表面W1の形状が円形である場合は図5に示すように円形状の被検査面(ワークWの表面W1)を映し出すこととなり,また,例えばワークWの表面W1の形状が四角形である場合は図6に示すように四角形状の被検査面(ワークWの表面W1)を映し出すこととなる。
【0025】
そして,制御装置70では,この画像A中において被検査面(ワークWの表面W1)を示している画素から任意の2つの画素a,bを選択し,それらを比較することによってワークWの表面W1を検査する。この場合,被検査面(ワークWの表面W1)が円形状の如き点対称の形状であれば,図5に示すように,中心点Oについて点対称となる2つの画素a,bをそれぞれ選択し,それらを一々比較する。即ち,図5に示す例について具体的に説明すれば,画素a1と画素b1を比較し,画素a2と画素b2を比較し,画素a3と画素b3を比較し,画素a4と画素b4を比較し,画素a5と画素b5を比較し,画素a6と画素b6を比較し,画素a7と画素b7を比較し,画素a8と画素b8を比較し,画素a9と画素b9を比較し,画素a10と画素b10を比較し,画素a11と画素b11を比較し,画素a12と画素b12を比較し,画素a13と画素b13を比較し,画素a14と画素b14を比較し,画素a15と画素b15を比較し,画素a16と画素b16を比較する。こうして,被検査面(ワークWの表面W1)を示している画素a1〜a16及びb1〜b16の全部について比較する。
【0026】
また,被検査面(ワークWの表面W1)が四角形状の如き線対称の形状であれば,図6に示すように,中心線Lについて線対称となる2つの画素をそれぞれ選択し,それらを一々比較する。即ち,図6に示す例について具体的に説明すれば,画素a1と画素b1を比較し,画素a2と画素b2を比較し,画素a3と画素b3を比較し,画素a4と画素b4を比較し,画素a5と画素b5を比較し,画素a6と画素b6を比較し,画素a7と画素b7を比較し,画素a8と画素b8を比較し,画素a9と画素b9を比較し,画素a10と画素b10を比較し,画素a11と画素b11を比較し,画素a12と画素b12を比較し,画素a13と画素b13を比較し,画素a14と画素b14を比較し,画素a15と画素b15を比較し,画素a16と画素b16を比較し,画素a17と画素b17を比較し,画素a18と画素b18を比較する。こうして,被検査面(ワークWの表面W1)を示している画素a1〜a18及びb1〜b18の全部について比較する。
【0027】
そして,このように各画素a,b同士を比較する場合,それぞれ選択された2つの画素a,bの輝度Bを一々比較することによって,各画素a,bで示されるワークWの表面W1の各箇所を全体に渡って検査することができる。即ち,ワークWの表面W1に不良がない場合は,CCDカメラ53で撮影された画像A中において被検査面(ワークWの表面W1)を示している各画素a,bの輝度は,ワークWの表面W1が平面もしくは曲率の小さい曲面であればほぼ一定な値を示し,±20%程度の正規分布となる。一方,ワークWの表面W1に色むら,シミ,膨れ,ヘアクラック,欠けなどといった不良が存在する場合は,その不良が存在する箇所を示す画素a,bは,輝度Bが特異な値を示すこととなる。従って,被検査面(ワークWの表面W1)を示している各画素a,bの輝度Bの比をそれぞれ求め,全ての比が所定の範囲内であれば(±20%程度の正規分布から外れない場合は)ワークWの表面W1に不良がないと判断することができ,一方,その比が所定の範囲外となる箇所が存在する場合は(±20%程度の正規分布から外れる画素がある場合は),ワークWの表面W1が不良であると判断することが可能となる。
【0028】
ここで,通常は,色むら,シミ,膨れ,ヘアクラック,欠けなどといった不良はワークWの表面W1において相当の範囲に形成されている場合が多く,このため,色むら,シミ,膨れ,ヘアクラック,欠けなどといった不良が存在すると,画像A中において被検査面(ワークWの表面W1)を示している各画素a,bの輝度は,複数の画素a,bに渡り連続して特異な値を示すことが多い。従って,複数の隣接する画素a,bに渡って輝度Bの比が所定の範囲外となった場合に,ワークWの表面W1の状態を不良と判断するようにしても良い。
【0029】
こうして,検査手段26のCCDカメラ53で撮影された画像による検査が行われることに引き続き,次に検査手段27の光源55で照明され,CCDカメラ58によってワークWの表面W1の外周緑部の画像が撮影されて,その画像が制御装置70に入力される。こうしてCCDカメラ58で撮影され,制御装置70に入力されるワークWの表面W1の外周緑部の画像A’は,例えばワークWの表面W1の形状が円形である場合は図7に示すように円形状に細く連続した被検査面(ワークWの表面W1の外周緑部)を映し出すこととなり,また,例えばワークWの表面W1の形状が四角形である場合は図8に示すように四角形状に細く連続した被検査面(ワークWの表面W1の外周緑部)を映し出すこととなる。
【0030】
そして,制御装置70では,先と同様に,この画像A’中においても被検査面(ワークWの表面W1の外周緑部)を示している画素から任意の2つの画素a,bを選択し,それらを比較することによってワークWの表面W1を検査する。この場合,ワークWの表面W1が円形状の如き点対称の形状であれば,図7に示すように,中心点Oについて点対称となる2つの画素a,bをそれぞれ選択し,それらを一々比較する。即ち,図7に示す例について具体的に説明すれば,画素a1と画素b1を比較し,画素a2と画素b2を比較し,画素a3と画素b3を比較し,画素a4と画素b4を比較し,画素a5と画素b5を比較し,画素a6と画素b6を比較し,画素a7と画素b7を比較し,画素a8と画素b8を比較し,画素a9と画素b9を比較し,画素a10と画素b10を比較する。こうして,被検査面(ワークWの表面W1の外周縁部)を示している画素a1〜a10及びb1〜b10の全部について比較する。
【0031】
また,ワークWの表面W1が四角形状の如き線対称の形状であれば,図8に示すように,中心線Lについて線対称となる2つの画素を選択し,それらをそれぞれ比較する。即ち,図8に示す例について具体的に説明すれば,画素a1と画素b1を比較し,画素a2と画素b2を比較し,画素a3と画素b3を比較し,画素a4と画素b4を比較し,画素a5と画素b5を比較し,画素a6と画素b6を比較し,画素a7と画素b7を比較し,画素a8と画素b8を比較し,画素a9と画素b9を比較し,画素a10と画素b10を比較する。こうして,被検査面(ワークWの表面W1の外周縁部)を示している画素a1〜a10及びb1〜b10の全部について比較する。
【0032】
そして,このようにワークWの表面W1の外周縁部を示す各画素a,b同士を比較する場合も同様に,それぞれ選択された2つの画素a,bの輝度Bを比較することによって,各画素a,bで示されるワークWの表面W1の外周縁部の各箇所を検査することができる。この場合も,被検査面(ワークWの表面W1の外周縁部)を示している各画素a,bの輝度Bの比をそれぞれ求め,その比によってワークWの表面W1の外周縁部に不良があるかないかを判断することが可能となる。また,複数の隣接する画素a,bに渡って輝度Bの比が所定の範囲外となった場合に,ワークWの表面W1の外周縁部の状態を不良と判断するようにしても良い。
【0033】
また,こうして検査手段27のCCDカメラ58で撮影された画像による検査が行われることに引き続き,更に検査手段28の光源60で照明され,CCDカメラ63によってワークWの表面W1の画像が撮影されて,その画像が制御装置70に入力される。こうしてCCDカメラ63で撮影され,制御装置70に入力されるワークWの表面W1の画像Aは,例えばワークWの表面W1の形状が円形であれば,先に図5で説明したように円形状の被検査面(ワークWの表面W1)を映し出すこととなり,また,例えばワークWの表面W1の形状が四角形であれば,先に図6で説明したように四角形状の被検査面(ワークWの表面W1)を映し出すこととなる。
【0034】
そして,制御装置70では,先と同様に,この画像A中においても被検査面(ワークWの表面W1)を示している画素から任意の2つの画素a,bを選択し,それらを比較することによってワークWの表面W1の外周緑部を検査する。この場合,ワークWの表面W1が円形状の如き点対称の形状であれば,先に図5で説明したように,中心点Oについて点対称となる画素a1と画素b1,画素a2と画素b2,画素a3と画素b3,画素a4と画素b4,画素a5と画素b5,画素a6と画素b6,画素a7と画素b7,画素a8と画素b8,画素a9と画素b9,画素a10と画素b10,画素a11と画素b11,画素a12と画素b12,画素a13と画素b13,画素a14と画素b14,画素a15と画素b15,画素a16と画素b16をそれぞれ比較することにより,被検査面(ワークWの表面W1)を示している画素a1〜a16及びb1〜b16の全部について比較する。
【0035】
また,ワークWの表面W1が四角形状の如き線対称の形状であれば,先に図6で説明したように,中心線Lについて線対称となる画素a1と画素b1,画素a2と画素b2,画素a3と画素b3,画素a4と画素b4,画素a5と画素b5,画素a6と画素b6,画素a7と画素b7,画素a8と画素b8,画素a9と画素b9,画素a10と画素b10,画素a11と画素b11,画素a12と画素b12,画素a13と画素b13,画素a14と画素b14,画素a15と画素b15,画素a16と画素b16,画素a17と画素b17,画素a18と画素b18をそれぞれ比較することにより,被検査面(ワークWの表面W1)を示している画素a1〜a18及びb1〜b18の全部について比較する。
【0036】
この場合,先に図4で説明したように,検査手段28では,照明60とコンバージョンレンズ61,ズームレンズ62及びCCDカメラ63がいずれもワークWの表面W1に対して斜めに傾いて配置されるため,例えばワークWの表面W1に凹凸があれば,該凹凸により被検査面(ワークWの表面W1)を示している画素a,bにおいて明暗が現れることになる。
【0037】
このため,制御装置70は,検査手段28のCCDカメラ63で撮影された画像によって,ワークWの表面W1における凹凸の有無を判断することができる。なお,この場合も,被検査面(ワークWの表面W1)を示している各画素a,bの輝度Bの比をそれぞれ求め,その比によってワークWの表面W1に不良(凹凸)があるかないかを判断することが可能となる。また,複数の隣接する画素a,bに渡って輝度Bの比が所定の範囲外となった場合に,ワークWの表面W1の状態を不良と判断するようにしても良い。
【0038】
以上のようにして,第1のコンベア14による搬送中において,検査手段26,27,28により,ワークWの表面W1側の外観が総合的に検査される。こうして検査手段26,27,28における検査がそれぞれ行われた後,ワークWは,第1のコンベア14によって第1のコンベア14の終端部まで搬送され,反転装置21にて裏返しに反転させられた後,裏面W2を上に向けた姿勢にされたワークWが第2のコンベア20の始端部に供給される。そして,ワークWは,裏面W2を上に向けた姿勢で,第2のコンベア20によって図1中の右向きに搬送されていく。
【0039】
この第2のコンベア20による搬送中において,先に検査手段26,27,28によってワークWの表面W1側の検査をした場合と同様に,検査手段35,36,37によってワークWの裏面W2側の検査がそれぞれ行われる。こうして,制御装置70では,ワークWの表面W1側及び裏面W2側の状態を総合的に判断されることになる。そして,表面W1側と裏面W2側の両方の外観が検査されたワークWが第2のコンベア20の終端部に搬送されてくると,制御装置70の制御により,分別装置38における分別が行われ,外観が正常なワークWのみが収納領域41に搬出されることとなる。従って,この検査システム1によれば,ワークWの表面W1及び裏面W2やそれらの外周緑部における欠け,クラック,凹凸などといった形状不良の有無を容易に検査でき,暇癖のない外観が正常なワークWのみを選別して得ることが可能となる。
【0040】
以上,本発明の好ましい実施の形態の一例を説明したが,本発明は以上に示した形態に限定されない。検査の対象となる物品は,希土類磁石等のワークWに限らず,その他種々の物品の外観検査について本発明を適用できる。また,第1のコンベア14に沿って検査手段26,27,28のいずれか一つを配置しても良いし,第1のコンベア14に沿って検査手段26,27,28を任意の組合せで配置しても良い。また同様に,第2のコンベア20に沿って検査手段35,36,37のいずれか一つを配置しても良いし,第2のコンベア20に沿って検査手段35,36,37を任意の組合せで配置しても良い。
【0041】
検査対象となる物品の被検査面は,色調,粗さ,メッキの有無などによる光沢等により輝度が異なってくるので,CCDカメラには隣接して照明光源を設置するのが一般的である。光源は,蛍光灯などの一般的な照明でも良いが,リング状のハロゲンランプで500ルクスから20000ルクスの明るさで被検査面を上方から均一に照明することが好ましい。また,CCDカメラは,色調を検査する場合にはカラーCCDが必要であるが,希土類焼結磁石の表面を検査する場合などは,モノカラーのCCDカメラで十分である。CCDカメラの画素は,30万画素以上好ましくは100万画素以上必要であり,画素が多いほど微細な検査ができるがノイズも増加するので,検査の状況に応じた選択が必要である。
【0042】
また,CCDカメラによって撮影する場合,絞りは一般的には全開で行う。シャッタースピードは1/1000から1/10000秒で撮影することが望ましい。なお,被検査面が円形状の如き点対称の形状であれば,図5で説明したように,中心点Oについて点対称となる2つの画素をそれぞれ選択し,それらを比較することが好ましい。また,被検査面が四角形状の如き線対称の形状であれば,図6で説明したように,中心線Lについて線対称となる2つの画素をそれぞれ選択し,それら比較することが好ましい。
【0043】
また,選択した2つの画素の輝度を比較して検査する場合,本発明者らの知見によれば,輝度の比が0.7〜1.3の間であれば,正常と判断して差し支えないが,検査の種類により,正常と判断される輝度の比の範囲は任意に設定することができる。この範囲が狭すぎると良品を不良品と判断する心配があり,逆に広すぎると不良品を良品と判断する心配がある。それらの事情を予め勘案して,不良品を判断するしきい値を適当に設定し,判定用のプログラムに組み込んで良否を判定する必要がある。これら一連の操作は,制御装置内にインストールされたプログラムによって行えば,連続的に効率の良い外観検査を実施できるようになる。また,判断を良不良2段階だけでなく,3段階以上にふるい分けし,検査を繰り返したり,目視による検査を一部導入することにより,さらにきめこまかい検査を実施することができる。
【0044】
【実施例】
図1等で説明した本発明の検査システムにおいて,直径6.5mm,厚み1.0mmの円盤形状のNd−Fe−C−B系焼結磁石をワークとして,一定速度50mm/secで搬送させながら,ワークの外観を連続的に検査した。清和光学製MS−501高解像度レンズを装着した東京電子製CS−3910型CCDカメラ(141万画素)を使用し,光源は清和光学製HL−28−2000(28φ)リング状のハロゲンランプを用いた。ワークの外形を包絡処理して形状を求め,その中心がCCDカメラの中心に来たときに撮影した。絞りは全開とし,シャッタースピードは1/2000secである。点対称となる画素を選択し,両者の輝度の比が1.4以上を異常とし,異常となった画素が450以上連続した時に,外観が不良と判断するように設定した。1000個のワークについて本発明による検査を行った。実施例に供される試験について,目視によっても検査を行い,目視による検査結果を正解とした。
【0045】
また,比較例の検査方法として,CCDカメラで撮影した画像中において被検査面を示している画素から10点程度選択してそれらの輝度の平均値を標準値として定め,測定対象点の画素の輝度をこの標準値と比較して,物品表面の状態を検査した。本発明の実施例と比較例を比較したところ,表1のようになり,本発明の実施例は,比較例に比べて,良品の正解率,不良品の正解率がいずれも勝っていた。
【0046】
【表1】
【0047】
【発明の効果】
本発明によれば,物品の外観を安定して検査することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態にかかる検査システムの概略的な構成を示す平面図である。
【図2】 検査手段の説明図である。
【図3】 光源が大径の検査手段の説明図である。
【図4】 光軸が傾斜した検査手段の説明図である。
【図5】 被検査面が円形状であるワークの中心点について点対称となる2つの画素を選択する状態の説明図である。
【図6】 被検査面が四角形状であるワークの中心線について線対称となる2つの画素を選択する状態の説明図である。
【図7】 被検査面が円形状であるワークの中心点について点対称となる2つの画素を選択する状態の説明図であり,外周緑部を検査する場合を示している。
【図8】 被検査面が四角形状であるワークの中心線について線対称となる2つの画素を選択する状態の説明図であり,外周縁部を検査する場合を示している。
Claims (5)
- 物品の被検査面をCCDカメラにより撮影し,その画像によって物品表面を検査するシステムであって,
物品のほぼ真上から照明する光源と物品の真上に位置するCCDカメラとを備える検査手段と,
物品の外周緑部を照明する光源と物品の真上に位置するCCDカメラとを備える検査手段と,
物品の表面に対して垂直な方向に対して斜めに傾いた光軸を中心として配置されている光源とCCDカメラとを備える検査手段と,
を備え,
各CCDカメラで撮影された画像中において被検査面を示している画素から,点対称もしくは線対称である2つの画素を選択し,それらを比較することによって物品の表面を検査することを特徴とする,検査システム。 - 被検査面を示している画素の全部について比較することを特徴とする,請求項1に記載の検査システム。
- 選択された2つの画素の輝度を比較することを特徴とする,請求項1または2に記載の検査システム。
- 選択された2つの画素の輝度の比を求め,その比が所定の範囲外である画素が所定の数連続する場合に,物品表面の状態を不良と判断することを特徴とする,請求項3に記載の検査システム。
- 制御装置による検査結果により,物品を分別する分別装置を備えることを特徴とする,請求項1〜4のいずれかに記載の検査システム。
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