JP3892832B2 - 半導体記憶装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第1の実施形態に係るSRAMの一部を示している。
第1の実施形態では、バリッドビットアレイ11aを読み出しデータ用メモリ11に付加したが、これに限らず、図4に示すように、バリッドビットアレイ11aと同様のバリッドビット記憶回路群(例えばフリップフロップ回路群)11bを、読み出しデータ用メモリ11とは独立に配設するように変更してもよい。なお、図4において、図1中と同一部分には同一符号を付している。
図5は、本発明の第2の実施形態に係るSRAMの一部を示している。
第2の実施形態におけるBIST回路50を、初期メモリテスト機能(例として、マーチテスト、つまり、書き込みおよび読み出しの連続動作)を有するBIST回路に変更してもよい。このような初期メモリテスト機能を有するBIST回路は、電源投入直後に、予め用意したテストパターンデータをECC 制御回路13によって読み出しデータ用メモリ11の各メモリ領域に書き込む。この際、シンドローム生成回路26の機能を停止させる信号を出力し、ECC コード生成回路25にテストパターンデータを通してECC コードを生成し、これをコード用メモリ12に書き込む。
Claims (4)
- 指定されたアドレスにデータを格納するための複数のメモリ領域を有するデータ用メモリと、
前記データ用メモリと同じアドレス空間を有し、前記データ用メモリの各メモリ領域に格納されている各データをそれぞれ訂正することが可能なエラー訂正コードを記憶するためのコード用メモリと、
エラー訂正コード生成回路とシンドローム生成回路とエラー訂正コードデコード回路を有し、前記データ用メモリの任意のメモリ領域にデータ書き込みが行われる際、当該書き込み前に前記メモリ領域から読み出されたデータに対してエラー訂正コードを生成し、このエラー訂正コードを前記メモリ領域に対応するコード用メモリから読み出されたエラー訂正コードと比較してエラー判別・訂正処理を行うエラー訂正コード制御回路と、
電源投入後に前記データ用メモリの各メモリ領域に対して最初にアクセスする際に、各メモリ領域毎に読み出されたデータに対する前記エラー訂正コード制御回路によるエラー訂正機能を無効にするECC 機能無効制御回路と、
前記データ用メモリの各メモリ領域毎に対応してバリッドビットを記憶するために前記データ用メモリに付加され、対応する前記メモリ領域と同時にアクセスされ、電源投入後にリセット信号によってバリッドビットが無効状態に初期化される記憶セルを具備し、
前記ECC 機能無効制御回路は、前記データ用メモリのメモリ領域からデータを読み出した際に前記メモリ領域に対応する前記記憶セルのデータが初期値の場合には前記シンドローム生成回路の動作を停止させる信号を出力し、
前記エラー訂正コード制御回路は、電源投入後に最初に前記データ用メモリのメモリ領域からデータを読み出した時は前記メモリ領域に対応する前記記憶セルに記憶されているバリッドビットを有効状態に書き換えるように制御することを特徴とする半導体記憶装置。 - 前記記憶セルは、前記データ用メモリの対応するメモリ領域のメモリセルと共通に接続されているワード線により選択制御されることを特徴とする請求項1記載の半導体記憶装置。
- 指定されたアドレスにデータを格納するための複数のメモリ領域を有するデータ用メモリと、
前記データ用メモリと同じアドレス空間を有し、前記データ用メモリの各メモリ領域に格納されている各データをそれぞれ訂正することが可能なエラー訂正コードを記憶するためのコード用メモリと、
エラー訂正コード生成回路とシンドローム生成回路とエラー訂正コードデコード回路を有し、前記データ用メモリの任意のメモリ領域にデータ書き込みが行われる際、当該書き込み前に前記メモリ領域から読み出されたデータに対してエラー訂正コードを生成し、このエラー訂正コードを前記メモリ領域に対応するコード用メモリから読み出されたエラー訂正コードと比較してエラー判別・訂正処理を行うエラー訂正コード制御回路と、
電源投入後に前記データ用メモリの各メモリ領域に対して最初にアクセスする際に、各メモリ領域毎に読み出されたデータに対する前記エラー訂正コード制御回路によるエラー訂正機能を無効にするECC 機能無効制御回路と、
前記データ用メモリの各メモリ領域毎に対応してバリッドビットを記憶するために前記データ用メモリとは独立に配設され、対応する前記メモリ領域と同時にアクセスされ、電源投入後にリセット信号によって前記バリッドビットが初期化される記憶回路を具備し、
前記ECC 機能無効制御回路は、前記データ用メモリのメモリ領域からデータを読み出した際に前記メモリ領域に対応する前記記憶回路のデータが初期値の場合には前記シンドローム生成回路の動作を停止させる信号を出力し、
前記エラー訂正コード制御回路は、電源投入後に最初に前記データ用メモリのメモリ領域からデータを読み出した時は前記メモリ領域に対応する前記記憶回路に記憶されているバリッドビットを有効状態に書き換えるように制御することを特徴とする半導体記憶装置。 - 指定されたアドレスにデータを格納するための複数のメモリ領域を有するデータ用メモリと、
前記データ用メモリと同じアドレス空間を有し、前記データ用メモリの各メモリ領域に格納されている各データをそれぞれ訂正することが可能なエラー訂正コードを記憶するためのコード用メモリと、
エラー訂正コード生成回路とシンドローム生成回路とエラー訂正コードデコード回路を有し、前記データ用メモリの任意のメモリ領域にデータ書き込みが行われる際、当該書き込み前に前記メモリ領域から読み出されたデータに対してエラー訂正コードを生成し、このエラー訂正コードを前記メモリ領域に対応するコード用メモリから読み出されたエラー訂正コードと比較してエラー判別・訂正処理を行うエラー訂正コード制御回路と、
電源投入後に前記データ用メモリの各メモリ領域に対して最初にアクセスする際に、各メモリ領域毎に読み出されたデータに対する前記エラー訂正コード制御回路によるエラー訂正機能を無効にするECC 機能無効制御回路を具備し、
前記ECC 機能無効制御回路は、電源投入直後に、前記データ用メモリの各メモリ領域に対応するアドレスと初期データおよびそのコードデータを自動で生成し、各初期データおよびそのコードデータが対応する前記データ用メモリの各メモリ領域および前記コード用メモリに前記エラー訂正コード制御回路によって書き込まれる際に前記エラー訂正コード制御回路の機能を停止させる信号を出力することを特徴とする半導体記憶装置。
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