JP3835505B2 - 非接触表面形状測定装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は非接触表面形状測定装置に係り、特に光の干渉を用いて被測定面の形状を測定する非接触表面形状測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、レーザ干渉計を用いて被測定面の微細形状を非接触で測定する非接触表面形状測定装置が広く知られている。この非接触表面形状測定装置は、レーザ光源からレーザ光を被測定面及び基準反射面に出射し、被測定面及び基準反射面で反射された光を干渉させて、その干渉によって生じた干渉縞をCCDカメラ等の撮像手段によって撮像する。そして、画像解析により干渉縞の形状から前記被測定面の形状を算出するというものである。
【0003】
このような光の干渉を用いた非接触表面形状測定装置は、ワーク表面に接触することなく測定を行うことができるため、ワーク表面を傷つけることがなく、また、ワーク表面の画像を測定データとして撮像手段によって瞬時に取り込むため、面形状を高速、高精度で測定することができるという特徴がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の非接触表面形状測定装置には、以下のような問題があった。1つには、測定範囲(CCDカメラの1視野の面積)がCCD撮像面積/対物レンズ倍率で決定されるため、1回の測定可能な面積に制限があるという問題である。もう1つには、測定データの横分解能は、測定範囲/CCD素子個数で決定されるため、1視野の面積を広くとればその分横分解能が低下するという問題である。
【0005】
従って、従来の装置では高い横分解能での面形状の測定は0.数mm角〜数mm角程度の狭い測定範囲に限られていた。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、光の干渉を用いた非接触表面形状測定装置において、測定データの横分解能を高分解能に維持したまま1視野の面積を越える大面積の測定を行うことができる非接触表面形状測定装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、被測定面で反射させた光と参照光との干渉によって生じた干渉縞を撮像手段によって撮像し、該撮像した干渉縞に基づいて前記被測定面の形状を測定する非接触表面形状測定装置において、前記被測定面の測定範囲を複数の領域に分割する手段であって、各領域の一部が他の領域と重複するように分割する測定範囲分割手段と、前記測定範囲分割手段によって分割した領域毎に前記撮像手段によって干渉縞の画像を取得する画像取得手段と、前記画像取得手段によって取得した画像に基づいて各領域の形状を示す形状データを算出する形状データ算出手段と、前記形状データ算出手段によって算出した各領域の形状データを、各領域の重複する部分において前記形状データが最も合致するように補正する形状データ補正手段であって、各領域のうち前記被測定面の測定範囲の中央部に位置する領域を初期の基準測定面とすると共に、該基準測定面の領域と重複する部分を有する周辺の領域を被補正測定面として該被補正測定面の領域の形状データを補正するものとし、補正済みの領域を新たな基準測定面とすると共に、該基準測定面の領域と重複する部分を有する未補正の領域を被補正測定面として該被補正測定面の領域の形状データを補正することによって全ての領域の形状データを順次補正する形状データ補正手段と、前記形状データ補正手段によって補正された各領域の形状データを繋ぎ合わせて前記被測定面の測定範囲全体の形状を示す形状データを生成する形状データ生成手段と、を備えたことを特徴としている。
【0007】
本発明によれば、撮像手段の1視野範囲に対して測定範囲の面積が大きい場合に、その測定範囲を複数の領域に分割すると共に、その領域の一部において隣接する他の領域と重複するように分割し、各領域毎に干渉縞を撮像して形状データを算出する。そして、各領域の重複した部分において形状データが最も合致するように各領域の形状データを補正し、各領域の形状データを繋ぎ合わせて前記被測定面の測定範囲全体の形状を示す形状データを生成する。これにより、測定データ(形状データ)の横分解能を高分解能に維持したまま1視野の面積を越える大面積の表面形状の測定を行うことができる。
【0008】
また、請求項2に記載の発明は、被測定面で反射させた光と参照光との干渉によって生じた干渉縞を撮像手段によって撮像し、該撮像した干渉縞に基づいて前記被測定面の形状を測定する非接触表面形状測定装置において、前記被測定面の測定範囲に離散した領域を設定する領域設定手段と、前記領域設定手段によって設定した領域毎に前記撮像手段によって干渉縞の画像を取得する画像取得手段と、前記画像取得手段によって取得した画像に基づいて各領域の形状を示す形状データを算出する形状データ算出手段と、前記撮像手段の視野範囲を移動させる移動機構に起因して生じる誤差を示す誤差データに基づいて、前記形状データ算出手段によって算出した各領域の形状データを補正し、該補正した各領域の形状データを合わせて前記被測定面の測定範囲全体の形状を示す形状データを生成する形状データ補正手段と、を備えたことを特徴としている。
【0009】
本発明によれば、撮像手段の1視野範囲に対して測定範囲の面積が大きい場合に、被測定面の測定範囲に離散した領域を設定し、各領域毎に干渉縞を撮像して形状データを算出する。そして、前記撮像手段の視野範囲を移動させる移動機構に起因して生じる誤差を各領域の形状データから除去し、それらの形状データを合わせて前記被測定面の測定範囲全体の形状を示す形状データを生成する。これにより、測定データ(形状データ)の横分解能を高分解能に維持したまま1視野の面積を越える大面積の測定を行うことができる。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下添付図面に従って本発明に係る非接触表面形状測定装置の好ましい実施の形態について詳説する。
図1は、本発明に係る非接触表面形状測定装置の測定部の構成を示した斜視図である。同図に示すように本測定装置の測定部は、基台10上をX、Y方向に移動するXYステージ12と、基台10に設置された支柱14に支持され、支柱14にガイドされて上下方向(Z方向)に移動する測定部本体16とを備えている。尚、XYステージ12及び測定部本体16は、それぞれ図示しない制御部の制御によってモータ駆動され、又は、図示しないツマミの手動操作によってXY方向及びZ方向に移動するようになっている。
【0011】
前記XYステージ12は、同図に示すように被測定ワークWを載置し、上述の移動によってそのワークWをXY方向に移動させて測定位置を調整する。測定位置の調整は、後述するように、ワークWの測定面積が広く、測定範囲が測定部本体16に搭載されたCCDカメラの1視野範囲を越える場合には、予め設定された動作で自動で行われるようになっている。
【0012】
前記測定部本体16には、内部にレーザ干渉計及び撮像部が搭載されており、測定部本体16下部にはレーザ干渉計の一部である対物レンズ16Aが取り付けられている。本装置では、レーザ干渉計として、例えばトワイマン−グリーン干渉計が採用される。このレーザ干渉計は、測定部本体16内に搭載されたレーザ光源からレーザ光線を出射し、その光線をハーフミラーで2つの光線に分けてそれぞれ対物レンズを介して上記XYステージ12に載置されたワークWの表面と所定の基準反射面に照射する。そして、そのワークW表面と基準反射面によって反射された光線(反射光)を対物レンズを介して再びハーフミラーで重ね合わせ、これらの反射光を干渉させて撮像部に導く。尚、干渉計としては多くの種類のものが知られており、本実施の形態では、トワイマン−グリーン干渉計を採用することとしたが、本発明はこれに限定されるものではなく、任意の種類の干渉計を採用することができる。
【0013】
前記撮像部は、結像レンズとCCDカメラから構成され、上述のようにハーフミラーから導かれた干渉した光を結像レンズで集光し、CCDカメラの撮像面に結像する。これにより、ワークW表面で反射された反射光と基準反射面で反射された反射光(参照光)との干渉によって生じた干渉縞の画像を取得することができる。
【0014】
このようにして測定部本体16によって取得したワーク表面の干渉縞の画像は、図示しない演算部(演算部は主としてコンピュータで構成される。)に送信された後、演算部で所定の画像解析が行われて、ワーク表面の形状が求められるようになっている。
次に、上述のように測定部本体16によって取得された画像に基づいてワーク表面の形状を算出する上記演算部の構成について説明する。図2は、その演算部の構成を示した構成図である。同図に示すように演算部はCPU30、メモリ(RAM)32、外部記憶装置34、表示部36、入力部38、ステージ制御部40及び画像処理部42等から構成される。
【0015】
CPU30は、所定のプログラムに従って、上記測定部のXYテーブル12等の制御、データ処理等の各種演算処理を行う。メモリ32及び外部記憶装置34は、必要に応じてCPU30から送られるデータを記録し、また、必要に応じて記録しているデータをCPU30に出力する。尚、外部記憶装置34はデータ保存用に用いられるメモリである。表示部36には、測定開始前における測定内容の設定画面、測定後における測定結果の表示画面等の各種情報画面が文字、数値、グラフィック等で表示される。入力部38は、例えばユーザがキーボードやマウス等を用いて入力した情報をCPU30に入力する。
【0016】
ステージ制御部40は、CPU30から入力される制御信号に基づいて上記XYステージ12の駆動モータを駆動してXYステージ12をX、Y方向に移動させる。CPU30は、例えば、予めユーザが設定したXYステージ12の移動軌跡に従って前記制御信号をステージ制御部40に入力する。
画像処理部42は、上記測定部本体16の撮像部44から入力される干渉縞の画像を解析し、ワーク表面の各点の位相を検出する。この位相を示す位相データはCPU30に入力され、この位相データからワーク表面の形状を示す形状データ(3次元座標データ)が算出されるようになっている。
【0017】
次に、上述の如く構成された非接触表面形状測定装置においてCCDカメラの1視野の面積を越える測定領域の表面形状を測定する場合の処理内容について説明する。
本装置は、CCDカメラの1視野の面積を越える広い測定領域の表面形状を1つの測定結果として表示等することができ、且つ、狭い領域を測定する場合に比べて横分解能を低下させることなくその広い測定領域の表面形状を測定することができる点に特徴がある。その測定方法として、測定領域前面の表面形状を隙間なく測定する第1の方法と、測定領域の所要位置の表面形状を離散的に測定する第2の方法とがあり、測定目的に応じてこれらの方向を使い分けることができるようになっている。第1の方法では、測定領域全面の形状を隙間なく測定することができるため、測定領域全面の連続した形状を把握したい場合に有効であり、第2の方法では、測定領域全面の形状を知る必要がなく部分的に把握できれば十分な場合に測定時間を短縮することができる点で効果的である。以下、これらの第1の方法、第2の方法について順に説明する。
【0018】
初めに第1の方法の処理内容について説明する。第1の方法を実行する場合、まずユーザは測定開始前に測定部のXYステージ12に載置したワークWの測定領域を入力部38から入力する。これによって設定された測定領域の一例を図3(A)に示す。このとき、この測定領域Sの面積が、図3(B)に示すCCDカメラの1視野範囲Pの面積を越えた場合、CPU30は、図3(A)に示す測定領域Sを図3(C)に示すように1視野範囲Pの面積と等価な複数の測定面P1〜P9で分割する。また、このとき各測定面P1〜P9を隣接する他の測定面と一部で重複するように設定する。尚、ここでは、測定領域Sの面積が1視野範囲Pの面積の9倍未満であった場合について測定領域Sを測定面P1〜P9までの9つの測定面で分割している様子を示している。但し、分割数は9に限らず任意に設定できる。CPU30は、このようにして分割した各測定面P1〜P9のX、Y位置を測定面位置としてメモリ32に登録する。
【0019】
次いで、ユーザは、XYステージ12の移動方向を反転させる迂回点を入力部38から入力する。迂回点について説明すると、上述のように測定領域Sの面積がCCDカメラの1視野範囲Pの面積を越える場合には、その測定領域Sを複数の測定面に分割して各測定面を順次撮像し、その干渉縞の画像を取得する。このときCPU30はステージ制御部40(図2参照)に制御信号を出力し、XYステージ12を自動で移動させて、CCDカメラの視野を各測定面に対して図4に示すような軌跡で相対的に移動させる。同図によれば、XYステージ12の移動によってCCDカメラの視野は測定面P1から測定面P3までX方向に移動して測定面P1〜P3までの画像を取得した後、次いで測定面P3から同図に示す迂回点T1 まで移動する。そして、迂回点T1 からX方向に移動を開始して測定面P4から測定面P6まで移動し、測定面P4〜P6までの画像を取得する。次いで測定面P6から同図に示す迂回点T2 まで移動した後、迂回点T2 からX方向に移動を開始して測定面P7から測定面P9まで移動し、測定面P7〜P9までの画像を取得する。
【0020】
上述の迂回点T1 、T2 は図4に示したように測定面P4、P7よりも図中左側に位置し、測定面P4〜P6又は測定面P7〜P9の撮像を行う際に、CCDカメラの視野は測定面P4又は測定面P7の位置よりも左側から移動してくるようになっている。このようにXYテーブル12を移動させることにより、各列の測定面はXYステージ12の一方向(左方向)への移動の過程で撮像されることとなり、XYテーブル12のバッククラッシュによる撮像位置の誤差を適切に防止することができる。これらの迂回点T1 、T2 のX、Y位置を予めユーザが入力部38から入力し、メモリ32に登録しておくことにより、CPU30は、測定時にこれらの迂回点T1 、T2 の位置に基づいてXYステージ12を移動させ、図4に示したような軌跡でCCDカメラの視野を移動させることができるようになっている。
【0021】
以上の設定が終了し、ユーザが入力部38から測定開始を指示した場合、CPU30は、以下に示す処理を実行する。まず、CPU30は、ステージ制御部40に制御信号を出力して、XYステージ12を移動させ、CCDカメラの視野を測定面P1の位置に移動させる。次いで、CCDカメラから測定面P1の干渉縞の画像を取り込み、この干渉縞の画像から測定面P1の形状を求める。尚、干渉縞の画像から測定面の形状を求める方法については公知であるため、ここではその説明は省略する。ここで求めた測定面P1の形状は形状データとして、測定高さと測定位置と共に、メモリ32に保存する。尚、測定高さは、測定対象物(ワークW表面)から対物レンズ16A(図1参照)までの距離を示す値で、この値は測定部に設置されたスケールから取得することができるようになっている。また、測定位置はXYステージ12のX、Y位置を示し、この位置も測定部に設置されたスケールによって取得することができるようになっている。
【0022】
続いてCPU30は、XYテーブル12を移動させて上記図4に示したようにCCDカメラの視野を所定の軌跡に沿って移動させ、測定面P2〜P9までの各測定面の形状データを上述と同様にして求め、測定高さと測定位置と共にメモリ32に保存する。
以上、各測定面P1〜P9について形状データを求めると、次にCPU30は、これらの測定面の形状データを適切に繋ぎ合わせて測定領域Sの全面の形状を示す1つの形状データを生成するために以下の補正演算を行う。尚、CPU30は、第1と第2の2つの補正演算を行って測定領域Sの全面の形状データを生成するようにしており、第1と第2の補正演算について順に説明する。
【0023】
第1の補正演算は、全ての測定面P1〜P9について隣接する2つの測定面を対象に行う。補正する測定面の順序については後述するが、対象となる2つの測定面のうち、一方を基準測定面とし、他方を被補正測定面とする。そして、基準測定面の測定高さをZ、被補正測定面の測定高さをzとした場合、補正は被補正測定面の全形状データから(z−Z)を差し引くことにより行う。この補正は、XYテーブル12の移動によって変動するZ方向の誤差を除去することを目的としている。
【0024】
第2の補正演算は、第1の補正演算を行った後、第1の補正演算と同様2つの測定面を対象に行う。図6(A)に示すように対象となる2つの測定面のうち、一方を基準測定面とし、他方を被補正測定面とする。そして、説明上、基準測定面と被補正測定面をそれぞれΦ(X,Y)、Ψ(X,Y)とし、Ψ(X,Y)に対してここで行う補正によって得られる補正後の面をΨ′(X,Y)とすると、被補正測定面の補正後の面Ψ′(X,Y)は次式(1)で与えられる。
【0025】
Ψ′(X,Y)=Ψ(X,Y)+αX+βY+γ …(1)
但し、α、β、γは、傾斜の補正係数である。
CPU30は、基準測定面と被補正測定面の重なり合った領域の形状データに基づいて、Φ(X,Y)−Ψ′(X,Y)が最小となるような補正係数α、β、γを最小自乗法で算出する。そして、この補正係数α、β、γ を上式(1)に代入して被補正測定面の形状データを補正する。これにより図6(B)に示すように基準測定面と被補正測定面の形状データが連続した値を示すようになる。即ち、この補正演算は、XYテーブル12の移動等に起因して生じる誤差を除去し、1つの測定領域Sを複数の測定面に分割して撮像していることに起因して生じる不連続点の発生を防止している。
【0026】
図5は上記補正演算の補正順序の1例を示した図である。ここで示す測定領域は、5×5の測定面で分割されているものとし、同図に示す各測定面の数値は各測定面の補正を行う順序を示している。まず、中央の測定面(No.1)を基準測定面とし、その周辺の測定面(No.2)を被補正測定面として上記第1、第2の補正演算を行う。No.2の測定面全て(4個)について補正が終了したら、続いて補正後のNo.2の測定面を基準測定面とし、その周辺の測定面(No.3)を被補正測定面として上記第1、第2の補正演算を行う。No.3の測定面全て(8個)について補正が終了したら、以上の手順と同様にしてNo.4、No.5の測定面について上記補正演算を行っていく。このように、中央測定面から順次周辺の測定面について補正を行っていくことにより全ての測定面について補正を行うことができる。但し、補正演算の順序は、これに限らない。
【0027】
以上説明した補正演算により、CCDカメラの1視野範囲を越える測定領域に対して複数の測定面に分割して各測定面について表面形状を独立に算出した場合でも、各測定面の形状データを適切に繋ぎ合わせることができ、あたかも1視野範囲で取得した画像に基づいて測定領域全面の表面形状を測定したような形状データを得ることができる。
【0028】
CPU30は、このようにして算出した測定領域S全面についての形状データに基づいて測定領域Sの表面形状を表示部36にグラフィック表示し、又は測定領域Sの平面度、粗さ等のパラメータを算出し、その結果を表示部36に表示する。
以上の第1の方法は、測定領域の表面形状を隙間無く測定する場合に用いられる方法であるが、次に説明する第2の方法は上述のように測定領域の所要位置の表面形状を離散的に測定する場合に使用される。
【0029】
第2の方法を実行する場合、即ち、XYステージ12に載置したワークWの測定領域S(図7(A))がCCDカメラの1視野範囲P(図7(B))を越える場合であって、測定領域Sの所要位置の表面形状を離散的に測定する場合、ユーザは測定開始前にその測定位置(X、Y位置)を入力部38から入力する。例えば、図7(C)に示すように測定領域S内に9箇所の測定位置(測定面P1〜P9)を設定するときには、その9箇所の測定面P1〜P9のX、Y位置を入力部38から入力する。また、上記第1の方法の場合と同様に測定時のXYステージ12の移動に対する迂回点T1 、T2 のX、Y位置を入力部38から入力する。尚、X、Yステージ12の移動に伴うCCDカメラの視野の移動軌跡は、図8に示すように第1の方法の場合(図4参照)と同じである。
【0030】
また、ユーザは測定開始前にXYステージ12の全移動範囲における平面度マスターの測定値をステージ補正データとして取得し、メモリ32に保存しておく。ステージ補正データの取得と保存は以下のようにして行う。まず、測定物として略理想的な平面を有する平面度マスターをXYステージ12に載置する。そして、平面度マスターに対して1視野範囲の表面形状の測定を行って形状データを求め、その形状データの平均高さを測定位置(XYステージ12のX、Y位置)と共にメモリ32に保存する。この測定は、XYステージ12を1視野範囲ずつ移動させてXYステージ12の全移動範囲について行う。
【0031】
以上の設定が終了し、ユーザが入力部38から測定開始を指示した場合、CPU30は、第1の方法と同様にXYステージ12を移動させて上記離散的に設定された測定面P1〜P9の形状データを取得する。尚、形状データの取得手順については、第1の方法と同様に行われるため説明は省略する。
各測定面P1〜P9について形状データを取得すると、次にCPU30は、これらの測定面の形状データを以下のように補正する。尚、CPU30は、第1と第2との2つの補正演算を行うが、第1の補正演算については、上記第1の方法で説明した第1の補正演算と同様に行われるため説明を省略し、第2の補正演算についてのみ以下説明する。
【0032】
第2の補正演算は、上述したように平面度マスターによって作成したステージ補正データを用いて行う。ステージ補正データは離散的に存在している為、測定面毎に以下の処理を行う。
図9は、補正対象の被補正測定面Rの位置とステージ補正データが登録されている位置q、q、…との位置関係を示し、図10は、図9に示す点線枠rの拡大図を示す。CPU30は、被補正測定面Rの中央位置Aにおける補正値を比例配分計算で算出する。即ち、被補正測定面を囲むステージ補正データの登録位置Z1、Z2、Z3、Z4におけるステージ補正データZ1(d)、Z2(d)、Z3(d)、Z4(d)から補正値A(d)を算出する。
【0033】
ここで、ステージ補正データZ1(d)とは、XY平面座標Z1(X,Y)を中心とした1視野測定面の測定形状データから算出した最小自乗回帰平面を示すパラメータ(L,M,N,P) 、及び、座標Z1(X,Y)におけるその最小自乗回帰平面の高さ(d)からなるデータである。ステージ補正データZ2(d)、Z3(d)、Z4(d)についても同様である。また、補正値A(d)は、XY平面座標A(X,Y)を囲むステージ補正データの登録位置Z1、Z2、Z3、Z4の4点から算出した最小自乗回帰平面を示すパラメータ(L,M,N,P) 、及び、座標A(X,Y)におけるその最小自乗回帰平面の高さ(d)からなるデータである。
【0034】
補正値A(d)を算出するため、補正値A(d)をλX+μY+νZ=dとして、角度ベクトル(λ,μ,ν)を以下のようにして算出する。
▲1▼補正値A(d)のX方向成分:A(λ)を算出する。
まず、Z1(d)のX方向成分(L 成分) :Z1(L)とZ2(d)のX方向成分(L 成分) :Z2(L)との差を、図10に示すZ1〜X1間の距離と、X1〜Z2間の距離で比例分配してX1(λ)を求める。即ち、
ただし、A(X)、Z1(X)、Z2(X)はそれぞれの点のX座標値を示す。
【0035】
また、同様にZ3(d)のX方向成分(L 成分) :Z3(L)とZ4(d)のX方向成分(L 成分) :Z4(L)との差を、図10に示すZ3〜X2間の距離と、X2〜Z4間の距離で比例分配してX2(λ)を求める。即ち、
ただし、Z3(X)、Z4(X)はそれぞれの点のX座標値を示す。
【0036】
そして、X1(λ)とX2(λ)との差を、図10に示すX1〜A間の距離とA〜X2間の距離で比例配分してA(λ)を求める。即ち、
ただし、A(Y)、Z1(Y)、Z3(Y)はそれぞれの点のY座標値を示す。
▲2▼補正値A(d)のY方向成分:A(μ)を算出する。
【0037】
▲1▼と同様にしてZ1(d)のY方向成分(M 成分):Z1(M)とZ3(d)のY方向成分(M 成分):Z3(M)からY1(μ)を求め、Z2(d)のY方向成分(M 成分):Z2(M)とZ4(d)のY方向成分(M 成分):Z4(M)からY2(μ)を求める。即ち、
ただし、A(Y)、Z1(Y)、Z2(Y)、Z3(Y)、Z4(Y)はそれぞれの点のY座標値を示す。
【0038】
そして、Y1(μ)とY2(μ)からA(μ)を求める。即ち、
▲3▼A(d)のZ方向成分:A(ν)を算出する。
A(λ)とA(μ)からA(ν)を求める。即ち、
α=1視野X範囲/2
β=1視野Y範囲/2
とすると、
CPU30は、以上の▲1▼〜▲3▼の演算を行って補正値A(d)を求めた後、被補正測定面Rの全形状データから測定面中央位置Aの高さデータ(d)、角度ベクトル(λ,μ,ν)を引き算して形状データを補正する。
【0039】
以上の補正演算により、XYテーブル12の移動に起因して生じる誤差を各測定面の形状データから除去することができる。
CPU30は、以上補正演算によって補正した各測定面の形状データを合わせて測定領域全面における1つの形状データとし、この形状データに基づいて測定領域Sの表面形状を表示部36にグラフィック表示し、又は、測定領域Sの平面度、粗さ等のパラメータを算出し、その結果を表示部36に表示する。
【0040】
【発明の効果】
以上説明したように本発明に係る非接触表面形状測定装置によれば、撮像手段の1視野範囲に対して測定範囲の面積が大きい場合に、その測定範囲を複数の領域に分割すると共に、その領域の一部において隣接する他の領域と重複するように分割し、各領域毎に干渉縞を撮像して形状データを算出する。そして、各領域の重複した部分において形状データが最も合致するように各領域の形状データを補正し、各領域の形状データを繋ぎ合わせて前記被測定面の測定範囲全体の形状を示す形状データを生成する。これにより、横分解能を高分解能に維持したまま1視野の面積を越える大面積の表面形状を測定することができる。
【0041】
また、撮像手段の1視野範囲に対して測定範囲の面積が大きい場合に、測定範囲に離散した領域を設定し、各領域毎に干渉縞を撮像して形状データを算出する。そして、前記撮像手段の視野範囲を移動させる移動機構に起因して生じる誤差を各領域の形状データから除去し、それらの形状データを合わせて前記被測定面の測定範囲全体の形状を示す形状データを生成する。これにより、横分解能を高分解能に維持したまま1視野の面積を越える大面積の表面形状を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明に係る非接触表面形状測定装置の測定部の構成を示した斜視図である。
【図2】図2は、本発明に係る非接触表面形状測定装置の演算部の構成を示したブロック図である。
【図3】図3(A)、(B)、(C)は、それぞれ、形状データを求める測定領域、CCDカメラの1視野範囲及び測定領域を分割する測定面を示した図である。
【図4】図4は、CCDカメラの視野の移動軌跡及び各測定面の測定順序を示した図である。
【図5】図5は、各測定面の補正順序を示した図である。
【図6】図6(A)、(B)は、補正演算の処理内容を説明に用いた説明図である。
【図7】図7(A)、(B)、(C)は、それぞれ、形状データを求める測定領域、CCDカメラの1視野範囲及び測定領域を分割する測定面を示した図である。
【図8】図8は、CCDカメラの視野の移動軌跡及び各測定面の測定順序を示した図である。
【図9】図9は、補正データの登録位置と被補正測定面の位置を示した図である。
【図10】図10は、図9における点線領域の拡大図である。
【符号の説明】
12…XYステージ
16…測定部本体
30…CPU
32…メモリ
36…表示部
38…入力部
40…ステージ制御部
42…画像処理部
44…撮像部
Claims (2)
- 被測定面で反射させた光と参照光との干渉によって生じた干渉縞を撮像手段によって撮像し、該撮像した干渉縞に基づいて前記被測定面の形状を測定する非接触表面形状測定装置において、
前記被測定面の測定範囲を複数の領域に分割する手段であって、各領域の一部が他の領域と重複するように分割する測定範囲分割手段と、
前記測定範囲分割手段によって分割した領域毎に前記撮像手段によって干渉縞の画像を取得する画像取得手段と、
前記画像取得手段によって取得した画像に基づいて各領域の形状を示す形状データを算出する形状データ算出手段と、
前記形状データ算出手段によって算出した各領域の形状データを、各領域の重複する部分において前記形状データが最も合致するように補正する形状データ補正手段であって、各領域のうち前記被測定面の測定範囲の中央部に位置する領域を初期の基準測定面とすると共に、該基準測定面の領域と重複する部分を有する周辺の領域を被補正測定面として該被補正測定面の領域の形状データを補正するものとし、補正済みの領域を新たな基準測定面とすると共に、該基準測定面の領域と重複する部分を有する未補正の領域を被補正測定面として該被補正測定面の領域の形状データを補正することによって全ての領域の形状データを順次補正する形状データ補正手段と、
前記形状データ補正手段によって補正された各領域の形状データを繋ぎ合わせて前記被測定面の測定範囲全体の形状を示す形状データを生成する形状データ生成手段と、
を備えたことを特徴とする非接触表面形状測定装置。 - 被測定面で反射させた光と参照光との干渉によって生じた干渉縞を撮像手段によって撮像し、該撮像した干渉縞に基づいて前記被測定面の形状を測定する非接触表面形状測定装置において、
前記被測定面の測定範囲に離散した領域を設定する領域設定手段と、
前記領域設定手段によって設定した領域毎に前記撮像手段によって干渉縞の画像を取得する画像取得手段と、
前記画像取得手段によって取得した画像に基づいて各領域の形状を示す形状データを算出する形状データ算出手段と、
前記撮像手段の視野範囲を移動させる移動機構に起因して生じる誤差を示す誤差データに基づいて、前記形状データ算出手段によって算出した各領域の形状データを補正し、該補正した各領域の形状データを合わせて前記被測定面の測定範囲全体の形状を示す形状データを生成する形状データ補正手段と、
を備えたことを特徴とする非接触表面形状測定装置。
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