JP4710078B2 - 表面形状の測定方法およびこれを用いた装置 - Google Patents
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Description
前記参照面を光の進行方向に対して任意角度の斜め傾斜姿勢に配置した状態で発生させた干渉縞の画像を取得する第1過程と、
取得した前記画像における各画素の干渉縞の強度値を求める第2過程と、
干渉縞波形を求める表現式を利用して前記画素ごとについて、各画素の強度値とその近傍の複数画素の強度値とを利用し、それらの画素における干渉縞波形の直流成分、交流振幅、および位相が等しいと仮定し、各画素の位相を求める第3過程と、
求めた前記各画素の位相から撮像された測定対象面の表面高さを求める第4の過程と、
求めた前記測定対象面の表面高さから表面形状を求める第5過程と、
を備えたことを特徴とする。
前記参照面は、光の進行方向に対して任意角度の斜め傾斜姿勢で配備されており、
前記単色光が照射されて測定対象物と参照面とから反射して同一光路を戻る反射光によって干渉縞を生じさせて測定対象面を撮像する撮像手段と、
撮像された前記測定対象面を画素ごとに干渉縞の強度値として取り込むサンプリング手段と、
前記サンプリング手段によって取り込まれた前記強度値である干渉縞強度値群を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された強度値群から画素ごとに強度値を読み出し、各画素の強度値と画素ごとにその近隣にある画素の強度値を利用し、各画素に含まれる干渉縞波形の直流成分、交流振幅、および位相が等しいと仮定するとともに、干渉縞波形を求める表現式を利用して各画素の位相を求め、
この求めた前記各画素の位相から撮像された測定対象面の表面高さを求め、
さらに、この求めた前記測定対象面の表面高さから表面形状を求める演算手段と、
を備えたことを特徴とする。
2 … 制御系ユニット
10 … 白色光源
11 … コリメートレンズ
12 … バンドパスフィルタ
13 … ハーフミラー
14 … 対物レンズ
15 … 参照面
17 … ビームスプリッタ
18 … 結像レンズ
19 … CCDカメラ
20 … CPU
21 … メモリ
22 … 入力部
23 … モニタ
24 … 駆動部
25 … 位相算出部
26 … 符号判定部
27 … 画像データ作成部
30 … 測定対象物
30A… 測定対象面
30B… 測定対処面の凸部
CPU20は、図示しないステッピングモータなどの駆動系を駆動させて駆動部24が光学ユニット1を測定対象物30の撮像領域に移動させる。撮像位置が決定すると、光学系ユニット1は、白色光源10から白色光を発生させる。この白色光はバンドパスフィルタ12を介して単色光(例えば、波長λ=600nm)とされ測定対象物30および参照面15に照射される。
CPU20は、撮像してメモリ21に記憶した各画素の強度値、すなわち、測定対象面30Aの干渉光の強度値を画像データから取り込む。このとき、図4に示すように、測定対象面30Aと凸部30Bの高さが変動する箇所で、干渉縞の空間的な位相が(例えば図4の本実施例ではX軸方向に)ずれた不規則な縞模様として現れる。
CPU20の位相算出部25は、測定対象面30Aの算出対象の画素における位相を、その画素と該画素に隣接する画素(本実施例ではx軸方向に隣接する画素)のそれぞれの干渉縞の光強度値を用いて予め決定した計算アルゴリズムを利用して求めてゆく。具体的には、算出対象の画素および該画素に隣接する画素における干渉縞の光の強度値を干渉縞波形を求める表現式にあてはめて(フィッティング)位相を求める。
b( x ) = b( x+Δx) = b ・・・(4)
φ( x ) = φ( x+Δx ) =φ ・・・(5)
ここで、a、b、φは定数である。
=b{cos( 2πfx )cosφ}−sin( 2πfx )sinφ)} ・・・(8)
=b[cos{ 2πf( x+Δx )cosφ−sin( 2πfx+Δx )sinφ}] ・・・(9)
なお、n’は、整数である。
なお、nは、整数である。
CPU20は、上記式(14)から算出された算出対象の画素の位相φ( x )を次式(15)に代入して高さz( x )を求める。
CPU20は、全ての画素について位相と高さの算出が終了するまで、ステップS3〜S4の処理を繰り返し行い、位相と表面高さを求める。
CPU20の画像データ作成部27は、算出された表面高さの情報から測定対象面30Aの表示画像を作成する。そして、CPU20は、この画像データ作成部27によって作成された情報に基づいて、図6に示すように、モニタ23に測定対象物30の表面高さの情報を表示したり、それら各特定箇所の高さの情報に基づいた3次元または2次元の画像を表示したりする。オペレータは、これらの表示を観察することで、測定対象面30Aの表面にある凹凸形状を把握することができる。以上、測定対象面30Aの表面形状の測定処理が終了する。
b( xi ) = b( x+Δxi) = b ・・・ (19)
φ( xi ) = φ( x+Δxi ) =φ ・・・ (20)
= a + bcosφ・cos{2π・f・( x+Δxi )−bsinφ・sin{2π・f・( x+Δxi )} …(21)
Claims (10)
- 単色光源から出力される単色光を分岐手段を介して測定対象面と参照面とに照射し、測定対象面と参照面の両方から反射して同一光路を戻る反射光によって生じる干渉縞の強度値に基づいて測定対象面の表面高さと表面形状を求める表面形状の測定方法において、
前記参照面を光の進行方向に対して任意角度の斜め傾斜姿勢に配置した状態で発生させた干渉縞の画像を取得する第1過程と、
取得した前記画像における各画素の干渉縞の強度値を求める第2過程と、
干渉縞波形を求める表現式を利用して前記画素ごとについて、各画素の強度値とその近傍の複数画素の強度値とを利用し、それらの画素における干渉縞波形の直流成分、交流振幅、および位相が等しいと仮定し、各画素の位相を求める第3過程と、
求めた前記各画素の位相から撮像された測定対象面の表面高さを求める第4の過程と、
求めた前記測定対象面の表面高さから表面形状を求める第5過程と、
を備えたことを特徴とする表面形状の測定方法。 - 請求項1に記載の表面形状の測定方法において、
求める前記位相は、各画素の強度値g(x)を画素の近傍で干渉縞波形の表現式である g(x) = a+bcos{2πfx+φ( x )} にフィッティングさせることから求める
ことを特徴とする表面形状の測定方法。 - 請求項2に記載の表面形状の測定方法において、
前記干渉縞波形の空間周波数成分が予め決めた値になるように設定または推定し、
求まる位相のsinφ成分とcosφ成分の符号を求め、この両成分の符号情報の組み合わせから、前記表現式のφ( x )の範囲を特定する
ことを特徴とする表面形状の測定方法。 - 請求項3に記載の表面形状の測定方法において、
前記表現式のφ( x )は、以下のようにして表す、
φ= arctan{ S/C } + 2nπ(n=正の整数)
なお、 S=bsinφ、C=bcosφとする
ことを特徴とする表面形状の測定方法。 - 請求項1に記載の表面形状の測定方法において、
前記第1過程では、前記測定対象物を移動させるとともに、この測定対象物の移動速度に同期した所定のサンプリング時間間隔で測定対象面の画像を取得する
ことを特徴とする表面形状の測定方法。 - 単色光源から出力される単色光を分岐手段を介して測定対象面と参照面とに照射し、測定対象面と参照面の両方から反射して同一光路を戻る反射光によって生じる干渉縞の強度値に基づいて測定対象面の表面高さと表面形状を求める表面形状測定装置において、
前記参照面は、光の進行方向に対して任意角度の斜め傾斜姿勢で配備されており、
前記単色光が照射されて測定対象物と参照面とから反射して同一光路を戻る反射光によって干渉縞を生じさせて測定対象面を撮像する撮像手段と、
撮像された前記測定対象面を画素ごとに干渉縞の強度値として取り込むサンプリング手段と、
前記サンプリング手段によって取り込まれた前記強度値である干渉縞強度値群を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された強度値群から画素ごとに強度値を読み出し、各画素の強度値と画素ごとにその近隣にある画素の強度値を利用し、各画素に含まれる干渉縞波形の直流成分、交流振幅、および位相が等しいと仮定するとともに、干渉縞波形を求める表現式を利用して各画素の位相を求め、
この求めた前記各画素の位相から撮像された測定対象面の表面高さを求め、
さらに、この求めた前記測定対象面の表面高さから表面形状を求める演算手段と、
を備えたことを特徴とする表面形状測定装置。 - 請求項6に記載の表面形状測定装置において、
前記演算手段は、各画素の強度値g(x)を画素の近傍で干渉縞波形の表現式である g(x) = a+bcos{2πfx+φ( x )} にフィッティングさせることから求める
ことを特徴とする表面形状測定装置。 - 請求項7に記載の表面形状測定装置において、
前記単色光源から出力される単色光の波長を予め決定し、前記干渉縞波形の空間周波数成分が予め決めた値になるように設定または推定し、
前記演算手段は、さらに、求まる位相のsinφ成分とcosφ成分の符号を判定する符号判定部を備え、
かつ、この符号判定部により求まる両成分の符号情報の組み合わせから、前記表現式の φ( x )の範囲を特定する
ことを特徴とする表面形状測定装置。 - 請求項8に記載の表面形状測定装置において、
前記表現式のφ( x )は、以下のようにして表す、
φ= arctan{ S/ C} + 2nπ(n=正の整数)
なお、 S=bsinφ、C=bcosφとする
ことを特徴とする表面形状測定装置。 - 請求項8に記載の表面形状測定装置において、
前記単色光源から出力される単色光の波長は、任意に調節可能に構成した
ことを特徴とする表面形状測定装置。
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