JP3822509B2 - 幾何要素測定方法及び装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、顕微鏡、投影機、画像測定機及び三次元測定機などの表面性状測定機を用いた測定に関し、特に座標測定結果から幾何形状の判別を行う幾何要素測定方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、顕微鏡や投影機、あるいは画像測定機などを用いた測定では、目視による形状等の観察の他、視野内の十字レチクル交点にワーク(被測定対象)の測定目標点を位置決めしてその座標値(XY座標値)を読み取り、それらの座標値からワークの形状を、より正確に測定することが行われている。
【0003】
また、実公平4-12407号公報には、投影機と、そのスクリーンに設置された受光器の出力からエッジ信号を出力するエッジ信号発生器とにより、スクリーンに投影された画像のエッジ(ワークの端部)を検出して、これによってワークの寸法形状等を測定する投影画像のエッジ検出装置が開示されている。
この装置における測定項目としては、1点の座標値、2点間の距離、2直線の交角、各種の形状判別などがある。これらを用いて、例えば穴中心位置の正確さ、穴中心位置間の正確さ、直線個所の真直度、直線と直線の交差角度、穴の真円度などの各種形状の正確さ、などが評価される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
これらの形状評価などにあたっては、評価基準としての測定個所の指定などは特になく、例えば、円形状については、円周上の3点以上を測定したデータから、円の中心と半径を求める、といった程度であって、測定者による評価結果のバラツキの原因となっていた。例えば、測定者によっては、測定しやすい所のみを選んで測定する場合もあれば、円測定などでは極力120度等配で測定する必要があるにも拘らず、そのような測定がなされない場合も生じる。その結果、測定データ点数は同一であっても、その測定データから評価される形状パラメータ(円の中心、半径など)にはかなりのバラツキが生じる原因となっていた。その結果、現在測定しつつあるデータが、予想しうる十分な測定精度を得るのに十分であるか否かがリアルタイムで判断できないために、測定を終了して形状パラメータを求め、その結果、精度不足が判明した場合には、再度、最初から測定をし直さなければならないという煩雑さがあった。
【0005】
特開平6-50749号公報には、これらの問題を解決するために、あらたなデータを取り込む毎に幾何形状を求めて表示することが開示されているが、測定したデータの点数を基にして形状判別を行っているために、測定データ点数を増加して、測定のバラツキによる精度劣化を抑えたい場合には用いることが出来なかった。
【0006】
また、特開2001-241941号公報では主に三次元形状に関する幾何要素測定装置及び方法が示されており、データの広がり方から、直線、円、球、円錐などの形状を求めているために、測定点数による前記の制約はなく、測定精度の向上は可能だが、単一形状の判別しか行えないという問題があった。従って、2つ以上の形状を含む複雑な形状を1度に形状判別したい場合、あるいは複数形状の接合点の情報を求めたい場合は、単一形状の測定を複数回繰り返す必要があって、測定能率が向上しなかった。
【0007】
本発明は、このような点に鑑みなされたもので、データの広がり方とデータの分布傾向に基づいて、複数の幾何形状を含む複雑な形状を一度に判別することができ、測定の能率を大幅に向上させることができる幾何要素測定方法及び装置を提供することを目的とする
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る第1の幾何要素測定装置は、被測定物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又は複数の測定点を測定して測定データを出力する測定手段と、この測定手段で測定された測定点の測定データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された測定データから測定点の広がり方を計算する広がり方計算手段と、前記広がり方計算手段で求められた測定点の広がり方に基づいて前記記憶手段に記憶された測定データから測定点の分布傾向を計算して前記測定データを1又は複数の群に分類する分布傾向計算手段と、前記分布傾向計算手段で1又は複数の群に分類された測定データに基づいて各群毎に前記測定すべき幾何形状を計算する幾何形状計算手段とを備えたことを特徴とする。
【0009】
本発明に係る第2の幾何要素測定装置は、被測定物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又は複数の測定点を測定して測定データを出力する測定手段と、前記測定手段で測定された測定点の測定データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された測定データから測定点の分布傾向を計算して前記測定データを1又は複数の群に分類する分布傾向計算手段と、前記分類された各群の測定データから各群毎に測定点の広がり方を計算する広がり方計算手段と、前記広がり方計算手段で求められた測定点の広がり方に基づいて各群毎に前記測定すべき幾何形状を計算する幾何形状計算手段とを備えたことを特徴とする。
【0010】
なお、第1の幾何要素測定装置において、広がり方計算手段は、分布傾向計算手段で分類された各群の測定データに対し、各群毎に再度測定点の広がり方を計算するものでも良い。
【0011】
本発明に係る第1の幾何要素測定方法は、被測定物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又は複数の測定点の測定データを取り込んで前記測定点の広がり方を計算する広がり方計算ステップと、前記求められた測定点の広がり方に基づいて前記測定データから測定点の分布傾向を計算して前記測定データを1又は複数の群に分類する分布傾向計算ステップと、前記1又は複数の群に分類された測定データに基づいて各群毎に前記測定すべき幾何形状を計算する幾何形状計算ステップとを備えたことを特徴とする。
【0012】
本発明に係る第2の幾何要素測定方法は、被測定物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又は複数の測定点の測定データを取り込んで測定点の分布傾向を計算して前記測定データを1又は複数の群に分類する分布傾向計算ステップと、前記分類された各群の測定データから各群毎に測定点の広がり方を計算する広がり方計算ステップと、前記測定点の広がり方に基づいて各群毎に前記測定すべき幾何形状を計算する幾何形状計算ステップとを備えたことを特徴とする。
【0013】
本発明によれば、測定点の分布傾向を調べて測定データを分類し、各群毎に幾何形状計算を行うようにしているので、複数の幾何形状を含む複雑な形状を一度に判別することができ、測定の能率を大幅に向上させることができる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、添付の図面を参照して本発明の具体的な実施の形態について説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る幾何要素測定装置の外観図である。この幾何要素測定装置は、投影画像のエッジ検出機能を有する投影機10と、この投影機10から出力されるエッジ信号を処理してワーク30の幾何形状を判別する制御装置20とを備える。投影機10は、次のように構成されている。即ち、本体部11の上には、測定対象であるワーク30を載置するテーブル12が昇降機構13を介して設置されている。テーブル12は、テーブル12に設けられたX軸(図中左右方向)駆動つまみ14a及びY軸(図中前後方向)駆動つまみ14bと、本体部11に設けられたZ軸(図中上下方向)駆動つまみ14cとにより、XYZ方向に自由に移動させることができる。テーブル12に設置されたワーク30の光学像は、レンズ15を介してスクリーン16上に投影される。スクリーン16の前面には、受光器17が透明の取付板18に支持されて配置されている。
【0015】
また、図2に示すように、投影機10には、テーブル12のX軸位置とY軸位置とを検出するためのX軸リニヤスケール31xと、Y軸リニヤスケール31yとが設けられている。
【0016】
一方、制御装置20は、スクリーン16に投影された投影画像18のエッジの座標を測定して、その測定データに基づいて幾何形状の判別処理を行うもので、図2に示すように、エッジ信号発生器40、X軸カウンタ41x、Y軸カウンタ41y、記憶手段42、広がり方計算手段43、分布傾向計算手段44、幾何形状計算手段45及び幾何形状パラメータ表示手段46を備えて構成されている。
【0017】
エッジ信号発生器40は、受光器17の出力からスクリーン16上に投影された投影画像19のエッジを検出してエッジ信号を出力する。X軸カウンタ41x及びY軸カウンタ41yは、X軸リニヤスケール31xの出力及びY軸リニヤスケール31yの出力でカウント動作を行う。
【0018】
記憶手段42は、受光器17がスクリーン16上に投影された投影画像19のエッジ(ワーク30の端部)を横切るときにエッジ信号発生器40からエッジ信号が出力された際にラッチされた座標値(エッジ信号が入力された時点のカウンタ41x,41yの計数値)を記憶するもので、所定の測定点の座標値を記憶できる容量を備えている。
【0019】
広がり方計算手段43は、記憶手段42に記憶された1乃至複数の測定点Dnの座標値組から、測定点の広がり方が0次元、1次元、2次元のいずれであるかを計算する。
【0020】
分布傾向計算手段44は、測定点Dnを所定の基準によって分類し、その分布傾向を計算する。例えば、測定点Dnの分布を計算し、それらの一群のデータが直線Aを構成しており、他の一群のデータが直線Bを構成していること、などを計算する。これによって測定点Dnが複数の幾何形状を測定したものであるか否かの判定が容易に行える。
【0021】
幾何形状計算手段45は、測定点Dnがどのような幾何形状であるかを判定し、その幾何形状の種類と幾何形状パラメータを計算する。幾何形状計算手段45は、分布傾向計算手段44によって複数の幾何形状の混在が判定された場合には、各群毎にその幾何形状の種類と幾何形状パラメータを計算すると共に、各幾何形状毎の接合条件(例えば2直線の交差角度、交点位置など)も計算する。
【0022】
幾何形状パラメータ表示手段46は、計算された幾何形状の種類と幾何形状パラメータおよび接合条件などを表示する。
【0023】
ワーク30の測定データを得るための測定操作手順としては、まずZ軸駆動つまみ14cを回してレンズ15とテーブル12の上下方向の位置を調整し、スクリーン16に投影されたワーク30の投影画像19のピントを調整する。次に、X軸駆動つまみ14a及びY軸駆動つまみ14bを操作してテーブル12に載置されたワーク30をレンズ15に対して移動させることによってスクリーン16上でワーク30の投影画像19を移動させ、投影画像19の測定したい点が受光器17を横切るように通過させる。これによって測定点の座標値を得ることが出来る。すなわち、テーブル12のX軸方向移動とY軸方向移動を検出するX軸リニヤスケール31xとY軸リニヤスケール31yの出力を計数するX軸カウンタ41xとY軸カウンタ41yに、受光器17の出力によってエッジ信号発生器40で生成されたエッジ信号を入力して、これらのカウンタの計数値をラッチして出力させることにより、測定点のX軸座標値とY軸座標値を得ることが出来る。これらのX軸座標値とY軸座標値は制御装置20の記憶手段42によって記憶され、この記憶された座標値から、広がり方計算手段43、分布傾向計算手段44、幾何形状計算手段45、幾何形状パラメータ表示手段46によって、幾何形状の種類と幾何形状パラメータおよび接合条件などが計算され、その結果が幾何形状パラメータ表示手段46に表示される。ワークの複数個所を測定して測定精度を上げたい場合は、同様の手順を繰り返せば良い。
【0024】
この実施形態では、新たに測定が行われて座標値が記憶手段42に記憶される度に、それまでの測定点座標値と合せて幾何形状計算が行われる。測定終了命令(終了ボタンを操作した場合など)によって、記憶手段42の内容は消去されるが、幾何形状パラメータの計算結果及び幾何形状パラメータ表示手段46の表示内容はそのまま維持される。
【0025】
図3は、この測定点の座標値を新たに得る度に実行される処理手順を示す。
新たに測定点Dnが得られると、処理を開始する(S10)。まず、記憶手段42に記憶されている全ての測定点Dnを基に測定点の広がり方を計算する(S20)。
【0026】
(広がり方計算)
この広がり方計算の詳細を図4に示す。処理を開始(S210)した後、図5に示すように、全ての測定点Dnを内包する長方形(高さH1、幅H2)の内、高さH1が最小となる長方形を決定する(S220)。その後、この長方形の最小幅H2を求める。そしてこの長方形の幅H2が、ほぼゼロであるかどうかを判定し(S240)、ゼロに一致、あるいはほぼゼロと見なせる場合は、測定点の広がり方は0次と決定して(S250)、処理を終了する(S290)。長方形の最小幅H2がゼロとは見なせない場合は、この最小幅H2が、高さH1よりもはるかに大きいか(例:10倍以上)否かを判断し(S260)、長方形の最小幅H2が高さH1よりもはるかに大きい場合は、測定点の広がり方は1次と決定して(S270)、処理を終了する(S290)。長方形の最小幅H2が高さH1よりもはるかに大きいとは言えない場合は、測定点の広がり方は2次と決定して(S280)、処理を終了する(S290)。
次に図3へ戻って、決定された測定点の広がり方の次数を参照して処理を分岐する(S30)。
【0027】
(幾何形状要素=点)
次数が0次の場合は、測定点の数に拘わりなく、幾何形状要素は点であると判断して点の座標値を求め(S40)、処理を終了する(S200)。
なお、この図3においては、幾何形状要素の判定は全て自動判定処理を行う場合に限って説明するが、幾何形状要素の判定はオペレータが制御装置20の入力手段21を用いて手動入力することもできる。
【0028】
次数が1次の場合は、更に幾何形状要素が線、距離、角穴のいずれであるかを判定する(S50)。この判定では、まず幾何形状要素が角穴であるか否かを判断するが、この判定の詳細は後述する(S140)。
【0029】
(幾何形状要素=角穴)
この結果、幾何形状要素が角穴と判断された場合は、後述する角穴のパラメータを算出して(S80)、処理を終了する(S200)。
【0030】
(幾何形状要素=距離)
幾何形状要素が角穴ではないと判断された場合は、測定点Dnの数が2であり、且つ前回の幾何形状要素判定において「距離」と判定されていた場合は、幾何形状要素は距離であると判断して2点の座標値とその距離を算出して(S70)、処理を終了する(S200)。
【0031】
(幾何形状要素=直線)
更に幾何形状要素が「距離」ではないと判断された場合は、幾何形状要素は直線であると判断して直線のパラメータ(直線の傾き、オフセット、始点座標値、終点座標値、直線の幅)を算出して(S60)、処理を終了する(S200)。
【0032】
(幾何形状要素=円)
次数判定の結果、2次と判断された場合は、幾何形状要素が円であるか否かを判断する(S90)。つまり、全ての測定点Dnが円要素を構成しているものとして、幾何形状誤差を算出し、その幾何形状誤差が所定値以下であれば円と判断し、円の中心座標値と半径及び幾何形状誤差を算出して(S100)、処理を終了する(S200)。
【0033】
(幾何形状要素=交点交角)
幾何形状要素が円でないと判断された場合は、幾何形状要素が交点交角であるか否かを判断する(S110)。この交点交角要素判定では、測定点Dnの分布傾向を求めて、その結果から要素判定を行う。図6は測定点としてD1からDmまでの測定が行われた状態を示す。この測定では測定点D1からDkまでは測定点の広がり方の次数としては1次で幾何形状要素は「直線」と判断される。この段階ではD1からDkまでのデータを第1群データとする。その後、測定点Dk+1が入力されると、測定点の広がり方の次数としては2次となるので、この測定点の広がり方の次数が変化した測定点Dk+1以降を第2群データとする。その後、測定点Dmまでのデータを入力する。ここで、第1群データと第2群データのいずれもが、幾何形状要素が直線と判断された場合は、ここでの幾何形状要素判定は交点交角であると判断する。交点交角であると判断された場合は、第1群データを代表する直線Laと第2群データを代表する直線Lbとの各々のパラメータ(直線の傾き、オフセット)から交点座標Pcと交差角度(交角)θを算出し、さらに図7に示すように各々の直線の幅Wa、Wbを求める。この直線の幅は例えば直線Laに対して、各々の正負方向に偏差が最大となる測定点を探し、直線Laに直交方向に両者の距離を求めたものである。直線Lbについても同様である(S120)。その後処理を終了する(S200)。
【0034】
なお、幾何形状要素の判定結果が交点交角であった場合は、測定終了命令後に追加の処理が行われる。すなわち図7に示すように交点Pcの所定距離内に測定点Dkが存在した場合、この測定点Dkを第1群データとすべきか、第2群データとすべきかの問題が生じる。この場合、測定点Dkは、直線の幅Wa、Wbが狭い方(図Fにおいては第2群)のデータとして取り扱う。
【0035】
(幾何形状要素=角穴)
幾何形状要素が交点交角でないと判断された場合は、前回の幾何形状要素判定結果を参照し「角穴」と判定されていた場合は(S130)、角穴要素判定を行う(S140)。この角穴要素判定では、測定点Dnの分布傾向を求めて、その結果から要素判定を行う。
【0036】
図8は、測定点D1からD5までの測定が行われた状態を示す。このデータにおける分布傾向計算は次のように行われる。
【0037】
1)左端付近の第1群データを抽出する。(D1)
2)右端付近の第2群データを抽出する。(D2)
3)中央付近の第3群データを抽出する。(D3〜D5)
4)最下端で、且つ左右にほぼ均等位置にあるデータを抽出し(D3、D4)、このデータから直線Laを求める。
5)第3群のその他のデータ(D5)を用いて、直線Laに平行な直線Lbを求める。
6)第1群のデータ(D1)を用いて、直線Laに垂直な直線Lcを求める。
7)第2群のデータ(D2)を用いて、直線Laに垂直な直線Ldを求める。
【0038】
この図8における分布傾向計算は次のように行うこともできる。
1)最下端のデータD3,D4を抽出して直線Laを求める。
2)直線Laから最も遠いデータD5を求める。
3)直線La方向に関して、最も左側となるデータD1を求める。
4)直線La方向に関して、最も右側となるデータD2を求める。
5)これらの結果から、データD1がデータD3,D4より左側にあり、データD2がデータD3,D4より右側にあり、データD5が直線Laから最も遠方にあり、データD1,D2,D5がいずれも直線Laの上方あるいは下方にある場合には、データD5を通り直線Laに平行な直線Lbと、データD1を通り直線Laに垂直な直線Lcと、データD2を通り直線Laに垂直な直線Lbを求める。
この場合には、データD3,D4が全5点のデータ測定順序のうちで、第1点目と第2点目の測定点として測定されていれば、さらに計算処理が容易になる。
【0039】
このようにして直線La、Lb、Lc、Ldを求めることが出来た場合は、幾何形状要素が角穴であると判断する。
なお、ここでは、測定点が左右に広がっている場合について述べたが、上下方向に広がっている場合、あるいは斜め方向に広がっている場合であっても、左右方向に広がっている場合と、相対的に同様の処理を行う。また、この例では第1群データと第2群データは各1データのみとなっているが、所定の距離内にあるデータは同一群に属するものとして取り扱うことができる。すなわち分布傾向としてのデータ群の区別を測定点間の距離の関数から求めることができる。つまり、相互に近いデータは同一群とすることができる。また、各群のデータの分布状態からデータの広がり方向を求めることができる。
幾何形状要素が角穴であると判断された場合は、直線La、Lb、Lc、Ldのパラメータ(傾き、オフセット)と各交点P1、P2、P3、P4の座標値を算出し(S150)、その後処理を終了する(S200)。
【0040】
(幾何形状要素=長穴)
前回の幾何形状要素判定結果が角穴でなかった場合、及び幾何形状要素が角穴でないと判断された場合は、前回の幾何形状要素判定結果を参照し「長穴」と判定されていた場合は(S160)、長穴要素判定を行う(S170)。この長穴要素判定では、測定点Dnの分布傾向を求めて、その結果から要素判定を行う。
【0041】
図9は、測定点D1からD9までの測定が行われた状態を示す。このデータにおける分布傾向計算は次のように行われる。
1)左端付近の第1群データを抽出する。(D1〜D3)
2)右端付近の第2群データを抽出する。(D4〜D6)
3)中央付近の第3群データを抽出する。(D7〜D9)
4)最下端で、且つ左右にほぼ均等位置にあるデータを抽出し(D7、D8)、このデータから直線Laを求める。
5)第3群のその他のデータ(D9)を用いて、直線Laに平行な直線Lbを求める。
6)第1群のデータ(D1〜D3)を用いて、円弧Caを求める。
7)第2群のデータ(D4〜D6)を用いて、円弧Cbを求める。
【0042】
このようにして直線La、Lb、円弧Ca、Cbを求めることが出来た場合は、幾何形状要素が長穴であると判断する。
【0043】
なお、ここでは、測定点が左右に広がっている場合について述べたが、上下方向に広がっている場合、あるいは斜め方向に広がっている場合であっても、左右方向に広がっている場合と、相対的に同様の処理を行う。また、この例では第1群データと第2群データは各3データのみとなっているが、所定の距離内にあるデータは同一群に属するものとして取り扱うことができる。すなわち分布傾向としてのデータ群の区別を測定点間の距離の関数から求めることができる。つまり、相互に近いデータは同一群とすることができる。また、各群のデータの分布状態からデータの広がり方向を求めることができる。
【0044】
幾何形状要素が長穴であると判断された場合は、直線La、Lbのパラメータ(傾き、オフセット)と曲線Ca、Cbのパラメータ(中心、半径)と各交点P1、P2、P3、P4の座標値を算出し(S180)、その後処理を終了する(S200)。
【0045】
(幾何形状要素=楕円)
前回の幾何形状要素判定結果が長穴でなかった場合、及び幾何形状要素が長穴でないと判断された場合は、幾何形状要素は楕円と判断して、楕円要素のパラメータ計算(2つの焦点位置座標値、長軸長さ、短軸長さ、など)を行ない(S190)、その後処理を終了する(S200)。
【0046】
これらの処理によって判定された幾何形状要素とそれらの各パラメータは幾何形状パラメータ表示手段46によって表示される。
【0047】
このように、本実施形態に係る幾何要素測定装置によれば、次のような効果を得ることができる。
【0048】
(1)測定点の分布傾向を調べて、データを複数の群に分け、それぞれの群毎に幾何形状判別を行うことができるので、複数形状測定結果から一度に複数形状を判別でき、測定の能率が向上する。
(2)一度に複数形状を判別できるので、複数形状の接合点の情報も同時に算出することができる。
(3)測定点の分布傾向の判断方法として、測定点の広がり方の次数が変化した時点で異なる群とする方法、相互のデータ間の距離が所定以下である場合は同一群であるとする方法、特異点データを異なる群(あるいは異なる扱い)とする方法(例えば、図8における測定点D5や、図9における測定点D9)などが可能なので、目的とする幾何形状の判別に最適な分布傾向の判断方法を用いることができ、幾何形状判別精度が向上し、自動幾何形状判別であっても誤判別を防止できる。
(4)測定点の広がり方の次数を基にして、測定点の数に依存せずに形状の判別を行うことができるので、測定のバラツキを抑えて精度の高い幾何形状判別が可能になる。
(5)測定点のデータが入力される毎に幾何形状の判別結果が表示されるので、測定ミスが発生したり、予想と異なる結果が出たりした場合は直ちに測定のキャンセルあるいは再測定が可能なので、無駄な測定によるロスタイムを減少させることができる。
(6)二次元幾何形状判別を行う場合は、測定点のデータ収集にあたって測定方向(例えば、タッチ信号プローブをワークへ接触させてデータを収集する場合のプローブのワークへの接触方向)のデータが不要なので、三次元幾何形状判別に比べてデータ収集と、幾何形状判別処理が容易になる。
(7)複数形状の接合点付近のデータは、精度を劣化させない群へ組み入れることができるので、測定点に対する制約を少なくでき、測定が容易になる。
【0049】
本実施形態では、広がり方計算結果の次数を基にして分布傾向を計算しているが、これとは逆に、分布傾向を計算して各群毎に広がり方計算を行って個別の形状判別を行うこともできる。更に、広がり方計算結果の次数を基にして分布傾向を計算し、その結果の各群に再度広がり方計算を行って群毎の次数を求めても良い。
これによって更に次の効果が期待できる。
(8)分布計算の結果の各群のデータに対して、測定点の広がり方の次数を求めることができるので、より精度の高い形状判別が可能となる。
【0050】
なお、幾何形状のあてはめについては、実施形態における図3のS90における形状誤差計算方法の他に公知の各種の方法を用いることができる。
【0051】
この実施形態では二次元幾何形状判別に限って説明したが、三次元幾何形状判別においても本発明を同様に実施することが出来る。この場合、測定点の広がり方計算は、図10に示す処理手順を用いることができる。まず、図11の黒丸で示す全ての測定点を内包する直方体の内、厚み(H1)がほぼ最小となる直方体を決定する(S310)。なお、このとき直方体の高さH2及び幅H3方向はまだ未決定であり、任意でよい。次に、図11の白丸で示すように、全ての測定点を直方体の厚み(H1)方向と直交する平面S1に投影する(S320)。なお、図11において中央の黒丸は平面S1上に位置しているため、白丸は黒丸に重なっている。続いて、S1平面上において全ての投影点を内包する長方形(高さH2、幅H3)の内、高さH2が最小となる長方形を決定する(S330)。そして、長方形の最小幅(H3)を決定する(S340)。最も大きなH3がほぼ0であれば(S350)、測定点は1点に集中しているので0次と判定する(S360)。H2≪H3であれば(S370)、測定点は直線上に分布しているので1次と判定する(S380)。また、上記条件を満たさず、H1≪H3であれば(S390)、測定点は平面上に分布しているので2次と判定する(S400)。いずれの条件も満たさない場合には(S390)、3次と判定する(S410)。なお、ここで"≪"の条件は、例えば左辺が右辺の1/10〜1/20よりも大きいか小さいかという条件に置き換えても良い。
【0052】
この結果の次数に対して、2次あるいは3次の場合に分布傾向計算を行い、個別の群に対して0次元乃至3次元の幾何形状要素のあてはめを行なうことによって複数の幾何形状判別が可能となる。
【0053】
その結果、投影機や顕微鏡における二次元データによる幾何形状判別のみではなく、焦点測定機能を備えた画像測定機、タッチ信号プローブや倣いプローブを備えた三次元測定機、あるいはCCDセンサなどによる画像プローブを備えた三次元画像測定機、微細形状を測定可能な形状測定機や表面粗さ計など、測定機、測定プローブ、測定方法などを問わず、各種広範なデータに対して本発明による幾何形状判別を実施することができる。
【0054】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、測定点の分布傾向を調べて測定データを分類し、各群毎に幾何形状計算を行うようにしているので、複数の幾何形状を含む複雑な形状を一度に判別することができ、測定の能率を大幅に向上させることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態に係る幾何要素測定装置の外観正面図である。
【図2】 同装置の内部ブロック図である。
【図3】 同装置を用いた幾何要素測定処理のフローチャートである。
【図4】 同処理における測定点の広がり方計算処理を示すフローチャートである。
【図5】 同広がり方計算処理を説明するための図である。
【図6】 同幾何要素測定処理における分布傾向計算処理により分類され各群毎に計算された幾何要素を示す図である。
【図7】 同処理における測定データが2つの幾何要素の交点位置に存在する場合の処理を説明するための図である。
【図8】 同処理における幾何形状が角穴であると判別される場合を説明するための図である。
【図9】 同処理における幾何形状が長穴であると判別される場合を説明するための図である。
【図10】 本発明の他の実施形態に係る測定点の広がり方計算処理を示すフローチャートである。
【図11】 同広がり方計算処理を説明するための図である。
【符号の説明】
10…投影機、12…テーブル、15…レンズ、16…スクリーン、17…受光器、19…投影画像、20…制御装置、31x…X軸リニヤスケール、31y…Y軸リニヤスケール、40…エッジ信号発生器、41x…X軸カウンタ、41y…Y軸カウンタ、42…記憶手段、43…広がり方計算手段、44…分布傾向計算手段、45…幾何形状計算手段、46…幾何形状パラメータ表示手段。
Claims (12)
- 被測定物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又は複数の測定点を測定して測定データを出力する測定手段と、
この測定手段で測定された測定点の測定データを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された測定データから測定点の広がり方を計算する広がり方計算手段と、
前記広がり方計算手段で求められた測定点の広がり方に基づいて前記記憶手段に記憶された測定データから測定点の分布傾向を計算して前記測定データを1又は複数の群に分類する分布傾向計算手段と、
前記分布傾向計算手段で1又は複数の群に分類された測定データに基づいて各群毎に前記測定すべき幾何形状を計算する幾何形状計算手段と
を備えたことを特徴とする幾何要素測定装置。 - 被測定物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又は複数の測定点を測定して測定データを出力する測定手段と、
前記測定手段で測定された測定点の測定データを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された測定データから測定点の分布傾向を計算して前記測定データを1又は複数の群に分類する分布傾向計算手段と、
前記分類された各群の測定データから各群毎に測定点の広がり方を計算する広がり方計算手段と、
前記広がり方計算手段で求められた測定点の広がり方に基づいて各群毎に前記測定すべき幾何形状を計算する幾何形状計算手段と
を備えたことを特徴とする幾何要素測定装置。 - 前記広がり方計算手段は、前記分布傾向計算手段で分類された各群の測定データに対し、各群毎に再度測定点の広がり方を計算するものであることを特徴とする請求項1記載の幾何要素測定装置。
- 前記測定手段は、前記測定点を測定する毎に測定データを出力し、
前記広がり方計算手段、分布傾向計算手段及び幾何形状計算手段は、前記測定データが出力される毎に計算を実行するものであることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載の幾何要素測定装置。 - 前記分布傾向計算手段は、前記記憶手段への新たな測定データの格納によって前記測定点の広がり方の次数が変化した時点で前記新たな測定データを異なる群に分類するものであることを特徴とする請求項1又は3記載の幾何要素測定装置。
- 前記分布傾向計算手段は、前記測定点間の距離が所定値以下である場合は同一群であると判断するものであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項記載の幾何要素測定装置。
- 前記分布傾向計算手段は、特異点の測定データを異なる群に分類するものであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項記載の幾何要素測定装置。
- 前記分布傾向計算手段は、複数の幾何要素の接合点付近の測定点の測定データについては、最も精度を劣化させない群に分類するものであることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項記載の幾何要素測定装置。
- 前記幾何形状計算手段で幾何形状が計算される毎に算出された幾何形状を表示する表示手段を更に備えたことを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項記載の幾何要素測定装置。
- 被測定物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又は複数の測定点の測定データを取り込んで前記測定点の広がり方を計算する広がり方計算ステップと、
前記求められた測定点の広がり方に基づいて前記測定データから測定点の分布傾向を計算して前記測定データを1又は複数の群に分類する分布傾向計算ステップと、
前記1又は複数の群に分類された測定データに基づいて各群毎に前記測定すべき幾何形状を計算する幾何形状計算ステップと
を備えたことを特徴とする幾何要素測定方法。 - 被測定物の測定すべき幾何要素の計算に必要な1又は複数の測定点の測定データを取り込んで測定点の分布傾向を計算して前記測定データを1又は複数の群に分類する分布傾向計算ステップと、
前記分類された各群の測定データから各群毎に測定点の広がり方を計算する広がり方計算ステップと、
前記測定点の広がり方に基づいて各群毎に前記測定すべき幾何形状を計算する幾何形状計算ステップと
を備えたことを特徴とする幾何要素測定方法。 - 前記分布傾向計算ステップで分類された各群の測定データに対し、各群毎に再度測定点の広がり方を計算するステップを更に備えたことを特徴とする請求項10記載の幾何要素測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002065066A JP3822509B2 (ja) | 2002-03-11 | 2002-03-11 | 幾何要素測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2003262515A JP2003262515A (ja) | 2003-09-19 |
JP3822509B2 true JP3822509B2 (ja) | 2006-09-20 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3822509B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5540604B2 (ja) * | 2009-08-24 | 2014-07-02 | 日産自動車株式会社 | テーパー状座面測定装置およびその測定方法 |
CN110231000B (zh) * | 2019-06-20 | 2023-12-15 | 中北大学 | 一种孔检测方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003262515A (ja) | 2003-09-19 |
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