JP2012521005A - 光学式ゲージ及び3次元表面プロファイル測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】3次元表面プロファイル測定のための小視野を有する光学式ゲージ(10)は、光源(22)と、照射光路に沿って光を誘導する照射光学系(28、30、42)とを有するプロジェクタ(20)を含む。光学格子装置(34)は、照射光路に配置され、構造化光パターン(46)を照射するために照射光の分布を変更する。移相装置(47)は、前記被測定表面(80)上の所望の位相ずれを伴う少なくとも3つの位置へ構造化光パターンを移動する。ビューア(50)は、照射光路と平行ではない観察光路を有する観察光学系と、前記表面からの構造化光パターンの拡散反射の画像を感知する光感知アレイ(58)と、画像を記録するカメラ(57)とを含む。光学式ゲージは、カメラと通信するデータ入力部と、画像から得られる表面輪郭情報に基づいてプロファイリング対象表面をモデル化するプロセッサとを具備するコンピュータ(61)をさらに含む。
【選択図】図1
Description
・視野=1辺約3.5mmの正方形
・被写界深度=コントラスト損失50%未満で2mm以上
・空間分解能=歪み2%未満で.005mm以下
・深度分解能=.005mm。
この式を使用して、3Dポイントクラウドの各ポイントは基準平面81上の対応するポイントと比較され、それにより、対応する深度ΔHi(i=1,2,3,4…)を計算する。
20 プロジェクタ
22 光源
24 電源
26 発散光束
28 集光レンズ
30 集光開口
32 収束光束
34 格子
36 基本正弦波成分
38 高調波成分
40 結像開口
42 結像レンズ
44 (プロジェクタの)光軸
46 構造化光パターン
47 移相装置
48 ミラー
49 傾斜装置(圧電アクチュエータ)
50 ビューア
52 光学レンズ
54 (ビューアの)光軸
56 観察光路
57 デジタルカメラ要素
58 イメージセンサ
59 アナログ/デジタル変換器
60 インタフェース回路
61 外部コンピュータ
64 照明光軸
66 握り
68 スタートボタン
70 ガイドチップ
80 表面
81 基準平面
P1 孔食
P2 孔食
Claims (18)
- 3次元表面プロファイル測定のための小視野を有する光学式ゲージにおいて、
光源と、前記光源から照射光路に沿って光を誘導する照射光学系とを具備するプロジェクタと、
前記照射光路に配置されて構造化光パターンを照射するために照射光分布を変更する光学格子装置と、
前記被測定表面上の所望の位相ずれを伴う少なくとも3つの位置へ前記構造化光パターンを移動する移相装置と、
前記照射光路と平行ではない観察光路を有する観察光学系と、前記観察光路に配置されて前記表面上の小視野からの前記構造化光パターンの拡散反射の画像を感知する光感知アレイと、前記観察光路に配置されて前記画像を記録するカメラとを具備するビューアと、
前記カメラと通信するデータ入力部と、前記画像から得られる表面輪郭情報に基づいて前記プロファイリング対象前記表面をモデル化するプロセッサとを具備するコンピュータとを具備する光学式ゲージ。 - 前記移相装置は、前記照射光路に配置されて前記被測定表面へ前記構造化光パターンを偏向するミラーと、前記被測定表面上の所望の位相ずれ距離を伴う少なくとも3つの位置へ前記構造化光パターンを移動するように前記ミラーを回転させる傾斜装置とを有する、請求項1記載の光学式ゲージ。
- 前記傾斜装置は圧電機械装置である、請求項2記載の光学式ゲージ。
- 前記移相装置は、前記照射光路にに配置されて被測定表面へ前記構造化光パターンを反射するミラーと、前記被測定表面上の所望の位相ずれ距離を伴う少なくとも3つの位置へ前記構造化光パターンを移動するように前記ミラーを並進運動させる並進運動装置とを有する、請求項1記載の光学式ゲージ。
- 前記移相装置は、前記照射光路に配置されて被測定表面へ前記構造化光パターンを屈折させるミラーと、前記被測定表面上の所望の位相ずれ距離を伴う少なくとも3つの位置へ前記構造化光パターンを移動するように前記ミラーを傾斜させる傾斜装置とを有する、請求項1記載の光学式ゲージ。
- 前記移相装置は、前記被測定表面上の所望の位相ずれを伴う少なくとも3つの位置へ前記構造化光パターンを移動するように前記光学格子装置を並進運動させる並進運動装置を有する、請求項1記載の光学式ゲージ。
- 前記観察光路は前記照射光路に対して垂直である、請求項1記載の光学式ゲージ。
- 前記観察光学系はテレセントリックレンズ系を具備する、請求項1記載の光学式ゲージ。
- 前記プロジェクタ、前記移相装置及び前記ビューアを収納する手持ち型装置をさらに含む、請求項1記載の光学式ゲージ。
- 前記光学格子装置はロンキー格子であり、前記ロンキー格子は前記照射光パターンを複数のパターン化平面光束に変形する、請求項1記載の光学式ゲージ。
- 前記表面の腐食又は孔食の測定、あるいは表面のエッジの測定に使用される、請求項1記載の光学式ゲージ。
- 表面上の小さな特徴形状を測定する3次元表面プロファイル測定方法において、
構造化光パターンを照射することと、
前記被測定表面上の所望の位相ずれを伴う少なくとも3つの位置へ前記構造化光パターンを移動することと、
前記少なくとも3つの構造化光パターンに従って前記表面から反射される少なくとも3つの画像を記録することと、
前記少なくとも3つの画像に従って前記表面を3次元プロファイリングすることと
を含む方法。 - 構造化光パターンを照射することは、光源から光パターンを照射することと、格子によって前記光パターンを複数の干渉縞を含む前記構造化光パターンに変調することとを含む、請求項12記載の3次元表面プロファイル測定方法。
- 前記被測定表面上の所望の位相ずれを伴う少なくとも3つの位置へ前記構造化光パターンを移動することは、1つの時点で各々が厳密に干渉縞周期の3分の1である3つの位置へ前記構造化光パターンを移動することを含む、請求項12記載の3次元表面プロファイル測定方法。
- 得られた前記3つの画像により前記表面上の関心領域の3Dポイントクラウドを生成することをさらに含む、請求項14記載の3次元表面プロファイル測定方法。
- 前記3Dポイントクラウドに対して基準平面を当てはめることをさらに含み、前記3Dポイントクラウドの各ポイントは前記3Dポイントクラウドの対応するポイントと比較され、それにより、前記ポイントの対応する深度が計算される、請求項15記載の3次元表面プロファイル測定方法。
- 深度閾値を判定することをさらに含む、請求項16記載の3次元表面プロファイル測定方法。
- 前記ポイントの前記深度を前記深度閾値と比較することと、腐食クラスタリングドメインを自動検索することによって孔食を判定することとをさらに含む、請求項17記載の3次元表面プロファイル測定方法。
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