JP3765444B2 - 電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物およびシリコーンゲル - Google Patents

電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物およびシリコーンゲル Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物およびシリコーンゲルに関し、詳しくは、電気・電子部品を封止もしくは充填しているシリコーンゲル中の気泡や亀裂の形成が抑制され、さらに、この難燃性が優れる電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物、および電気・電子部品を封止もしくは充填している、気泡や亀裂の形成が抑制され、優れた難燃性を有するシリコーンゲルに関する。
【0002】
【従来の技術】
シリコーンゲル組成物は、硬化して、応力緩衝性、電気的特性、耐熱性、および耐候性が良好であるシリコーンゲルを形成できることから、電気・電子部品の封止剤や充填剤としてよく利用されている(特開昭59−204259号公報、特開昭61−48945号公報、および特開昭62−104145号公報参照)。そして、このようなシリコーンゲル組成物としては、例えば、分枝鎖状であり、25℃における粘度が10〜10,000センチストークスであるビニル基含有オルガノポリシロキサン、ケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサン、およびヒドロシリル化反応用触媒からなるシリコーンゲル組成物(特開昭48−17847号公報参照)、分枝鎖状であるビニル基含有オルガノポリシロキサン、ケイ素原子結合水素原子を有するオルガノポリシロキサン、およびヒドロシリル化反応用触媒からなるシリコーンゲル組成物(特開昭58−7452号公報参照)、分枝構造を有し、25℃における粘度が20〜10,000センチストークスであるビニル基含有オルガノポリシロキサン、分子鎖両末端がビニル基により封鎖された直鎖状のジオルガノポリシロキサン、分子鎖両末端にのみケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサン、およびヒドロシリル化反応用触媒からなるシリコーンゲル組成物(特公平3−19269号公報参照)が挙げられる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、複雑な構造を有する電気・電子部品をこれらのシリコーンゲル組成物により封止もしくは充填すると、ヒートサイクルにより、この封止もしくは充填されているシリコーンゲル中に気泡や亀裂が形成され、この電気・電子部品の信頼性が低下するという問題があった。そして、このような電気・電子部品を封止もしくは充填しているシリコーンゲル中の気泡や亀裂の形成は、この電気・電子部品中の電極と電極、電気素子と電気素子、電気素子とパッケージ等の隙間が狭いものや、これらの構造がこのシリコーンゲルの膨張・収縮に追随しにくい構造を有するものにおいて顕著であることがわかった。
【0004】
また、電気・電子部品を封止もしくは充填しているシリコーンゲルは、その封止ないしは充填の良否を判断するために、透明ないしは半透明性が要求されているが、透明ないしは半透明性を有するシリコーンゲルは難燃性が乏しく、これを高温で長時間使用される電気・電子部品の封止もしくは充填材として使用することはできないという問題があった。
【0005】
本発明者らは、上記の課題を解決するため鋭意検討した結果、本発明に到達した。
すなわち、本発明の目的は、電気・電子部品を封止もしくは充填しているシリコーンゲル中の気泡や亀裂の形成が抑制され、さらに、この難燃性が優れる電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物、および電気・電子部品を封止もしくは充填している、気泡や亀裂の形成が抑制され、優れた難燃性を有するシリコーンゲルを提供することにあり、ひいては、信頼性の優れる電気・電子部品を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明の電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物は、
(A)25℃における粘度が10〜100,000センチポイズであり、一分子中に少なくとも2個のアルケニル基を有するオルガノポリシロキサン
100重量部、
(B)25℃における粘度が1〜10,000センチポイズであり、一分子中に少なくとも2個のケイ素原子結合水素原子を有するオルガノポリシロキサン{(A)成分中のアルケニル基1モルに対して、本成分中のケイ素原子結合水素原子が0.2〜5モルとなる量}、
(C)比表面積が50m2/g以上であるシリカ粉末 0.01〜15重量部、
(D)一般式:
1 2N−R2−NR1 2
(式中、R1は同じか、または異なる、水素原子もしくは炭素原子数1〜4のアルキル基であり、R2は炭素原子数2〜4のアルキレン基である。)
で表されるジアミン化合物 0.0001〜1.0重量部、
および
(E)触媒量のヒドロシリル化反応用触媒
からなり、(C)成分に対する(D)成分の重量比が0.0005〜0.05であるシリコーンゲル組成物であって、硬化して、25℃、せん断周波数0.1Hzにおける損失弾性率が1.0×103〜1.0×105dyne/cm2であり、かつ、複素弾性率が1.0×106dyne/cm2以下であるシリコーンゲルを形成することを特徴とする。
また、本発明のシリコーンゲルは、電気・電子部品を封止もしくは充填しており、上記の電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物を硬化してなることを特徴とする。
【0007】
【発明の実施の形態】
はじめに、本発明の電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物を詳細に説明する。
(A)成分のオルガノポリシロキサンは本組成物の主剤であり、25℃における粘度が10〜100,000センチポイズの範囲内であり、一分子中に少なくとも2個のアルケニル基を有することを特徴とする。これは、25℃における粘度がこの下限未満であると、得られるシリコーンゲルの物理的特性が低下する傾向があるからであり、一方、この上限をこえると、得られるシリコーンゲル組成物の取扱作業性が低下する傾向があるからである。また、一分子中のアルケニル基の数が2個未満であると、得られるシリコーンゲル組成物が十分に硬化しなくなる傾向があるからである。この(A)成分中のアルケニル基としては、ビニル基、アリル基、ブテニル基、ヘキセニル基が例示され、特に、ビニル基であることが好ましい。また、(A)成分中のアルケニル基以外のケイ素原子に結合している基としては、メチル基、エチル基、プロピル基等のアルキル基;フェニル基、トリル基等のアリール基;3,3,3−トリフロロプロピル基等のハロゲン化アルキル基等の一価炭化水素基、さらには、極少量の水酸基やメトキシ基等のアルコキシ基が例示され、特に、メチル基、フェニル基、3,3,3−トリフロロプロピル基であることが好ましい。(A)成分の分子構造は限定されず、直鎖状、分枝鎖状、環状が例示される。(A)成分が分枝鎖状のオルガノポリシロキサンのみからなるか、または分枝鎖状のオルガノポリシロキサンを少なくとも含むオルガノポリシロキサンの混合物である場合には、硬化して、25℃、せん断周波数0.1Hzにおける損失弾性率が1.0×103〜1.0×105dyne/cm2であり、かつ、複素弾性率が1.0×106dyne/cm2以下であるシリコーンゲルを形成するためのシリコーンゲル組成物を比較的容易に調製できることから、(B)成分として、分子鎖両末端のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンを用いることが好ましい。また、(A)成分が直鎖状のジオルガノポリシロキサンのみからなる場合、特には、分子鎖両末端のみにアルケニル基を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンのみからなる場合には、上記と同様の理由から、(B)成分として、分子鎖両末端のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンと分子鎖側鎖のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンとの混合物を用いることが好ましい。
【0008】
この分枝鎖状のオルガノポリシロキサンとは、分子構造が分枝鎖状ないしは一部分枝を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンのことであり、具体的には、分子構造中にRSiO3/2単位(Rは一価炭化水素基である。)および/またはSiO4/2単位を有するオルガノポリシロキサンのことである。このような(A)成分は、分枝鎖状のオルガノポリシロキサンのみからなっていてもよく、また、分枝鎖状のオルガノポリシロキサンと直鎖状のジオルガノポリシロキサンとの混合物からなっていてもよいが、本組成物においては、後者であることが好ましい。この分枝鎖状のオルガノポリシロキサンと直鎖状のジオルガノポリシロキサンとの比率は限定されないが、(A)成分中に、この分枝鎖状のオルガノポリシロキサンが5〜95重量%の範囲内の量であることが好ましく、さらに、これが10〜90重量%の範囲内の量であることが好ましく、特に、これが20〜80重量%の範囲内の量であることが好ましい。これは、(A)成分中の分枝鎖状のオルガノポリシロキサンの含有量がこの範囲外の量であると、得られるシリコーンゲルの25℃、せん断周波数0.1Hzにおける損失弾性率が1.0×103〜1.0×105dyne/cm2の範囲内で、かつ、複素弾性率が1.0×106dyne/cm2以下であるという条件を満たすことが困難となり、電気・電子部品を封止もしくは充填しているシリコーンゲル中に気泡や亀裂が形成しやすくなるという傾向があるからである。
【0009】
この分枝鎖状のオルガノポリシロキサンとしては、特に、R2SiO2/2単位、RSiO3/2単位、およびR3SiO1/2単位からなる重合体であることが好ましい。これらの単位中のRとしては、メチル基、エチル基、プロピル基等のアルキル基;ビニル基、アリル基、ブテニル基、ヘキセニル基等のアルケニル基;フェニル基、トリル基等のアリール基;3,3,3−トリフロロプロピル基等のハロゲン化アルキル基等の一価炭化水素基が例示され、極少量の水酸基、さらにはメトキシ基等のアルコキシ基を有していてもよいが、この重合体中の少なくとも個のRはアルケニル基であることが必要である。また、これらの単位の比率は限定されないが、この重合体において、R2SiO2/2単位が80.00〜99.65モル%の範囲内の量であり、RSiO3/2単位が0.10〜10.00モル%の範囲内の量であり、および残りのモル%がR3SiO1/2単位であることが好ましい。
【0010】
また、直鎖状のジオルガノポリシロキサンとしては、分子鎖両末端ジメチルビニルシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン、分子鎖両末端ジメチルビニルシロキシ基封鎖ジメチルシロキサン・メチルフェニルシロキサン共重合体、分子鎖両末端トリメチルシロキシ基封鎖ジメチルシロキサン・メチルビニルシロキサン共重合体、分子鎖両末端トリメチルシロキシ基封鎖ジメチルシロキサン・メチルビニルシロキサン・メチルフェニルシロキサン共重合体、分子鎖両末端シラノール基封鎖ジメチルシロキサン・メチルビニルシロキサン共重合体、これらの重合体のメチル基の一部がエチル基、プロピル基等のメチル基以外のアルキル基や3,3,3−トリフロロプロピル基等のハロゲン化アルキル基で置換された重合体、これらの重合体のビニル基がアリル基、ブテニル基、ヘキセニル基等のビニル基以外のアルケニル基で置換された重合体、およびこれらの重合体の2種以上の混合物が例示され、特に、分子鎖両末端のみにアルケニル基を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンであることが好ましい。
【0011】
(B)成分のオルガノポリシロキサンは本組成物の架橋剤であり、25℃における粘度が1〜10,000センチポイズの範囲内であり、一分子中に少なくとも2個のケイ素原子結合水素原子を有することを特徴とする。これは、25℃における粘度がこの下限未満であると、得られるシリコーンゲルの物理的特性が低下する傾向があり、一方、この上限をこえると、得られるシリコーンゲル組成物の取扱作業性が低下する傾向があるからである。この(B)成分中のケイ素原子に結合する有機基としては、メチル基、エチル基、プロピル基等のアルキル基;フェニル基、トリル基等のアリール基;3,3,3−トリフロロプロピル基等のハロゲン化アルキル基等のアルケニル基を除く一価炭化水素基が例示される。(B)成分の分子構造は限定されず、直鎖状、分枝鎖状、環状が例示される。このような(B)成分のオルガノポリシロキサンとしては、少なくとも分子鎖両末端のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンを用いることが好ましく、特に、(A)成分が分枝鎖状のオルガノポリシロキサンのみからなるか、または分枝鎖状のオルガノポリシロキサンを少なくとも含むオルガノポリシロキサンの混合物である場合には、硬化して、25℃、せん断周波数0.1Hzにおける損失弾性率が1.0×103〜1.0×105dyne/cm2であり、かつ、複素弾性率が1.0×106dyne/cm2以下であるシリコーンゲルを形成するためのシリコーンゲル組成物を比較的容易に調製できることから、(B)成分としては、分子鎖両末端のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンを用いることが好ましく、また、(A)成分が直鎖状のジオルガノポリシロキサンのみからなる場合、特には、分子鎖両末端のみにアルケニル基を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンのみからなる場合には、上記と同様の理由から、(B)成分としては、分子鎖両末端のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンと分子鎖側鎖のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンとの混合物を用いることが好ましい。
【0012】
この分子鎖両末端のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンとしては、前記と同様のオルガノポリシロキサンが例示される。また、分子鎖側鎖のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンとしては、分子鎖両末端トリメチルシロキシ基封鎖メチルハイドロジェンポリシロキサン、分子鎖両末端トリメチルシロキシ基封鎖ジメチルシロキサン・メチルハイドロジェンシロキサン共重合体、これらの重合体中のメチル基の一部がエチル基、プロピル基等のメチル基以外のアルキル基、フェニル基、3,3,3−トリフロロプロピル基で置換された重合体、これらの重合体の2種以上の混合物が例示される。(A)成分が直鎖状のジオルガノポリシロキサンのみからなる場合、特には、分子鎖両末端のみにアルケニル基を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンのみからなる場合には、(B)成分として、分子鎖両末端のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンと分子鎖側鎖のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンとの混合物を用いることが好ましいが、この分子鎖両末端にのみケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンと分子鎖側鎖のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンとの比率は限定されないが、前者のジオルガノポリシロキサンの重量に対する後者のジオルガノポリシロキサンの重量が0.1〜20%となる範囲内の重量比率であることが好ましく、さらに、これが1〜10%となる範囲内の重量比率であることが好ましく、特に、これが1〜5%となる範囲内の重量比率であることが好ましい。これは、この重量比率がこの範囲未満であると、得られるシリコーンゲル組成物が十分に硬化しなくなる傾向があるからであり、一方、この範囲をこえると、得られるシリコーンゲルの25℃、せん断周波数0.1Hzにおける損失弾性率が1.0×103〜1.0×105dyne/cm2の範囲内で、かつ、複素弾性率が1.0×106dyne/cm2以下であるという条件を満たしにくくなり、電気・電子部品を封止もしくは充填しているシリコーンゲル中に気泡や亀裂が形成しやすくなる傾向があるからである。
【0013】
本組成物において、(B)成分の配合量は、(A)成分に含まれているアルケニル基1モルに対して、(B)成分に含まれているケイ素原子結合水素原子が0.2〜5モルの範囲内となる量であり、特に、これが0.8〜1.2モルの範囲内となる量であることが好ましい。これは、(A)成分に含まれているアルケニル基1モルに対して、(B)成分に含まれているケイ素原子結合水素原子がこの範囲未満のモル数であると、得られるシリコーンゲル組成物が十分に硬化しなくなる傾向があり、一方、この範囲をこえるモル数であると、得られるシリコーンゲルの物理的特性が低下する傾向があるからである。
【0014】
(C)成分のシリカ粉末は、(D)成分と併用して配合されることにより、本組成物を硬化して得られるシリコーンゲルに優れた難燃性を付与するための成分であり、比表面積が50m2/g以上であることを特徴とする。さらに、(C)成分の比表面積は100m2/g以上であることが好ましくは、特には、この比表面積は150m2/g以上であることが好ましい。これは、比表面積がこの範囲未満であるシリカ粉末は均一に分散せず、得られるシリコーンゲルに十分な難燃性を付与することができなくなるためである。このような(C)成分としては、煙霧質シリカ、沈降シリカ、あるいはその表面をヘキサメチルジシラザンやジメチルジクロロシラン、メチルトリクロロシラン等で疎水化処理したものが例示される。
【0015】
本組成物において、(C)成分の配合量は、(A)成分100重量部に対して0.01〜15重量部の範囲であり、好ましくは、0.01〜10重量部の範囲内であり、特に好ましくは、0.01〜5重量部の範囲内である。これは、(C)成分の配合量が、(A)成分100重量部に対して、この範囲未満の量であると、得られるシリコーンゲルの難燃性が低下する傾向があり、一方、この範囲をこえる量であると、得られるシリコーンゲル組成物の粘度が高くなり、流動性や取扱作業性が低下したり、得られるシリコーンゲルの透明性が低下する傾向があるからである。
【0016】
(D)成分のジアミン化合物は、(C)成分と併用して配合されることにより、本組成物を硬化して得られるシリコーンゲルに優れた難燃性を付与するための成分であり、一般式:
1 2N−R2−NR1 2
で表される。上式中のR1は同じか、または異なる、水素原子もしくは炭素原子数1〜4のアルキル基であり、R1のアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基が例示される。また、上式中のR2は炭素原子数2〜4のアルキレン基であり、エチレン基、プロピレン基、ブチレン基が例示され、特に、エチレン基であることが好ましい。この(D)成分は、従来よりヒドロシリル化反応により硬化する硬化性シリコーン組成物の保存安定性を向上させるための成分として公知であるが、これ単独ではシリコーンゲルに難燃性を付与できなかったが、上記の(C)成分と併用して配合されることにより、シリコーンゲルに著しい難燃性を付与できることを見いだして本発明に到達した。このようなジアミン化合物としては、N,N,N',N'−テトラメチルエチレンジアミン、N,N−ジメチルエチレンジアミン、N,N−ジエチルエチレンジアミン、N,N−ジブチルエチレンジアミン、N,N,N',N'−テトラエチルエチレンジアミン、が例示され、特に、N,N,N',N'−テトラメチルエチレンジアミンであることが好ましい。
【0017】
本組成物において、(D)成分の配合量は、(A)成分100重量部に対して0.0001〜1.0重量部の範囲内の量であり、好ましくは、0.0005〜0.1重量部の範囲内の量であり、特に好ましくは、0.0005〜0.01重量部の範囲内の量である。これは、(D)成分の配合量が、(A)成分100重量部に対して、この範囲未満の量であると、得られるシリコーンゲルに十分な難燃性を付与することが困難となるためであり、一方、この範囲をこえる量であるシリコーンゲル組成物は、その硬化性が低下する傾向があるからである。また、本組成物において、(C)成分に対する(D)成分の重量比は、0.0005〜0.05の範囲内であることが必要であり、好ましくは、これが0.0005〜0.01の範囲内である。これは、(C)成分に対する(D)成分の重量比がこの範囲未満であると、(D)成分を配合したことによる難燃性の付与の効果が十分に発揮されなくなる傾向があり、一方、この範囲をこえると、得られるシリコーンゲルに十分な難燃性を付与することができなくなったり、さらには、得られるシリコーンゲル組成物が硬化しなくなったりする傾向があるからである。
【0018】
(E)成分のヒドロシリル化反応用触媒は本組成物の硬化を促進するための触媒である。このような(E)成分としては、例えば、塩化白金酸、塩化白金酸のアルコール溶液、白金とオレフィンの錯体、白金と1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサンの錯体、白金を担持した粉体等の白金系触媒;テトラキス(トリフェニルフォスフィン)パラジウム、パラジウム黒、トリフェニルフォスフィンとの混合物等のパラジウム系触媒;さらに、ロジウム系触媒が挙げられ、特に、白金系触媒であることが好ましい。
【0019】
本組成物において、(E)成分の配合量は触媒量であり、(E)成分として白金系触媒を用いた場合には、上記組成物中に、この触媒の白金金属が重量単位で0.01〜1000ppmの範囲内となる量であることが実用上好ましく、特に、0.1〜500ppmの範囲内となる量であることが好ましい。
【0020】
また、本組成物には、本発明の目的を損なわない限り、その他任意成分として、例えば、アセチレン化合物、有機リン化合物、ビニル基含有シロキサン化合物等のヒドロシリル化反応調節剤; 粉砕石英、酸化チタン、炭酸マグネシウム、酸化亜鉛、酸化鉄、ケイ藻土、カーボンブラック等の無機充填剤、これらの無機質充填剤の表面を有機ケイ素化合物により疎水処理してなる無機充填剤;その他、難燃性添加剤、耐熱性添加剤、顔料、染料を配合することができる。
【0021】
本発明の電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物は、硬化して、25℃、せん断周波数0.1Hzにおける損失弾性率が1.0×103〜1.0×105dyne/cm2であり、かつ、複素弾性率が1.0×106dyne/cm2以下であるシリコーンゲルを形成することを特徴とし、好ましくは、この損失弾性率が3.0×103〜3.0×104dyne/cm2であり、かつ、この複素弾性率が1.0×105dyne/cm2以下であるシリコーンゲルを形成することを特徴とする。本発明は、このような特定の損失弾性率および複素弾性率を有するシリコーンゲルにより封止もしくは充填されている電気・電子部品がヒートサイクルを受けても、このシリコーンゲル中の気泡や亀裂の形成が抑制されることを見いだしてなされたものである。
【0022】
本組成物により封止もしくは充填される電気・電子部品は限定されないが、この電気・電子部品中の電極と電極、電気素子と電気素子、電気素子とパッケージ等の隙間が狭いものや、これらの構造がこのシリコーンゲルの膨張・収縮に追随しにくい構造を有するものに効果的であり、例えば、IC、ハイブリッドIC、LSI等の半導体素子、このような半導体素子、コンデンサ、電気抵抗器等の電気素子を実装した電気回路やモジュール、すなわち、一般にシリコーンゲルにより封止もしくは充填されているような圧力センサー等の各種センサー、自動車用のイグナイターやレギュレータが挙げられる。本組成物を硬化して得られるシリコーンゲルの25℃、せん断周波数0.1Hzにおける損失弾性率および複素弾性率は、例えば、このシリコーンゲルを厚さ5〜6mm、直径20mmの円形プレート状に調整した後、これを動的粘弾性測定装置により測定することにより求められる。
【0023】
本発明の電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物により電気・電子部品を封止もしくは充填する方法は限定されず、例えば、電気・電子部品を、この組成物により封止もしくは充填した後、これを加熱して硬化させる方法が好ましい。この際、加熱温度が高くなると、封止もしくは充填しているシリコーンゲル中の気泡や亀裂の形成が促進されるので、50〜250℃の範囲内に加熱することが好ましく、特に、70〜130℃の範囲内に加熱することが好ましい。
【0024】
【実施例】
本発明の電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物およびシリコーンゲルを実施例により詳細に説明する。なお、実施例中の特性は25℃において測定した値であり、シリコーンゲルの特性は次のようにして測定した。
[シリコーンゲルの損失弾性率および複素弾性率]
電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物を125℃で1時間加熱することにより、厚さ5〜6mm、直径20mmの円形プレート状のシリコーンゲルを作成した。このシリコーンゲルの25℃、せん断周波数0.1Hzにおける損失弾性率および複素弾性率をレオメトリック社製の動的粘弾性測定装置(商品名:ダイナミックアナライザーARES)により測定した。
[シリコーンゲルの1/4ちょう度]
50mlのガラスビーカーに電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物を静かに注いだ後、125℃で1時間加熱することによりシリコーンゲルを作成した。このシリコーンゲルの1/4ちょう度をJIS K 2220に規定の方法により測定した。
[シリコーンゲルの難燃性]
電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物をテフロン容器に注いだ後、これらを125℃×1時間加熱して、幅12.7mm、長さ127mm、厚さ3mmであるシリコーンゲルの試験片を作成した。この試験片を垂直に固定して、この試験片の下部をメタンガスを主成分とするガスバーナーの20mm(青色炎10mm)の炎のほぼ中心に約10秒間置き、その後、ガスバーナーを遠ざけて、試験片が完全に消炎するまでの時間を測定した。また、試験片が完全に消炎した直後に再び上記の操作を行い消炎するまでの時間(燃焼時間)を測定した。この操作を5つの試験片について各々2回繰り返して、10回測定した合計の燃焼時間を求めた。
【0025】
[実施例1〜6・比較例1〜5]
下記の成分を表1に示す組成(重量部)で混合して、無色透明な電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物を調製した。なお、表1中のSiH/SiCH=CH2は、この組成物中のアルケニル基含有オルガノポリシロキサンに含まれるアルケニル基1モルに対する、ケイ素原子結合水素原子含有オルガノポリシロキサンに含まれるケイ素原子結合水素原子のモル比を示している。
成分a−1:
粘度が800センチポイズであり、(CH3)2SiO2/2単位93.50モル%、CH3SiO3/2単位3.30モル%、(CH3)3SiO1/2単位2.60モル%、および(CH3)2(CH2=CH)SiO1/2単位0.60モル%からなる分枝鎖状のオルガノポリシロキサン(ビニル基の含有量=0.22重量%)
成分a−2:
粘度が870センチポイズであり、(CH3)2SiO2/2単位93.50モル%、CH3SiO3/2単位3.30モル%、(CH3)3SiO1/2単位1.60モル%、および(CH3)2(CH2=CH)SiO1/2単位1.60モル%からなる分枝鎖状のオルガノポリシロキサン(ビニル基の含有量=0.58重量%)
成分a−3:
粘度が2,000センチポイズである分子鎖両末端ジメチルビニルシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン(ビニル基の含有量=0.23重量%)
成分a−4:
粘度が360センチポイズである分子鎖両末端ジメチルビニルシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン(ビニル基の含有量=0.48重量%)
成分a−5:
粘度が930センチポイズである分子鎖末端の一部がジメチルビニルシロキシ基で封鎖された分子鎖両末端トリメチルシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン(ビニル基の含有量=0.11重量%)
成分b−1:
粘度が16センチポイズである分子鎖両末端ジメチルハイドロジェンシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン(ケイ素原子結合水素原子の含有量=0.13重量%)
成分b−2:
粘度が4センチポイズである分子鎖両末端トリメチルシロキシ基封鎖ジメチルシロキサン・メチルハイドロジェンシロキサン共重合体(ケイ素原子結合水素原子の含有量=0.78重量%)
成分c:
ヘキサメチルジシラザンで表面処理された、比表面積が200m2/gである煙霧質シリカ
成分d:
N,N,N',N'−テトラメチルエチレンジアミン
成分e:
白金濃度が0.5重量%である白金の1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン錯体(ビニル基の含有量=2.48重量%)
【0026】
この電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物を用いて図1に示されるような評価用の電気・電子部品を作成した。すなわち、直径80mm×高さ12mmのガラス製シャーレ(1)に直径2mm×長さ45mmの電極(2、2')を、その隙間が1mmとなるように静置し、さらに、これらの電極上に50mm×50mm×1mmのガラス板(3)を載せた電気・電子部品に、表1で示される組成で調製した電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物30gを静かに注ぎ込んだ。その後、このガラス製シャーレごと、室温、5mmHg以下の条件で10分間減圧脱泡した後、これを125℃のオーブン中で1時間加熱することにより電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物を硬化させてシリコーンゲル(4)を形成した。この電気・電子部品を25℃で1週間放置した後、50℃で24時間静置した後、25℃で24時間静置することを1サイクルとするヒートサイクル試験を行った。そして、この電気・電子部品を封止もしくは充填しているシリコーンゲル(4)中の気泡や亀裂(5)の有無およびその程度を観察した。また、この電気・電子部品の電極(2、2')間に電圧を昇圧速度1kV/秒で印荷して、その絶縁破壊強さを測定した。また、このヒートサイクル試験を5サイクル行った後の電気・電子部品を封止もしくは充填しているシリコーンゲル(4)中の気泡や亀裂(5)の有無およびその程度を観察した。これらの結果を表1に示した。なお、表中の気泡・亀裂の有無および程度において、記号は次のことを意味している。
◎:気泡や亀裂が全く形成されていない。
○:気泡や亀裂が形成されており、その大きさが10mm未満である。
△:気泡や亀裂が形成されており、その大きさが10mm以上、30mm未満である。
×:気泡や亀裂が形成されており、その大きさが30mm以上である。
【0027】
【表1】
Figure 0003765444
【0028】
【発明の効果】
本発明の電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物は、電気・電子部品を封止もしくは充填しているシリコーンゲル中の気泡や亀裂の形成が抑制され、さらにこの難燃性が優れているという特徴がある。また、本発明のシリコーンゲルは、電気・電子部品を封止もしくは充填しており、気泡や亀裂の形成が抑制され、優れた難燃性を有するという特徴がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、本発明の実施例で評価した電気・電子部品の断面図である。
【図2】 図2は、本発明の実施例で評価した電気・電子部品のうち、シリコーンゲル中に気泡や亀裂が形成された電気・電子部品の上面図である。
【符号の説明】
1 ガラス製シャーレ
2、2’ 電極
3 ガラス板
4 シリコーンゲル
5 気泡や亀裂

Claims (4)

  1. (A)25℃における粘度が10〜100,000センチポイズであり、一分子中に少なくとも2個のアルケニル基を有するオルガノポリシロキサン 100重量部、
    (B)25℃における粘度が1〜10,000センチポイズであり、一分子中に少なくとも2個のケイ素原子結合水素原子を有するオルガノポリシロキサン{(A)成分中のアルケニル基1モルに対して、本成分中のケイ素原子結合水素原子が0.2〜5モルとなる量}、
    (C)比表面積が50m2/g以上であるシリカ粉末 0.01〜15重量部、
    (D)一般式:
    1 2N−R2−NR1 2
    (式中、R1は同じか、または異なる、水素原子もしくは炭素原子数1〜4のアルキル基であり、R2は炭素原子数2〜4のアルキレン基である。)
    で表されるジアミン化合物 0.0001〜1.0重量部、
    および
    (E)触媒量のヒドロシリル化反応用触媒
    からなり、(C)成分に対する(D)成分の重量比が0.0005〜0.05であるシリコーンゲル組成物であって、硬化して、25℃、せん断周波数0.1Hzにおける損失弾性率が1.0×103〜1.0×105dyne/cm2であり、かつ、複素弾性率が1.0×106dyne/cm2以下であるシリコーンゲルを形成する電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物。
  2. (A)成分が分枝鎖状のオルガノポリシロキサンを少なくとも含み、かつ、(B)成分が分子鎖両末端のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンであることを特徴とする、請求項1記載の電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物。
  3. (A)成分が直鎖状のジオルガノポリシロキサンであり、かつ、(B)成分が分子鎖両末端のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンと分子鎖側鎖のみにケイ素原子結合水素原子を有する直鎖状のジオルガノポリシロキサンとからなることを特徴とする、請求項1記載の電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物。
  4. 電気・電子部品を封止もしくは充填している、請求項1ないし3のいずれか1項に記載の電気・電子部品封止・充填用シリコーンゲル組成物を硬化してなるシリコーンゲル。
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