JP3751345B2 - 容器検査機械 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ガラス容器の検査機械に関する。
【0002】
【従来の技術】
ガラス容器は、溶融ガラスの個別塊からガラス成形機械によって製造される。成形される容器に悪影響を与えることがあるこの成形工程の間に、多くのことが起こり得る。ソーダガラスビンを例に説明すると、成形されたビンにはプロフィール不良(不適当な傾斜、すなわちその垂直軸に対する傾斜)あるいは泡や混入物のような壁不良がある。
【0003】
これらの不良あるいは他の不良(コックドフイニッシュ(cocked finish)、曲がり、ベースリーナー(base leaner)、径変化、異形)を有する容器を識別するために、容器全体のプロフィールが検査される。米国特許第5,256,871号にはプロフィール欠陥を決定するために容器の寸法を測定する機械を開示している。
【0004】
従来の機械では、検査は1分当たりビン600本(1秒当たり10本)以上の割合で実施する必要がある。検査工程で1台のカメラが使用される場合、1つの画像のみが評価のために利用され、したがって単一のカメラによって上述した寸法ゲージング(寸法測定 dimensional gauging)のような単一の検査が行われる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の一つの目的は、プロフィール欠陥と壁欠陥を同時に検査することができる検査システムを提供することである。
【0006】
本発明のその他の目的及び有利な点は、本発明に従い、本発明の原理を具現化する現在の好適な実施例を示す、以下の説明及び添付図面から明らかになるであろう。
【0007】
【発明を解決するための手段】
本発明の、垂直に起立した容器を検査する検査機械によれば、垂直に起立したガラス容器を離れて位置する第1検査位置と第2検査位置とを通して水平に移動させるコンベヤと、該コンベヤの後方に位置し、上記第1、第2の検査位置のうちのいずれか一方の検査位置に位置する容器に対して略水平に90°の関連する第1、第2光ビームを前方に向けて放射する第1の1対の拡散光源と、上記コンベヤの他方の側において第1結像表面を有し、該第1結像表面上の画像を表すアナログ信号を出力する第1の2次元カメラと、上記前方に向けて放射された第1、第2光ビームを対応する上記第1の2次元カメラの第1結像表面の半分の領域に転送する第1の手段と、上記コンベヤの前方に位置し、上記第1、第2の検査位置のうちの他方の検査位置に位置する容器に対して略水平に90°の関連する第3、第4光ビームを後方に向けて放射する第2の1対の拡散光源と、上記第2の1対の拡散光源と反対側である上記コンベヤの一方の側において第2結像表面を有し、該第2結像表面上の画像を表すアナログ信号を出力する第2の2次元カメラと、上記後方に向けて放射された第3、第4光ビームを対応する上記第2の2次元カメラの第2結像表面の半分の領域に転送する第2の手段と、上記各2次元カメラからのアナログ信号を分析する分析手段とを具備し、上記第1、第2の光ビームは上記第1の検査位置に位置する容器のプロフィール全体の周囲を通過するように十分大きく、また上記第3、第4の光ビームは上記第1、第2光ビームに平行であり且つ上記第2の検査位置に位置する容器のプロフィール全体の周囲を通過するように十分大きく、前記分析手段が、寸法ゲージング及び側画像分析を行うコンピュータ手段を有し、前記コンピュータ手段が、選択された第1の利得及びオフセットを画定する手段を有した寸法ゲージングチャンネルと、選択された第2の利得及びオフセットを画定する手段を有した側壁画像分析チャンネルとを有し、前記寸法ゲージングチャンネル及び前記側壁画像分析チャンネルは上記各2次元カメラから同じアナログ信号を受けることを特徴としている。
【0008】
【発明の実施の形態】
水平コンベヤ10は、一定速度で移動し、垂直に起立した状態のガラス容器(ビン)11を図示された検査位置を通って搬送する。この検査位置において、短アークフラッシュ管ストロボから構成することができ、且つコンベヤの後方に配置される、1対の光源12から、直接バックライトがコンベヤに対して約45°角度でビンを通過して水平に拡散される。その結果、ビンが検査位置にある時、これら拡散光の光束(ビーム)14は、ビンの垂直軸15に直角に交差する。これらの光束は、検査される容器のうちの最大の容器よりも大きく、常に検査位置にある容器の全体プロフィール(両側面と頂部)の周囲を通る。各光源からの光はコンベヤの前面に位置し且つ光束を方向変換ミラー18に水平に折り返す垂直に関連したミラー対16に放射される。これらミラー対16のミラー17は、(法線に対して)ほぼ45°の角度でこれらの光束を受ける。方向変換ミラーは、光束を反射プリズム22の反射面20に転送(反射)する。反射プリズムは、光束を2次元カメラ24の対応する半分の画像に照準を定める。方向変換ミラー18とプリズム22の反射面22の双方は、またこれら光束を45°以下の角度(23.5°と45°)で受ける。光束が(法線に対して)45°よりも小さい角度で各反射面に当たるように光束路を配置することにより、望ましくない偏光効果を回避できる。そして、全構造物を非常に小さい足跡(footprint)内に収めることができる。両方の画像は適当なスクリーン26上に写すことができ、且つ両方の外観を評価できる画像処理コンピュータ28により評価される。この画像処理コンピュータは受け入れ信号あるいは拒絶信号30を出力する。追加の詳細については、本明細書内に組み入れられた米国特許第5,256,871号で説明されている。
【0009】
図2に示すように、好ましい実施例は図1に示す従来技術の二重バージョンであり、コンベヤの一方の側に位置する第1の1対の90°関連光源12と、該コンベヤの反対側に位置する画像センサと、第2の1対の90°関連光源と、それに関連する丁度反対側に配置された画像センサとを有する。
【0010】
4個の各光路の検査アルゴリズムは図3に示されている。カメラセンサ(画素アレイ)上の画像信号は、寸法ゲージングチャンネル(寸法測定 dimensional gaging channel)と側壁分析チャンネルとに同時に供給される。従って、側壁画像の分析は、寸法ゲージングと同時に行われる。この方式は速度と画質の双方の点で優れている。各チャンネルの画像要求が異なるため、側壁画像の分析チャンネルのための利得及びオフセット(利得及びオフセット♯2)は、寸法ゲージングチャンネル(利得及びオフセット♯1)のための利得及びオフセットから分離されて、最適化される。寸法ゲージングでは、ビンの画像とその背景との間の境において最適な変遷が要求される。濃く着色されたビンにあっては、このセットアップは、側壁画像を非常に低いダイナミックレンジにしておくことが出来る。これとは反対に、側壁分析では、たとえ背景画像を飽和させ、容器画像の縁が分かりにくくなったとしても、容器の側壁(少なくとも中央半分の容器側壁)は最大ダイナミックレンジで撮像される。一般には、ライテイング、レンズ口径、ズーム、焦点、変換利得及び変換オフセットは、側壁を捕捉するために最適化される。一旦最適な側壁撮像が得られると、寸法ゲージ画像に対応するチャンネルのための利得及びオフセットは最適な縁の表現のために調整される。利得及びオフセットは、ユーザーが介在することなく、電気的にセットされる。口径焦点及びズームは、検査装置のユーザーインターフェースによって提供されたプロンプト(指示メッセージ)に応答し、ユーザーによりセットされる。
【0011】
寸法ゲージングチャンネルのための利得とオフセットで、アナログ信号は、アナログからデジタル型式(8ビットグレースケール)に変換され、検索テーブルは、このデジタル信号を、寸法ゲージング(寸法測定)を実施するためにコントローラによって使用される2つのレベルの黒信号と白信号に変換する。例えば、ビンの縁を位置決めできるので、ビンの幅及び傾きの存在等を決定することができる。
【0012】
側壁分析チャンネルのための利得とオフセットで、同じアナログ信号はアナログからデジタル型式(8ビットグレースケール)に変換される。この8ビットグレースケール画像はハイパスフィルター処理を受け、そしてハイパスフィルター処理を受けた画像はユーザーにより選択可能なゾーンによって3つのレベルの8ビット画像にスレショルド(threshold)される。3つのレベルの画像(画像信号)は、不透明、あるいは透明な、欠陥の光学的特性を保護するのに利用される。容器の異なる部分において異なる感度調整を許容するために、ゾーンのサイズと位置がユーザーによって選択される。スレショルドの後、中央の半分と4つの容器画像の重複部分のための僅かな公差とを除いて名目上の容器側壁量と合致するようにマスクされる。画像の半分は90°の視野に対応し、公差は2つの視野間の境界上にある欠陥が検出から逃れないようにする。マスキングは、容器の縁から生じる偽の人工物を除去し、また検査領域の外側の領域からの鏡のような反射(例えば他の視界のためのバックライトからの反射)を除去する。
【0013】
マスキングの後、スレショルド処理によって偏光された、各ゾーンの欠陥画素の総数は合計されて1対の値、各極性(polarity)の1つとなる。次いで、各極性は個々の尺度によって受け入れられるかあるいは拒否されるかの評価を受ける。1つの極性はストーン(stone)、すなわち不透明に対応し、他の極性は泡に対応する。両極性の値のグループは、すぐ近くではストーンや泡に対応するが、一般には、しわ、波あるいはバードスイング(bird swing)のような屈折による欠陥に対応する。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術に従って構成された検査機械の概略斜視図である。
【図2】本発明の技術に従って構成された二重システムの概略を示す図である。
【図3】開示された検査アルゴリズムのフローチャートを示す図である。
【符号の説明】
10 水平コンベヤ 11 容器
12 光源 14 光束
15 垂直軸 16 ミラー対
18 方向変換ミラー 22 反射プリズム
24 二次元カメラ 26 スクリーン
28 画像処理コンピュータ 30 信号

Claims (8)

  1. 垂直に起立した容器を検査するための検査機械にして、
    垂直に起立したガラス容器を離れて位置する第1検査位置と第2検査位置とを通して水平に移動させるコンベヤと、
    上記コンベヤの後方に位置し、上記第1、第2の検査位置のうちのいずれか一方の検査位置に位置する容器に対して略水平に90°の関連する第1、第2光ビームを前方に向けて放射する第1の1対の拡散光源と、
    上記コンベヤの他方の側において第1結像表面を有し、該第1結像表面上の画像を表すアナログ信号を出力する第1の2次元カメラと、
    上記前方に向けて放射された第1、第2光ビームを対応する上記第1の2次元カメラの第1結像表面の半分の領域に転送する第1の手段と、
    上記コンベヤの前方に位置し、上記第1、第2の検査位置のうちの他方の検査位置に位置する容器に対して略水平に90°の関連する第3、第4光ビームを後方に向けて放射する第2の1対の拡散光源と、
    上記第2の1対の拡散光源と反対側である上記コンベヤの一方の側において第2結像表面を有し、該第2結像表面上の画像を表すアナログ信号を出力する第2の2次元カメラと、
    上記後方に向けて放射された第3、第4光ビームを対応する上記第2の2次元カメラの第2結像表面の半分の領域に転送する第2の手段と、
    上記各2次元カメラからのアナログ信号を分析する分析手段とを具備し、
    上記第1、第2の光ビームは上記第1の検査位置に位置する容器のプロフィール全体の周囲を通過するように十分大きく、また上記第3、第4の光ビームは上記第1、第2光ビームに平行であり且つ上記第2の検査位置に位置する容器のプロフィール全体の周囲を通過するように十分大きく、
    前記分析手段が、寸法ゲージング及び側壁画像分析を行うコンピュータ手段を有し、
    前記コンピュータ手段が、選択された第1の利得及びオフセットを画定する手段を有した寸法ゲージングチャンネルと、選択された第2の利得及びオフセットを画定する手段を有した側壁画像分析チャンネルとを有し、
    前記寸法ゲージングチャンネル及び前記側壁画像分析チャンネルは、上記各2次元カメラから同じアナログ信号を受けることを特徴とする検査機械。
  2. 請求項1に記載の検査機械にして、
    上記側壁画像分析チャンネルは、前記第2の利得及びオフセットアナログ信号をデジタルグレースケール信号に変換する手段を含むことを特徴とする検査機械。
  3. 請求項2に記載の検査機械にして、
    上記分析手段は、上記デジタルグレースケール信号をハイパスフィルタ処理するフィルタ手段と、ハイパスフィルタされた上記デジタルグレースケール信号を3つのレベルの画像信号に変換する検索テーブルを含む手段をさらに具備することを特徴とする検査機械。
  4. 垂直に起立した容器を検査するための検査機械にして、
    垂直に起立したガラス容器を検査位置を通して水平に移動させるコンベヤと、
    上記検査位置に位置する容器に向けて光束を放射し、該光束が上記検査位置に位置する容器のプロフィール全体の周囲を通過するように十分大きい、拡散光源と、
    上記検査位置にある容器の画像を検知し、該画像を画定するアナログ信号を出力する2次元カメラと、
    上記検査位置において上記容器の寸法ゲージング及び側壁画像分析を行うコンピュータ手段とを具備し、
    上記コンピュータ手段は、
    選択された第1の利得及びオフセットを画定する手段を有した寸法ゲージングチャンネルと、
    選択された第2の利得及びオフセットを画定する手段を有した側壁画像分析チャンネルとを有し、
    記寸法ゲージングチャンネルと上記側壁画像分析チャンネルは上記2次元カメラから同じアナログ信号を受けることを特徴とする検査機械。
  5. 請求項4に記載の検査機械にして、
    記寸法ゲージングチャンネルは、上記第1の利得及びオフセットアナログ信号をデジタルグレースケール信号に変換する、A/D変換手段を更に有することを特徴とする検査機械。
  6. 請求項5に記載の検査機械にして、
    記側壁画像分析チャンネルは、上記第2の利得及びオフセットアナログ信号をデジタルグレースケール信号に変換する、A/D変換手段を更に有することを特徴とする検査機械。
  7. 請求項6に記載の検査機械にして、
    記寸法ゲージングチャンネルは、デジタルグレースケール信号を2進画像信号に変換する変換手段を更に有することを特徴とする検査機械。
  8. 請求項7に記載の検査機械にして、
    記側壁画像分析チャンネルは、
    上記デジタルグレースケール信号をハイパスフィルタ処理する手段と、
    3つのレベルのデジタル画像信号を画定する検索テーブルとを更に有することを特徴とする検査機械。
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