JPS62113050A - びん口部検査装置 - Google Patents
びん口部検査装置Info
- Publication number
- JPS62113050A JPS62113050A JP25284085A JP25284085A JPS62113050A JP S62113050 A JPS62113050 A JP S62113050A JP 25284085 A JP25284085 A JP 25284085A JP 25284085 A JP25284085 A JP 25284085A JP S62113050 A JPS62113050 A JP S62113050A
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- JP
- Japan
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- bottle
- image
- imaging
- light
- bottle mouth
- Prior art date
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はびん口部検査方式、さらに詳しくは直線ライ
ン上を搬送されるびんに対してその側部より照明を当て
、びん口部をその天面より撮像し、これを画像処理する
ことにより欠けやビリ（ガラス内部に形成される割れ）
等の欠陥検査を行なう検査方式に関する。
ン上を搬送されるびんに対してその側部より照明を当て
、びん口部をその天面より撮像し、これを画像処理する
ことにより欠けやビリ（ガラス内部に形成される割れ）
等の欠陥検査を行なう検査方式に関する。
従来、この種の検査方式として、フォトセンサをびん口
部近傍に配置し、センサ位置でびんを回転させてその全
面を検査するもの、またはびん口部を天面上部からリン
グ状に照明し、同じく天面上部からテレビカメラ等にて
撮像し、その撮像画像をもとに検査を行なうもの等が知
られているっ〔発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、前者の方式てはびんを回転させるための
機構が必要であり、その処理速度が遅いという問題があ
る（１５０ＢＰＭＣ本／分〕程度）。
部近傍に配置し、センサ位置でびんを回転させてその全
面を検査するもの、またはびん口部を天面上部からリン
グ状に照明し、同じく天面上部からテレビカメラ等にて
撮像し、その撮像画像をもとに検査を行なうもの等が知
られているっ〔発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、前者の方式てはびんを回転させるための
機構が必要であり、その処理速度が遅いという問題があ
る（１５０ＢＰＭＣ本／分〕程度）。
また、びん種別毎に回転、搬送機構の切換やセンサの位
置調整等に手間が掛かる等の問題もある。
置調整等に手間が掛かる等の問題もある。
一方、後者の方式では次のような問題がある。
つまり、びん口火面は必ずしも滑らかではなく、また成
る曲率を持つものが多いため、天面全体を一様に照明す
ることは困難であり、したがって欠陥を同一の条件下で
検査することは難かしい。特に、ガラス内部に形成され
た割れ、つまりビリは天面上方からの照明では殆んど画
像として捉えられないのが普通である。
る曲率を持つものが多いため、天面全体を一様に照明す
ることは困難であり、したがって欠陥を同一の条件下で
検査することは難かしい。特に、ガラス内部に形成され
た割れ、つまりビリは天面上方からの照明では殆んど画
像として捉えられないのが普通である。
したがって、この発明はびんを回転させるなどの複雑な
機構を必要とせず、またびん形状が変わっても容易に対
処することができ、しかも高速な検査が可能で、その上
欠陥がびん口部のいずれにあっても、また如何なる欠陥
でも充分に検出することができる検査方式を提供するこ
とを目的とする。
機構を必要とせず、またびん形状が変わっても容易に対
処することができ、しかも高速な検査が可能で、その上
欠陥がびん口部のいずれにあっても、また如何なる欠陥
でも充分に検出することができる検査方式を提供するこ
とを目的とする。
所定の方向に搬送され略円形状のびん口部をもつびんの
搬送方向に対して所定の角度をもつ両側部から該びん口
部を照明する１対の照明手段と該びん口部をその上部か
ら撮像する撮像手段とからなる第１の撮像系と、該撮像
系と同様に構成されその照明手段による光の照明軸が第
１撮像系のそれと略９０度異なる第２の撮像系と、撮像
信号の２値化手段および特徴量抽出手段ならびにびん口
部の光で直接照射される部分をマスクするマスク手段を
もつ画像処理装置とを設ける。
搬送方向に対して所定の角度をもつ両側部から該びん口
部を照明する１対の照明手段と該びん口部をその上部か
ら撮像する撮像手段とからなる第１の撮像系と、該撮像
系と同様に構成されその照明手段による光の照明軸が第
１撮像系のそれと略９０度異なる第２の撮像系と、撮像
信号の２値化手段および特徴量抽出手段ならびにびん口
部の光で直接照射される部分をマスクするマスク手段を
もつ画像処理装置とを設ける。
上記画像処理装置により第１．第２撮像系からの撮像信
号をそれぞれ２値化し、適宜な特徴量を抽出してびん口
部の光で直接照射される部分をマスクし、マスクされな
い部分の特徴量、例えば面積値から欠けやビリ等の欠陥
を高速かつ高精度に検出する。
号をそれぞれ２値化し、適宜な特徴量を抽出してびん口
部の光で直接照射される部分をマスクし、マスクされな
い部分の特徴量、例えば面積値から欠けやビリ等の欠陥
を高速かつ高精度に検出する。
第１図はこの発明の実施例を示す概要図で、同図（イ）
はその上面図、（ロ）はその側面図である。なお、同図
において、１は画像処理装置、２１．２２はテレビカメ
ラの如き撮像装置、３はびん、４１〜４４け照明器であ
る。
はその上面図、（ロ）はその側面図である。なお、同図
において、１は画像処理装置、２１．２２はテレビカメ
ラの如き撮像装置、３はびん、４１〜４４け照明器であ
る。
動作を説明する。
まず、びん３け搬送ラインＬＮ上を矢印Ｒの方向に直綜
搬送される。その搬送途中には搬送方向に対して光の照
射軸が例えば４５度となるような１対の照明器４１と４
２．４３と４４が２組設けられ、これによりびん口部Ｂ
の側面が照明される。
搬送される。その搬送途中には搬送方向に対して光の照
射軸が例えば４５度となるような１対の照明器４１と４
２．４３と４４が２組設けられ、これによりびん口部Ｂ
の側面が照明される。
したがって、照明器４１と４２および照明器４３と４４
によって形成される光の照射方向は互いに直交し、光が
直接歯たる部分（この部分は光が直接反射して欠陥検査
ができないので、マスク部と呼ぶことにする。）と当た
らない部分（この部分は正常ならば反射がなく、欠陥が
あるときのみ反射が得られるので、この部分を欠陥検査
エリアＡと呼ぶことにする。）とが互いに９０度ずれる
ことになるため、両者の欠陥検査エリアを合わせること
により、びん口部全体を検査することができ＝５− る。テレビカメラ２１．２２はそれぞれの位置に対応し
て１つずつ設けられ、びん口部Ｂを撮像する。画像処理
装置１はテレビカメラ２１．２２からの撮像信号を順次
処理し、欠陥検査を行なう。
によって形成される光の照射方向は互いに直交し、光が
直接歯たる部分（この部分は光が直接反射して欠陥検査
ができないので、マスク部と呼ぶことにする。）と当た
らない部分（この部分は正常ならば反射がなく、欠陥が
あるときのみ反射が得られるので、この部分を欠陥検査
エリアＡと呼ぶことにする。）とが互いに９０度ずれる
ことになるため、両者の欠陥検査エリアを合わせること
により、びん口部全体を検査することができ＝５− る。テレビカメラ２１．２２はそれぞれの位置に対応し
て１つずつ設けられ、びん口部Ｂを撮像する。画像処理
装置１はテレビカメラ２１．２２からの撮像信号を順次
処理し、欠陥検査を行なう。
第２図はびん口部を照明する照明器とびん口部からの反
射光との関係を説明するための診照図である。なお、同
図（イ）は上面図、同（ロ）は側面図である。
射光との関係を説明するための診照図である。なお、同
図（イ）は上面図、同（ロ）は側面図である。
すなわち、同図（イ）の如くびん口部Ｂを所定方向の両
側部から照明すると、同図（ロ）に示すように、光が直
接歯たる部分（マスク部）では直接反射光Ｌｐを生じる
が、それと直交する部分（欠陥検査エリア）Ａでは正常
ならば反射光は殆んどなく、欠けやビリなどの欠陥Ｆが
あるときのみ欠陥断面部で上方に向かう反射光Ｌｆを生
じることがわかる。
側部から照明すると、同図（ロ）に示すように、光が直
接歯たる部分（マスク部）では直接反射光Ｌｐを生じる
が、それと直交する部分（欠陥検査エリア）Ａでは正常
ならば反射光は殆んどなく、欠けやビリなどの欠陥Ｆが
あるときのみ欠陥断面部で上方に向かう反射光Ｌｆを生
じることがわかる。
第３図は画像処理装置の具体例を示すブロック図である
。こ瓦に、１０はアナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ ）変
換部、１１は画像位置検出部、１２はマスク発生部、１
３は画像メモリ、１４は欠陥画像検出部、１５はマイク
ロプロセッサの如き演算処理部である。
。こ瓦に、１０はアナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ ）変
換部、１１は画像位置検出部、１２はマスク発生部、１
３は画像メモリ、１４は欠陥画像検出部、１５はマイク
ロプロセッサの如き演算処理部である。
こ−で、びん口部Ｂの画像が第４図の如く示される場合
の処理動作について説明する。
の処理動作について説明する。
まず、テレビカメラ２１．２２からのアナログ画像はＡ
／Ｄｆ＆換部１０により、その濃淡レベルに応じた白、
黒または明、暗２ｆｌ＆の画像に変換され、画像メモリ
１３に記憶される。第４図はこのときの画像データをア
ナログ的に示したものである。このとき、１１６明器に
よる光の照射方向が図示の如くであると°ノると、第１
ｉＩＩ像位置検出部１１では撮像画面Ｇの嬉１象限■、
第６象限ＩＩＩにおいて、それぞれ暗から明、明から暗
への変化点位置Ｃｄ。
／Ｄｆ＆換部１０により、その濃淡レベルに応じた白、
黒または明、暗２ｆｌ＆の画像に変換され、画像メモリ
１３に記憶される。第４図はこのときの画像データをア
ナログ的に示したものである。このとき、１１６明器に
よる光の照射方向が図示の如くであると°ノると、第１
ｉＩＩ像位置検出部１１では撮像画面Ｇの嬉１象限■、
第６象限ＩＩＩにおいて、それぞれ暗から明、明から暗
への変化点位置Ｃｄ。
Ｃｔと各水平走査線Ｈ８毎の明部（反射部）の画像幅デ
ータを抽出する。なお、このときの明画像幅データは、
第４図にＷｌ、Ｗ、の如く示される。
ータを抽出する。なお、このときの明画像幅データは、
第４図にＷｌ、Ｗ、の如く示される。
演算処理部１５は画像位置検出部１１からの明画像幅デ
ータを積鼻してその面積２分位置ＤＩを求めるとともに
、この水平走査線位置（ＤＩ ）における画像の変化点
位置データＣｄ 、 Ｃ１から明部画像の中心位置Ｐｏ
を求める。マスク発生部１２は演算処理部１５からの中
心位置データにもとづいて＠４図の如き四角形のマスク
領域ＭＡを形成する。欠陥画像検出部１４はこのマスク
領域ＭＡを除く領域、すなわち欠陥検査エリアＡにおけ
る画像面積を抽出する。このとき、正常ならば欠陥検出
部１４による面積抽出値は略零であるが、欠けやとり等
の欠陥Ｆがあるときは、その部分からの反射光による面
積値が抽出される。したがって、演算処理部１５により
この面積値データを所定の設定値と比較する等すれは、
欠陥があるか否かを判別することができる。
ータを積鼻してその面積２分位置ＤＩを求めるとともに
、この水平走査線位置（ＤＩ ）における画像の変化点
位置データＣｄ 、 Ｃ１から明部画像の中心位置Ｐｏ
を求める。マスク発生部１２は演算処理部１５からの中
心位置データにもとづいて＠４図の如き四角形のマスク
領域ＭＡを形成する。欠陥画像検出部１４はこのマスク
領域ＭＡを除く領域、すなわち欠陥検査エリアＡにおけ
る画像面積を抽出する。このとき、正常ならば欠陥検出
部１４による面積抽出値は略零であるが、欠けやとり等
の欠陥Ｆがあるときは、その部分からの反射光による面
積値が抽出される。したがって、演算処理部１５により
この面積値データを所定の設定値と比較する等すれは、
欠陥があるか否かを判別することができる。
その後、光の照射方向を変えて上記と同様の処理を行な
い、両者の判定結果を総合してびん口部全体の検査を終
了する。このとき、第４図の第２象限■、第４象限■が
マスク部となり、第１象限■、第６象限■が欠陥検査エ
リアとなることは云う迄もない。
い、両者の判定結果を総合してびん口部全体の検査を終
了する。このとき、第４図の第２象限■、第４象限■が
マスク部となり、第１象限■、第６象限■が欠陥検査エ
リアとなることは云う迄もない。
この発明によれば、びんを直線搬送させ、びん口側面よ
り照明し、天面］一方からテレビカメラ等により撮像し
て検査を行なうに当たり、１対２組の照明器をその照射
軸が互いにｉＮ交するように配置し、直接反射り、−Ｃ
欠陥検出ができない領域を互いに福々い合ってびん口部
全体を検査できるようにしたので、びんを回転させる吟
の特別な機構が不要となり、その結果、搬送機Ｓが容易
になるとともにシステム全体の構成が簡略化される利点
がもたらされる。また、直線搬送させるだけであるから
、びん形状が変わってもその切換作業が容易であるとい
う利点もある。さらに、びん口部をその側面部より照射
ｌ〜、欠陥部断面による反射光を利用するようにり、−
ｒいるので、びん口部の平滑度やその曲率に関係なく検
査ができ、高精度の検査が可能となる。また、直接反射
部の画像中心を求めてこれをマスクし、このマスク領域
以外の検査エリアで画像の面積値を抽出して欠陥がある
か否かを判定するようにしているため特に複雑な演算処
理を必要とせず、高速処理が可能となる。
り照明し、天面］一方からテレビカメラ等により撮像し
て検査を行なうに当たり、１対２組の照明器をその照射
軸が互いにｉＮ交するように配置し、直接反射り、−Ｃ
欠陥検出ができない領域を互いに福々い合ってびん口部
全体を検査できるようにしたので、びんを回転させる吟
の特別な機構が不要となり、その結果、搬送機Ｓが容易
になるとともにシステム全体の構成が簡略化される利点
がもたらされる。また、直線搬送させるだけであるから
、びん形状が変わってもその切換作業が容易であるとい
う利点もある。さらに、びん口部をその側面部より照射
ｌ〜、欠陥部断面による反射光を利用するようにり、−
ｒいるので、びん口部の平滑度やその曲率に関係なく検
査ができ、高精度の検査が可能となる。また、直接反射
部の画像中心を求めてこれをマスクし、このマスク領域
以外の検査エリアで画像の面積値を抽出して欠陥がある
か否かを判定するようにしているため特に複雑な演算処
理を必要とせず、高速処理が可能となる。
第１図はこの発明の実施例を示す概要図、第２図はびん
口部を照明する照明器とびん口部からの反射光との関係
を説明するための参照図、第６図は画像処理装置の具体
例を示すブロック図、第４図はこの発明による画像処理
方法を説明するための参照図である。 符号説明 １・・・・・・画像処理装置、２１．２２・・・・・・
テレビカメラ、３・・・・・・びん、４１〜４４・・・
・・・照明器、１０・・・・・・Ａ／Ｄ変換部、１１・
・・・・・画像位置検出部、１２・・・・・・マスク発
生部、１３・・・・・・画像メモリ、１４・・・・・・
欠陥画像検出部、１５・・・・・・演算処理部、Ａ・・
・・・・欠陥検査エリア、Ｂ・・・・・・びん口部、Ｐ
・・・・・・マスク部、ＭＡ・・・・・・マスクエリア
、Ｐｏ・・・・・・画像中心位置、ｃｄ、Ｃｔ・・・・
・・変化点位置、ｗｌ、ｗ３・・・・・・明画像幅デー
タ、Ｆ・・・・・・欠陥、Ｇ・・・・・・撮像画面。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 第１図 （イ） （ロ） １１１２図 （イ） （Ｄ）
口部を照明する照明器とびん口部からの反射光との関係
を説明するための参照図、第６図は画像処理装置の具体
例を示すブロック図、第４図はこの発明による画像処理
方法を説明するための参照図である。 符号説明 １・・・・・・画像処理装置、２１．２２・・・・・・
テレビカメラ、３・・・・・・びん、４１〜４４・・・
・・・照明器、１０・・・・・・Ａ／Ｄ変換部、１１・
・・・・・画像位置検出部、１２・・・・・・マスク発
生部、１３・・・・・・画像メモリ、１４・・・・・・
欠陥画像検出部、１５・・・・・・演算処理部、Ａ・・
・・・・欠陥検査エリア、Ｂ・・・・・・びん口部、Ｐ
・・・・・・マスク部、ＭＡ・・・・・・マスクエリア
、Ｐｏ・・・・・・画像中心位置、ｃｄ、Ｃｔ・・・・
・・変化点位置、ｗｌ、ｗ３・・・・・・明画像幅デー
タ、Ｆ・・・・・・欠陥、Ｇ・・・・・・撮像画面。 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 第１図 （イ） （ロ） １１１２図 （イ） （Ｄ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 所定の方向に搬送され略円形状のびん口部をもつびんの
搬送方向に対して所定の角度をもつ両側部から該びん口
部を照明する１対の照明手段と該びん口部をその上部か
ら撮像する撮像手段とからなる第１の撮像系と、該第１
撮像系と同様に構成されその照明手段による光の照射軸
が第１撮像系のそれと略９０度異なる第２の撮像系とを
備え、該第１、第２撮像系からの撮像信号を画像処理装
置にて順次処理することによりびん口部の欠陥を検査す
る検査方式であって、 該画像処理装置は少なくとも、 前記撮像信号を所定のレベルで２値化する２値化手段と
、 該２値化画像から所定の特徴量を抽出する特徴量抽出手
段と、 該特徴量にもとづいて前記びん口部の光で直接照射され
る部分をマスクするマスク設定手段と、を有し、びん口
部のマスク領域以外の部分の特徴量からその欠陥を検査
することを特徴とするびん口部検査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25284085A JPS62113050A (ja) | 1985-11-13 | 1985-11-13 | びん口部検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25284085A JPS62113050A (ja) | 1985-11-13 | 1985-11-13 | びん口部検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62113050A true JPS62113050A (ja) | 1987-05-23 |
| JPH043820B2 JPH043820B2 (ja) | 1992-01-24 |
Family
ID=17242916
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25284085A Granted JPS62113050A (ja) | 1985-11-13 | 1985-11-13 | びん口部検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62113050A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08226902A (ja) * | 1994-10-19 | 1996-09-03 | Emhart Glass Mach Investments Inc | 容器検査機械 |
| JP2001116700A (ja) * | 1999-08-11 | 2001-04-27 | Enutekku:Kk | 異なる波長の光を用いた物品の検査方法及び装置 |
| JP2004347449A (ja) * | 2003-05-22 | 2004-12-09 | N Tech:Kk | 容器の天面部の検査方法 |
| US6903814B1 (en) | 2003-03-05 | 2005-06-07 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface inspection |
| JP2007187615A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Kirin Techno-System Corp | 検査用照明装置 |
-
1985
- 1985-11-13 JP JP25284085A patent/JPS62113050A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08226902A (ja) * | 1994-10-19 | 1996-09-03 | Emhart Glass Mach Investments Inc | 容器検査機械 |
| JP2001116700A (ja) * | 1999-08-11 | 2001-04-27 | Enutekku:Kk | 異なる波長の光を用いた物品の検査方法及び装置 |
| US6903814B1 (en) | 2003-03-05 | 2005-06-07 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface inspection |
| JP2004347449A (ja) * | 2003-05-22 | 2004-12-09 | N Tech:Kk | 容器の天面部の検査方法 |
| JP2007187615A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Kirin Techno-System Corp | 検査用照明装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH043820B2 (ja) | 1992-01-24 |
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