JP3711072B2 - 撮像装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光電変換部と、光電変換部からの信号電荷を転送する電荷転送部と、信号電荷を検出する電荷検出部とを有する固体撮像素子を使用した撮像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の固体撮像素子として、インターライン転送方式のCCD撮像素子が知られている。このCCD撮像素子は、行列状に2次元配置され、入射光をその光量に応じた信号電荷に変換して蓄積する複数個の光電変換素子(画素)と、光電変換素子の垂直列毎に設けられ、各光電変換素子から読み出された信号電荷を垂直転送する複数本の垂直CCDと、垂直CCDから転送される1ライン(行)分の信号電荷を水平転送する水平CCDと、水平CCDによって転送された信号電荷を電気信号に変換して出力する電荷検出部とを有している。
【0003】
このCCD撮像素子の電荷検出部は、水平CCDから順次転送された信号電荷を信号電圧(電気信号)に変換するフローティングディフュージョン(FD)部と、電荷を排出するリセットドレイン(RD)部と、フローティングディフュージョン部内の電荷をリセットドレイン部に掃き捨てるリセットゲート(RG)部と、ソースホロア回路とからなるフローティングディフュージョンアンプ構成となっている。
【0004】
図12に、従来のCCD撮像素子の電荷検出部周辺の概略構成を示す。図12には、水平CCDの最終転送段5、出力ゲート部4、フローティングディフュージョン部1、リセットゲート部3、リセットドレイン部2の断面構造を模式的に示し、ソースホロア回路6を回路図で示してある。n型半導体基板11上のpウェル12には、電荷転送路13、n型不純物領域からなるフローティングディフュージョン領域14及びリセットドレイン領域15が形成されている。また、電荷転送路13の表面には水平CCDの転送ゲート51、52と出力ゲート41が、フローティングディフュージョン領域14とリセットドレイン領域15の間にはリセット電極30が、絶縁膜20を介して形成されている。そして、フローティングディフュージョン領域14は、ソースホロア回路6と接続される。
【0005】
図12のように構成された出力部においては、フローティングディフュージョン領域14の信号電荷の変化量をΔQ、電圧変化をΔV、静電容量をCとすると、ΔV=ΔQ/Cとなり、ソースホロア回路6から出力される信号電圧の感度(電荷検出感度)は、フローティングディフュージョン領域14の静電容量Cに依存する。フローティングディフュージョン領域14の静電容量Cは、フローティングディフュージョン部1及びその周辺部の構造に依存し、一定であるので、出力部の電荷検出感度は一定である。
【0006】
したがって、高感度の撮影を行うために静電容量Cを小さくして電荷検出感度を上げた構造とすると、一定光量以上の入射光量に対する信号出力が一定となり、ダイナミックレンジが狭くなるという問題がある。電荷検出部の電荷検出感度を可変とすることにより、ダイナミックレンジを拡大するものとして、特開平11−331706号公報に記載された固体撮像素子がある。
【0007】
特開平11−331706号公報に記載された固体撮像素子は、1画素読出しモードと複数画素読出しモードとで、電荷検出部の電荷検出感度を変更するものであり、電荷検出感度の変更を、事実上フローティングディフュージョン領域の大きさを変更することにより行うものである。この固体撮像素子は、ほぼ図12に示したものと同様の構成を有し、フローティングディフュージョン領域とリセットドレイン領域の間に互いに隣接して複数のリセットゲートを設けている。そして、複数のリセットゲートを選択的に駆動して、フローティングディフュージョン領域の大きさを変更し、フローティングディフュージョン領域の静電容量Cを変更している。例えば、フローティングディフュージョン領域側のリセットゲートをリセットレベルに保持し、他のリセットゲートで電荷の蓄積、排出を制御するようにすると、リセットレベルに保持したリセットゲートの下方部分が事実上フローティングディフュージョン領域として機能するため、静電容量が増加し、電荷検出感度を低くすることができる。
【0008】
しかし、上記固体撮像素子のリセットゲート部は、表面チャネル型であるので、S/Nが悪化するという問題点がある。すなわち、リセットゲートの下方部分を電荷が蓄積されるフローティングディフュージョン領域として使用するため、この領域の電荷が半導体表面のトラップに捕獲されて、リセット時でも蓄積信号電荷のリセットがスムーズに行われず、トラップされた電荷がフローティングディフュージョン領域に再度流入して出力信号に影響を及ぼす場合がある。
【0009】
また、特開平11−331706号公報には、上記固体撮像素子を撮像デバイスとして使用した、1画素読み出しモードと複数画素読み出しモードとを切り換え可能なカメラシステムが記載されているだけであり、このカメラシステムは、電荷検出感度が可変であるという特性を充分利用しているとはいえないものである。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記問題点に鑑みなされたもので、S/Nを劣化させることなく、簡単な構成で電荷検出感度を変更することができる固体撮像素子を提供するものである。また、電荷検出感度の変更が可能な固体撮像素子を使用して、状況に応じて最適な撮像信号を得ることができる撮像装置を提供するものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明の撮像装置は、固体撮像素子と前記固体撮像素子に対する駆動信号を出力する駆動部を有する撮像装置であって、前記固体撮像素子は、光電変換部と、前記光電変換部からの信号電荷を転送する電荷転送部と、前記信号電荷を検出する電荷検出部とを有し、前記電荷検出部は、前記信号電荷が転送されるフローティングディフュージョン部と、前記フローティングディフュージョン部の電荷を排出するリセットドレイン部と、前記フローティングディフュージョン部と前記リセットドレイン部との間に設けられた埋め込みチャネル型リセットゲート部とを含み、前記リセットゲート部は、チャネル方向に互に隣接して設けられた、それぞれ独立して駆動可能な複数のリセット電極を有し、前記駆動部は、前記信号電荷がフローティングディフュージョン部から排出される前に、前記フローティングディフュージョン部に近い側の前記リセット電極の電位を、リセット電位とバリア電位との間で変化させるものである。このように構成すると、撮影画像信号のダイナミックレンジを広げることができる。また、本発明の撮像装置に使用する固体撮像素子は、半導体表面のトラップに捕獲された電荷がフローティングディフュージョン領域に再度流入して出力信号に影響を及ぼすことがなく、S/Nを劣化させることなく、簡単な構成で電荷検出感度を変更することができる。
【0016】
本発明の撮像装置における前記駆動部は、前記複数のリセット電極の駆動パターンを、信号電荷が有する色情報に応じて変化させるものである。また、前記色情報に応じた駆動パターンは、ホワイトバランスの調整時に利用されるものである。このように構成すると、ホワイトバランス処理を効率よく行うことができる。
【0017】
本発明の撮像装置における前記駆動部は、前記複数のリセット電極の駆動パターンを、撮影画面毎に変化させるものである。このように構成すると、複数画面を合成して1画面を作る処理において、撮影画像信号のダイナミックレンジを広げることができる。
【0018】
本発明の撮像装置における前記駆動部は、前記複数のリセット電極の駆動パターンを、撮像対象に応じて変化させるものである。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。図1は、本発明の実施の形態の固体撮像素子の電荷検出部周辺の概略構成を示す図である。図1の固体撮像素子は、水平CCD(転送路)の最終転送段5、出力ゲート部4、フローティングディフュージョン部1、リセットゲート部3、リセットドレイン部2、ソースホロア回路6を含み、リセットゲート部3を除き、図12に示した撮像素子と同様の構成を有する。リセットゲート部3は、pウェル12のフローティングディフュージョン領域14とリセットドレイン領域15の間に形成されたn型埋め込み領域16と、埋め込み領域16表面に絶縁膜20を介して形成されたリセット電極31、32を含む。リセット電極31、32は、リセットゲート部3のチャネル方向に互に隣接して設けられ、独立して駆動可能なものである。
【0020】
図1に示す固体撮像素子の駆動方法について説明する。固体撮像素子を高感度で駆動させる場合、図2に示すように、リセットドレイン部2側のリセット電極32の端子RS2をハイレベル(リセットレベル)に固定し、フローティングディフュージョン部1側のリセット電極31の端子RS1を、電荷転送部の駆動パルスHlastに同期させて駆動する。このように駆動すると、端子RS2がハイレベルの時にリセット動作が行われた後、駆動パルスHlastがローレベル(バリアレベル)になると、電荷転送路から信号電荷がフローティングディフュージョン領域14に転送される。
【0021】
この時の電荷検出部周辺のポテンシャル分布を図5(b)に示す。この状態では、フローティングディフュージョン領域14にのみ転送された信号電荷が蓄積されるので、フローティングディフュージョン領域14の静電容量は、フローティングディフュージョン部1の構造に依存したものとなり、この静電容量は、一般に小さい。したがって、フローティングディフュージョン領域14と接続されたソースホロア回路6の端子Sから出力される電荷検出出力(CCD OUT)は、高い電荷検出感度で出力される。そして、この出力は、アナログ信号処理を経てデジタル信号処理を行うDSP(図示せず)に取り込まれる。
【0022】
これに対して、固体撮像素子を低感度で駆動させる場合、図3に示すように、端子RS1をハイレベル(リセットレベル)に固定し、端子RS2を、電荷転送部の駆動パルスHlastに同期させて駆動する。このように駆動すると、電荷転送路から信号電荷がフローティングディフュージョン領域14に転送される時の電荷検出部周辺のポテンシャル分布は、図5(a)に示すものとなる。この状態では、転送された信号電荷がフローティングディフュージョン領域14だけでなく、リセット電極31下方部分にも蓄積されるので、フローティングディフュージョン領域14の静電容量は、図5(b)の状態に比較して大きくなる。したがって、ソースホロア回路6の端子Sから出力される電荷検出出力(CCD OUT)は、図2の場合より低い電荷検出感度で出力される。
【0023】
図3に示すような駆動を行うと、リセット電極31の下方部分にも信号電荷が蓄積される。図1の固体撮像素子は、リセット電極31、32の下方部分にn型埋め込み領域16を形成し、リセットゲート部3を埋め込みチャネル構造としてあるので、電荷は基板表面より若干深い部分蓄積される。したがって、リセット電極32の端子RS2をハイレベルにしてリセット動作を行うと、蓄積された信号電荷をスムーズにリセットドレイン領域に排出することができ、トラップされた電荷がフローティングディフュージョン領域14に再度流入して電荷検出出力に影響を及ぼすような状態の発生を避けることができる。
【0024】
図1に示す固体撮像素子は、図2及び図3に示すようにリセット電極31及び32を個別に駆動して、電荷検出感度を変更するだけでなく、リセット電極31及び32を同時に駆動して、電荷検出出力にニー特性を持たせることもできる。
【0025】
電荷検出感度にニー特性を持たせる場合、図4に示すように、端子RS1と端子RS2を、電荷転送部の駆動パルスHlastに同期させて同時に駆動する。ただし、端子RS2は、図3の場合と同様、ハイレベルがリセットレベルとなり、ローレベルがバリアレベルとなるように駆動されるが、端子RS1は、ハイレベルがリセットレベルとなり、ローレベルがリセットレベルとバリアレベルの中間電位となるように駆動される。このような駆動をした場合、電荷転送路から信号電荷がフローティングディフュージョン領域14に転送される時の電荷検出部周辺のポテンシャル分布は、図5(c)に示すものとなる。図から明らかなように、転送される信号電荷が一定量以下の場合は、フローティングディフュージョン領域14のみに蓄積されるので、フローティングディフュージョン領域14の静電容量は小さく、電荷検出感度は大となる。転送される信号電荷が一定量を超えると、リセット電極31の下方部分にも蓄積されるため、フローティングディフュージョン領域14の静電容量が大きくなり、電荷検出感度は小となる。
【0026】
したがって、信号電荷(入射光量)が少ない場合は検出感度が大で、信号電荷が大きい場合は検出感度が小となるニー特性を有する撮像信号を得ることができる。また、端子RS1の駆動信号の中間レベルを変化させると、フローティングディフュージョン領域14の静電容量が小さくなる蓄積電荷量が変化するので、検出感度を小さくする信号電荷量を任意に制御することができる。
【0027】
図1の固体撮像素子は、埋め込み領域16表面に絶縁膜20を介して2つのリセット電極31、32を設けているが、リセット電極の数は、2つに限らない。図6は、リセット電極を3つ設けた固体撮像素子の電荷検出部断面とポテンシャル分布を示す図である。図6の固体撮像素子は、リセット電極32に隣接してさらに別のリセット電極33を有する他は、図1の固体撮像素子と同様である。
【0028】
駆動方法も図1の固体撮像素子を同様であり、リセット電極31、32、33のいずれか1つを、電荷転送部の駆動パルスHlastに同期させて駆動し、残りのリセット電極をリセットレベルに固定すると、高感度、中感度、低感度の3段階の電荷検出感度で電荷検出出力を得ることができる。その場合の、電荷検出部周辺のポテンシャル分布を、図6(a)(b)(c)に示す。
【0029】
図6(a)は、リセット電極31の端子RS1とリセット電極32の端子RS2をリセットレベルに固定し、リセット電極33の端子RS3を駆動パルスHlastに同期させて駆動する場合のポテンシャル分布を示す。この場合、転送された信号電荷がリセット電極31、32の下方部分にも蓄積されるので、フローティングディフュージョン領域14の静電容量は大きくなり、電荷検出感度は低くなる。端子RS2と端子RS3をリセットレベルに固定し、端子RS1を駆動パルスHlastに同期させて駆動する場合、図6(c)に示すポテンシャル分布となり、図5(b)と同様、高い電荷検出感度が得られる。また、端子RS1と端子RS3をリセットレベルに固定し、端子RS2を駆動パルスHlastに同期させて駆動すると、図6(b)に示すポテンシャル分布となり、図から明らかなように、図6(a)の場合の感度と図6(c)の場合の感度の中間の電荷検出感度が得られる。
【0030】
また、リセット電極31と32、又はリセット電極32と33、あるいは3つのリセット電極31、32、33を同時に駆動して、図1の固体撮像素子と同様、電荷検出出力にニー特性を持たせることもできる。図6(d)は、端子RS3をリセットレベルに固定し、端子RS1と端子RS2を駆動パルスHlastに同期させて駆動する場合のポテンシャル分布を示す。図から明らかなように、この場合、図1の固体撮像素子を図4に示すような駆動する場合と同様の特性が得られる。3つのリセット電極31、32、33を同時に駆動する場合、図6(e)に示すポテンシャル分布となり、電荷検出感度が2箇所で変化するニー特性が得られる。
【0031】
以上説明したように、本発明の固体撮像素子は、電荷検出感度を変更することができるが、リセット電極の大きさ、埋め込み領域16の誘電率等制御することによって、その大きさも任意のものに設計可能である。したがって、駆動するリセット電極に応じて、電荷検出感度を等比級数的に変化させると、後述するように、同一の画素の検出出力を複数の検出感度で求めて信号処理をする場合、簡単な演算で、広ダイナミックレンジの画像信号を得ることができる。例えば、図6(a)及び(b)の場合の電荷検出感度を、図6(c)の場合の電荷検出感度の1/4、及び1/16となるように設計する。
【0032】
次に、図1又は図6に示す固体撮像素子を使用した撮像装置について、説明する。図7は、固体撮像素子を使用した撮像装置の1つであるデジタルカメラの概略構成を示す図である。図7のデジタルカメラは、レンズ部110、固体撮像素子120、及び駆動部130を含む撮像部、アナログ信号処理部140、A/D変換部150、デジタル信号処理部160、画像メモリ170、及び圧縮伸張処理部180を含む信号処理部、メディアインタフェース200及び画像モニタ210を含む出力部、操作部220、並びにデジタルカメラ全体を制御する制御部190を含んで構成される。
【0033】
レンズ部110を通った光は、図1又は図6に示す固体撮像素子120の上に焦点を結び、入射光の光量に応じた信号電荷が複数個の光電変換素子に蓄積される。その際、駆動部3を介してレンズ部1及び図示しない絞りの制御が行われる。固体撮像素子120は、撮影モード時は、所定のタイミングで、タイミングジェネレータ(図示せず)を含む駆動部130によって駆動され、信号電荷に応じた撮影画像信号を出力しする。そして、操作部220のレリーズボタン(図示せず)の押下を契機として、撮影処理が行われる。
【0034】
駆動部130は、制御部190の制御のもと、レンズ部110の駆動信号及び固体撮像素子120の駆動信号を出力する。この駆動信号は、レンズ部110及び固体撮像素子120を直接駆動する信号でも、直接駆動する信号に対する制御信号でもよい。例えば、固体撮像素子のリセット電極に印加するリセット信号の場合、電圧レベルが制御された信号を出力してよいし、タイミング信号のみを出力して電圧レベルは固体撮像素子内部又は外部で作成したものを利用するようにしてもよい。駆動部130による固体撮像素子120の駆動については後述する。
【0035】
撮影画像信号は、アナログ信号処理部140によってアナログ信号処理された後、A/D変換部150でデジタル信号に変換され、デジタル信号処理部160によるデジタル信号処理を経て画像メモリ170に一時的に記録される。デジタル信号処理部160が行う処理には、ホワイトバランス調整、Y/C処理、γ補正処理等が含まれる。デジタル画像処理を経た撮影画像情報に基づく画像を、画像モニタ210に表示する場合は、画像メモリ170の内容を読み出して画像モニタ210に送られる。レリーズボタンの押下により撮影処理が行われる場合、画像メモリ170の撮影画像情報は、圧縮伸張処理部180で圧縮処理され、メディアインタフェース200を経て、図示しないメモリカード等の記録メディアに記録される。
【0036】
記録メディアに記録された画像情報に基づく画像を画像モニタ210に表示させる場合は、記録メディアから読取った画像情報を圧縮伸張処理部180で伸張処理して出力用メモリ170に書込み、画像モニタ210に送る。
【0037】
これらの動作は、操作部220からの操作信号に応じて、システム制御部190の制御のもとに行われる。システム制御部190は、所定のプログラムによって動作するプロセッサを主体に構成され、内部にプログラム、動作に必要な各種データを記憶するメモリ、及びワークメモリを備える。
【0038】
操作部12は、デジタルカメラ使用時の各種操作を行うもので、撮影時の撮影方法、撮影条件、撮影画像情報の処理方法の設定、及びメディアに記憶した画像情報に対する指示操作(例えば表示、情報付加等)を行う。操作部12は、それぞれの機能に対応する操作部材を設けてもよいが、画像モニタ11の表示と連動して操作部材を共用してもよい。
【0039】
続いて、駆動部130による固体撮像素子120の駆動について説明する。駆動部130は、次の(1)〜(5)に示す駆動信号(駆動パターン)の内の、1又は複数のものを制御部190の制御に基づいて出力するように構成される。
【0040】
(1)電荷検出感度の選択
図1に示す固体撮像素子を利用した場合は2段階、図6に示す固体撮像素子を利用した場合は3段階の電荷検出感度を選択することができる。この場合、図2、図3、図5(a)(b)及び図6(a)(b)(c)を用いて説明したように、複数のリセット電極の内のいずれか1つを、転送信号に同期して駆動し、他のリセット電極は、リセットレベルに固定する。
【0041】
(2)ニー特性の付加
電荷検出感度にニー特性を付加する場合は、図4、図5(c)及び図6(d)(e)を用いて説明したように、フローティングディフュージョン部1に近い側に配置された少なくとも1つのリセット電極を、リセット電位と、リセット電位及びバリア電位の間の中間電位との間で、残りのリセット電極と同期して駆動する。1段階のニー特性を得る場合は、図1の固体撮像素子を利用して、リセット電極31をリセット電位及びバリア電位の間の中間電位との間で、リセット電極32とともに電荷転送部の駆動パルスに同期させて駆動する(図5(c)参照)。また、図6の固体撮像素子を利用し、リセット電極33をリセットレベルに固定し、リセット電極31と32を図1のものと同様に駆動してもよい(図6(d)参照)。2段階のニー特性を得る場合は、図6に示す固体撮像素子を利用し、リセット電極31と32をリセット電位及びバリア電位の間の中間電位との間で、リセット電極33とともに電荷転送部の駆動パルスに同期させて駆動する(図6(e)参照)。なお、この場合、リセット電極31の中間電位は、リセット電極32の中間電位よりも高く設定される。
【0042】
(3)画素の色情報に応じた検出感度の変更
光電変換素子で検出された信号電荷が有する色情報に応じて、画素毎に電荷検出感度を変更することもできる。その場合の、固体撮像素子の駆動信号の例を図8及び図9に示す。
【0043】
図8は、図1に示す固体撮像素子を利用した場合の例で、色情報が緑(G)の画素を低感度で、色情報が赤(R)と青(B)の画素を高感度で検出するものである。図8のRS1及びRS2に示すようなパターンでリセット電極31及び32を駆動すると、図から明らかなように、色情報が緑(G)の画素の検出時は、リセット電極31がリセットレベルになっているので、低感度となり、色情報が赤(R)と青(B)の画素の検出時は、リセット電極がバリア電極となっているので、高感度となる。
【0044】
図9は、図6に示す固体撮像素子を利用した場合の例で、色情報が緑(G)の画素を低感度で、色情報が赤(R)の画素を中感度で、青(B)の画素を高感度で検出するものである。図から明らかなように、色情報毎にバリア電極として動作する電極が異なり、電荷検出感度が3段階に変化する。
【0045】
色情報による電荷検出感度の変更は、ホワイトバランスを調整する機能に利用することができる。すなわち、撮影画像信号のホワイトバランスを調整する場合、色毎の電荷検出信号の差が大きい場合には、ホワイトバランスが取りにくいので、色毎の電荷検出を変更してホワイトバランスが取り易い撮影画像信号とするものである。
【0046】
(4)1画素2信号の検出
1画素につき、複数の感度で検出した撮影画像信号を取得する場合、フローティングディフュージョン部1に蓄積された信号電荷がリセットドレイン部2に排出される前に、リセット電極の駆動パターンを変更し、変更の前後で2回、検出出力をDSPに取り込む。
【0047】
図10は、高検出感度で検出後、低検出感度とする場合の駆動信号のタイミングチャートである。リセット電極31と32をリセットレベルにして蓄積電荷排出後、リセット電極31と32をともにバリアレベルにして高感度の検出を行い、次いで、リセット電極31のみをリセットレベルにして、低感度の検出を行う。また、図11は、低感度で検出後、高感度とする場合の駆動信号のタイミングチャートである。この場合、蓄積電荷排出後、リセット電極32のみをバリアレベルにして、低感度の検出を行い、続いてリセット電極31もバリアレベルとして、高感度の検出を行う。どちらの方法を用いてもよいが、電荷量が多い場合は、先に高感度検出を行うと、飽和量を超えた電荷が排出されるので、低感度検出を先にするのが好ましい。
【0048】
1画素について複数の検出感度で検出すると、その検出信号を感度に合わせて加算することにより、ダイナミックレンジの広い撮像信号を得ることができる。また、その場合、固体撮像素子の電荷検出感度を、等比級数的に変化させると、例えば、低感度を高感度の1/4あるいは1/16となるように設計すると、加算した撮像信号を演算する場合の演算が簡単になる。
【0049】
(5)撮影画面毎の検出感度の変更
電荷検出感度の変更は、撮影画面毎に変更することもできる。この場合、複数画面の対応が素毎に加算処理を行うことにより、上記(4)のものと同様、ダイナミックレンジの広い撮像信号を得ることができる。
【0050】
なお、上記した(1)〜(5)の駆動信号(駆動パターン)は、自動的に又は操作部220による設定された撮影モード(撮影対象、撮影状況)によって、選択される。例えば、ニー特性の付加及び付加するニー特性のパターンは、撮影状況(夜間撮影、照明の状態)等によって選択される。
【0051】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、S/Nを劣化させることなく、簡単な構成で電荷検出感度を変更することができる固体撮像素子を提供することができる。また、電荷検出感度の変更が可能な固体撮像素子を使用して、状況に応じて最適な撮像信号を得ることができる撮像装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の固体撮像素子の電荷検出部周辺の概略構成を示す図
【図2】図1の固体撮像素子を高感度で駆動する場合のタイミングチャート
【図3】図1の固体撮像素子を低感度で駆動する場合のタイミングチャート
【図4】図1の固体撮像素子をニー特性を持たせて駆動する場合のタイミングチャート
【図5】図1の固体撮像素子の電荷検出部周辺のポテンシャル分布を示す図
【図6】3つのリセット電極を有する固体撮像素子の電荷検出部周辺のポテンシャル分布を示す図
【図7】デジタルカメラの概略構成を示す図
【図8】色情報毎に2段階に電荷検出感度を変更して駆動する場合のタイミングチャート
【図9】色情報毎に3段階に電荷検出感度を変更して駆動する場合のタイミングチャート
【図10】同一画素内で電荷検出感度を変更して駆動する場合のタイミングチャートの一例
【図11】同一画素内で電荷検出感度を変更して駆動する場合のタイミングチャートの他の例
【図12】従来のCCD撮像素子の電荷検出部周辺の概略構成を示す図
【符号の説明】
1・・・フローティングディフュージョン部
2・・・リセットドレイン部
3・・・リセットゲート部
4・・・出力ゲート部
5・・・水平CCD(転送路)の最終転送段
6・・・ソースホロア回路
11・・・n型半導体基板
12・・・pウェル
13・・・電荷転送路
14・・・フローティングディフュージョン領域
15・・・リセットドレイン領域
16・・・埋め込み領域
20・・・絶縁膜
30、31、32、33・・・リセット電極
51、52・・・転送ゲート
110・・・レンズ部
120・・・固体撮像素子
130・・・駆動部
140・・・アナログ信号処理部
150・・・A/D変換部
160・・・デジタル信号処理部
170・・・メモリ
180・・・圧縮伸張処理部
190・・・システム制御部
200・・・メディアインタフェース
210・・・画像モニタ
220・・・操作部

Claims (5)

  1. 固体撮像素子と前記固体撮像素子に対する駆動信号を出力する駆動部を有する撮像装置であって、
    前記固体撮像素子は、光電変換部と、前記光電変換部からの信号電荷を転送する電荷転送部と、前記信号電荷を検出する電荷検出部とを有し、
    前記電荷検出部は、前記信号電荷が転送されるフローティングディフュージョン部と、前記フローティングディフュージョン部の電荷を排出するリセットドレイン部と、前記フローティングディフュージョン部と前記リセットドレイン部との間に設けられた埋め込みチャネル型リセットゲート部とを含み、前記リセットゲート部は、チャネル方向に互に隣接して設けられた、それぞれ独立して駆動可能な複数のリセット電極を有し、
    前記駆動部は、前記信号電荷がフローティングディフュージョン部から排出される前に、前記フローティングディフュージョン部に近い側の前記リセット電極の電位を、リセット電位とバリア電位との間で変化させるものである撮像装置。
  2. 請求項1記載の撮像装置であって、
    前記駆動部は、前記複数のリセット電極の駆動パターンを、信号電荷が有する色情報に応じて変化させるものである撮像装置。
  3. 請求項2記載の撮像装置であって、
    前記色情報に応じた駆動パターンは、ホワイトバランスの調整時に利用されるものである撮像装置。
  4. 請求項1記載の撮像装置であって、
    前記駆動部は、前記複数のリセット電極の駆動パターンを、撮影画面毎に変化させるものである撮像装置。
  5. 請求項1記載の撮像装置であって、
    前記駆動部は、前記複数のリセット電極の駆動パターンを、撮像対象に応じて変化させるものである撮像装置。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005167665A (ja) * 2003-12-03 2005-06-23 Sanyo Electric Co Ltd 画像信号処理装置、画像信号処理方法、画像信号処理プログラム、固体撮像素子の制御装置及び固体撮像素子の制御方法
KR20080064031A (ko) * 2007-01-03 2008-07-08 삼성전자주식회사 온도센서를 구비한 이미지 센서 및 그것의 구동 방법
US20110074996A1 (en) * 2009-09-29 2011-03-31 Shen Wang Ccd image sensors with variable output gains in an output circuit
US8405018B2 (en) * 2010-05-06 2013-03-26 Teledyne Dalsa, Inc. Semiconductor imager and method with spatially separated proximate and distal reset gates to tune relative gain
US11172142B2 (en) * 2018-09-25 2021-11-09 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Image sensor for sensing LED light with reduced flickering

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63209175A (ja) 1987-02-26 1988-08-30 Toshiba Corp 電荷検出回路
JP2872759B2 (ja) * 1989-06-08 1999-03-24 富士写真フイルム株式会社 固体撮像システム
JP2666522B2 (ja) * 1990-05-14 1997-10-22 日本電気株式会社 電荷転送装置
JPH05136396A (ja) 1991-11-15 1993-06-01 Toshiba Corp 信号電荷検出器
JPH05251480A (ja) * 1992-03-04 1993-09-28 Sony Corp 電荷電圧変換装置
JP3338472B2 (ja) 1992-04-13 2002-10-28 ソニー株式会社 電荷転送装置
JPH0786568A (ja) 1993-09-09 1995-03-31 Nec Corp 電荷転送装置
JPH07122733A (ja) 1993-10-21 1995-05-12 Nec Corp 電荷転送装置およびその製造方法
JPH10135440A (ja) 1996-10-30 1998-05-22 Sony Corp 電子機器並びに原稿読み取り装置
JP3028074B2 (ja) * 1997-05-26 2000-04-04 日本電気株式会社 電荷転送素子とその駆動方法
US6714239B2 (en) * 1997-10-29 2004-03-30 Eastman Kodak Company Active pixel sensor with programmable color balance
JPH11150685A (ja) * 1997-11-14 1999-06-02 Sony Corp 固体撮像装置およびその駆動方法、並びにカメラ
JPH11331709A (ja) 1998-05-11 1999-11-30 Toshiba Corp 固体撮像装置
JPH11331706A (ja) * 1998-05-15 1999-11-30 Sony Corp 固体撮像素子およびその駆動方法、並びにカメラシステム
US6410905B1 (en) * 1999-12-17 2002-06-25 Scientific Imaging Technologies, Inc. CCD with enhanced output dynamic range

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