JP2595995B2

JP2595995B2 - 組立装置

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Publication number: JP2595995B2
Application number: JP62256026A
Authority: JP
Inventors: 俊輔松井
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1987-10-09
Filing date: 1987-10-09
Publication date: 1997-04-02
Anticipated expiration: 2012-04-02
Also published as: JPH0198003A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は例えば第１部品を第２部品に載せるような複
数の部品の組立を行う組立装置に関し、特に、位置検出
手段を備え、精度の高い位置決めを行う組立装置に関す
る。

〔従来の技術〕

光学顕微鏡等の位置検出手段を用いて、電気部品，電
子部品等の部品の高精度の位置決めを行う組立装置が知
られている。

第９図は、従来の組立装置の一例を示す図であり、そ
の組立装置は、第10図に示すような第２部品22上に第１
部品21を正確に位置決めして載置する作業を行う。上記
組立装置は、上記第１部品21を支持するコレット23と、
調整用テーブル25,26および移動用テーブル27によりそ
の位置が制御され第２部品22を載置させる載置台24と、
第１部品21の位置を検出する光学顕微鏡28および第２部
品22の位置を検出する光学顕微鏡29とから概ね構成され
ている。

組立作業は、まず、光学顕微鏡28および光学顕微鏡29
を用いて、それぞれ第１部品21および第２部品22の位置
が検出される。これらの位置の検出後、第１部品21に対
する第２部品22の位置関係が計算される。次に、その計
算結果を利用して上記調整用テーブル26により図中Ｙ方
向の位置が調整され、上記調整用テーブル25により図中
Ｘ方向の位置が調整される。この調整位置は、位置検出
された第１部品21から一定距離ｌだけ離れた位置であ
る。そして、その調整位置から一定距離ｌだけ載置台24
を移動させる機能を持つ移動用テーブル27の動作から、
上記第２部品22を載置台24ごと一定距離ｌだけ移動させ
る。すると、既に調整用テーブル25,26により第２部品2
2の位置が調整されているために、第２部品22は第１部
品21の直下に移送される。最後に、コレット23を載置台
24に対して垂直に降下させ、第１部品21を第２部品22上
に載置させることができる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述のような先行技術においては、光学顕微鏡28,29
による位置検出が正確に行われた場合であっても、高精
度の組立が行われない場合がある。

すなわち、本来、上記光学顕微鏡28,29の各位置は一
定であって、それらの間隔Ｌも一定であるはずである。
しかし、当該組立装置が設置される場合の室温の変化や
装置内部の温度上昇等によって、光学顕微鏡28,29の間
隔Ｌが変化する。すると、計算され且つ調整用テーブル
25,26の動作により調整される調整位置も上記間隔Ｌの
変化に従って変化する。この結果、正確な組立が不能と
なる。

また、上記光学顕微鏡28,29の間隔Ｌのみならず一定
距離ｌだけ載置台24を移動させる移動用テーブル27につ
いても同様である。すなわち、機械温度の上昇からネジ
のピッチの変化等が生じ、載置台24の移動する距離が上
記一定距離ｌと異なる距離となってしまうことになる。

このような技術的課題への対策としては、当該組立装
置が設置される場所の室温管理や、移動用テーブル27を
クローズドループ制御とすること或いは光学顕微鏡28,2
9の剛性を強くする等の方法がある。しかし、室温管理
の場合、本装置での組立作業に要求される±５μｍ以下
の合わせ精度には、例えば室温を±0.5℃以内に制御す
る必要があり、仮にその室温制御を行うならば、製品価
格の著しい上昇を伴うことになる。また、予測できない
外乱等に対しては、剛性等を強くしても十分に対処でき
ない。

そこで、本発明は上述の問題点に鑑み、高精度の組立
を容易に実現する組立装置の提供を目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕本発明に係る組立装置は、上述のような課題を解決す
るため、第１部品の支持手段を有し、第１部品の位置検
出手段と第２部品の位置検出手段がほぼ所定の間隔で配
置され、上記第１部品の位置検出手段および上記第２部
品の位置検出手段からの各位置情報に基づいて部品の位
置が調整された後、上記第２部品の載置台がほぼ一定距
離移動され、上記第１部品と上記第２部品の組立を行う
組立装置において、上記第２部品の載置台近傍に１つの
位置基準マークが設けられ、上記位置基準マークを第１
部品の位置検出手段および第２部品の位置検出手段でそ
れぞれ参照して、上記第１部品の位置検出手段および第
２部品の位置検出手段によってそれぞれ得られる上記位
置基準マークの参照情報に基づいて部品の調整位置を補
正する補正手段を備える。

ここで、上記支持手段は、第１部品を支持するもので
あり、その移動方向は問わない。また、上記支持手段
は、第１部品を保持するのみであっても良い。位置検出
手段は、光学顕微鏡、イメージセンサ等の各部品の位置
を検出するものが用いられる。各位置情報に基づく位置
の調整は、第２部品に限られず第１部品に関して行う構
成であっても良い。上記位置調整は、２次元のみならず
３次元や極座標等を用いた調整であってもよい。第２部
品の載置台は、一定距離だけ移動されるが、この一定距
離は、平行移動に限定されるものではなく回転移動であ
ってもよい。

また、位置基準マークは、上記位置検出手段にその位
置が正確に検出され得る目印であれば良く、その方法
は、光学的であるか電気的であるかを問わない。

なお、ここで、組立とは、部品の装着、接着、挿入等
の種々の実装作業を含むのは勿論である。

〔作用〕

本発明に係る組立装置は、上記位置基準マークを上記
第２部品の載置台近傍に設け、上記第１部品の位置検出
手段および第２部品の位置検出手段で参照することによ
り位置基準マークの参照情報が求められる。この位置基
準マークの参照情報には、載置台の移動距離に関する誤
差や、各位置検出手段の間隔に関する誤差が含まれる。
そして、これらの誤差から、逆に組立作業の補正値を求
め、その補正値により部品の調整位置を補正しながら組
立を行うことで、正確な組立が行われる。また、この
際、位置基準マークは、１つのみ設けられていることか
ら、作業空間の環境の変化に伴う基準のズレが無く、各
位置検出手段が正確に参照情報を得ることができる。す
なわち、組立装置は、例えば作業空間の温度変化等の作
業環境の変化により微妙に変形された場合においても、
正確に参照情報を得られる。さらには、組立装置は、例
えば温度センサ等の作業環境検出手段と組み合わせるこ
とにより、この作業環境検出手段が一定基準より作業環
境が変化したことを検出した場合には、作業環境の変化
に伴う装置の変形を考慮した参照情報を得るようにして
も良い。

〔実施例〕

本発明の好適な実施例を図面を参照しながら説明す
る。

まず、本実施例の組立装置の機械的な構造について第
１図を参照しながら説明する。

本実施例の組立装置は、第１部品１を支持する支持手
段としてのコレット９と、第２部品２を載置させる載置
台10と、その載置台10に接続され図中X,Y方向の位置の
調整を行う調整用テーブル6,7および組立時に一定距離
ｌだけ移動する移動用テーブル８と、第１部品１の位置
を検出する位置検出手段としての光学顕微鏡３と、第２
部品２の位置を検出する位置検出手段としての光学顕微
鏡４と、上記載置台10に配設された位置基準マーク５と
から概ね構成されている。

上記第１部品１を支持するコレット９は、第１部品１
を鉛直方向すなわち図中Ｚ方向に移動させるものであ
る。このコレット９は第１部品１の一主面から当該第１
部品１を支持する機構を有している。

上記載置台10は、上記第２部品２を載置させ所定の厚
みを有した円板状の台である。上記第２部品２はその底
面が載置台10の表面に載置される。載置台10には、後述
するような位置基準マーク５が配設される。この位置基
準マーク５は、光学顕微鏡３と光学顕微鏡４の双方に参
照される必要があるため、図のような光学顕微鏡３の配
置からは、少なくとも載置台10の位置基準マーク５の裏
面は切り欠かれ若しくは透明体とされている。この載置
台10の底部はアーム部材11に支持されている。アーム部
材11は、載置台10と調整用テーブル6,7および移動用テ
ーブル８を連動させるための部材である。このアーム部
材11は、図中Ｘ方向に延在された上端部に上記載置台10
が配設されて固定され、その基端側の底部で調整用テー
ブル６に固定されている。これら載置台10およびアーム
部材11は、所要の剛性を有してなる。

上記アーム11を介して載置台10に接続する調整用テー
ブルは、図中Ｘ方向での載置台10の位置を調整するため
の調整用テーブル６と、図中Ｙ方向での載置台10の位置
を調整するための調整用テーブル７とからなっている。
Ｘ方向を調整方向とする調整用テーブル６は上記アーム
部材11の底部に接続され、その下にＹ方向を調整方向と
する調整用テーブル７が設けられている。これら各調整
用テーブル6,7は、単軸テーブルであって、各ネジ棒に
沿ってそれぞれボールネジのパルスモーター駆動による
制御が可能である。

これら調整用テーブル6,7に接続する移動用テーブル
８は、第２部品２の調整位置から図中Ｘ方向へ一定距離
ｌだけ載置台10を移動させる。移動用テーブル８は、ボ
ールネジのDCサーボモーター駆動による短軸テーブルで
ある。なお、移動用テーブル８をボールネジのパルスモ
ーター駆動による制御としても良く、エアシリンダーと
メカストッパーによる構成とすることもできる。

上記光学顕微鏡３は、第１部品１の位置検出手段であ
る。この光学顕微鏡３には、画像を採り込むためのカメ
ラが接続され、第１部品１の位置が検出される。光学顕
微鏡３は、コレット９の下方に設けられ、その光軸が上
記コレット９の軸と略同軸に設けられている。上記載置
台10が移動用テーブル８の作動によって一定距離ｌだけ
動いた時では、光学顕微鏡３とコレット９に支持された
第１部品１の間の空隙に載置台10が位置する。この光学
顕微鏡３の取り付け場所は、上記コレット９の支持方法
によって変えることができ、第１部品１の形状により側
面からのチャッキングができるならば、光学顕微鏡３を
上側に設けることもできる。

上記光学顕微鏡４は、第２部品の位置検出手段であ
る。この光学顕微鏡４にも同様に、画像を採り込むため
のカメラが接続され、載置台10上の第２部品２の位置が
検出される。光学顕微鏡４は、載置台10の表面から離間
されて、その光軸方向は載置台10の略法線方向である。
そして、この光学顕微鏡４と上記光学顕微鏡３は、各光
軸が平行線であって、その間隔が一定の間隔Ｌとされて
いる。

上記載置台10に配設された位置基準マーク５は、光学
顕微鏡3,4にそれぞれ参照され、組立作業の補正値を算
出するための目印である。この位置基準マーク５は、一
例として透明体に不透明な十字状の模様を配したものと
される。このような透明体にマークを設けることで、下
方から光学顕微鏡3,上方から光学顕微鏡４を用いてそれ
ぞれマークの参照を行なえる。また、位置基準マーク５
を不透明な下地に透明なマークを設ける様にすることも
できる。

次に、概ね上述の如き機械的構造を有する本実施例の
組立装置の作動状態について説明する。

まず初めに、第２図を参照して、通常の組立作業Ａに
ついて簡単に説明すると、開始後、参照作業でない側
（NO側）へ進み、第１部品１がコレット９で支持され、
第２部品２が上記載置第10の表面に載置される（O
D₁）。次に、上記光学顕微鏡３で上記第１部品１の位置
が検出され、上記光学顕微鏡４で上記第２部品２の位置
が検出される（OD₂）。この検出されたデータを利用
し、さらに後述するような参照作業Ｂによって補正値が
有るときはその補正値も用いて、第１部品１に対する第
２部品２の位置関係を明らかにし、検出されたデータと
補正値に基づく調整値を計算する（OD₃）。第３図は、
光学顕微鏡３の光軸O₃,光学顕微鏡４の光軸O₄の位置関
係を示している。その間隔Ｌは、移動用テーブル８の一
定距離ｌの移動方向すなわち図中Ｘ方向に対して微小な
角度を持つものと仮定され、間隔ＬのＸ成分はX_Lとさ
れ、間隔ＬのＹ成分はY_Lとされる。そして、調整値は、
この第３図に示す位置関係を基に算出される。補正値が
ない場合については（補正値が有る場合については後述
する。）、例えば光学顕微鏡３の光軸O₃からの第１部品
１の座標が（x₁,y₁）とされ、光学顕微鏡４の光軸O₄か
らの第２部品２の座標が（x₂,y₂）とされるときに、調
整値（Xa,Ya）は、（Xa,Ya）＝（ｌ＋x₁−X_L−x₂,y₁−Y_L−y₂）と表される。

このような調整値に基づき載置台10上に載置された第
２部品２の位置を調整する（OD₄）。

この調整は、調整用テーブル6,7を用いて行われる。
調整用テーブル６により第１図中Ｘ方向の調整が行わ
れ、調整用テーブル７から第１図中Ｙ方向の調整が行わ
れる。すなわち、上記調整値（補正値なし）では、（X
a,Ya）だけ動かせば良い。このように調整用テーブル6,
7を用いて第２部品２が調整位置にセットされた後、上
記移動用テーブル８が作動して第２部品２が載置台10ご
と第１図中Ｘ方向に一定距離ｌだけ移動する（OD₅）。
すると、既に調整がなされているために、コレット９を
下降させ、第２部品２上に第１部品１を組み立てること
ができる。そして、上記移動用テーブル８の作動により
載置台10を戻すと共に組立てられた部品を取り外す（OD
₆）。以後、終了か否かを判断し（OD₇）、終了若しくは
継続の状態に移る。継続の場合では、再び参照作業の時
刻か否かが判断される（OD₀）。

次に、参照作業Ｂについて説明する。通常の組立作業
Ａから参照作業Ｂに移行する場合、参照作業に移行する
時刻か否かで判断される（OD₀）。参照作業を行う時刻
であるとき（YES）では、参照作業Ｂの流れに移る。な
お、必ずしも所要の時刻を基準として参照作業に移るの
ではなく、機械装置温度や室温の変化を検出し、ある温
度で参照作業Ｂに移るようにすることもできる。また、
その他の作業環境の変化に対して参照作業Ｂのループに
進むようにすることも可能である。

参照作業Ｂは次のように進められる。まず、載置台10
に配設された位置基準マーク５を、第２部品２の光学顕
微鏡４の視野内に入れ、その焦点を合わせる（RF₁）。
次に、第２部品２の光学顕微鏡４で位置基準マーク５の
交点の座標（x₄,y₄）を検出し、その位置の座標を記憶
する（RF₂）。続いて移動用テーブル８を作動させ、載
置台10を一定距離ｌだけ移動させる（RF₃）。その移動
後、上記位置基準マーク５を、第１部品１の光学顕微鏡
３の視野内に入れ、その焦点を合わせる（RF₄）。次
に、第１部品１の光学顕微鏡３で位置基準マーク５の交
点の座標（x₃,y₃）を検出し、その位置の座標を記憶す
る（RF₅）。このようなRF₁〜RF₅の動作から、光学顕微
鏡４の光軸O₄からの交点の座標（x₄,y₄）と、光学顕微
鏡３の光軸O₃からの交点の座標（x₃,y₃）とが求められ
る。

次に、第１回目の参照作業か否かが判断される（R
F₆）。第１回目の参照作業である場合（YES）では、初
期相対距離値（Xi,Yi）が求められる（RF₇）。この初期
相対距離値（Xi,Yi）は、光軸間の間隔Ｌや移動テーブ
ル８の移動距離ｌが変化しない時点で求められ、上記座
標（x₃,y₃），座標（x₄,y₄）の記憶から、一例として初
期相対距離値（Xi,Yi）＝（x₃＋x₄,y₃＋y₄）〔但し、座
標の採り方は、光軸O₃を中心とする。〕である。そし
て、このとき初期相対距離値（Xi,Yi）は、（ｌ−X_L,
Y_L）と等しいものとなる。また、初期相対距離値（Xi,Y
i）として、単に各座標値を記憶し保持するだけでも良
い。このような初期相対距離値（Xi,Yi）は、次に説明
する補正値を算出するための基礎データとして用いられ
るものである。従って、第４図に示すように、光軸間の
間隔Ｌや移動テーブル８の移動距離ｌが変化していない
状態で求められる。なお、初期相対距離値として、補正
の必要のない状態での調整値をそのまま用いるようにし
ても良い。なお、第４図中、矩形3a,4aは、それぞれ各
光学顕微鏡3,4に接続されるカメラのモニター画面を示
している。

次に、第１回目の参照作業でない場合すなわち補正値
を位置基準マークの参照情報に基づいて計算する場合に
ついて説明する。まず、例えば第ｎ回目（ｎ≠1,nは自
然数）の参照作業において、判断RF₆ではNO側に進み、
相対距離値（Xn,Yn）を求める。これを第５図を参照し
ながら説明すると、補正値を算出する前提として、移動
用テーブル８の一定距離ｌに誤差Δｌが生じ、光軸O₃,O
₄間の間隔Ｌに誤差が生じてそのＸ成分が（X_L＋ΔX_L）
とされ且つそのＹ成分が（Y_L＋ΔY_L）とされたものとす
る。作業要素RF₁〜RF₅を経ることで、第ｎ回目の参照作
業時の座標データが検出されており、その座標をここで
座標（x_3n,y_3n），座標（x_4n,y_4n）とする。そして、こ
れらの座標値から求められる相対距離値（Xn,Yn）は、
（Xn,Yn）＝（x_3n＋x_4n,y_3n＋y_4n）となる。この相対距
離値（Xn,Yn）は、第５図からも明らかなように、（ｌ
＋Δｌ−X_L−ΔX_L,Δｍ−Y_L−ΔY_L）〔なお、ΔY_Lの絶
対値は第５図中マイナス値である。〕と等しい。

次に、このようにして求められた相対距離値（Xn,Y
n）と初期相対距離値（Xi,Yi）から補正値（ΔX,ΔＹ）
を求めてみる（RF₁₀）。まず。初期相対距離値は、（Xi,Yi）＝（x₃＋x₄,y₃＋y₄）＝（ｌ−X_L,Y_L） …… 次に、相対距離値は、（Xn,Yn）＝（x_3n＋x_4n,y_3n＋y_4n）＝（ｌ＋Δｌ−X_L−ΔX_L,Δｍ−Y_L−ΔY_L） …… である。ここで、これら式−式の辺々減算を考えて
みると、（Xi,Yi）−（Xn,Yn）＝（x_3n＋x_4n−x₃−x₄,y_3n＋y_4n−y₃−y₄）＝（Δｌ−ΔX_L,Δｍ−ΔY_L） …… となる。すなわち、式より相対距離値から初期相対距
離値を差し引いた値は、（Δｌ−ΔX_L,Δｍ−ΔY_L）で
あって、それぞれ生じた誤差を相対量として示すものと
なる。そこで、相対距離値から初期相対距離値を差し引
いた値〔（Xi,Yi）−（Xn,Yn）〕を補正値（ΔX,ΔＹ）
とすることで、一定の移動距離ｌや光軸間の間隔Ｌに生
じた誤差を総合的に数値化できることになる。

このような初期相対距離値や相対距離値を求めた後、
移動用テーブル８を戻し、載置台10を当初の位置に戻す
（RF₈）。以下、通常の組立作業に戻り、判断OD₇等を経
て、上述の組立作業が行われる。特に作業OD₃では、参
照作業Ｂによって求められた補正値（ΔX,ΔＹ）が検出
データに加えられ、一定の移動距離ｌや光軸間の間隔Ｌ
に生じた誤差を含んだ形で調整値（Xa,Ya）が算出され
ることになる。このため、本実施例の組立装置では、参
照作業Ｂを行った後では、一定の移動距離ｌや光軸間の
間隔Ｌの誤差を組立作業に反映させることなく組立作業
が行われることになる。

次に、本実施例の組立装置の有効性を示す実験例I,II
について、第６図〜第８図を参照しながら説明する。

まず、実験例Ｉは、どの程度の誤差が生じるかを実証
するための実験例である。この実験例Ｉの仕様は、光学
顕微鏡3,4として20倍の対物レンズを使用し、CCD（電荷
結合素子）カメラにより画像処理を行っている。データ
は、第２部品２にかかる光学顕微鏡４における位置基準
マーク５の座標を原点（0,0）とし、移動用テーブル８
を作動させ、今度は第１部品にかかる光学顕微鏡３での
位置基準マーク５の位置をＸ成分（第６図中△印で示
す。）,Y成分（第図中○印で示す。）で表示したもので
ある。なお、第６図にはデータと同時にその作業温度に
ついて×印で示している。

このような実験例Ｉの結果を第６図に示す。図からも
明らかなように、経時的に位置基準マーク５の座標が光
学顕微鏡３において変化していることが分る。Ｙ成分で
は、開始時に画素293の位置であったものが、最終的
（約９時間後）に画素284の位置までずれている。Ｙ方
向の１画素は0.67μｍであり、９画素分のずれであるか
ら結局およそ６μｍずれている。Ｘ成分では、開始時に
画素240の位置であったものが、最終的に画素274の位置
までずれている。Ｘ方向の１画素は0.8μｍであり、34
画素分のずれであるから結局およそ28μｍもずれてい
る。

以上の実験例Ｉは、位置基準マークの参照情報によっ
て部品の調整位置を補正しない例であるが、実験例IIで
は、参照作業における参照情報によって部品の調整位置
を補正している。その結果は、第７図および第８図に示
す通りである。

第７図に示す結果からは、Ｘ方向のデータとして、35
9〜360μｍをピークとする分布が得られ、そのばらつき
は８μｍ以下（６σ＝10.4）となっている。また、第８
図に示す結果からは、Ｘ方向のデータとして、87〜88μ
ｍをピークとする分布が得られ、そのばらつきは同様に
８μｍ以下（６σ＝10.6）となっている。このように補
正値（ΔX,ΔＹ）を調整値（Xa,Ya）に加えていくこと
で、位置決めのばらつきは大幅に低減されていくことに
なる。ここで、実験例のサンプル数は50であり、ばらつ
きの中には他のプロセス的な要因も含まれている。

なお、上述の実施例は、好適な一例を示したものであ
り、本発明の組立装置は、その要旨を逸脱しない範囲で
の種々の変更が可能であることは言うまでもない。

〔発明の効果〕

本発明の組立装置は、上述のように、通常の組立作業
に加えて、位置基準マークの参照情報をもって部品の調
整位置を補正するために、高精度の位置決めが可能であ
り、μｍレベルでの組立が実現される。そして、本発明
の組立装置では、作業温度の制御のための装置等も不要
となる。また、本発明はその補正を行うために特別に機
械的に複雑な機構を設けるものでもなく、従って、安価
で且つメンテナンスも容易である。また、画像処理シス
テムとの組み合わせによる自動化を図ることや、温度セ
ンサー等との組合せによる制御も容易となる。

本発明に係る組立装置によれば、位置基準マークは、
１つのみ設けられていることから、作業空間の環境の変
化に伴うマークのズレが無く、各位置検出手段が正確に
参照情報を得ることができ、例えば組立装置が作業空間
の温度変化等の作業環境の変化により微妙に変形された
場合においても、正確に参照情報を得ることができる。

このため本発明の組立装置を製造ラインで用いること
で、信頼性の高い組立作業が行われ、製造コストの低減
も図ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の組立装置の一例を示す要部斜視図、第
２図は本発明の組立装置にかかる組立作業の一例のフロ
ーチャート、第３図は本発明の組立装置にかかる位置検
出手段の光軸の位置関係を示す平面図、第４図は本発明
の組立装置の一例の外乱等のない状態における位置基準
マークの座標を説明するための平面図、第５図は本発明
の組立装置の一例の外乱等の有る状態における位置基準
マークの座標を説明するための平面図、第６図は実施例
に説明する実験例Ｉの実験結果を示す図、第７図は実施
例に説明する実験例IIのＸ方向にかかる実験結果を示す
図、第８図は実施例に説明する実験例IIのＹ方向にかか
る実験結果を示す図である。また、第９図は従来の組立装置の一例を示す斜視図、第
10図は組立作業の概念を示す模式図である。１……第１部品２……第２部品 3,4……光学顕微鏡５……位置基準マーク６……調整用テーブル７……調整用テーブル８……移動用テーブル９……コレット 10……載置台

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】第１部品の支持手段を有し、第１部品の位
置検出手段と第２部品の位置検出手段がほぼ所定の間隔
で配置され、上記第１部品の位置検出手段および上記第
２部品の位置検出手段からの各位置情報に基づいて部品
の位置が調整された後、上記第２部品の載置台がほぼ一
定距離移動され、上記第１部品と上記第２部品の組立を
行う組立装置において、上記第２部品の載置台近傍に１つの位置基準マークが設
けられ、上記位置基準マークを第１部品の位置検出手段
および第２部品の位置検出手段でそれぞれ参照して、上
記第１部品の位置検出手段および第２部品の位置検出手
段によってそれぞれ得られる上記位置基準マークの参照
情報に基づいて部品の調整位置を補正する補正手段を備
える組立装置。