JP3576891B2 - マルチビーム光走査装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザービームプリンタやデジタル複写機等に使用されるマルチビーム光走査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図16は従来例のマルチビーム光走査装置の平面図を示す。複数の発光点を有する半導体レーザー光源1a、1bから射出した光束A、Bは、それぞれコリメータレンズ2で略平行光又は収束光とされ、その光束が開口絞り3で整形され、シリンドリカルレンズ4によって副走査方向にのみ収束して、光偏向器であるポリゴンミラー5の偏向反射面5aの近傍において、主走査方向に長く伸びた焦線状に結像する。矢印R方向に一定角速度で回転しているポリゴンミラー5によって反射され偏向走査された光束は、それぞれfθレンズ6によって感光ドラム等から成る被走査面7上にスポット状に集光し、矢印D方向に一定速度で走査される。このとき、同期検知用のスリット8a、レンズ8b、センサ8cから成る書出し位置検知手段によって、走査光の一部が検出されて書出し位置が検知される。
【0003】
このようなマルチビーム光走査装置においては、図17(a)に示すように複数の光源1a、1bを副走査方向に縦に並べて配置すると、被走査面7上で副走査方向のそれぞれの線の間隔が記録密度よりも大幅に開いてしまう。このために、通常は図17(b)に示すように複数の光源1a、1bを斜めに配置し、その傾斜角度αを調整することによって、被走査面7上の副走査方向の各線の間隔を記録密度に合わせて、正確な調整を行っている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述の従来例のマルチビーム光走査装置においては、複数の光源1a、1bを斜めに配置することによって、これらの光源1a、1bから出射した光束が、図18に示すようにポリゴンミラー5の反射面5a上において、主走査方向に離れた位置に到達し、かつポリゴンミラー5から反射される光束の角度もそれぞれ異なるために、被走査面7上において光束A、Bのように、互いに主走査方向に離れた位置にスポット光が結像することになる。
【0005】
このために、基準とする一方の光源1aが被走査面7上に結像する位置に、他方の光源1bからの光束の結像位置を合わせるように、所定時間δTだけタイミングをずらして画像データを送っている。この所定時間δTだけずれたときのポリゴンミラー5の反射面5aは角度βだけ回転しており、このとき反射される光束Bは光束Aと同じ方向の光束B’の方向に反射されて、スポット光の結像位置が一致する。
【0006】
各ビームそれぞれの被走査面7上での書出し開始点は次のように決定する。即ち、被走査面7の走査方向の上流に設けられた書出し位置検知手段8のセンサ8cに走査光束が到達したタイミングを同期検知として、この同期検知を各ビームそれぞれについて独立に行い、その同期検知結果から所定の遅延時間後を書出し開始としている。ここで、走査光束がセンサ8cに到達するときのタイミングをより正確に検知するために、スリット8aはセンサ8cの前面の走査光束の集光点位置に配置されており、走査光束がこのスリット8aを通過するときの光量の立上がりを検知して同期検知を行っている。
【0007】
スリット8aは複数光源1a、1bからの光束が走査することによって形成する面に対して斜めに配置されていると、各光束の結像位置が主走査方向にずれを生ずる。このために、通常スリット8aは図19に示すように、走査光束が走査することによって形成する面に対して垂直に配置されている。しかしながら、スリット8aが走査光束の走査面に対して垂直に配置されていても、各光束の光量の差や、各光束のスポット形状の差や、各光源光束の立ち上がり特性や、各光束内部の光強度分布の差等の要因によって、各光束の同期検知のタイミングにずれが発生し、その結果として複数光束の結像位置にずれが生じ、印字精度の低下や画質の劣化を招くという問題点が存在する。
【0008】
本発明の目的は、上述の問題点を解消し、走査開始タイミングを検出する検知手段のスリット部材を配置する角度及び位置を最適に設定して、高速かつ高画質なマルチビーム光走査装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するための本発明に係るマルチビーム光走査装置は、複数の光束を発する光源と、偏向器と、該偏向器によって偏向走査された光束を被走査面上に集光する結像光学系と、該走査された複数の光束に対して走査開始タイミングを検知する検知手段とを備えたマルチビーム光走査装置において、前記検知手段の光束入射側に、前記検知手段に入射する光束が走査する平面と直交する面に対し、下記の(1)〜(5)の何れかの手段により決定した角度だけ傾斜させてスリット部材を配置し、該スリット部材を横切る光束の光量の立ち上がりを検出することによって、前記走査開始タイミングの検知を行うことを特徴とする。
(1)前記角度は前記複数の光束の光量の差を基に決定する。
(2)前記角度は前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差を基に決定する。
(3)前記角度は前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性を基に決定する。
(4)前記角度は前記複数の光束の内部光強度分布の差を基に決定する。
(5)前記角度は前記複数の光束の光量の差と、前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差と、前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性と、前記複数の光束の内部光強度分布の差の内の2つ以上の要因の組み合わせを基に決定する。
また、本発明に係るマルチビーム光走査装置は、複数の光束を発する光源と、偏向器と、該偏向器によって偏向走査された光束を被走査面上に集光する結像光学系と、該走査された複数の光束に対して走査開始タイミングを検知する検知手段と、前記複数の光束を少なくとも副走査方向に反射して前記検知手段に導く反射手段とを備えたマルチビーム光走査装置において、前記検知手段の光束入射側に、前記検知手段に入射する光束が走査する平面と直交する面に対し、下記の(1)〜(5)の何れかの手段により決定した角度だけ傾斜させてスリット部材を配置し、該スリット部材を横切る光束の光量の立ち上がりを検出することによって、前記走査開始タイミングの検知を行うことを特徴とする。
(1)前記角度は前記反射手段の反射角度と前記複数の光束の光量の差とを基に決定する。
(2)前記角度は前記反射手段の反射角度と前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差とを基に決定する。
(3)前記角度は前記反射手段の反射角度と前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性とを基に決定する。
(4)前記角度は前記反射手段の反射角度と前記複数の光束の内部光強度分布の差とを基に決定する。
(5)前記角度は前記複数の光束の光量の差と、前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差と、前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性と、前記複数の光束の内部光強度分布の差の内の2つ以上の要因の組み合わせと、前記反射手段の反射角度とを基に決定する。
【0010】
更に、本発明に係るマルチビーム光走査装置は、複数の光束を発する光源と、偏向器と、該偏向器によって偏向走査された光束を被走査面上に集光する結像光学系と、該走査された複数の光束に対して走査開始タイミングを検知する検知手段とを備えたマルチビーム光走査装置において、前記検知手段の光束入射側に、前記検知手段に入射する光束の集光点から、下記の(1)〜(5)の何れかの手段により決定した距離だけずらした位置にスリット部材を配置して、該スリット部材を横切る光束の光量の立ち上がりを検出することによって、前記走査開始タイミングの検知を行うことを特徴とする。
(1)前記距離は前記複数の光束の光量の差を基に決定する。
(2)前記距離は前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差を基に決定する。
(3)前記距離は前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性を基に決定する。
(4)前記距離は前記複数の光束の内部光強度分布の差を基に決定する。
(5)前記距離は前記複数の光束の光量の差と、前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差と、前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性と、前記複数の光束の内部光強度分布の差の内の2つ以上の要因の組み合わせを基に決定する。
本発明に係るマルチビーム光走査装置は、複数の光束を発する光源と、偏向器と、該偏向器によって偏向走査された光束を被走査面上に集光する結像光学系と、該走査された複数の光束に対して走査開始タイミングを検知する検知手段と、前記複数の光束を少なくとも副走査方向に反射して前記検知手段へ導く反射手段とを備えたマルチビーム光走査装置において、前記検知手段の光束入射側に、前記検知手段に入射する光束の集光点から、下記の(1)〜(5)の何れかの手段により決定した距離だけずらした位置にスリット部材を配置して、該スリット部材を横切る光束の光量の立ち上がりを検出することによって、前記走査開始タイミングの検知を行うことを特徴とする。
(1)前記距離は前記反射手段の反射角度と前記複数の光束の光量の差とを基に決定する。
(2)前記距離は前記反射手段の反射角度と前記スリット部材上の前記複数の光束のスポット形状の差とを基に決定する。
(3)前記距離は前記反射手段の反射角度と前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性とを基に決定する。
(4)前記距離は前記反射手段の反射角度と前記複数の光束の内部光強度分布の差とを基に決定する。
(5)前記距離は前記複数の光束の光量の差と、前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差と、前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性と、前記複数の光束の内部光強度分布の差の内の2つ以上の要因の組み合わせと、前記反射手段の反射角度とを基に決定する。
【0011】
【発明の実施の形態】
本発明を図1〜図15に図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
図1は第1の実施例のマルチビーム光走査装置の平面図を示し、2つの半導体光源11a、11bから成る半導体レーザー光源11の前方の光路上には、第1の光学系であるコリメータレンズ12、第2の光学系であるシリンドリカルレンズ13、開口絞り14、矢印R方向に一定角速度で回転している光偏向器であるポリゴンミラー15が順次に配列されている。ポリゴンミラー15の反射方向には、第3の光学系であるfθレンズ16、感光ドラム等の被走査面17が配置されている。
【0012】
また、各ビームそれぞれの被走査面17上での書出し開始点を決定するために、スリット18a、レンズ18b、センサ18cから成る書出し位置検知手段18が、被走査面17の走査方向上流位置に設けられている。ここで、スリット18aは走査光束がセンサ18cに到達するタイミングをより正確に検知するために、センサ18c前方の走査光束の集光点位置に配置されている。
【0013】
このような構成により、半導体レーザー光源11から射出した光束は、コリメータレンズ12で略平行光又は収束光とされ、シリンドリカルレンズ13によって副走査方向にのみ収束し、開口絞り14を通って光束幅が制限されて、ポリゴンミラー15の偏向反射面15a上において、主走査方向に長く伸びる焦線状に結像する。そして、ポリゴンミラー15によって反射され偏向走査された光束は、fθレンズ16によって感光ドラムの被走査面17上にスポット状に集光して、矢印D方向に一定速度で走査される。
【0014】
このとき、書出し位置検知手段18のセンサ18cに走査光束が到達するタイミングを同期検知とし、この同期検知を各ビームそれぞれについて独立に行い、その同期検知から所定の遅延時間後を書出し開始とする。即ち、図2に示すように、走査光束がスリット18aを通過するときのセンサ18cの出力が、或る一定のスライスレベルS以上になったときに同期検知信号が出力され、この時点から一定時間t1後に画像信号が送られる。この動作をそれぞれの光束に対して行うことによって、各光束の書出し位置を一致させることができる。
【0015】
従来例の場合では、スリット18aは光束が走査する面に対して垂直に配置されているが、各光束においてその光量、スリット18a上でのスポット形状、各光束に対応する光源の光量や立ち上がり特性、光束内部の光強度分布などが完全に同じではないために、これらの要因による相対的な差異があり、このためにそれぞれの光束の書出し位置に誤差が発生する。例えば、印字品質の向上を目的としてスポット径を小さくしたり、或いは印字領域を広げた場合などでは、ポリゴンミラー15の偏向反射面15aに余裕がなくなるので、例えば書出し位置検知に使用する同期検知光束を意識的に外して使用する必要が生ずる。
【0016】
その場合には、それぞれの光源11a、11bから出射した光束は、ポリゴンミラー15の偏向反射面15a上で主走査方向に位置がずれているために、光束のけられ量が同一とはならず、その結果として光量に差が生ずる。例えば図1においては、光源11aに対応する光束Aのけられ量の方が、光源11bに対応する光束Bのけられ量よりも大きくなり、前者の同期検知光の方が光量が小さくなる。
【0017】
このように、光源11a、11bに対応するそれぞれの同期検知光A、Bに光量差がある場合には、図3に示すように光源11aに対応する同期検知信号の出力と、光源11bに対応する同期検知信号の出力のタイミングにδt2だけのずれが発生し、この結果として両者の書出し位置がδt2に相当する量だけずれることになる。即ち、スリット18a上での各光束の主走査方向の走査速度をVmm/秒とすると、δt2秒だけ同期検知信号の出力タイミングにずれが生じた場合には、δY(mm)=V・δt2だけ光源11bに対応する光束の書出し位置が遅れることになる。
【0018】
従って、本実施例においては、ずれ量δYを補正するために、スリット18aが同期検知光が走査する平面と直交する面に対して所定角度傾けて配置されている。具体的には、副走査の解像度が600DPIの場合には、スリット18a上での2本の走査線の副走査方向の離間距離は0.04233mmであるから、スリット18aは図4に示す方向にθ=tan−1(δY/0.04233)度だけ傾ければよい。
【0019】
図5は第2の実施例のセンサ18cの出力グラフ図を示し、第1の実施例において光束A、Bのけられ量に差がある場合には、光量に差が発生するだけでなく、スリット18a上での主走査方向のスポット形状にも差が生ずる。具体的には、光束Bの光束幅よりも光束Aの光束幅の方が狭くなるために、射出時の光束AのFナンバが光束Bに比べて暗くなり、スリット18a上でのスポット形状は、光束Aの主走査方向のスポット径が光束Bのスポット径に比べて大きくなる。
【0020】
このように、主走査方向のスポット径が大きくなると、スリット18aを通過する時間が長くなるために、光量及び主走査方向スポット径に差がある2つのスポット光束がスリット18a上を走査するときに、センサ18cの出力が図5に示すようにδt3だけずれる。その結果、δY(mm)=V・δt3だけ光源11bに対応する光束Bの書出し位置にずれが生ずることになる。
【0021】
このために、本実施例においても、光源11a、11bに対応する光束A、Bのスリット18a上でのスポット形状及び光量の差により生ずる書出し位置ずれδYを補正するために、同期検知光が走査する平面と直交する面に対して、スリット18aが所定角度傾けて配置されている。
【0022】
図6は第3の実施例の発光光量制御のタイミングの説明図を示す。レーザービームプリンタやデジタル複写機等に使用される光走査装置においては、通常では印字品質を高品位にするために、光源11a、11bの発光光量を制御している。例えばレーザー光源には、通常自己の発光光量をモニタするために、パッケージ内部にフォトダイオードが設けられており、このフォトダイオードからの出力電流つまりモニタ電流の値をモニタすることによって、所定の発光光量になるようにレーザー駆動電流を調節して発光光量を制御することが可能である。
【0023】
この発光光量の制御は、画像範囲内において実時間で行うことが理想ではあるが、マルチビームレーザー光を使用した光走査装置においては、複数の光源11a、11bが同時に発光する場合があるので、実時間で発光光量を制御することは不可能である。従って、1走査毎に同期検知の直前にそれぞれの光源11a、11bを時間的に独立に発光し、そのときのモニタ電流からレーザー駆動電流を決定している。
【0024】
図6(a)は光源11a、11bそれぞれに対応するスポット光A、Bが、共にスリット18aまで到達していないときの位置関係を表している。このときには、先ず光源11aだけを発光して、モニタ電流から光源11aの駆動電流を決定する。また、図6(b)は光源11aに対応するスポット光Aだけがスリット18aを通過して、光源11bに対応するスポット光Bはスリット18aの手前にある状態を表している。このときには、スポット光Aはスリット18aを通過しているので、光源11aに対しては同期検知は完了している。従って、同期検知完了直後に光源11aを消灯し、直ちに光源11bを発光する。その後に、光源11bもスリット18aを通過した図6(c)に示すような状態になったときに、光源11bに対しての同期検知を完了する。
【0025】
モニタ電流の立ち上がりを、受光光量の立ち上がりと完全に一致させることは不可能であり、モニタ電流の立ち上がりの方が受光光量の立ち上がりよりも遅れる場合が普通である。その場合には、レーザー駆動電流はモニタ電流を基にフィードバックをかけているので、モニタ電流の立ち上がり特性が悪いと発光光量が低いと見做して、図7に示すように光量のオーバシュートが発生する。
【0026】
ここで、図6(b)に示した状態から光源11bのスポット光Bがスリット18aを通過する時間が短い場合には、光源11bの光量がオーバシュートしている状態で同期検知を行ってしまうことがある。その場合には、光源11aと11bの間に光量差のある状態でセンサ18cの出力による同期検知を行うことになり、図8に示すように書出位置のずれδt4が発生し、その結果δY(mm)=V・δt4だけ光源11bに対応する光束Bの書出し位置が遅れることになる。
【0027】
本実施例においては、このような光源自身の立ち上がり特性によって生ずるずれδt4に起因する書出し位置ずれを補正するために、同期検知光が走査する平面と直交する面に対して、スリット18aが所定角度傾けて配置されている。
【0028】
図9は第4の実施例を示し、(a)に示すようにマルチビームレーザー光源11a、11bから出射された光束が、コリメータレンズ12によって略平行光或いは収束光に変換される場合に、(b)、(c)に示すようにそれぞれの光束の主走査方向の内部光強度分布に違いが生ずる。このように、光束内部の光強度分布に違いのある光束がスポット状に結像する場合には、図10に示すように光源11aのスポット光Aと光源11bのスポット光Bとで、そのスポット断面の主走査方向の強度分布に違いが発生する。
【0029】
このように強度分布が異なるスポット光A、Bがスリット18aを横切ると、図11に示すように光源11aに対応する同期検知信号と光源11bに対応する同期検知信号との出力のタイミングに、δt5だけのずれが発生する。その結果、δY(mm)=V・δt5だけ光源11bに対応する光束Aの書出し位置がずれる。
【0030】
本実施例においては、このようなそれぞれの光束の主走査方向の内部光強度分布の相違によって生ずるδt5に起因する書出し位置ずれを補正するために、同期検知光が走査する平面と直交する面に対して、所定角度傾けてスリット18aが配置されている。
【0031】
以上の第1〜第4の実施例においては、書出し位置にずれが生ずる要因がそれぞれ単独に存在するとは限らないので、その場合にはその主たる要因の複数の組み合わせを考慮して所定角度を決定すればよい。更に、全ての要因を考慮して所定角度を決定すれば、より一層書出し位置ずれを正確に補正することが可能となる。
【0032】
図12は第5の実施例の主走査断面の平面図、図13は被走査面側から見た同期検知光の副走査断面の側面図を示す。同期検知光のみを反射する折返しミラー19が設けられ、折返しミラー19の反射方向にスリット18a、レンズ18b、センサ18cが配置されている。このように、同期検知光を偏向主走査面内では所定角度で折り曲げ、更に副走査方向にも所定角度で反射することによって、光学ハウジングをできるだけ小さくしてスキャナユニットとしての小型化を達成している。
【0033】
折返しミラー19により同期検知光を副走査方向に所定角度で折り返す配置の場合には、同期検知光が走査する面は走査光が走査する偏向主走査面に対して傾いてしまうために、同期検知光はスリット18a上を図14(a)に示すように斜めに走査することになる。このように、同期検知光がスリット18a上を斜めに走査すると、tan(θbd)だけ光源11aの光束Aの書出しタイミングが進んでしまうために、従来例では図14(b)に示すようにスリット18aをθbdだけ傾けて同期検知光の走査する面と垂直になるように設定している。
【0034】
しかし、このように同期検知光の走査する面と垂直になるようにスリット18aを配置しただけでは、光量の差、スポット形状の差、光源自身の光量の立ち上がり特性、光束の内部光強度分布の差等が存在する場合には、書出し位置にずれが発生する。例えば光量の差がある場合には、δY(mm)=V・δt2だけ光源11bに対応する光束Bの書出し位置が遅れることになる。
【0035】
このために、本実施例では図14(c)に示すように、同期検知ミラー19に同期検知光を副走査方向に所定角度で反射させた場合の、スリット18a上における光束の走査する角度θbdと、例えば600DPIの場合のずれ量δYを補正する角度θ=tan−1 (δY/0.04233)とを合計した量だけ、スリット18aを傾けて配置することによって、より正確に書出し位置のずれを補正している。
【0036】
このとき、書出し位置ずれが生ずる要因は光源1a、1bにそれぞれに単独に存在するとは限らないために、その場合には折返しミラー19によって同期検知光を副走査方向に所定角度で反射させた場合の、スリット18a上における光束の走査する角度θbdと、その主たる要因の複数の組み合わせとを考慮して所定角度を決定する。更に、全ての要因を考慮して所定角度を決定すれば、より一層正確に書出し位置ずれを補正することができる。
【0037】
図15は第6の実施例を示し、第1〜第5の実施例では、書出し位置ずれを補正するためにスリット18aを傾けて配置したが、スリット18aの角度は垂直のままで、その位置をずらすことによって書出し位置ずれを補正することもできる。図15(a)は矢印C方向に走査されている光束A、Bがスリット18aに到達する様子を示している。光束Aがスリット18aの端面に到達してからδT後に、光束Bがスリット18aの端面に到達する。
【0038】
この状態で書出し位置ずれを発生させる誤差要因が全くなければ、スリット18aの位置はこのままでよいが、実際には各光束A、Bにおいて、その光量、スリット18a上でのスポット形状、各光束に対応する光源の光量立ち上がり特性、光束内部の光強度分布などが完全に同じではないために、書出し位置にずれが発生する。例えば、光量差があるとδY(mm)=V・δt2だけ光源11bに対応する光束Bの書出し位置が遅れることになる。
【0039】
従って、本実施例においては、図15(b)に示すようにずれδYを補正するために、スリット18aをL=2・tan(δY/2)だけ集光点の後方に配置している。このように配置することによって、同期検知光Aは規定の時間よりも遅くスリット18aの端面に到達し、一方で同期検知光Bは規定の時間よりも早くスリット18aの端面に到達する。この結果、光源11bに対応する光束Bの書出し位置を光束Aと同じ位置まで進めることができる。
【0040】
このとき、書出し位置にずれが生ずる要因が光源1a、1bそれぞれに単独に存在するとは限らないので、その主たる要因の複数の組み合わせを考慮して所定のずらし量Lを決定する。更に、全部の要因を考慮して所定角度を決定すれば、より一層正確に書出し位置ずれを補正することができる。
【0041】
また、第5の実施例で述べたように、折返しミラー19によって同期検知光を副走査方向に所定角度で反射させた場合の、スリット18a上における光束の走査する角度θbdによって、発生する書出し位置ずれを補正するようにずらし量Lを決定してもよい。更に、光量の差、スポット形状の差、光源自身の光量の立ち上がり特性、光束の内部光強度分布の差等の影響を考慮してずらし量Lを決定すれば、より効果的である。
【0042】
以上の実施例において、スリット18aの傾き角度・ずらし量Lを予め決定しておいてもよいが、光量の差、スポット形状の差、光源自身の光量の立ち上がり特性、光束の内部光強度分布の差等の誤差要因にばらつきがある場合には、傾き角度・ずらし量を調整可能とする構成としてもよい。
【0043】
【発明の効果】
以上説明したように本発明に係るマルチビーム光走査装置は、各同期検知光が通過するスリット部材を、検知手段への入射光束の走査平面と直交する面に対して所定角度傾けて配置することにより、スリット部材を横切る光束の光量の立ち上がりから走査開始タイミングの検知を正確に行って、高速かつ高画質の画像を形成する。
【0044】
また、本発明に係るマルチビーム光走査装置は、各同期検知光が通過するスリット部材を、検知手段への入射光束の集光点から所定距離ずらした位置に配置することによって、スリット部材を横切る光束の光量の立ち上がりから走査開始タイミングの検知を正確に行って、高速かつ高画質の画像を形成する。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施例のマルチビーム光走査装置の平面図である。
【図2】同期検知信号と画像信号のグラフ図である。
【図3】光量差による同期検知信号のずれの説明図である。
【図4】ずれ補正のためのスリットの傾け方の説明図である。
【図5】第2の実施例の同期検知信号のずれのグラフ図である。
【図6】第3の実施例の同期検知における発光光量制御の説明図である。
【図7】光量のオーバシュートのグラフ図である。
【図8】光源の立ち上がり特性による同期検知信号のずれのグラフ図である。
【図9】第4の実施例の複数光束の内部光強度分布の説明図である。
【図10】光強度分布に差がある場合のスポット光の強度分布のグラフ図である。
【図11】光強度分布に差がある場合の同期検知信号のずれのグラフ図である。
【図12】第5の実施例のマルチビーム光走査光学装置の平面図である。
【図13】側面図である。
【図14】光量差がある場合のスリットの傾け方の説明図である。
【図15】第6の実施例のずれ補正のためのスリットのずらし方の説明図である。
【図16】従来例のマルチビーム光走査装置の平面図である。
【図17】複数光源の配置の説明図である。
【図18】画像書込みタイミングの平面図である。
【図19】スリットの配置の説明図である。
【符号の説明】
11 半導体レーザー光源
13 シリンドリカルレンズ
14 絞り
15 ポリゴンミラー
16 fθレンズ
17 被走査面
18 位置検知手段
18a スリット
18c センサ
19 折返しミラー
Claims (7)
- 複数の光束を発する光源と、偏向器と、該偏向器によって偏向走査された光束を被走査面上に集光する結像光学系と、該走査された複数の光束に対して走査開始タイミングを検知する検知手段とを備えたマルチビーム光走査装置において、前記検知手段の光束入射側に、前記検知手段に入射する光束が走査する平面と直交する面に対し、下記の(1)〜(5)の何れかの手段により決定した角度だけ傾斜させてスリット部材を配置し、該スリット部材を横切る光束の光量の立ち上がりを検出することによって、前記走査開始タイミングの検知を行うことを特徴とするマルチビーム光走査装置。
(1)前記角度は前記複数の光束の光量の差を基に決定する。
(2)前記角度は前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差を基に決定する。
(3)前記角度は前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性を基に決定する。
(4)前記角度は前記複数の光束の内部光強度分布の差を基に決定する。
(5)前記角度は前記複数の光束の光量の差と、前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差と、前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性と、前記複数の光束の内部光強度分布の差の内の2つ以上の要因の組み合わせを基に決定する。 - 複数の光束を発する光源と、偏向器と、該偏向器によって偏向走査された光束を被走査面上に集光する結像光学系と、該走査された複数の光束に対して走査開始タイミングを検知する検知手段と、前記複数の光束を少なくとも副走査方向に反射して前記検知手段に導く反射手段とを備えたマルチビーム光走査装置において、前記検知手段の光束入射側に、前記検知手段に入射する光束が走査する平面と直交する面に対し、下記の(1)〜(5)の何れかの手段により決定した角度だけ傾斜させてスリット部材を配置し、該スリット部材を横切る光束の光量の立ち上がりを検出することによって、前記走査開始タイミングの検知を行うことを特徴とするマルチビーム光走査装置。
(1)前記角度は前記反射手段の反射角度と前記複数の光束の光量の差とを基に決定する。
(2)前記角度は前記反射手段の反射角度と前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差とを基に決定する。
(3)前記角度は前記反射手段の反射角度と前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性とを基に決定する。
(4)前記角度は前記反射手段の反射角度と前記複数の光束の内部光強度分布の差とを基に決定する。
(5)前記角度は前記複数の光束の光量の差と、前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差と、前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性と、前記複数の光束の内部光強度分布の差の内の2つ以上の要因の組み合わせと、前記反射手段の反射角度とを基に決定する。 - 前記スリット部材の角度を調整可能とした請求項1又は2に記載のマルチビーム光走査装置。
- 複数の光束を発する光源と、偏向器と、該偏向器によって偏向走査された光束を被走査面上に集光する結像光学系と、該走査された複数の光束に対して走査開始タイミングを検知する検知手段とを備えたマルチビーム光走査装置において、前記検知手段の光束入射側に、前記検知手段に入射する光束の集光点から、下記の(1)〜(5)の何れかの手段により決定した距離だけずらした位置にスリット部材を配置して、該スリット部材を横切る光束の光量の立ち上がりを検出することによって、前記走査開始タイミングの検知を行うことを特徴とするマルチビーム光走査装置。
(1)前記距離は前記複数の光束の光量の差を基に決定する。
(2)前記距離は前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差を基に決定する。
(3)前記距離は前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性を基に決定する。
(4)前記距離は前記複数の光束の内部光強度分布の差を基に決定する。
(5)前記距離は前記複数の光束の光量の差と、前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差と、前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性と、前記複数の光束の内部光強度分布の差の内の2つ以上の要因の組み合わせを基に決定する。 - 複数の光束を発する光源と、偏向器と、該偏向器によって偏向走査された光束を被走査面上に集光する結像光学系と、該走査された複数の光束に対して走査開始タイミングを検知する検知手段と、前記複数の光束を少なくとも副走査方向に反射して前記検知手段へ導く反射手段とを備えたマルチビーム光走査装置において、前記検知手段の光束入射側に、前記検知手段に入射する光束の集光点から、下記の(1)〜(5)の何れかの手段により決定した距離だけずらした位置にスリット部材を配置して、該スリット部材を横切る光束の光量の立ち上がりを検出することによって、前記走査開始タイミングの検知を行うことを特徴とするマルチビーム光走査装置。
(1)前記距離は前記反射手段の反射角度と前記複数の光束の光量の差とを基に決定する。
(2)前記距離は前記反射手段の反射角度と前記スリット部材上の前記複数の光束のスポット形状の差とを基に決定する。
(3)前記距離は前記反射手段の反射角度と前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性とを基に決定する。
(4)前記距離は前記反射手段の反射角度と前記複数の光束の内部光強度分布の差とを基に決定する。
(5)前記距離は前記複数の光束の光量の差と、前記スリット部材上での前記複数の光束のスポット形状の差と、前記複数の光源自身の光量の立ち上がり特性と、前記複数の光束の内部光強度分布の差の内の2つ以上の要因の組み合わせと、前記反射手段の反射角度とを基に決定する。 - 前記スリット部材をずらす距離を調整可能とした請求項4又は5に記載のマルチビーム光走査装置。
- 請求項1〜請求項6の少なくとも何れか1つの請求項に記載のマルチビーム光走査装置を搭載した画像形成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28846799A JP3576891B2 (ja) | 1999-01-26 | 1999-10-08 | マルチビーム光走査装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1746399 | 1999-01-26 | ||
JP11-17463 | 1999-01-26 | ||
JP28846799A JP3576891B2 (ja) | 1999-01-26 | 1999-10-08 | マルチビーム光走査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000284194A JP2000284194A (ja) | 2000-10-13 |
JP3576891B2 true JP3576891B2 (ja) | 2004-10-13 |
Family
ID=26353974
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28846799A Expired - Fee Related JP3576891B2 (ja) | 1999-01-26 | 1999-10-08 | マルチビーム光走査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3576891B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003107378A (ja) | 2001-10-01 | 2003-04-09 | Canon Inc | マルチビーム走査装置及びそれを用いた画像形成装置 |
JP2012118214A (ja) * | 2010-11-30 | 2012-06-21 | Kyocera Document Solutions Inc | 光走査装置及び画像形成装置 |
-
1999
- 1999-10-08 JP JP28846799A patent/JP3576891B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000284194A (ja) | 2000-10-13 |
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Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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