JP3547470B2 - 基板キャリア - Google Patents

基板キャリア Download PDF

Info

Publication number
JP3547470B2
JP3547470B2 JP03393194A JP3393194A JP3547470B2 JP 3547470 B2 JP3547470 B2 JP 3547470B2 JP 03393194 A JP03393194 A JP 03393194A JP 3393194 A JP3393194 A JP 3393194A JP 3547470 B2 JP3547470 B2 JP 3547470B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate carrier
coating
main surface
machined
opposite
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP03393194A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0790590A (ja
Inventor
マールテン・ヘンドリック・ハーフケンス
マリヌス・オット・シールケン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xycarb BV
Original Assignee
Xycarb BV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xycarb BV filed Critical Xycarb BV
Publication of JPH0790590A publication Critical patent/JPH0790590A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3547470B2 publication Critical patent/JP3547470B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68714Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
    • H01L21/68757Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a coating or a hardness or a material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68714Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
    • H01L21/6875Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a plurality of individual support members, e.g. support posts or protrusions
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/30Self-sustaining carbon mass or layer with impregnant or other layer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、処理される基板を支持するための機械加工された主表面と全側面上のコーティングとを具備している平坦な基板キャリアに関する。
【0002】
【従来の技術】
このような基板キャリアは米国特許第 4,821,674号明細書から公知であると考えられ得る。
【0003】
基板の中央に垂直に延在する軸の周りの回転のために単一の基板を支持するためのいわゆるサセプタの形状をしていて、集積回路を製造するのに使用される型のCVD(化学的蒸気沈積)チャンバ内で使用することが意図される公知の基板キャリアは、処理に続いて主表面から処理された基板を取出すために機械加工されており、コーティングが施されてしまった後には望ましくない撓曲特性を有する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、コーティングが施された後も平坦であり続けるであろう平坦な基板キャリアを提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
その目的を達成するために、本発明は、基板キャリアの主表面の反対側の表面が、2つの表面に於ける機械的応力が互いにほぼ相殺し合っているような機械加工或いは処理が為されることを特徴とする、冒頭部で述べられたような基板キャリアを提供することである。
【0006】
主表面は上記で述べられたものとは別の理由のために、例えばCVDチャンバ内の基板キャリアの最適な温度分布を確実にするために、機械加工され得る。
提案された処理は色々な厚さで前記2つの表面上に夫々コーティングを施すことを有し得る。
【0007】
提案された処理は色々な厚さで前記2つの表面上に夫々コーティングを施すことを有し得る。
【0008】
【実施例】
図1に示されるように、提案された基板キャリアは、平面図で見た時に公知の基板キャリアと必ずしも異なってはいない。図1に於て、この場合回転可能な環状で平坦な単一基板用キャリア即ち単一のウエーハ用サセプタの形状の基板キャリアが参照番号1で指示され、その主表面は参照番号2で示される。基板キャリア1はグラファイト、カーボン、セラミックス、金属、或いは合金をベースにした材料を具備し得るものであり、全側面上にCVD処理によって施され得る、例えばシリコン・カーバイド、熱分解グラファイト、窒化アルミニウム、酸化アルミニウム、或いは窒化シリコンのコーティングを施される。主表面2は環状の直立縁部3を具備し、その中にウエーハ(図示されていない)が収容され得る。しかし技術的観点から前記縁部3を省くことも可能である。この場合、基板キャリア1の主表面2は、縁部3内で機械加工されており、また前記機械加工された表面の小さい一部分が概略的に図示され、参照番号4で指示される。
【0009】
図2は、基板キャリア1の底面図を示す。参照番号10は基板キャリア1の主表面2の反対側の表面を指示し(図1参照)、参照番号11は中心の盲穴を指示し、参照番号12はCVDチャンバ内で基板キャリアを支持し駆動するために働く閉鎖端部を持つほぼ環状のスロットを指示する。この点までは、図2の底面図も公知のサスセプタの底面図と同じであり得る。
【0010】
本発明による基板キャリア1は必ずしも環状または回転可能でなくても良い、或いは単一の基板を保持するために準備されなければならないものでもないことを、これらの特徴が現在一般的であるものを反映しているが、付記する。例えば、長方形の形状を有し、回転可能ではない幾つかの基板を支持するのに適している平坦な基板キャリアが予期される。更に本発明の基板キャリアは、CVD処理以外の他の処理、例えばPVD処理のような別の蒸気沈積処理で利用され得るということが予期される。
【0011】
図1に戻って、基板キャリア1はその主表面2に機械加工された輪郭4を具備する。その理由は、そのような輪郭4が具備されないと、例えばドープ処理されたシリコンのエピタキシャル成長に従って、例えば基板が基板キャリア1の主表面2にくっつくであろうからである。このことは基板の自動取出しを深刻に妨害するであろう。
【0012】
提案された基板キャリア1は、一般に全側面上にコーティングが施され、処理される基板を支持するための主表面2を有する平坦な基板キャリア1であり、その主表面は処理に続いて主表面2から処理された基板を取出すために機械加工されている(参照番号4参照)。
【0013】
本発明によると、図2で参照番号13で指示されているように、基板キャリア1の主表面2(図1参照)の反対側の表面10(図2参照)は、2つの表面2、10に於ける機械的応力が互いにほぼ相殺し合って、その結果コーティングが施された後に、基板キャリア1の著しい反りが生じない方法で機械加工されている。
【0014】
ここで想定されるように、前述の機械的応力は熱膨張率及び機械加工された表面上のコーティングの厚さの違いによってまた同じくコーティング時の、恐らくディスロケーションに因る、内側応力によって決定される。
【0015】
本発明によると、図面には示されていないが、基板キャリア1の主表面(図1)と反対側の表面10(図2参照)は、2つの表面2、10に於ける機械的応力が互いにほぼ相殺し合って、その結果反りは殆ど生じなくなるように処理されることができ、それによって前記処理は、例えば反対側の表面10及び主表面2との上のコーティングに対して別の厚さを取り得ることであり得る。
【0016】
機械加工が行われる場合に、反対側の表面10(図2参照)は、主表面(図1参照)とほぼ同じ領域に機械加工されることが好ましい。更に、主表面2(図1参照)と同じ方法で反対側の表面10(図2参照)に機械加工されることが好ましい。前記機械加工は、図3に更に詳細が示されるように、溝4(図1参照)及び13(図2参照)のパターンを提供することを具備し得る。勿論、別の輪郭も可能であり、当業者は、どのような方法で、例えば材料除去作業即ちEDM作業によって、その後に基板キャリアは例えば耐火層で全側面を被覆されるであろうような輪郭が基板キャリアに具備されことができるかを知っているであろう。
【0017】
処理が行われる場合、その処理は物理的或いは化学的コーティングであり得るが、機械加工の輪郭13が全く存在しない場合の反対側の表面(図2参照)に生成されたコーティングの厚さは、主表面の最大のコーティングの厚さよりも薄いであろうような処理であり得る。その理由は、溝のパターン13が反対側の表面10
(図2参照)に全く存在しないので、そこに形成されたコーティングは均一の厚さを持つであろうが、一方機械加工のパターン4(図1参照)上に存するコーティングは、輪郭4の突出部20上のコーティングの厚さが傾斜部21上及び谷間部22よりも厚くなり、図3を再び参照すると前記谷間部の厚さは効果的により薄くなっているからである。
【0018】
コーティングの厚さは1乃至1,000μmにあり得る。±200mmの直径と縁部3内に9mmの厚さを持ち、全側面上にCVDシリコン・カーバイドの約100ミクロンのコーティングを施されたグラファイトの基板キャリア1の形状の試作品では、図1及び2の主表面2は、機械加工が一方の側面(4)上で行われた時、その位置で0.8mmの凹状を示したが、一方図1乃至3の通り機械加工が両側面(4、13)上で行われれた時、前記凹状は0.05mmまで減少していることがわかった。
【0019】
同じような結果が、これの代りにまだ機械加工されていない反対側の側面10
(図2参照)上のコーティングの厚さを薄くした時に得られた。主表面2と反対側の表面10に薄い厚さのコーティングを施す方法は、当業者に公知である。
【0020】
要約すると、本発明は、個々に或いは互いに組合せて使用される時に、平坦で、薄い基板キャリアになる同じ原理に基いた2つの方法を提供する。1つの方法は、基板キャリアの裏側面に基板キャリアの上表側面と同じ機械加工を施すことを具備し、2つ目の方法は前記2つの側面上のコーティングに別々の厚さを使用することを具備する。両方の方法は互いに相殺し合う機械的応力を与えて、基板キャリアは平坦なままであることを確実にする。
【図面の簡単な説明】
【図1】提案された基板キャリアの実施例の平面図。
【図2】図1の基板キャリアの底面図。
【図3】提案された基板キャリアの適切な溝の輪郭の拡大図。
【符号の説明】
1…基板キャリア、2…主表面、3…円形直立縁部、4…機械加工された輪郭(溝型パターン)、10…2の反対側の表面、11…盲孔、12…円形スロット、13…輪郭(溝型パターン)、20…突出部、21…傾斜部、22…谷間部。

Claims (12)

  1. 処理されるべき基板を支持し、そこからの取り出しを容易にする為に機械加工された主表面を有する平坦な基板キャリヤであり、前記基板キャリヤが全ての表面に施されたコーティングを有し基板キャリヤの主表面の反対側の表面が、両方の表面の機械的ストレスが互いにほぼ相殺し合うような処理を施されていることを特徴とする前記平坦な基板キャリア。
  2. 前記処理が前記表面の機械加工された輪郭を与える機械加工工程であることを特徴とする請求項1記載の基板キャリア。
  3. 前記機械加工された輪郭を与える機械加工工程が主表面とほぼ同じ面積に亘って施される事を特徴とする請求項記載の基板キャリア。
  4. 前記反対側表面が主表面と同じ機械加工された輪郭を与える処理工程の行われている事を特徴とする請求項1−3の何れか1項記載の基板キャリア。
  5. 前記処理工程が前記反対側表面のコーティングであることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項記載の基板キャリア。
  6. 前記反対側表面のコーティングの厚さが主表面のコーティングの最大厚さよりも薄いことを特徴とする請求項記載の基板キャリア。
  7. 前記反対側表面が前記主表面のコーティングと同じコーティングを有することを特徴とする請求項5或いは6の何れか1項記載の基板キャリア。
  8. 前記基板キャリアがグラファイト、カーボン、セラミックス、金属、或いは合金を具備することを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項記載の基板キャリア。
  9. 前記コーティングがシリコン・カーバイド、熱分解グラファイト、アルミニウム窒化物、アルミニウム酸化物、或いはシリコン窒化物を具備することを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項記載の基板キャリア。
  10. 前記コーティングの厚さが1乃至1,000μmにあることを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項記載の基板キャリア。
  11. 処理されるべき基板を支持し、そこからの取り出しを容易にする為に機械加工された輪郭を有する主表面を具備する基板キャリヤを製造する方法であり、前記基板キャリヤがコーティング処理を施され、主表面上と主表面の反対側の基板キャリヤの表面上とのコーティングが、両方の表面の機械的ストレスが互いにほぼ相殺し合うようにされいることを特徴とする前記製造方法
  12. 前記コーティング処理に先立って、機械加工された輪郭を前記反対側の表面に機械加工処理で与える方法であり、主表面の機械加工された輪郭と反対表面の機械加工された輪郭が、両方の表面の機械的ストレスが互いにほぼ相殺し合っている、請求項11記載の製造方法
JP03393194A 1993-03-04 1994-03-03 基板キャリア Expired - Lifetime JP3547470B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL9300389 1993-03-04
NL9300389A NL9300389A (nl) 1993-03-04 1993-03-04 Substraatdrager.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0790590A JPH0790590A (ja) 1995-04-04
JP3547470B2 true JP3547470B2 (ja) 2004-07-28

Family

ID=19862131

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP03393194A Expired - Lifetime JP3547470B2 (ja) 1993-03-04 1994-03-03 基板キャリア

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5403401A (ja)
EP (1) EP0614212B1 (ja)
JP (1) JP3547470B2 (ja)
DE (1) DE69415838T2 (ja)
NL (1) NL9300389A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011065776A2 (ko) * 2009-11-27 2011-06-03 주성엔지니어링(주) 트레이와 이를 이용한 기판 처리 장치, 및 트레이의 제조 방법

Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5531835A (en) * 1994-05-18 1996-07-02 Applied Materials, Inc. Patterned susceptor to reduce electrostatic force in a CVD chamber
US6086680A (en) * 1995-08-22 2000-07-11 Asm America, Inc. Low-mass susceptor
US6113702A (en) * 1995-09-01 2000-09-05 Asm America, Inc. Wafer support system
AU6962196A (en) 1995-09-01 1997-03-27 Advanced Semiconductor Materials America, Inc. Wafer support system
US6001183A (en) * 1996-06-10 1999-12-14 Emcore Corporation Wafer carriers for epitaxial growth processes
US5814561A (en) * 1997-02-14 1998-09-29 Jackson; Paul D. Substrate carrier having a streamlined shape and method for thin film formation
JP2001522142A (ja) 1997-11-03 2001-11-13 エーエスエム アメリカ インコーポレイテッド 改良された低質量ウェハ支持システム
US6340090B1 (en) 1999-01-07 2002-01-22 Tooltek Engineering Corporation Substrate fixturing device
USD422866S (en) * 1999-01-07 2000-04-18 Tooltek Engineering Corporation Substrate fixturing device
US6410172B1 (en) 1999-11-23 2002-06-25 Advanced Ceramics Corporation Articles coated with aluminum nitride by chemical vapor deposition
US6634882B2 (en) 2000-12-22 2003-10-21 Asm America, Inc. Susceptor pocket profile to improve process performance
US7033445B2 (en) * 2001-12-27 2006-04-25 Asm America, Inc. Gridded susceptor
US7070660B2 (en) * 2002-05-03 2006-07-04 Asm America, Inc. Wafer holder with stiffening rib
US20050170314A1 (en) * 2002-11-27 2005-08-04 Richard Golden Dental pliers design with offsetting jaw and pad elements for assisting in removing upper and lower teeth and method for removing teeth utilizing the dental plier design
US6709267B1 (en) 2002-12-27 2004-03-23 Asm America, Inc. Substrate holder with deep annular groove to prevent edge heat loss
JPWO2004090967A1 (ja) * 2003-04-02 2006-07-06 株式会社Sumco 半導体ウェーハ用熱処理治具
EP1654752B1 (en) * 2003-08-01 2011-06-29 SGL Carbon SE Holder for supporting wafers during semiconductor manufacture
KR101463581B1 (ko) 2005-01-18 2014-11-20 에이에스엠 아메리카, 인코포레이티드 박막 성장용 반응 시스템
US20060194059A1 (en) * 2005-02-25 2006-08-31 Honeywell International Inc. Annular furnace spacers and method of using same
US8603248B2 (en) * 2006-02-10 2013-12-10 Veeco Instruments Inc. System and method for varying wafer surface temperature via wafer-carrier temperature offset
US8092606B2 (en) 2007-12-18 2012-01-10 Asm Genitech Korea Ltd. Deposition apparatus
JP5200171B2 (ja) * 2008-08-29 2013-05-15 ビーコ・インストゥルメンツ・インコーポレイテッド ウエハキャリア、化学蒸着装置、および、ウエハを処理する方法
US8801857B2 (en) 2008-10-31 2014-08-12 Asm America, Inc. Self-centering susceptor ring assembly
US10316412B2 (en) 2012-04-18 2019-06-11 Veeco Instruments Inc. Wafter carrier for chemical vapor deposition systems
KR20130137475A (ko) * 2012-06-07 2013-12-17 삼성전자주식회사 기판 처리방법 및 그에 사용되는 서포트 기판
US10167571B2 (en) 2013-03-15 2019-01-01 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier having provisions for improving heating uniformity in chemical vapor deposition systems
USD766849S1 (en) * 2013-05-15 2016-09-20 Ebara Corporation Substrate retaining ring
SG11201606084RA (en) 2014-01-27 2016-08-30 Veeco Instr Inc Wafer carrier having retention pockets with compound radii for chemical vapor deposition systems
CN107109688A (zh) * 2015-01-23 2017-08-29 应用材料公司 用于在晶片中消除沉积谷的新基座设计
CN106024681B (zh) * 2016-07-27 2018-12-28 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 叠层膜、包含其的石墨舟及其制备方法、及石墨舟清洗方法
US10872803B2 (en) 2017-11-03 2020-12-22 Asm Ip Holding B.V. Apparatus and methods for isolating a reaction chamber from a loading chamber resulting in reduced contamination
US10872804B2 (en) 2017-11-03 2020-12-22 Asm Ip Holding B.V. Apparatus and methods for isolating a reaction chamber from a loading chamber resulting in reduced contamination
WO2019091694A1 (en) * 2017-11-08 2019-05-16 Asml Netherlands B.V. A substrate holder and a method of manufacturing a device
CN110819968B (zh) * 2018-08-08 2022-06-28 上海理想万里晖薄膜设备有限公司 一种用于pecvd反应腔的复合载板
USD920936S1 (en) 2019-01-17 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Higher temperature vented susceptor
US11961756B2 (en) 2019-01-17 2024-04-16 Asm Ip Holding B.V. Vented susceptor
USD914620S1 (en) 2019-01-17 2021-03-30 Asm Ip Holding B.V. Vented susceptor
US11404302B2 (en) 2019-05-22 2022-08-02 Asm Ip Holding B.V. Substrate susceptor using edge purging
US11764101B2 (en) 2019-10-24 2023-09-19 ASM IP Holding, B.V. Susceptor for semiconductor substrate processing
EP3835281A1 (de) 2019-12-13 2021-06-16 Siltronic AG Verfahren zur herstellung eines plattenförmigen formkörpers mit einer siliziumkarbid-matrix
USD1031676S1 (en) 2020-12-04 2024-06-18 Asm Ip Holding B.V. Combined susceptor, support, and lift system
CN113278952B (zh) * 2021-03-26 2022-12-06 华灿光电(苏州)有限公司 石墨基板
CN114874395A (zh) * 2022-04-19 2022-08-09 南京艾布纳密封技术股份有限公司 一种耐高温有机浸渗密封材料及其制备方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4397901A (en) * 1979-07-31 1983-08-09 Warren James W Composite article and method of making same
US4499354A (en) * 1982-10-06 1985-02-12 General Instrument Corp. Susceptor for radiant absorption heater system
US4424096A (en) * 1982-12-23 1984-01-03 Western Electric Co., Inc. R-F Electrode type workholder and methods of supporting workpieces during R-F powered reactive treatment
US4486473A (en) * 1983-09-21 1984-12-04 Ga Technologies Inc. Method and apparatus for coating fragile articles in a fluidized bed of particles using chemical vapor deposition
JPS6169116A (ja) * 1984-09-13 1986-04-09 Toshiba Ceramics Co Ltd シリコンウエハ−の連続cvdコ−テイング用サセプター
US4780174A (en) * 1986-12-05 1988-10-25 Lan Shan Ming Dislocation-free epitaxial growth in radio-frequency heating reactor
US4821674A (en) * 1987-03-31 1989-04-18 Deboer Wiebe B Rotatable substrate supporting mechanism with temperature sensing device for use in chemical vapor deposition equipment
US4907534A (en) * 1988-12-09 1990-03-13 Siemens Aktiengesellschaft Gas distributor for OMVPE Growth
JPH02174116A (ja) * 1988-12-26 1990-07-05 Toshiba Ceramics Co Ltd サセプタ
DE3915039A1 (de) * 1989-05-08 1990-11-15 Balzers Hochvakuum Hubtisch
US5059770A (en) * 1989-09-19 1991-10-22 Watkins-Johnson Company Multi-zone planar heater assembly and method of operation
US5199483A (en) * 1991-05-15 1993-04-06 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for cooling wafers

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011065776A2 (ko) * 2009-11-27 2011-06-03 주성엔지니어링(주) 트레이와 이를 이용한 기판 처리 장치, 및 트레이의 제조 방법
WO2011065776A3 (ko) * 2009-11-27 2011-11-03 주성엔지니어링(주) 트레이와 이를 이용한 기판 처리 장치, 및 트레이의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0790590A (ja) 1995-04-04
EP0614212B1 (en) 1999-01-13
NL9300389A (nl) 1994-10-03
US5403401A (en) 1995-04-04
EP0614212A1 (en) 1994-09-07
DE69415838T2 (de) 1999-05-20
DE69415838D1 (de) 1999-02-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3547470B2 (ja) 基板キャリア
US5514439A (en) Wafer support fixtures for rapid thermal processing
JP4669476B2 (ja) 半導体製造時にウェハを支持するホルダ
EP1094502A2 (en) Platform for supporting a semiconductor substrate and method of supporting a substrate during rapid high temperature processing
JPH1074705A (ja) 高温サセプタ
EP3162913B1 (en) Susceptor and method for manufacturing same
JP3004846B2 (ja) 気相成長装置用サセプタ
EP1184894A1 (en) Susceptor for semiconductor wafers
JP2004200436A (ja) サセプタ及びその製造方法
US6533869B1 (en) Apparatus and method for making free standing diamond
WO2018207942A1 (ja) サセプタ、エピタキシャル基板の製造方法、及びエピタキシャル基板
JPH0483328A (ja) ウエハチャック
US5423475A (en) Diamond coatings for aluminum alloys
JP4007598B2 (ja) サセプタおよびその製造方法
JPH0268922A (ja) 気相成長用サセプタ
JPS6339093B2 (ja)
JPH1116991A (ja) 半導体製造装置用カーボン支持体
JP6493982B2 (ja) サセプタ
JPH02212394A (ja) サセプタ
JPH0758035A (ja) 半導体基板用熱処理治具
JP4183945B2 (ja) ウェーハ熱処理用部材
US6623605B2 (en) Method and apparatus for fabricating a wafer spacing mask on a substrate support chuck
WO2020174724A1 (ja) SiC膜単体構造体
JPH03260062A (ja) セラミック被覆部材の製造方法
TW200818371A (en) A method for manufacturing a device for supporting a substrate during the manufacturing of semi-conductor components as well as such a device

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040121

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040316

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040414

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080423

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090423

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090423

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100423

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110423

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110423

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120423

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130423

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140423

Year of fee payment: 10

EXPY Cancellation because of completion of term