JP3512322B2 - 枚葉式基板処理装置 - Google Patents

枚葉式基板処理装置

Info

Publication number
JP3512322B2
JP3512322B2 JP34522997A JP34522997A JP3512322B2 JP 3512322 B2 JP3512322 B2 JP 3512322B2 JP 34522997 A JP34522997 A JP 34522997A JP 34522997 A JP34522997 A JP 34522997A JP 3512322 B2 JP3512322 B2 JP 3512322B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
partition
processing liquid
back surface
processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP34522997A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11176787A (ja
Inventor
祐介 村岡
勝彦 宮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Screen Holdings Co Ltd
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Screen Holdings Co Ltd
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Screen Holdings Co Ltd, Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Screen Holdings Co Ltd
Priority to JP34522997A priority Critical patent/JP3512322B2/ja
Publication of JPH11176787A publication Critical patent/JPH11176787A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3512322B2 publication Critical patent/JP3512322B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Coating Apparatus (AREA)
  • Weting (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、枚葉式基板処理装
置に関し、より特定的には、基板(半導体ウエハ、液晶
表示装置用のガラス基板、フォトマスク用のガラス基
板、光ディスク用の基板等)の表面および裏面に、処理
液(薬液、純水等)をそれぞれ供給して任意の処理を行
う枚葉式基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、処理液を用いて基板の表面お
よび裏面の処理(エッチング、洗浄、フォトレジストの
塗布、現像等)を行う装置として、枚葉式基板処理装置
が存在する。この枚葉式基板処理装置とは、回転する基
板の表面および裏面に処理液をそれぞれ供給して、処理
を行う装置である。
【0003】以下、図6〜図8を用いて、従来の枚葉式
基板処理装置の一例を説明する。図6は、従来の枚葉式
基板処理装置の縦断面図である。図7は、図6における
E方向矢視図である。図8は、図7におけるF方向矢視
図である。
【0004】図6において、従来の枚葉式基板処理装置
は、スピンベース2と、表面用処理液供給ノズル30
と、スプラッシュガード60とを備える。表面用処理液
供給ノズル30は、処理液供給口3aから基板表面1a
用の処理液を供給する。スピンベース2は、処理液供給
口2aから基板裏面1b用の処理液を供給する。また、
スピンベース2は、4箇所の基板装着台21と4つの爪
22とを備え、基板1を保持する。さらに、スピンベー
ス2は、図示しないモータによってベルトドライブやギ
アドライブ等の方法により、処理液供給口2aを中心に
高速回転を行う。スプラッシュガード60は、処理後の
廃液の回収経路を構成する。
【0005】図7において、基板1は、スピンベース2
の4箇所の基板装着台21に載置され、4つの爪22に
より保持される。この基板1の保持は、図8に示すよう
に、回転軸23を中心に回動可能な爪22を、基板1側
に回動して行う。
【0006】基板表面1aの処理は、処理液供給口3a
から供給される処理液を用いて行い、基板裏面1bの処
理は、処理液供給口2aから供給される処理液を用いて
行い、処理が終わった廃液はスプラッシュガード60に
よって回収される。この基板表面1aおよび基板裏面1
bの処理は、双方同時に行われる(純水リンスで洗浄す
る等)場合もあれば、処理工程により基板表面1aまた
は基板裏面1bのどちらか一方だけ行われる(エッチン
グを行う等)場合もある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
枚葉式基板処理装置は、4箇所の基板装着台21におい
て基板1を固定しているため、基板表面1aのみの処理
を行う際には、図9に示すように、処理液が基板1の回
転により発生する複雑な気流により裏面中心方向へ吸い
込まれたり(同図矢印g)、処理液がスプラッシュガー
ド60の内壁で跳ね返ったりして(同図矢印h)、基板
裏面1bにまで回り込んでしまう。
【0008】このように、基板裏面1bにまで基板表面
1a用の処理液が回ってしまうと、例えば、エッチング
の場合では、基板裏面1bに不必要なエッチング処理が
施されるという問題が発生する。この問題の対処方法と
して、基板裏面1bの処理液供給口2aから純水リンス
を同時に供給するという方法が考えられるが、純水の過
大な消費や基板裏面1bのエッチングを完全には防げな
い等のさらなる問題が生じ、好ましくない。
【0009】それ故、本発明の目的は、基板表面1aの
領域と基板裏面1bの領域とを分離し、一方の領域用の
処理液が他方の領域内に浸入しない枚葉式基板処理装置
を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段および発明の効果】第1の
発明は、回転する基板の表面および裏面に処理液を供給
してそれぞれ処理を行う枚葉式基板処理装置であって、
基板の裏面に処理液を供給する供給口を有し、基板を載
置して当該基板の表面側の空間領域と裏面側の空間領域
とを分離するとともに、当該基板と一体に回転する基板
回転手段と、基板の表面に処理液を供給する供給口を有
し、基板回転手段の上面を覆う上カバーと、基板回転手
段の下面を覆う下カバーと、上カバーと下カバーとの間
に構成され、基板の表面に供給する処理液を排出する経
路と基板の裏面に供給する処理液を排出する経路とを分
離する中仕切とを備え、基板回転手段は、中仕切に近接
する面に1または2以上のリブを周設し、中仕切は、基
板回転手段に近接する面に1または2以上のリブを周設
し、基板回転手段に形成されたリブと中仕切に形成され
たリブとが一体的にラビリンス構造を構成することで、
当該基板回転手段と当該中仕切との間に生じる隙間をシ
ールする。
【0011】上記のように、第1の発明によれば、基板
回転手段と中仕切との隙間に複数のリブで構成されるラ
ビリンスシールを設けることで、処理液の供給口から排
出口までに渡って基板表面の領域と基板裏面の領域とを
分離でき、一方の領域用の処理液が他方の領域内に浸入
することを防止できる。
【0012】第2の発明は、回転する基板の表面および
裏面に処理液を供給してそれぞれ処理を行う枚葉式基板
処理装置であって、基板の裏面に処理液を供給する供給
口を有し、基板を載置して当該基板の表面側の空間領域
と裏面側の空間領域とを分離するとともに、当該基板と
一体に回転する基板回転手段と、基板の表面に処理液を
供給する供給口を有し、基板回転手段の上面を覆う上カ
バーと、基板回転手段の下面を覆う下カバーと、上カバ
ーと下カバーとの間に構成され、基板の表面に供給する
処理液を排出する経路と基板の裏面に供給する処理液を
排出する経路とを分離する中仕切とを備え、基板回転手
段と中仕切とが近接する面において、当該基板回転手段
または当該中仕切のいずれか一方の面に他方の面と接す
るパッキンを周設することで、当該基板回転手段と当該
中仕切との間に生じる隙間をシールする。
【0013】上記のように、第2の発明によれば、基板
回転手段と中仕切との隙間にパッキンシールを設けるこ
とで、処理液の供給口から排出口までに渡って基板表面
の領域と基板裏面の領域とを分離でき、一方の領域用の
処理液が他方の領域内に浸入することを防止できる。
【0014】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の一実施形態に係
る枚葉式基板処理装置の縦断面図である。図1におい
て、本発明の一実施形態に係る枚葉式基板処理装置は、
スピンベース2と、上カバー3と、中仕切4と、下カバ
ー5とを備える。
【0015】上カバー3は、処理液供給口3aから基板
表面1a用の処理液を供給する。スピンベース2は、処
理液供給口2aから基板裏面1b用の処理液を供給す
る。また、スピンベース2は、基板装着台21と4つの
爪22とを備え、基板1を保持する。さらに、スピンベ
ース2は、図示しないモータによってベルトドライブや
ギアドライブ等の方法により、処理液供給口2aを中心
に高速回転を行う。上カバー3と中仕切4は、基板表面
1aの処理後の廃液の排出経路3bを構成する。中仕切
4と下カバー5は、基板裏面1bの処理後の廃液の排出
経路2bを構成する。
【0016】以下、図2〜図4を用いて、本発明の一実
施形態に係る枚葉式基板処理装置の構造を説明する。図
2は、図1におけるA−A要部断面図である。図3は、
図2におけるB−B断面を矢印C方向から見た基板装着
台21の斜視図である。図4は、図2におけるB−B断
面を矢印C方向から見た中仕切4の斜視図である。
【0017】図3において、基板装着台21は、スピン
ベース2上に円形状に立設形成される。基板1は、基板
装着台21の段差21c上に載置される。さらに、基板
1は、上記従来の基板装着台21と同様に、4つの爪2
2により固定的に保持される(図8を参照)。もちろ
ん、段差21cと基板裏面1bとの接触面は、完全にシ
ールされている。このシールは、例えば、段差21c面
を樹脂等で構成し、基板1を爪22で圧接することで行
えばよい。また、基板表面1a用の処理液の排出能力を
高めるため、基板装着台21の高さDは、基板1の厚さ
と同じ高さ、若しくは基板1が脱落しない範囲で基板1
の厚さと同じ高さ以下になるように形成する。そして、
基板装着台21は、全周に基板裏面1b用の処理液を排
出するために複数の排液穴21aを設けている。さら
に、基板装着台21は、外壁(中仕切4と近接する面)
にリブ21bを周設している。図4において、中仕切4
は、内壁(基板装着台21に近接する面)にリブ41a
および41bを周設している。
【0018】基板装着台21のリブ21bは、中仕切4
のリブ41aとリブ41bとの間に非接触の形で挿入さ
れ、ラビリンス構造を構成する(図1を参照)。このラ
ビリンス構造は、処理液流入に対する抵抗となり、基板
表面1aの処理液の基板裏面1bへの浸入を防ぐシール
の役割を果たす。
【0019】上記構造により、基板表面1aの処理は、
処理液供給口3aから供給される処理液を用いて行い、
処理が終わった廃液は上記ラビリンス構造のシール部に
より基板裏面1b側へ浸入することなく、排出経路3b
を通して順に排出される。一方、基板裏面1bの処理
は、処理液供給口2aから供給される処理液を用いて行
い、処理が終わった廃液は(上記ラビリンス構造のシー
ル部により基板表面1a側へ浸入することなく)、排液
穴21aおよび排出経路2bを通して順に排出される。
【0020】以上のように、本発明の一実施形態に係る
枚葉式基板処理装置は、スピンベース2と中仕切4との
隙間に複数のリブからなるラビリンス構造のシール部を
設けることで、基板表面1aの領域と基板裏面1bの領
域とを分離でき、一方の領域用の処理液が他方の領域内
に浸入することを防止できる。
【0021】なお、上記シール部は、上記実施形態で説
明したリブ21b,41aおよび41bからなるラビリ
ンス構造に限られず、例えば、同様のラビリンス構造に
あっては、図5(a)に示すように、リブの数を任意に
増加させることができる。このリブの部分は、上記実施
形態で説明したように、それぞれ基板装着台21および
中仕切4と一体成形で周設してもよいし、樹脂等の材料
で個別に形成して基板装着台21および中仕切4に周設
するようにしてもよい。さらに、リブは、基板装着台2
1および中仕切4ともに同数周設してもよいし、中仕切
4より基板装着台21に周設する数を多くしてもよい。
【0022】また、上記シール部は、上記ラビリンス構
造以外に、図5(b)に示すように、V形状パッキン5
1を用いることも可能である。この場合、V形状パッキ
ン51は、基板装着台21または中仕切4の一方の壁面
に固定的に周設され、他方の壁面に接触させてシールす
る。このV形状パッキンは、樹脂等の材料で形成すれば
よい。
【0023】さらに、基板1を保持するための基板装着
台21の爪22は、上記実施形態で説明した4箇所に限
られず、必要に応じて任意の数を設けることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る枚葉式基板処理装置
の縦断面図である。
【図2】図1のA−A要部断面図である。
【図3】図2のB−B断面を矢印C方向から見た基板装
着台21の斜視図である。
【図4】図2のB−B断面を矢印C方向から見た中仕切
4の斜視図である。
【図5】シール部の他の構成例を示す図である。
【図6】従来の枚葉式基板処理装置の縦断面図である。
【図7】図6のE方向矢視図である。
【図8】図7のF方向矢視図である。
【図9】従来の枚葉式基板処理装置の問題点を示す図で
ある。
【符号の説明】
1…基板 1a…基板表面 1b…基板裏面 2…スピンベース 2a、3a…処理液供給口 2b、3b…排出経路 3…上カバー 4…中仕切 5…下カバー 21…基板装着台 21a…排液穴 21b、41a、41b…リブ 21c…段差 22…爪 23…回転軸 30…表面用処理液供給ノズル 51…V形状パッキン 60…スプラッシュガード
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 21/306 J (56)参考文献 特開 昭61−98351(JP,A) 特開 平8−78368(JP,A) 特開 平6−291102(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/304 643 H01L 21/027 G03F 7/16

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転する基板の表面および裏面に処理液
    を供給してそれぞれ処理を行う枚葉式基板処理装置であ
    って、 前記基板の裏面に処理液を供給する供給口を有し、前記
    基板を載置して当該基板の表面側の空間領域と裏面側の
    空間領域とを分離するとともに、当該基板と一体に回転
    する基板回転手段と、 前記基板の表面に処理液を供給する供給口を有し、前記
    基板回転手段の上面を覆う上カバーと、 前記基板回転手段の下面を覆う下カバーと、 前記上カバーと前記下カバーとの間に構成され、前記基
    板の表面に供給する処理液を排出する経路と前記基板の
    裏面に供給する処理液を排出する経路とを分離する中仕
    切とを備え、 前記基板回転手段は、前記中仕切に近接する面に1また
    は2以上のリブを周設し、前記中仕切は、前記基板回転
    手段に近接する面に1または2以上のリブを周設し、 前記基板回転手段に形成されたリブと前記中仕切に形成
    されたリブとが一体的にラビリンス構造を構成すること
    で、当該基板回転手段と当該中仕切との間に生じる隙間
    をシールする、枚葉式基板処理装置。
  2. 【請求項2】 回転する基板の表面および裏面に処理液
    を供給してそれぞれ処理を行う枚葉式基板処理装置であ
    って、 前記基板の裏面に処理液を供給する供給口を有し、前記
    基板を載置して当該基板の表面側の空間領域と裏面側の
    空間領域とを分離するとともに、当該基板と一体に回転
    する基板回転手段と、 前記基板の表面に処理液を供給する供給口を有し、前記
    基板回転手段の上面を覆う上カバーと、 前記基板回転手段の下面を覆う下カバーと、 前記上カバーと前記下カバーとの間に構成され、前記基
    板の表面に供給する処理液を排出する経路と前記基板の
    裏面に供給する処理液を排出する経路とを分離する中仕
    切とを備え、 前記基板回転手段と前記中仕切とが近接する面におい
    て、当該基板回転手段または当該中仕切のいずれか一方
    の面に他方の面と接するパッキンを周設することで、当
    該基板回転手段と当該中仕切との間に生じる隙間をシー
    ルする、枚葉式基板処理装置。
JP34522997A 1997-12-15 1997-12-15 枚葉式基板処理装置 Expired - Fee Related JP3512322B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34522997A JP3512322B2 (ja) 1997-12-15 1997-12-15 枚葉式基板処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34522997A JP3512322B2 (ja) 1997-12-15 1997-12-15 枚葉式基板処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11176787A JPH11176787A (ja) 1999-07-02
JP3512322B2 true JP3512322B2 (ja) 2004-03-29

Family

ID=18375179

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34522997A Expired - Fee Related JP3512322B2 (ja) 1997-12-15 1997-12-15 枚葉式基板処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3512322B2 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2001270205A1 (en) * 2000-06-26 2002-01-08 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for wafer cleaning
JP4456800B2 (ja) * 2002-07-23 2010-04-28 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置および基板処理方法
JP5312923B2 (ja) * 2008-01-31 2013-10-09 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置
CN101794089B (zh) * 2010-04-12 2012-06-13 常州瑞择微电子科技有限公司 电子束胶光掩模板的去胶方法及其装置
JP5827827B2 (ja) 2010-06-29 2015-12-02 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. アクチュエータ
JP6018404B2 (ja) 2012-04-25 2016-11-02 株式会社荏原製作所 基板処理装置
JP5818751B2 (ja) * 2012-07-18 2015-11-18 三菱電機株式会社 太陽電池製造装置およびこれを用いた太陽電池の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11176787A (ja) 1999-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5156114B2 (ja) 液処理装置
JPH07256195A (ja) 回転式薬液処理装置
JPH10209102A (ja) 基板処理装置
JPS6064436A (ja) スピンドライヤ
JP3512322B2 (ja) 枚葉式基板処理装置
JP3396377B2 (ja) 基板処理装置
JP3250095B2 (ja) 洗浄装置及び洗浄方法
JP4804407B2 (ja) 液処理装置
JP3948963B2 (ja) スピン処理装置
JPH1092712A (ja) 半導体製造装置
JP2948043B2 (ja) 回転式基板処理装置
JP2908224B2 (ja) 回転式塗布装置
JP2006073753A (ja) 基板洗浄装置
JP3401428B2 (ja) 処理装置
KR20070100245A (ko) 단일-기판 처리 동안에 기판으로부터 미소량의 액체를제거하는 장치 및 방법
JPH0684775A (ja) 回転機構
JP2004281780A (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
JP7154995B2 (ja) 基板処理装置
JP3338544B2 (ja) 乾燥方法及び乾燥装置
JP2001038310A (ja) 枚葉式薬液洗浄方法および装置
KR100719718B1 (ko) 기판 주변부 습식 식각 방법 및 장치
JP2002164277A (ja) 半導体製造装置
JPH09262767A (ja) ポリッシング装置の排気構造
JPH1190355A (ja) 洗浄装置
JP2668548B2 (ja) 半導体製造装置及び処理装置及び処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040105

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040106

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090116

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees