JP3498088B2 - 集積回路 - Google Patents

集積回路

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JP3498088B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はアナログ/デジタル混在
集積回路においてデジタル回路の発生する雑音がアナロ
グ回路へおよぼす影響を低減する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】アナログ回路とデジタル回路を同一基板
上に作成する混在ICにおいて、クロックやデータ信号
により駆動されるデジタル回路動作に伴い発生する雑音
の影響によりアナログ回路が、誤動作を起こす問題があ
る。この問題を解決するためには、まず、デジタル回路
の発生する雑音の大きさとその影響を定量的に把握し、
調べる必要がある。
【0003】これまでに、電圧比較器を用いた雑音の計
測方法が提案されている。これは、電圧比較器の入力信
号を微小量変化させながら、基準となる参照電圧との比
較動作を行わせ、比較器の出力のハイレベルの出現頻度
を計測し、デジタル回路動作に同期して等価サンプリン
グを行い、雑音の波形を計測する方法である。このよう
な計測方法は、特開平6−53415号公報に記載され
ている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】電圧比較器を用いた従
来の雑音計測法では、電圧比較器の動作クロックを雑音
を発生するデジタル回路のクロックと同期して動作さ
せ、そのクロックをデジタル回路のクロックから順次ず
らして駆動することにより計測される。各サンプリング
値は、電圧比較器の入力電圧を変化させて出力電圧頻度
分布を求め、等価サンプリングにより計測する。このた
め、従来法によれば、雑音の影響の時間的な変化を知る
ことができるが、測定に時間がかかり、またデジタルク
ロックに同期した場合にしか計測できなかった。
【0005】このように、アナログ/デジタル混在集積
回路における基板から伝達される雑音の影響を実時間で
定量的に評価することは難しい。
【0006】本発明の目的は、上記課題を解決すること
にある。
【0007】また、本発明の目的は、実時間の計測手段
を確立し、雑音を低減させ得る回路あるいは方法を提供
することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の代表的な実施例
によれば、上記の課題を解決するための雑音低減手段
は、異なる位相で動作する複数の電圧比較器より構成さ
れる少なくとも1つの雑音検出手段と、この手段によっ
て検出された雑音の補正手段により構成される。
【0009】
【作用】本発明の代表的な実施例による雑音低減手段に
おいては、複数の電圧比較器を用いたことにより、デジ
タル回路の発生する雑音のアナログ回路に対する影響を
実時間で計測することができる。電圧比較器は、広帯域
で微弱な信号を増幅することができるため、アナログ回
路に対する雑音の時間的な変化を計測できる。さらに、
本法により雑音の影響を低減することができる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面により説明す
る。
【0011】まず、雑音検出に用いられる電圧比較器の
構成例と基本動作を図1により説明する。
【0012】電圧比較器2は、第1の入力端子から入力
される入力電圧V1と第2の入力端子から入力される基
準電圧V2の電圧値を比較する回路である。この回路
は、図2のタイミングチャートに従い動作する。まず、
スイッチ5がオン状態のとき、増幅回路6は、オートゼ
ロ状態となり、V1が入力される。次に、スイッチ5が
オフ状態のとき、増幅回路6は、比較状態となり、V2
が入力される。V1とV2の差分は、増幅されてVou
tとなり、Voutすなわち比較結果はラッチ回路7を
介してハイ/ロウのレベルすなわちデジタル値としてO
UT1より、出力される。ここで、雑音の影響は、オー
トゼロスイッチ5の制御クロックφ1がハイレベルか
ら、ロウレベルへ切り替わるタイミングT1、及び、最
終的な比較タイミングT2において大きく、これらのタ
イミングT1、T2における雑音が、電圧比較器2の比
較結果に影響を与えてラッチ回路7で保持される。
【0013】ここで、増幅回路5の利得をG、オートゼ
ロ時、比較時の雑音伝達係数をa、b、時刻T1、T2
における雑音の影響をΔV(1)、ΔV(2)とすると、増幅
回路5の出力Voutは次式で表される。
【0014】 Vout=G{(V1−a・ΔV(1))−(V2−b・ΔV(2))} (1) ここで、V1=V2ならば、 Vout=G{−a・ΔV(1)+b・ΔV(2)} (2) が成立し、電圧比較器ではT1、T2における雑音の影
響が合成されて雑音成分として出力される。
【0015】上記の計測方法に基づいた本発明の第1の
実施例を図3により説明する。本実施例において、雑音
検出回路1は、電圧比較器2a、2bにより構成され
る。入力電圧V1、V2は、ともに電圧比較器2a、2
bに入力され、比較結果OUT1、OUT2が雑音検出
回路1より出力される。
【0016】図4に示すタイミングチャートを用いて本
実施例の動作を説明する。電圧比較器2aと電圧比較器
2bはφ1、φ2により逆位相で動作し、ともにオート
ゼロ時にはV1が、比較時にはV2が入力される。図4
には、雑音検出回路1の1回の動作を示す。まず、電圧
比較器2aでは、T1とT2のタイミングに取り込まれ
たV1とV2の差電圧が計測され、OUT1として出力
される。同様に、電圧比較器2bでは電圧比較器2aよ
り半周期遅れてT2とT3のタイミングに取り込まれた
V1とV2の差電圧が計測され、OUT2として出力さ
れる。このように2つの電圧比較器により雑音検出回路
1を構成することにより、半周期ごとの雑音を検出する
ことが可能となる。
【0017】次に、図5に示す疑似雑音波形を用いてこ
の動作を説明する。ここで、pからzはデジタル回路動
作により発生する雑音波形のサンプリング値を表す。デ
ジタル回路動作により発生する雑音は、デジタル回路を
駆動するためのクロックの立上り、立下がり時に発生
し、それらの変化直後にピーキングを持つ高周波のリン
ギング波形と考えられる。1つの電圧比較器により雑音
を検出する場合、図5の(1)に示すように、雑音はφ
1がロウレベルとなる比較時に差電圧、たとえば、−a
p+bq、として計測される。一方、本発明の第1の実
施例によれば、2つの電圧比較器を半周期ずらして動作
することにより、(2)に示すようにφ2のタイミング
にφ1から半周期遅れた雑音、たとえば、−aq+b
r、も計測することができる。この結果、1つの電圧比
較器を用いる場合と比較して2倍のサンプリングレート
で雑音を計測することが可能となる。
【0018】次に、測定結果から雑音のサンプリング値
に相当する値に換算する方法に関する本発明の第2の実
施例を図6により説明する。本実施例において雑音検出
回路1の出力OUT1、OUT2は、累加算回路10に
より加算され出力される。電圧比較器2aと電圧比較器
2bの出力を順次加算することにより、サンプリング値
は(4)に示すように初期値−apと最終値bz、及び
途中のサンプリング値の(a−b)倍の和となる。雑音
伝達係数a、bが等しければ、雑音のサンプリング値
は、初期値からの変化量として求めることができる。ま
た、本実施例は、図7に示す回路により実現することも
可能である。図7において電圧比較器2a、2bの出力
Vout1、Vout2を累加算回路10により加算し
たのち、ラッチ回路にてデジタルレベルにしてホールド
する。累加算回路10は、例えば、スイッチドキャパシ
タ回路で構成できる。本回路構成によれば、ラッチ回路
が2つの電圧比較器に対して1つで構成できる。
【0019】しかしながら、オートゼロ時、比較時の雑
音伝達係数は一般には等しくなく、一致させることは困
難である。ここで、オートゼロ時の雑音伝達係数は比較
時より帯域が広く、高周波の雑音を検出するために優れ
ている。そこで、オートゼロ時の雑音を選択的に検出す
ることにより、雑音のサンプリング値を求めることが有
効である。この方法に関する本発明の第3の実施例を図
8により説明する。
【0020】図8は、雑音を検出する電圧比較器2の構
成を示したものである。本実施例において増幅回路の入
力部にはスイッチ8を介してグランドに容量C1が、増
幅回路の出力部にはスイッチ9を介してグランドに容量
C2がそれぞれ接続されている。スイッチ8、スイッチ
9は比較器のオートゼロ時にオフ状態、比較時にオン状
態となるように制御される。比較時にグランドに対して
容量C1、C2を接続することにより、比較時に計測さ
れる高周波雑音の影響を低減することができる。その結
果、雑音検出回路の出力は図5の(3)に示すように、
比較時の雑音の影響を受けずに検出することが可能とな
り、オートゼロ時の雑音のサンプリング値が選択的に求
められる。なお、図8は、2つの容量C1、C2を接続
した場合を示したが、C1あるいはC2のみでも、比較
時に計測される高周波雑音の影響を低減できる。また、
本実施例では、スイッチ8、あるいは、スイッチ9がオ
ートゼロ時にオフ状態、比較時にオン状態となる場合を
示したが、オートゼロ時にオン状態、比較時にオフ状態
となるように制御して、オートゼロ時に計測される高周
波雑音の影響を低減し、比較時の雑音を検出することも
可能である。さらに、C1、C2は、増幅回路と組み合
わせたミラー容量で実現してもよい。この場合、より大
きな容量の値を作成することが可能となるため、高周波
雑音の影響を低減する効果が大きくなる。
【0021】なお、上記1、2、3の実施例では、雑音
検出回路が逆位相の2つの電圧比較器により構成される
場合を示したが、図4の(2)に示すように複数の電圧
比較器を位相をずらして動作することにより、さらに、
高サンプリングレートで雑音の波形の計測が行えること
は明らかである。
【0022】以上、上記の実施例は、1つの雑音検出回
路1を用いた場合の雑音検出方法についてVout1、
Vout2を用いて説明した。ここで、電圧比較器の出
力OUT1、OUT2はデジタル値である。このため、
1つの雑音検出回路のみでは雑音の影響の有無の判断し
かできない。そこで、入力雑音の大きさを求めるため
に、複数の雑音検出回路により構成された雑音低減回路
に関する本発明の第4の実施例を図9により説明する。
【0023】本実施例において、雑音低減回路11は、
4つの雑音検出回路1と補正量演算回路12より構成さ
れる。雑音検出回路1には、基準電圧V2と入力電圧V
1(1)〜V1(4)が入力される。ここで、V1(1)〜V1
(4)及びV2は、電位差ΔVづつ離れて設定されてい
る。雑音検出回路1の出力O11〜O42は、補正量演
算回路12へ入力される。補正量演算回路12では、検
出された雑音の大きさから雑音の影響を低減する補正量
の計算が行われる。この回路の動作を図10により説明
する。雑音が存在しない場合、雑音検出回路の出力は図
10の(1)に示されるように、入力電圧がV2より高い
V1(1)、V1(2)ではハイレベルをV2より低いV1
(3)、V1(4)ではロウレベルを示す。ここに、雑音電圧
Vnが等価的にV2へ入力されたと仮定すると、出力レ
ベルは図10の(2)に示すように、V1(3)の出力がロウ
レベルからハイレベルへ変化する。この出力結果は、Δ
Vより大きな雑音がV2に等価的に入力されたことを表
している。このため、出力結果に−ΔVの補正を行うこ
とにより、雑音の影響を低減することが可能となる。図
11に出力レベルに対する補正量を示す。比較器出力レ
ベルをモニタすることにより、図11の(1)に示すよ
うに入力雑音に対する補正量を求めることができる。こ
の結果、雑音の影響を低減することができる。また、入
力電圧の刻み幅は、すべて等しくする必要はなく、図1
2に示すように異なる値に設定することも可能である。
この場合、図11(2)に示すように、入力電圧の設定
値に従い補正量を変化させることが可能である。なお、
本実施例では雑音低減回路が4つの雑音検出回路により
構成される場合を示したが、雑音検出回路の数を増し
て、電位差ΔVを小さく設定すれば、より高分解能で雑
音を検出できることは明らかである。
【0024】次に、実際のアナログ/デジタル混在集積
回路における雑音の影響の低減方法に関する本発明の第
5の実施例を図13により説明する。集積回路20に
は、雑音の影響を受ける回路21と雑音を発生する回路
23が雑音検出回路1とともに同一のIC基板上に構成
されている。雑音を発生する回路23は、一般にはハイ
レベル、ロウレベルの信号を扱うデジタル回路、雑音の
影響を受ける回路21は、一般には微弱のアナログ信号
を扱うアナログ回路である。雑音検出回路1で検出され
た雑音の大きさをもとに補正量演算回路12では補正量
が決定される。補正回路22では、アナログ回路の雑音
検出感度に応じて重みをかけて補正量を再決定し、アナ
ログ回路の出力電圧を補正する。一般には、補正回路2
2において減算処理を行うことにより、アナログ回路の
演算結果から雑音の影響を低減することができる。
【0025】ここで、デジタル回路の発生する雑音の大
きさは、デジタル回路規模や同期動作するゲート数に依
存して変化する。このため、入力電圧V1(1)〜V1(n)
の値をデジタル回路の発生する雑音の大きさに応じて変
化させることが有効である。そこで、入力電圧制御回路
14を集積回路20の内部あるいは、外部に設けて、入
力電圧の大きさを制御することにより、デジタル回路の
発生雑音の大きさに応じてアナログ回路出力の補正を行
うことができる。入力電圧制御回路14は、補正量演算
回路12の出力がすべてハイレベルならばV1(n)を小
さく、すべてロウレベルならばV1(1)を大きく設定す
るように制御することにより、大きな雑音に対応でき
る。また、V1(2)〜V1(n-1)の電圧を制御することに
より、細かく、雑音による遷移点を決定することができ
る。この方法により、より高分解能で雑音の影響を計測
できるため、より性格に雑音の低減を行うことができ
る。なお、入力電圧の制御は、回路動作時に随時フィー
ドバックをかけて制御してもよいし、また、あらかじめ
実際の雑音の影響を受ける回路の動作の前に、雑音を発
生する回路を動作させて雑音の大きさを計測しておき、
雑音の影響を受ける回路動作時には、入力電圧を一定の
値に設定して動作させてもよい。
【0026】また、雑音検出回路をデジタル回路と同期
させて動作させることも可能である。同期動作すること
により、等価サンプリングを行えば、周期的に発生する
雑音の影響を調べることができる。このためのアナログ
/デジタル混在集積回路における雑音の影響の低減方法
に関する本発明の第6の実施例を図14により説明す
る。本実施例において、雑音検出回路1は、クロック発
生/調整回路15により雑音を発生する回路23のクロ
ックと同期して動作する。また、雑音検出回路1の動作
クロックを雑音を発生する回路23のクロックに対し
て、微小時間Δtだけ、長いあるいは短い周期に設定す
る。この結果、雑音の影響をΔtの間隔でサンプリング
することができる。なお、雑音の影響を受ける回路22
を動作する前に、雑音を発生する回路23を動作させて
雑音の影響を計測することにより、高周波雑音の影響を
あらかじめ把握できる。本実施例によれば、雑音の影響
を高時間分解能で計測することができるため、広帯域の
アナログ回路の雑音の低減に極めて有効である。
【0027】次に、雑音の影響を受ける回路がA/D変
換器である場合の雑音の影響の補正方法に関する本発明
の第7の実施例を図15により説明する。本実施例にお
いて、A/D変換器24は、雑音検出回路1と同期して
動作する。雑音検出回路と同一周期のクロックに従い動
作し、オートゼロ後、比較を行い、電圧レベルを決定す
る。A/D変換器24の動作クロックと雑音検出回路1
の動作クロックを一致させる結果、雑音検出回路とA/
D変換器は、ほぼ同一のタイミングで雑音を検出するこ
ととなるため、雑音検出回路により、高周波の雑音のA
/D変換器に対する影響を的確につかむことができる。
また、図3に示したような2つの電圧比較器により構成
された雑音検出回路1を用いる場合には、A/D変換器
24のオートゼロ時、比較時、それぞれの影響を別個に
計測できる。そこで、オートゼロ時、比較時の補正量に
A/D変換器のそれぞれのモードにおける雑音検出感度
に応じた重みをかけて補正することが可能である。この
結果、雑音の影響をさらに正確に低減することが可能と
なる。ここで、雑音の影響が大きくA/D変換器の補正
が困難な場合には、そのサンプリング点の変換出力デー
タを選択するのをやめる指定も可能である。この場合、
1クロック前のデジタル変換値をデータとして保持する
ことにより、サンプリング点でのデジタル値を補間して
出力するなどの制御も容易に行える。
【0028】さらに、上記実施例における重み付き係数
の決定方法に関する本発明の第8の実施例を図16によ
り説明する。雑音の影響を受ける回路21及び、A/D
変換器24に対する重み付き係数は、既知の信号を基板
雑音として、集積回路基板30に与え、その影響を雑音
の影響を受ける回路21やA/D変換器24及び、雑音
検出回路1で計測し、それらの雑音伝達量の比から決定
できる。信号の入力手段としては、図16に示すよう
に、集積回路基板30の容量結合部31に方形波を入力
して、高周波信号に対する応答特性を計測することや、
抵抗結合部32に正弦波を入力して、周波数特性を計測
し応答特性を調べることなどにより実現できる。ここ
で、容量結合部31や抵抗結合部32に入力される方形
波、正弦波などを発生する信号発生回路33は、同一基
板上に作成しても、集積回路外部に作成しても良い。
【0029】上記実施例における電圧比較器は、1つの
増幅回路とラッチ回路により構成されているが、分解能
を向上するためにラッチ回路の前段にさらに増幅回路を
設けた構成としても、なんら問題はない。
【0030】
【発明の効果】デジタル回路の発生する雑音のアナログ
回路に対する影響を実時間で計測することができるた
め、雑音の影響を知り、その補正や低減が行えるため、
アナログ/デジタル混在集積回路を構築する上で極めて
有効である。
【0031】
【図面の簡単な説明】
【図1】雑音検出する電圧比較器の構成を示す図。
【図2】電圧比較器の動作タイミングを説明する。
【図3】本発明の第1の実施例を説明する図。
【図4】本発明の第1の実施例の動作タイミングを説明
する図。
【図5】本発明による雑音の計測方法を説明する図。
【図6】本発明の第2の実施例を説明する図。
【図7】本発明の第2の実施例を説明する図。
【図8】本発明の第3の実施例を説明する図。
【図9】本発明の第4の実施例を説明する図。
【図10】本発明の第4の実施例の動作を説明する図。
【図11】本発明の第4の実施例を動作を説明する図。
【図12】本発明の第4の実施例を説明する図。
【図13】本発明の第5の実施例を説明する図。
【図14】本発明の第6の実施例を説明する図。
【図15】本発明の第7の実施例を説明する図。
【図16】本発明の第8の実施例を説明する図。
【符号の説明】
1…雑音検出回路、2…電圧比較器、3、4、5…スイ
ッチ、6…増幅回路、7…ラッチ回路、8、9…スイッ
チ、10…加算回路、11…雑音低減回路、12…補正
量演算回路、13…クロック発生回路、14…入力電圧
制御回路、15…クロック発生/制御回路、20…集積
回路、21…雑音の影響を受ける回路、22…補正回
路、23…雑音を発生する回路、24…A/D変換器、
25…A/D変換器補正回路、30…集積回路基板、3
1…容量結合部、32…抵抗結合部、33…信号発生回
路。

Claims (11)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1及び第2の電圧比較器と、前記第1の
    電圧比較器と前記第2の電圧比較器を異なる位相で動作
    せしめる手段と、オートゼロ動作時に第1の入力電圧
    を、比較動作時に第2の入力電圧を前記第1及び第2の
    電圧比較器に入力する手段とを含む雑音検出回路を有す
    る集積回路。
  2. 【請求項2】 第1回路及び第2回路を含む雑音検出回路
    と、検出された雑音の補正量演算手段とを含む雑音低減
    回路を備える集積回路であって、 前記第1及び第2回路のそれぞれは、第1及び第2の電
    圧比較器と、前記第1の電圧比較器と前記第2の電圧比
    較器を異なる位相で動作せしめる手段と、オートゼロ動
    作時に第1の入力電圧を、比較動作時に第2の入力電圧
    を前記第1及び第2の電圧比較器に入力する手段とを含
    む集積回路。
  3. 【請求項3】 請求項1または2おいて、 前記第1及び第2の電圧比較器の各々は、前記オートゼ
    ロ動作時に第1の入力電圧を、比較動作時に第2の入力
    電圧を電圧比較器に入力するための手段と、第1の入力
    電圧と第2の入力電圧の差電圧を増幅するための増幅回
    路と、増幅された信号を保持する手段とを有する集積回
    路。
  4. 【請求項4】 請求項1から3のいずれかにおいて、 前記第1及び第2の電圧比較器の各々は、前記増幅回路
    の入力部と基準電位との間に第1容量を接続するための
    手段を備える集積回路。
  5. 【請求項5】 請求項1から4のいずれかにおいて、 前記第1及び第2の電圧比較器の各々は、前記増幅回路
    の出力部と基準電位との間に第2容量を接続するための
    手段を備える集積回路。
  6. 【請求項6】 請求項1から5のいずれかにおいて、 前記集積回路は、前記第1の電圧比較器の増幅回路の出
    力と前記第2の電圧比較器の増幅回路の出力とを順次加
    算する手段と加算された信号を保持する手段を更に有す
    る集積回路。
  7. 【請求項7】 請求項1から5のいずれかにおいて、 前記集積回路は、前記第1の電圧比較器の出力と前記第
    2の電圧比較器の出力とを順次加算する手段を更に有す
    る集積回路。
  8. 【請求項8】 請求項1から7のいずれかにおいて、 前記集積回路は、雑音の大きさに応じて、前記雑音検出
    回路に含まれる電圧比較器の第1の入力信号の電圧値を
    制御する手段を有する集積回路。
  9. 【請求項9】 請求項2において、 前記集積回路は、1つのクロックにより動作する回路
    と、前記雑音低減回路のクロックを前記1つのクロック
    から順次時間をずらして駆動する手段と、各時間におけ
    る雑音低減回路の出力を保持する手段とを有する集積回
    路。
  10. 【請求項10】 請求項2において、 前記集積回路は、1つのクロックにより動作する回路
    と、前記補正量演算回路の出力から雑音の影響を受ける
    回路の雑音検出感度に応じた重みをかけて補正を行う手
    段とを有する集積回路。
  11. 【請求項11】 請求項2において、 前記集積回路は、1つのクロックにより動作する回路
    と、アナログ/デジタル変換器と、前記アナログ/デジ
    タル変換器と前記雑音検出回路のクロックを同期させる
    クロック発生/調整する手段を有し、前記補正量演算回
    路の出力から前記アナログ/デジタル変換器の雑音検出
    感度に応じた重みをかけて補正を行う手段とを有する集
    積回路。
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