JP3493187B2 - 逐次比較型a/d変換器 - Google Patents

逐次比較型a/d変換器

Info

Publication number
JP3493187B2
JP3493187B2 JP2001178178A JP2001178178A JP3493187B2 JP 3493187 B2 JP3493187 B2 JP 3493187B2 JP 2001178178 A JP2001178178 A JP 2001178178A JP 2001178178 A JP2001178178 A JP 2001178178A JP 3493187 B2 JP3493187 B2 JP 3493187B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
analog
analog switches
analog switch
capacitors
converter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2001178178A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002374169A (ja
Inventor
晴久 ▲高▼田
和彦 西川
誠司 渡辺
高宏 朴井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2001178178A priority Critical patent/JP3493187B2/ja
Priority to US10/166,666 priority patent/US6563449B2/en
Priority to CN02123207.5A priority patent/CN1187901C/zh
Publication of JP2002374169A publication Critical patent/JP2002374169A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3493187B2 publication Critical patent/JP3493187B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/66Digital/analogue converters
    • H03M1/74Simultaneous conversion
    • H03M1/80Simultaneous conversion using weighted impedances
    • H03M1/802Simultaneous conversion using weighted impedances using capacitors, e.g. neuron-mos transistors, charge coupled devices
    • H03M1/804Simultaneous conversion using weighted impedances using capacitors, e.g. neuron-mos transistors, charge coupled devices with charge redistribution
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/34Analogue value compared with reference values
    • H03M1/38Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
    • H03M1/46Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter
    • H03M1/466Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter using switched capacitors
    • H03M1/468Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter using switched capacitors in which the input S/H circuit is merged with the feedback DAC array

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は逐次比較型A/D
変換器に関し、さらに詳しくは、電荷再配分型の逐次比
較型A/D変換器に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、デジタル処理の高速化にともな
い、アナログ信号とデジタル信号とのインターフェース
であるA/D(アナログ/デジタル)変換器の高速動作
が求められている。図4は、一般的な逐次比較型A/D
変換器の構成を示すブロック図である。図4に示す逐次
比較型A/D変換器では、アナログ入力がサンプルホー
ルド部1でサンプリング・保持され、局部D/A変換器
3からの電圧と電圧比較器2で比較される。そして電圧
比較器2からの出力がラッチ回路4によってラッチされ
る。また、状態制御回路5によって局部D/A変換器3
の出力が電圧比較器2からの出力に基づいてコントロー
ルされ、電圧比較器2ではMSB(最上位ビット)より
順次電圧比較がおこなわれる。LSB(最下位ビット)
まで電圧比較が終わると、ラッチ回路4は、ラッチして
いるデジタル値を出力する。
【0003】小さなサイズで変換ビットを多く取ること
のできるA/D変換器として電荷再配分型の逐次比較型
A/D変換器が知られている。図5は、電荷再配分型の
従来の逐次比較型A/D変換器の構成を示す図である。
図5に示す逐次比較型A/D変換器は3ビットA/D変
換器であり、容量アレイ29と、アナログスイッチ群3
0−32と、電圧比較器27と、状態制御回路28とを
備える。なお、図2に示したラッチ回路4は省略してい
る。容量アレイ29は、キャパシタ11−14を含む。
キャパシタ11−14の容量はそれぞれ4C,2C,
C,Cである。なお、Cは単位容量である。アナログス
イッチ群30は容量アレイ29をアナログ入力Vinに
接続する。アナログスイッチ群30はアナログスイッチ
15−18を含む。アナログスイッチ15−18のオン
抵抗はRである。アナログスイッチ群31は上側基準電
圧Vrh(ここでは電源電圧Vddとする。)に容量ア
レイ29を接続する。アナログスイッチ群31はアナロ
グスイッチ19−22を含む。アナログスイッチ19−
22のオン抵抗はRである。アナログスイッチ群32は
下側基準電圧Vrl(ここでは接地電圧GNDとす
る。)に容量アレイ29を接続する。アナログスイッチ
群32はアナログスイッチ23−26を含む。アナログ
スイッチ23−26のオン抵抗はRである。電圧比較器
27はアナログスイッチ33とインバータ34とを含
む。状態制御回路28は、アナログスイッチ19−26
および33のオン/オフを制御する。
【0004】次に、図5に示した逐次比較型A/D変換
器の動作について説明する。
【0005】まず、アナログスイッチ群30およびアナ
ログスイッチ33がオンし、アナログ入力Vinが容量
アレイ29にサンプルホールドされる。このとき容量ア
レイ29にチャージされる電荷Q0は、インバータ34
のしきい値電圧をVthとすると、 Q0=8C(Vth−Vin)・・・(1) となる。サンプルホールドするのに要する時間はキャパ
シタ11とアナログスイッチ15との時定数4CRで定
まる。
【0006】サンプルホールド動作が終わるとアナログ
スイッチ15−18および33がオフし、チャージされ
た電荷Q0が容量アレイ29の電圧比較器27側に保存
される。
【0007】次いでMSB(bit2)の比較動作に移
行し、アナログスイッチ19および24−26がオンす
る。これにより電荷Q0が容量アレイ29に再分配され
る。インバータ34の入力電圧Vxは電荷保存則より、 Vx=Vth−(Vin−(1/2)Vdd)・・・(2) となる。Vin>(1/2)Vddの場合は電圧比較器
27の出力が”Hi”となり、MSBが”1”に決定さ
れる。逆にVin<(1/2)Vddの場合は電圧比較
器27の出力が”Low”となり、MSBが”0”に決
定される。
【0008】MSBが決定すると次のビット(bit
1)の比較動作に移行する。MSBの電圧比較出力が”
Hi”の場合はアナログスイッチ19,20,25,2
6がオンする。一方、MSBの電圧比較出力が”Lo
w”の場合はアナログスイッチ23,20,25,26
がオンする。ここではMSBの電圧比較出力が”Hi”
であったとする。このとき、アナログスイッチ19,2
0,25,26がオンし、電荷Q0が容量アレイ29に
再分配される。インバータ34の入力電圧Vxは電荷保
存則より、 Vx=Vth−(Vin−(3/4)Vdd)・・・(3) となる。Vin>(3/4)Vddの場合は電圧比較器
27の出力が”Hi”となり、bit1が”1”に決定
される。逆にVin<(3/4)Vddの場合は電圧比
較器27の出力が”Low”となり、bit1が”0”
に決定される。
【0009】bit1が決定すると次のLSB(bit
0)の比較動作に移行する。bit1の電圧比較出力
が”Hi”の場合はアナログスイッチ19,20,2
1,26がオンする。一方、bit1の電圧比較出力
が”Low”の場合はアナログスイッチ19,24,2
1,26がオンする。ここではbit1の電圧比較出力
が”Low”であったとする。このとき、アナログスイ
ッチ19,24,21,26がオンし、電荷Q0が容量
アレイ29に再分配される。インバータ34の入力電圧
Vxは電荷保存則より、 Vx=Vth−(Vin−(5/8)Vdd)・・・(4) となる。Vin>(5/8)Vddの場合は電圧比較出
力が”Hi”となり、LSBが”1”に決定される。逆
にVin<(5/8)Vddの場合は電圧比較出力が”
Low”となり、LSBが”0”に決定される。
【0010】各bitを決定するときに行なわれる電荷
再配分に要する時間はサンプルホールド時と同じであ
り、キャパシタ11とアナログスイッチ19または23
のオン抵抗との時定数4CRで定まる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】図5に示した逐次比較
型A/D変換器では、容量アレイ29の各キャパシタ1
1−14に対する時定数がそれぞれ4CR,2CR,C
R,CRと異なる。このため、アナログ入力Vinをサ
ンプルホールドする時間および電荷再分配に必要な時間
がキャパシタ11ではキャパシタ14の4倍必要にな
る。そのため、動作可能な速度の約1/4でしかA/D
変換器を動作させることができない。すなわち、Nビッ
トA/D変換器である場合には動作速度が最大で1/2
(N-1)に低下してしまう。
【0012】この発明は上記のような問題を解決するた
めになされたものであり、その目的は、動作速度を向上
させることができる逐次比較型A/D変換器を提供する
ことである。
【0013】
【課題を解決するための手段】この発明の1つの局面に
従うと、逐次比較型A/D変換器は、複数のキャパシタ
と、複数の第1のアナログスイッチと、複数の第2のア
ナログスイッチと、複数の第3のアナログスイッチと、
電圧比較手段と、状態制御手段とを備える。複数のキャ
パシタの電極の一方は互いに接続されている。複数のキ
ャパシタの各々の容量に対して所定の重み付けがなされ
ている。複数の第1のアナログスイッチは、複数のキャ
パシタに対応して設けられる。複数の第1のアナログス
イッチの各々は、対応するキャパシタの電極の他方と第
1のノードとの間に接続される。第1のノードはアナロ
グ入力を受ける。複数の第2のアナログスイッチは、複
数のキャパシタに対応して設けられる。複数の第2のア
ナログスイッチの各々は、対応するキャパシタの電極の
他方と第2のノードとの間に接続される。第2のノード
は第1の基準電圧を受ける。複数の第3のアナログスイ
ッチは、複数のキャパシタに対応して設けられる。複数
の第3のアナログスイッチの各々は、対応するキャパシ
タの電極の他方と第3のノードとの間に接続される。第
3のノードは、第1の基準電圧よりも低い第2の基準電
圧を受ける。電圧比較手段は、複数のキャパシタの電極
の一方の電圧と第3の基準電圧とを比較する。状態制御
手段は、複数の第1のアナログスイッチ、複数の第2の
アナログスイッチ、および複数の第3のアナログスイッ
チの各々のオン/オフを電圧比較手段による比較の結果
に基づいて制御する。上記複数の第1のアナログスイッ
チの各々は、所定の重み付けがなされたオン抵抗を有す
る。
【0014】上記逐次比較型A/D変換器では、複数の
キャパシタのうち容量の重み付けが大きいキャパシタに
対応する第1のアナログスイッチのオン抵抗の重み付け
を小さくすることにより、当該キャパシタの時定数を小
さくすることができる。これにより、各キャパシタ間で
の時定数の差が小さくなる。この結果、アナログ入力を
プリチャージ(サンプルホールド)するのに必要な時間
を短縮することができ、A/D変換の動作速度を向上さ
せることができる。
【0015】好ましくは、上記複数の第1のアナログス
イッチの各々は、対応するキャパシタの容量に対する重
み付けの逆数で重み付けされたオン抵抗を有する。
【0016】上記逐次比較AD変換装置では、各キャパ
シタの時定数が等しくなるため、各キャパシタへの電荷
の充放電時間が等しくなる。これにより、各キャパシタ
間の時定数の差によって生じる動作速度の低下を防ぐこ
とができる。また、回路面積の増加をおさえつつA/D
変換動作を向上させることができる。
【0017】好ましくは、上記複数の第1のアナログス
イッチの各々はMOSトランジスタを含む。MOSトラ
ンジスタは、対応するキャパシタの電極の他方と第1の
ノードとの間に接続される。上記複数の第1のアナログ
スイッチのうちのある第1のアナログスイッチに含まれ
るMOSトランジスタと他の第1のアナログスイッチに
含まれるMOSトランジスタとではチャネル幅および/
またはチャネル長が異なる。
【0018】MOSトランジスタが線形領域で動作して
いるときのオン抵抗はチャネル幅に反比例しチャネル長
に比例する。上記逐次比較型A/D変換器では、ある第
1のアナログスイッチに含まれるMOSトランジスタと
他の第1のアナログスイッチに含まれるMOSトランジ
スタとではチャネル幅および/またはチャネル長が異な
るため、これらの第1のアナログスイッチのオン抵抗に
それぞれ異なった重み付けをすることができる。したが
って、容量の重み付けが大きいキャパシタに対応する第
1のアナログスイッチのオン抵抗の重み付けを小さくす
ることができる。また、各キャパシタの時定数を等しく
することもできる。
【0019】好ましくは、上記複数の第1のアナログス
イッチの各々は、1または複数の第4のアナログスイッ
チを含む。1または複数の第4のアナログスイッチは、
対応するキャパシタの電極の他方と第1のノードとの間
に並列に接続される。上記複数の第1のアナログスイッ
チのうちのある第1のアナログスイッチに含まれる第4
のアナログスイッチの数と他の第1のアナログスイッチ
に含まれる第4のアナログスイッチの数とが異なる。
【0020】上記逐次比較型A/D変換器によれば、あ
る第1のアナログスイッチと他の第1のアナログスイッ
チとのオン抵抗にそれぞれ異なった重み付けをすること
ができる。したがって、容量の重み付けが大きいキャパ
シタに対応する第1のアナログスイッチのオン抵抗の重
み付けを小さくすることができる。また、各キャパシタ
の時定数を等しくすることもできる。
【0021】好ましくは、上記複数の第1のアナログス
イッチの各々は、MOSトランジスタを含む。MOSト
ランジスタは、対応するキャパシタの電極の他方と第1
のノードとの間に接続される。上記複数の第1のアナロ
グスイッチのうちのある第1のアナログスイッチに含ま
れるMOSトランジスタと他の第1のアナログスイッチ
に含まれるMOSトランジスタとではオン状態のときに
与えられるゲート電圧が異なる。
【0022】MOSトランジスタが線形領域で動作して
いるときのオン抵抗はゲート電圧に反比例する。上記逐
次比較型A/D変換器では、ある第1のアナログスイッ
チに含まれるMOSトランジスタと他の第1のアナログ
スイッチに含まれるMOSトランジスタとではオン状態
のときに与えられるゲート電圧が異なるため、これらの
第1のアナログスイッチのオン抵抗にそれぞれ異なった
重み付けをすることができる。したがって、容量の重み
付けが大きいキャパシタに対応する第1のアナログスイ
ッチのオン抵抗の重み付けを小さくすることができる。
また、各キャパシタの時定数を等しくすることもでき
る。
【0023】この発明のもう1つの局面に従うと、逐次
比較型A/D変換器は、複数のキャパシタと、複数の第
1のアナログスイッチと、複数の第2のアナログスイッ
チと、複数の第3のアナログスイッチと、電圧比較手段
と、状態制御手段とを備える。複数のキャパシタの電極
の一方は互いに接続されている。複数のキャパシタの各
々の容量に対して所定の重み付けがなされている。複数
の第1のアナログスイッチは、複数のキャパシタに対応
して設けられる。複数の第1のアナログスイッチの各々
は、対応するキャパシタの電極の他方と第1のノードと
の間に接続される。第1のノードはアナログ入力を受け
る。複数の第2のアナログスイッチは、複数のキャパシ
タに対応して設けられる。複数の第2のアナログスイッ
チの各々は、対応するキャパシタの電極の他方と第2の
ノードとの間に接続される。第2のノードは第1の基準
電圧を受ける。複数の第3のアナログスイッチは、複数
のキャパシタに対応して設けられる。複数の第3のアナ
ログスイッチの各々は、対応するキャパシタの電極の他
方と第3のノードとの間に接続される。第3のノード
は、第1の基準電圧よりも低い第2の基準電圧を受け
る。電圧比較手段は、複数のキャパシタの電極の一方の
電圧と第3の基準電圧とを比較する。状態制御手段は、
複数の第1のアナログスイッチ、複数の第2のアナログ
スイッチ、および複数の第3のアナログスイッチの各々
のオン/オフを電圧比較手段による比較の結果に基づい
て制御する。上記複数の第2のアナログスイッチの各々
は、所定の重み付けがなされたオン抵抗を有する。
【0024】上記逐次比較型A/D変換器では、複数の
キャパシタのうち容量の重み付けが大きいキャパシタに
対応する第2のアナログスイッチのオン抵抗の重み付け
を小さくすることにより、当該キャパシタの時定数を小
さくすることができる。これにより、各キャパシタ間で
の時定数の差が小さくなる。この結果、電荷再配分に必
要な時間を短縮することができ、A/D変換の動作速度
を向上させることができる。
【0025】好ましくは、上記複数の第2のアナログス
イッチの各々は、対応するキャパシタの容量に対する重
み付けの逆数で重み付けされたオン抵抗を有する。
【0026】上記逐次比較AD変換装置では、各キャパ
シタの時定数が等しくなるため、各キャパシタへの電荷
の充放電時間が等しくなる。これにより、各キャパシタ
間の時定数の差によって生じる動作速度の低下を防ぐこ
とができる。また、回路面積の増加をおさえつつA/D
変換動作を向上させることができる。
【0027】好ましくは、上記複数の第2のアナログス
イッチの各々はMOSトランジスタを含む。MOSトラ
ンジスタは、対応するキャパシタの電極の他方と第2の
ノードとの間に接続される。上記複数の第2のアナログ
スイッチのうちのある第2のアナログスイッチに含まれ
るMOSトランジスタと他の第2のアナログスイッチに
含まれるMOSトランジスタとではチャネル幅および/
またはチャネル長が異なる。
【0028】MOSトランジスタが線形領域で動作して
いるときのオン抵抗はチャネル幅に反比例しチャネル長
に比例する。上記逐次比較型A/D変換器では、ある第
2のアナログスイッチに含まれるMOSトランジスタと
他の第2のアナログスイッチに含まれるMOSトランジ
スタとではチャネル幅および/またはチャネル長が異な
るため、これらの第2のアナログスイッチのオン抵抗に
それぞれ異なった重み付けをすることができる。したが
って、容量の重み付けが大きいキャパシタに対応する第
2のアナログスイッチのオン抵抗の重み付けを小さくす
ることができる。また、各キャパシタの時定数を等しく
することもできる。
【0029】好ましくは、上記複数の第2のアナログス
イッチの各々は、1または複数の第5のアナログスイッ
チを含む。1または複数の第5のアナログスイッチは、
対応するキャパシタの電極の他方と第2のノードとの間
に並列に接続される。上記複数の第2のアナログスイッ
チのうちのある第2のアナログスイッチに含まれる第5
のアナログスイッチの数と他の第2のアナログスイッチ
に含まれる第5のアナログスイッチの数とが異なる。
【0030】上記逐次比較型A/D変換器によれば、あ
る第2のアナログスイッチと他の第2のアナログスイッ
チとのオン抵抗にそれぞれ異なった重み付けをすること
ができる。したがって、容量の重み付けが大きいキャパ
シタに対応する第2のアナログスイッチのオン抵抗の重
み付けを小さくすることができる。また、各キャパシタ
の時定数を等しくすることもできる。
【0031】好ましくは、上記複数の第2のアナログス
イッチの各々は、MOSトランジスタを含む。MOSト
ランジスタは、対応するキャパシタの電極の他方と第2
のノードとの間に接続される。上記複数の第2のアナロ
グスイッチのうちのある第2のアナログスイッチに含ま
れるMOSトランジスタと他の第2のアナログスイッチ
に含まれるMOSトランジスタとではオン状態のときに
与えられるゲート電圧が異なる。
【0032】MOSトランジスタが線形領域で動作して
いるときのオン抵抗はゲート電圧に反比例する。上記逐
次比較型A/D変換器では、ある第2のアナログスイッ
チに含まれるMOSトランジスタと他の第2のアナログ
スイッチに含まれるMOSトランジスタとではオン状態
のときに与えられるゲート電圧が異なるため、これらの
第2のアナログスイッチのオン抵抗にそれぞれ異なった
重み付けをすることができる。したがって、容量の重み
付けが大きいキャパシタに対応する第2のアナログスイ
ッチのオン抵抗の重み付けを小さくすることができる。
また、各キャパシタの時定数を等しくすることもでき
る。
【0033】この発明のさらにもう1つの局面に従う
と、逐次比較型A/D変換器は、複数のキャパシタと、
複数の第1のアナログスイッチと、複数の第2のアナロ
グスイッチと、複数の第3のアナログスイッチと、電圧
比較手段と、状態制御手段とを備える。複数のキャパシ
タの電極の一方は互いに接続されている。複数のキャパ
シタの各々の容量に対して所定の重み付けがなされてい
る。複数の第1のアナログスイッチは、複数のキャパシ
タに対応して設けられる。複数の第1のアナログスイッ
チの各々は、対応するキャパシタの電極の他方と第1の
ノードとの間に接続される。第1のノードはアナログ入
力を受ける。複数の第2のアナログスイッチは、複数の
キャパシタに対応して設けられる。複数の第2のアナロ
グスイッチの各々は、対応するキャパシタの電極の他方
と第2のノードとの間に接続される。第2のノードは第
1の基準電圧を受ける。複数の第3のアナログスイッチ
は、複数のキャパシタに対応して設けられる。複数の第
3のアナログスイッチの各々は、対応するキャパシタの
電極の他方と第3のノードとの間に接続される。第3の
ノードは、第1の基準電圧よりも低い第2の基準電圧を
受ける。電圧比較手段は、複数のキャパシタの電極の一
方の電圧と第3の基準電圧とを比較する。状態制御手段
は、複数の第1のアナログスイッチ、複数の第2のアナ
ログスイッチ、および複数の第3のアナログスイッチの
各々のオン/オフを電圧比較手段による比較の結果に基
づいて制御する。上記複数の第3のアナログスイッチの
各々は、所定の重み付けがなされたオン抵抗を有する。
【0034】上記逐次比較型A/D変換器では、複数の
キャパシタのうち容量の重み付けが大きいキャパシタに
対応する第3のアナログスイッチのオン抵抗の重み付け
を小さくすることにより、当該キャパシタの時定数を小
さくすることができる。これにより、各キャパシタ間で
の時定数の差が小さくなる。この結果、電荷再配分に必
要な時間を短縮することができ、A/D変換の動作速度
を向上させることができる。
【0035】好ましくは、上記複数の第3のアナログス
イッチの各々は、対応するキャパシタの容量に対する重
み付けの逆数で重み付けされたオン抵抗を有する。
【0036】上記逐次比較AD変換装置では、各キャパ
シタの時定数が等しくなるため、各キャパシタへの電荷
の充放電時間が等しくなる。これにより、各キャパシタ
間の時定数の差によって生じる動作速度の低下を防ぐこ
とができる。また、回路面積の増加をおさえつつA/D
変換動作を向上させることができる。
【0037】好ましくは、上記複数の第3のアナログス
イッチの各々はMOSトランジスタを含む。MOSトラ
ンジスタは、対応するキャパシタの電極の他方と第3の
ノードとの間に接続される。上記複数の第3のアナログ
スイッチのうちのある第3のアナログスイッチに含まれ
るMOSトランジスタと他の第3のアナログスイッチに
含まれるMOSトランジスタとではチャネル幅および/
またはチャネル長が異なる。
【0038】MOSトランジスタが線形領域で動作して
いるときのオン抵抗はチャネル幅に反比例しチャネル長
に比例する。上記逐次比較型A/D変換器では、ある第
3のアナログスイッチに含まれるMOSトランジスタと
他の第3のアナログスイッチに含まれるMOSトランジ
スタとではチャネル幅および/またはチャネル長が異な
るため、これらの第3のアナログスイッチのオン抵抗に
それぞれ異なった重み付けをすることができる。したが
って、容量の重み付けが大きいキャパシタに対応する第
3のアナログスイッチのオン抵抗の重み付けを小さくす
ることができる。また、各キャパシタの時定数を等しく
することもできる。
【0039】好ましくは、上記複数の第3のアナログス
イッチの各々は、1または複数の第6のアナログスイッ
チを含む。1または複数の第6のアナログスイッチは、
対応するキャパシタの電極の他方と第3のノードとの間
に並列に接続される。上記複数の第3のアナログスイッ
チのうちのある第3のアナログスイッチに含まれる第6
のアナログスイッチの数と他の第3のアナログスイッチ
に含まれる第6のアナログスイッチの数とが異なる。
【0040】上記逐次比較型A/D変換器によれば、あ
る第3のアナログスイッチと他の第3のアナログスイッ
チとのオン抵抗にそれぞれ異なった重み付けをすること
ができる。したがって、容量の重み付けが大きいキャパ
シタに対応する第3のアナログスイッチのオン抵抗の重
み付けを小さくすることができる。また、各キャパシタ
の時定数を等しくすることもできる。
【0041】好ましくは、上記複数の第3のアナログス
イッチの各々は、MOSトランジスタを含む。MOSト
ランジスタは、対応するキャパシタの電極の他方と第3
のノードとの間に接続される。上記複数の第3のアナロ
グスイッチのうちのある第3のアナログスイッチに含ま
れるMOSトランジスタと他の第3のアナログスイッチ
に含まれるMOSトランジスタとではオン状態のときに
与えられるゲート電圧が異なる。
【0042】MOSトランジスタが線形領域で動作して
いるときのオン抵抗はゲート電圧に反比例する。上記逐
次比較型A/D変換器では、ある第3のアナログスイッ
チに含まれるMOSトランジスタと他の第3のアナログ
スイッチに含まれるMOSトランジスタとではオン状態
のときに与えられるゲート電圧が異なるため、これらの
第3のアナログスイッチのオン抵抗にそれぞれ異なった
重み付けをすることができる。したがって、容量の重み
付けが大きいキャパシタに対応する第3のアナログスイ
ッチのオン抵抗の重み付けを小さくすることができる。
また、各キャパシタの時定数を等しくすることもでき
る。
【0043】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相
当部分には同一の符号を付し、その説明は繰り返さな
い。
【0044】(第1の実施形態)図1は、この発明の第
1の実施形態による逐次比較型A/D変換器の構成を示
す図である。図1に示す逐次比較型A/D変換器はNビ
ットA/D変換器であり、容量アレイ50と、アナログ
スイッチ群90,100,110と、電圧比較器27
と、状態制御回路28とを備える。
【0045】容量アレイ50は、(N+1)個のキャパ
シタ51[0]−51[N]を含む。キャパシタ51
[N]−51[0]の容量はそれぞれ2(N-1)C,2
(N-2)C,2(N-3)C,・・・,20C,Cである。な
お、Cは単位容量である。
【0046】アナログスイッチ群90は容量アレイ50
をアナログ入力Vinに接続する。アナログスイッチ群
90は(N+1)個のアナログスイッチ90[N]−9
0[0]を含む。アナログスイッチ90[N]−90
[0]は、キャパシタ51[N]−51[0]の電極の
一方とノードND1との間に接続される。ノードND1
はアナログ入力Vinを受ける。アナログスイッチ90
[N]のオン抵抗はR/4であり、アナログスイッチ9
0[N−1]のオン抵抗はR/2である。アナログスイ
ッチ90[N−2]−90[0]のオン抵抗はRであ
る。なお、Rは単位抵抗である。このようにアナログス
イッチ90[N]−90[0]のオン抵抗に重み付けを
している。
【0047】アナログスイッチ群100は上側基準電圧
Vrh(ここでは電源電圧Vddとする。)に容量アレ
イ50を接続する。アナログスイッチ群100は(N+
1)個のアナログスイッチ100[N]−100[0]
を含む。アナログスイッチ100[N]−100[0]
は、キャパシタ51[N]−51[0]の電極の一方と
ノードND2との間に接続される。ノードND2は上側
基準電圧Vrhを受ける。アナログスイッチ100
[N]−100[0]のオン抵抗はRである。
【0048】アナログスイッチ群110は下側基準電圧
Vrl(ここでは接地電圧GNDとする。)に容量アレ
イ50を接続する。アナログスイッチ群110は(N+
1)個のアナログスイッチ110[N]−110[0]
を含む。アナログスイッチ110[N]−110[0]
は、キャパシタ51[N]−51[0]の電極の一方と
ノードND3との間に接続される。ノードND3は下側
基準電圧Vrlを受ける。アナログスイッチ110
[N]−110[0]のオン抵抗はRである。
【0049】電圧比較器27はアナログスイッチ33と
インバータ34とを含む。インバータ34は容量アレイ
50のキャパシタ51[N]−51[0]の電極の他方
の電圧を反転して出力する。キャパシタ51[N]−5
1[0]の電極の他方は互いに共通に接続されている。
アナログスイッチ33はインバータ34の入力と出力と
の間に接続される。そして電圧比較器2からの出力がラ
ッチ回路(図示せず)によってラッチされる。LSB
(最下位ビット)まで電圧比較が終わると、ラッチ回路
は、ラッチしているデジタル値を出力する。
【0050】状態制御回路28は、アナログスイッチ9
0[N]−90[0],100[N]−100[0],
110[N]−110[0],33のオン/オフを電圧
比較器27の出力に応じて制御する。
【0051】以上のように構成された逐次比較型A/D
変換器の動作は、図5に示した従来の逐次比較型A/D
変換器の動作をNビットに拡張したものと同様である。
しかし、各キャパシタ51[N]−51[0]にアナロ
グ入力Vinをプリチャージ(サンプルホールド)する
際の時定数は、 キャパシタ51[N] :2(N-1)C・R/4=2(N-3)CR キャパシタ51[N−1] :2(N-2)C・R/2=2(N-3)CR キャパシタ51[N−2] :2(N-3)CR ・・・・ キャパシタ51[1] :20CR キャパシタ51[0] : CR となる。
【0052】このように、時定数の最大が2(N-3)CR
となるため、図5に示した従来の逐次比較型A/D変換
器に比べて4倍速くプリチャージ(サンプルホールド)
を行うことができる。これによりA/D変換にかかる時
間を短縮でき、動作速度を上げることができる。
【0053】なお、ここではアナログスイッチ群90に
ついてだけ重み付けを行なったけれども、アナログスイ
ッチ群100およびアナログスイッチ群110について
も同様に重み付けすると電荷再配分を従来よりも4倍速
く行なうことができ、その結果 動作速度を上げること
ができる。
【0054】また、アナログスイッチ群90,100,
110についての重み付けを組み合わせて行なうと動作
速度向上の効果が上がる。
【0055】(第2の実施形態)図2は、この発明の第
2の実施形態による逐次比較型A/D変換器の構成を示
す図である。図2に示す逐次比較型A/D変換器は、図
1に示したアナログスイッチ群90,100,110に
代えて、アナログスイッチ群60,70,80を備え
る。その他の構成は図1に示した逐次比較型A/D変換
器と同様である。
【0056】アナログスイッチ群60は容量アレイ50
をアナログ入力Vinに接続する。アナログスイッチ群
60は(N+1)個のアナログスイッチ61[N]−6
1[0]を含む。アナログスイッチ61[N]−61
[0]は、キャパシタ51[N]−51[0]の電極の
一方とノードND1との間に接続される。ノードND1
はアナログ入力Vinを受ける。アナログスイッチ61
[N]−61[0]のオン抵抗は、R/2(N-1),R/
(N-2),R/2(N-3),・・・,R/20,Rである。
なお、Rは単位抵抗である。このように、キャパシタ5
1[N]−51[0]の容量に対する重み付けの逆数で
アナログスイッチ61[N]−61[0]のオン抵抗に
重み付けしている。
【0057】アナログスイッチ群70は上側基準電圧V
rh(ここでは電源電圧Vddとする。)に容量アレイ
50を接続する。アナログスイッチ群70は(N+1)
個のアナログスイッチ71[N]−71[0]を含む。
アナログスイッチ71[N]−71[0]は、キャパシ
タ51[N]−51[0]の電極の一方とノードND2
との間に接続される。ノードND2は上側基準電圧Vr
hを受ける。アナログスイッチ71[N]−71[0]
のオン抵抗は、R/2(N-1),R/2(N-2),R/2
(N-3),・・・,R/20,Rである。このように、キャ
パシタ51[N]−51[0]の容量に対する重み付け
の逆数でアナログスイッチ71[N]−71[0]のオ
ン抵抗に重み付けしている。
【0058】アナログスイッチ群80は下側基準電圧V
rl(ここでは接地電圧GNDとする。)に容量アレイ
50を接続する。アナログスイッチ群80は(N+1)
個のアナログスイッチ81[N]−81[0]を含む。
アナログスイッチ81[N]−81[0]は、キャパシ
タ51[N]−51[0]の電極の一方とノードND3
との間に接続される。ノードND3は下側基準電圧Vr
lを受ける。アナログスイッチ81[N]−81[0]
のオン抵抗は、R/2(N-1),R/2(N-2),R/2
(N-3),・・・,R/20,Rである。このように、キャ
パシタ51[N]−51[0]の容量に対する重み付け
の逆数でアナログスイッチ81[N]−81[0]のオ
ン抵抗に重み付けしている。
【0059】以上のように構成された逐次比較型A/D
変換器の動作は、図1に示した逐次比較型A/D変換器
の動作と同様である。しかし、各キャパシタ51[N]
−51[0]に対する時定数は、 キャパシタ51[N] :2(N-1)C・R/2(N-1)=CR キャパシタ51[N−1] :2(N-2)C・R/2(N-2)=CR キャパシタ51[N−2] :2(N-3)C・R/2(N-3)=CR ・・・・・ キャパシタ51[1] :20C・R/20=CR キャパシタ51[0] :CR となる。すなわち各キャパシタ51[N]−51[0]
に対する時定数は等しくなる。これにより、アナログ入
力Vinをサンプルホールドする時間および電荷再配分
を行なう時間はどのキャパシタ51[N]−51[0]
でも等しくなる。この結果、動作速度を最大限向上させ
ることができる。また、各キャパシタ51[N]−51
[0]の容量に対する重み付けの逆数でアナログスイッ
チ71[N]−71[0],81[N]−81[0],
61[N]−61[0]のオン抵抗に重み付けするた
め、面積増加を最小限に止めることができる。
【0060】(アナログスイッチのオン抵抗に対する重
み付け)図3は、第1および第2の実施形態で説明した
ようなオン抵抗に対する重み付けを実現するアナログス
イッチの具体例を示す図である。
【0061】図3(a)に示すアナログスイッチ群12
0は、チャネル幅を異ならせることによりオン抵抗に重
み付けするものである。アナログスイッチ群120はア
ナログスイッチ121[N]−121[0]を含む。ア
ナログスイッチ121[N]−121[0]は、図1お
よび図2に示したアナログスイッチ群60,70,8
0,90,100,110におけるアナログスイッチ6
1[N]−61[0],71[N]−71[0],81
[N]−81[0],90[N]−90[0],100
[N]−100[0],110[N]−110[0]に
相当する。アナログスイッチ121[N]−121
[0]は、PチャネルMOSトランジスタおよびNチャ
ネルMOSトランジスタで構成されるトランスファゲー
トを含む。アナログスイッチ121[N]−121
[0]内のPチャネルMOSトランジスタおよびNチャ
ネルMOSトランジスタのチャネル幅Wは、それぞれ2
(N-1)W0,2(N-2)W0,2(N-3)W0,・・・,20
0,W0である。アナログスイッチ121[N]−12
1[0]内のPチャネルMOSトランジスタおよびNチ
ャネルMOSトランジスタのチャネル長LはL0であ
る。MOSトランジスタが線形領域で動作しているとき
のオン抵抗はチャネル幅Wに反比例するため、チャネル
幅Wを異ならせることによってアナログスイッチ121
[N]−121[0]のオン抵抗に重み付けすることが
できる。また、MOSトランジスタが線形領域で動作し
ているときのオン抵抗はチャネル長Lに比例するため、
アナログスイッチ121[N]−121[0]内のMO
Sトランジスタのチャネル長Lを異ならせることによっ
てもアナログスイッチ121[N]−121[0]オン
抵抗に重み付けすることができる。さらに、アナログス
イッチ121[N]−121[0]内のMOSトランジ
スタのチャネル幅Wおよびチャネル長Lの両者を異なら
せることによってもアナログスイッチ121[N]−1
21[0]のオン抵抗に重み付けすることができる。
【0062】また、図3(b)に示すアナログスイッチ
群130は、オン抵抗が等しいスイッチを並列接続する
ことによりオン抵抗に重み付けするものである。アナロ
グスイッチ群130はアナログスイッチ131[N]−
131[0]を含む。アナログスイッチ131[N]−
131[0]は、図1および図2に示したアナログスイ
ッチ群60,70,80,90,100,110におけ
るアナログスイッチ61[N]−61[0],71
[N]−71[0],81[N]−81[0],90
[N]−90[0],100[N]−100[0],1
10[N]−110[0]に相当する。アナログスイッ
チ131[N]−131[0]は、オン抵抗が等しいア
ナログスイッチをそれぞれ2(N-1)個,2(N-2)個,2
(N-3)個,・・・,20個,1個並列に接続して構成され
る。このようにオン抵抗が等しいアナログスイッチを並
列に接続することにより、各キャパシタ51[N]−5
1[0]につながるアナログスイッチ131[N]−1
31[0]のオン抵抗に重み付けすることができる。
【0063】また、図3(c)に示すアナログスイッチ
群140は、ゲート電圧を異ならせることによりオン抵
抗に重み付けするものである。アナログスイッチ群14
0はアナログスイッチ141[N]−141[0]とゲ
ート電圧生成回路142とを含む。アナログスイッチ1
41[N]−141[0]は、図1および図2に示した
アナログスイッチ群60,70,80,90,100,
110におけるアナログスイッチ61[N]−61
[0],71[N]−71[0],81[N]−81
[0],90[N]−90[0],100[N]−10
0[0],110[N]−110[0]に相当する。ア
ナログスイッチ141[N]−141[0]は、Pチャ
ネルMOSトランジスタおよびNチャネルMOSトラン
ジスタで構成されるトランスファゲートを含む。ゲート
電圧生成回路142は、アナログスイッチ141[N]
−141[0]内のPチャネルMOSトランジスタおよ
びNチャネルMOSトランジスタに与えるゲート電圧を
生成する。MOSトランジスタが線形領域で動作してい
るときのオン抵抗はゲート電圧に反比例する。したがっ
て、アナログスイッチ141[N]−141[0]内の
PチャネルMOSトランジスタおよびNチャネルMOS
トランジスタにオン状態のときに与えるゲート電圧を異
ならせることにより、アナログスイッチのオン抵抗に重
み付けすることができる。また、一般的なアナログスイ
ッチの構成を特に変える必要がない。
【0064】
【発明の効果】この発明の1つの局面に従った逐次比較
型A/D変換器では、複数の第1のアナログスイッチの
各々は所定の重み付けがなされたオン抵抗を有するた
め、アナログ入力をプリチャージ(サンプルホールド)
するのに必要な時間を短縮することができ、A/D変換
の動作速度を向上させることができる。
【0065】また、複数の第1のアナログスイッチの各
々は、対応するキャパシタの容量に対する重み付けの逆
数で重み付けされたオン抵抗を有するため、各キャパシ
タ間の時定数の差によって生じる動作速度の低下を防ぐ
ことができる。
【0066】また、ある第1のアナログスイッチに含ま
れるMOSトランジスタと他の第1のアナログスイッチ
に含まれるMOSトランジスタとではチャネル幅および
/またはチャネル長が異なるため、これらの第1のアナ
ログスイッチのオン抵抗にそれぞれ異なった重み付けを
することができる。
【0067】また、ある第1のアナログスイッチに含ま
れる第4のアナログスイッチの数と他の第1のアナログ
スイッチに含まれる第4のアナログスイッチの数とが異
なるため、これらの第1のアナログスイッチのオン抵抗
にそれぞれ異なった重み付けをすることができる。
【0068】また、ある第1のアナログスイッチに含ま
れるMOSトランジスタと他の第1のアナログスイッチ
に含まれるMOSトランジスタとではオン状態のときに
与えられるゲート電圧が異なるため、これらの第1のア
ナログスイッチのオン抵抗にそれぞれ異なった重み付け
をすることができる。
【0069】この発明のもう1つの局面に従った逐次比
較型A/D変換器では、複数の第2のアナログスイッチ
の各々は所定の重み付けがなされたオン抵抗を有するた
め、電荷再配分に必要な時間を短縮することができ、A
/D変換の動作速度を向上させることができる。
【0070】この発明のさらにもう1つの局面に従った
逐次比較型A/D変換器では、複数の第3のアナログス
イッチの各々は所定の重み付けがなされたオン抵抗を有
するため、電荷再配分に必要な時間を短縮することがで
き、A/D変換の動作速度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施形態による逐次比較型A
/D変換器の構成を示す図である。
【図2】この発明の第2の実施形態による逐次比較型A
/D変換器の構成を示す図である。
【図3】(a)−(c)は、オン抵抗に対する重み付け
を実現するアナログスイッチの具体例を示す図である。
【図4】一般的な逐次比較型A/D変換器の構成を示す
ブロック図である。
【図5】電荷再配分型の従来の逐次比較型A/D変換器
の構成を示す図である。
【符号の説明】
1 サンプルホールド部 2 電圧比較手段 3 局部D/A変換器 4 ラッチ回路 5 状態制御回路 11−14,51[N]−51[0] キャパシタ 15−26,33,61[N]−61[0],71
[N]−71[0],81[N]−81[0],91
[N]−91[0],101[N]−101[0],1
11[N]−111[0],121[N]−121
[0],131[N]−131[0],141[N]−
141[0] アナログスイッチ 27 電圧比較器 28 状態制御回路 29,50 容量アレイ 30−32,60,70,80,90,100,11
0,120,130,140 アナログスイッチ群 34 インバータ 142 ゲート電圧生成回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 朴井 高宏 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 平4−3522(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03M 1/00 - 1/88

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電極の一方が互いに接続され、各々の容
    量に対して所定の重み付けがなされた複数のキャパシタ
    と、 前記複数のキャパシタに対応して設けられ、対応するキ
    ャパシタの電極の他方とアナログ入力を受ける第1のノ
    ードとの間に各々が接続された複数の第1のアナログス
    イッチと、 前記複数のキャパシタに対応して設けられ、対応するキ
    ャパシタの電極の前記他方と第1の基準電圧を受ける第
    2のノードとの間に各々が接続された複数の第2のアナ
    ログスイッチと、 前記複数のキャパシタに対応して設けられ、対応するキ
    ャパシタの電極の前記他方と前記第1の基準電圧よりも
    低い第2の基準電圧を受ける第3のノードとの間に各々
    が接続された複数の第3のアナログスイッチと、 前記複数のキャパシタの電極の前記一方の電圧と第3の
    基準電圧とを比較する電圧比較手段と、 前記複数の第1のアナログスイッチ、前記複数の第2の
    アナログスイッチ、および前記複数の第3のアナログス
    イッチの各々のオン/オフを前記電圧比較手段による比
    較の結果に基づいて制御する状態制御手段とを備え、 前記複数の第1のアナログスイッチの各々は、所定の重
    み付けがなされたオン抵抗を有することを特徴とする逐
    次比較型A/D変換器。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の逐次比較型A/D変換
    器において、 前記複数の第1のアナログスイッチの各々は、対応する
    キャパシタの容量に対する重み付けの逆数で重み付けさ
    れたオン抵抗を有することを特徴とする逐次比較型A/
    D変換器。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の逐次比較型A/D変換
    器において、 前記複数の第1のアナログスイッチの各々は、 対応するキャパシタの電極の前記他方と前記第1のノー
    ドとの間に接続されたMOSトランジスタを含み、 前記複数の第1のアナログスイッチのうちのある第1の
    アナログスイッチに含まれるMOSトランジスタと他の
    第1のアナログスイッチに含まれるMOSトランジスタ
    とではチャネル幅および/またはチャネル長が異なるこ
    とを特徴とする逐次比較型A/D変換器。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の逐次比較型A/D変換
    器において、 前記複数の第1のアナログスイッチの各々は、 対応するキャパシタの電極の前記他方と前記第1のノー
    ドとの間に並列に接続された1または複数の第4のアナ
    ログスイッチを含み 前記複数の第1のアナログスイッチのうちのある第1の
    アナログスイッチに含まれる第4のアナログスイッチの
    数と他の第1のアナログスイッチに含まれる第4のアナ
    ログスイッチの数とが異なることを特徴とする逐次比較
    型A/D変換器。
  5. 【請求項5】 請求項1に記載の逐次比較型A/D変換
    器において、 前記複数の第1のアナログスイッチの各々は、 対応するキャパシタの電極の前記他方と前記第1のノー
    ドとの間に接続されたMOSトランジスタを含み、 前記複数の第1のアナログスイッチのうちのある第1の
    アナログスイッチに含まれるMOSトランジスタと他の
    第1のアナログスイッチに含まれるMOSトランジスタ
    とではオン状態のときに与えられるゲート電圧が異なる
    ことを特徴とする逐次比較型A/D変換器。
JP2001178178A 2001-06-13 2001-06-13 逐次比較型a/d変換器 Expired - Lifetime JP3493187B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001178178A JP3493187B2 (ja) 2001-06-13 2001-06-13 逐次比較型a/d変換器
US10/166,666 US6563449B2 (en) 2001-06-13 2002-06-12 Successive comparison analog-to-digital converter
CN02123207.5A CN1187901C (zh) 2001-06-13 2002-06-12 依次比较型a/d转换器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001178178A JP3493187B2 (ja) 2001-06-13 2001-06-13 逐次比較型a/d変換器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002374169A JP2002374169A (ja) 2002-12-26
JP3493187B2 true JP3493187B2 (ja) 2004-02-03

Family

ID=19018919

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001178178A Expired - Lifetime JP3493187B2 (ja) 2001-06-13 2001-06-13 逐次比較型a/d変換器

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6563449B2 (ja)
JP (1) JP3493187B2 (ja)
CN (1) CN1187901C (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100345383C (zh) * 2003-05-20 2007-10-24 瑞昱半导体股份有限公司 具有可调带宽滤波功能的模拟前端装置
CN1671054B (zh) * 2004-03-15 2010-04-07 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 用于低非线性度模-数转换器的器件与方法
JP2005295315A (ja) * 2004-04-01 2005-10-20 Oki Electric Ind Co Ltd 逐次比較型a/d変換器およびコンパレータ
CN101036227A (zh) * 2004-10-08 2007-09-12 皇家飞利浦电子股份有限公司 由mos晶体管进行开关的电容器阵列
EP2135351A1 (en) 2007-03-05 2009-12-23 Nxp B.V. Radio frequency filter
JP2009171298A (ja) * 2008-01-17 2009-07-30 Panasonic Corp デジタル・アナログコンバータ
US8576106B2 (en) * 2010-11-30 2013-11-05 International Business Machines Corporation Analog-digital converter
US9083575B2 (en) * 2011-03-25 2015-07-14 Micron Technology, Inc. Devices having different effective series resistance states and methods for controlling such devices
US8830100B2 (en) * 2012-02-22 2014-09-09 Asahi Kasei Microdevices Corporation Digital-analog converter and control method thereof
JP5700698B2 (ja) * 2012-04-26 2015-04-15 旭化成エレクトロニクス株式会社 デジタル・アナログ変換器
CN115853711A (zh) 2015-10-26 2023-03-28 通用电气公司 对电容器组预充电
JP6075488B2 (ja) * 2016-03-11 2017-02-08 セイコーエプソン株式会社 A/d変換回路及び電子機器
WO2019116444A1 (ja) 2017-12-12 2019-06-20 オリンパス株式会社 Ad変換回路、撮像装置、および内視鏡システム
WO2021005654A1 (ja) * 2019-07-05 2021-01-14 サンケン電気株式会社 A/d変換回路
JP2023062455A (ja) 2021-10-21 2023-05-08 サンケン電気株式会社 アナログデジタル変換器

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4618852A (en) * 1985-02-27 1986-10-21 Motorola, Inc. Monotonic A/D converter which minimizes circuitry for high order bit conversion
SE452830B (sv) * 1985-12-02 1987-12-14 Ellemtel Utvecklings Ab Anordning for att omvandla en analog, balanserad signal (v?71i?71n?71+,v?71i?71n?71-) till en digital signal genom laddningsomfordelning i ett antal kapacitiva element
JP2557419B2 (ja) 1987-10-28 1996-11-27 日本電気株式会社 アナログ・ディジタル変換装置
US5006854A (en) * 1989-02-13 1991-04-09 Silicon Systems, Inc. Method and apparatus for converting A/D nonlinearities to random noise
JP2952786B2 (ja) * 1990-09-20 1999-09-27 株式会社日立製作所 Ad変換器
US6147551A (en) * 1998-01-05 2000-11-14 Motorola, Inc. Switched capacitor circuit and method for reducing sampling noise

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002374169A (ja) 2002-12-26
CN1391353A (zh) 2003-01-15
CN1187901C (zh) 2005-02-02
US6563449B2 (en) 2003-05-13
US20020190887A1 (en) 2002-12-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3493187B2 (ja) 逐次比較型a/d変換器
US8368577B2 (en) A/D converter
US7903018B2 (en) Analog/digital converter assembly and corresponding method
JP5310222B2 (ja) 電荷分配型デジタル・アナログ変換器及びそれを有する逐次比較型アナログ・デジタル変換器
US20030234736A1 (en) A/D converter
JP2001244816A (ja) 改善された線形性および整定時間を有するデジタルにスイッチングされる電位差計
CN112332849B (zh) 一种实现低功耗低噪声的数模转换器和模数转换器
CN111130550A (zh) 一种逐次逼近寄存器型模数转换器及其信号转换方法
EP0661817A1 (en) Digital-to-analog converter
CN111865319A (zh) 一种基于四输入比较器的超低功耗逐次逼近型模数转换器
KR100311043B1 (ko) 고속 스위칭 가능하고 정밀하게 전압 변환 가능한 디지털 아날로그 변환기
JP2003504912A (ja) キャパシタアレイ
JP7142341B2 (ja) Ad変換器
US6927723B2 (en) A/D converter and A/D conversion method
US4517551A (en) Digital to analog converter circuit
JP2005295315A (ja) 逐次比較型a/d変換器およびコンパレータ
JP5623618B2 (ja) A/d変換器
JP3984517B2 (ja) Ad変換器
US7403148B2 (en) Methods and apparatus to balance reference settling in switched-capacitor pipelined digital to analog converter
US8547268B2 (en) Switched current-cell with intermediate state
JP3331081B2 (ja) サブレンジング型a/d変換器
US20080068243A1 (en) Analogue to digital converter, and method of analogue to digital conversion
JPH05206858A (ja) Da変換方法
JP2004260263A (ja) Ad変換器
Prathiba et al. Analysis of Reversible Switching Capacitive DAC Based Low Power SAR-ADC

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3493187

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071114

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081114

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091114

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091114

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101114

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111114

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121114

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121114

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131114

Year of fee payment: 10

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term