JP3492826B2 - チップの半田付け方法 - Google Patents

チップの半田付け方法

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    • H05K3/3485Applying solder paste, slurry or powder

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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は、コンデンサチップや抵
抗チップなどのチップを基板のランドに半田付けするチ
ップの半田付け方法に関するものである。 【0002】 【従来の技術】コンデンサチップや抵抗チップなどのチ
ップ型電子部品(以下、チップという)は、基板のラン
ド上にクリーム半田を塗布し、このクリーム半田上に電
極を搭載して半田付けされる。以下、従来のチップの半
田付け方法について説明する。 【0003】図3は従来のクリーム半田が塗布された基
板の部分平面図、図4(a)(b)は同チップを半田付
け中のチップと基板の断面図である。図3において、基
板1の上面には回路パターンのランド2が形成されてい
る。またランド2上にはスクリーン印刷機などによりク
リーム半田3が塗布されている。 【0004】図4(a)は、チップ4を基板1に搭載し
た状態を示している。チップ4はモールド体5の両側部
に電極6を備えており、この電極6をクリーム半田3に
着地させて搭載されている。チップ4が搭載された基板
1は加熱炉へ送られ、クリーム半田3をその溶融温度以
上まで加熱することにより、半田付けが行われる。 【0005】図4(b)は、加熱炉で加熱中のチップを
示している。加熱炉で加熱されることによりクリーム半
田3は溶融するが、左右のクリーム半田3は同時に溶融
するとは限らない。本例では左側のクリーム半田3が右
側のクリーム半田3よりも先に溶融した場合を示してい
る。この場合、左側のクリーム半田3が溶融したことに
より表面張力が生じ、この表面張力によりチップ4は左
側へ引き付けられ、矢印方向へ起立してしまいやすいも
のであった。このようなチップ立ちは、チップが小型・
軽量化するほど発生しやすい。 【0006】 【発明が解決しようとする課題】したがって本発明は、
クリーム半田の溶融速度のアンバランスによって発生す
るチップ立ちを解消できるチップの半田付け方法を提供
することを目的とする。 【0007】 【課題を解決するための手段】このために本発明は、チ
ップの電極のタテ寸法Hとヨコ寸法Lの寸法比H/L
求めることによりチップ立ちを予知し、前記寸法比が
2.1以上であればクリーム半田をチップの電極よりも
内側のチップのモールド体の下面に対応する位置まで塗
布するようにスクリーンマスクのパターン孔を開孔して
基板のランド上にクリーム半田を塗布し、前記モールド
体の下面を前記クリーム半田に接着させて半田付けする
ようにしている。 【0008】 【作用】上記構成によれば、チップのモールド体はクリ
ーム半田に接着されているので、左右のクリーム半田の
溶融速度にアンバランスが生じて一方のクリーム半田が
先に溶融して表面張力が生じても、この接着力のために
チップ立ちが発生することはなく、チップの両側部の電
極を基板のランドに確実に半田付けできる。 【0009】 【実施例】次に、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図1は本発明の一実施例のクリーム半田が塗布さ
れた基板の部分平面図、図2(a)(b)は同チップを
半田付け中のチップと基板の断面図である。 【0010】図1において、基板1のランド2上にはス
クリーン印刷機などによりクリーム半田3が塗布されて
いる。図3に示す従来例では、クリーム半田3はランド
2の中央部に塗布されているのに対し、図1ではクリー
ム半田3はランド2の内端部まで塗布されている。この
ようにチップの電極よりも内側のモールド体の下面に対
応する位置までクリーム半田を塗布することにより、後
述するようにチップ立ちを阻止できる。 【0011】図2(a)はチップ4を基板1に搭載した
状態を示している。クリーム半田3はランドの内端部ま
で塗布されているので、モールド体5の下面はクリーム
半田3に接着されている。この基板1は加熱炉へ送られ
て加熱される。 【0012】図2(b)は加熱炉で加熱している状態を
示している。上述したように、左右のクリーム半田3は
同時に溶融するとは限らず、先きに溶融したクリーム半
田3の表面張力に引き寄せられて起立しようとするが、
モールド体5の下面はクリーム半田3に接着されている
ため、その接着力によりチップ4が起立するのは阻止さ
れる。したがって図2(b)に示すようにモールド体5
の両側部の電極6は、ランド2上に確実に半田付けされ
る。 【0013】ところで、加熱炉でクリーム半田を溶融さ
せる際に、チップ立ちが生じるか否かは、チップサイズ
やチップ重量などにより決定されるが、チップ立ちが生
じるか否かを予知できれば、スクリーンマスクの設計上
有利である。すなわちクリーム半田は、一般に、スクリ
ーン印刷機のスクリーンマスクのパターン孔を通してラ
ンド上に塗布されるが、チップが起立しやすいことが予
知できるならば、図1に示すようにクリーム半田をラン
ドの内端部まで塗布できるように、スクリーンマスクの
パターン孔を設計すればよいこととなる。 【0014】上述のように、チップ立ちが生じるか否か
は、チップサイズやチップ重量などにより決定される
が、もっと簡易な方法によりチップ立ちの有無を予知で
きることがスクリーンマスクの設計上望ましい。そこで
本発明者は実験を繰り返した結果、チップの電極のタ
テ、ヨコの寸法比によって、チップの起立の有無をほぼ
的確に予知できることを発見した。すなわち図2(a)
において、電極6のタテ寸法をH、ヨコ寸法をLとした
場合、H/L≧2.1であればチップ立ちが発生しやす
く、H/L<2.1であればチップ立ちは発生しにくい
ことを発見した。したがってこのH/Lの大きさを求め
ることによりチップ立ちの有無を予知し、H/L≧2.
1であれば、モールド体の下面に対応する位置までクリ
ーム半田を塗布できるように、スクリーンマスクのパタ
ーン孔を開孔し、このスクリーンマスクによりランド上
にクリーム半田を塗布すればよいこととなる。このよう
にH/Lの大きさを指標とすることにより、チップ立ち
の有無を予知し、スクリーンマスクの設計を行うことが
できる。 【0015】 【発明の効果】本発明によれば、チップの電極のタテ寸
法Hとヨコ寸法Lの寸法比H/Lを求めることによりチ
ップ立ちを予知し、前記寸法比が2.1以上であればク
リーム半田を電極よりも内側の前記チップのモールド体
の下面に対応する位置まで塗布し、この下面を前記クリ
ーム半田に接着させて半田付けするようにしているの
で、左右のクリーム半田の溶融速度にアンバランスが生
じて一方のクリーム半田が先に溶融しても、この接着力
のために、チップ立ちが発生することはなく、チップの
両側部の電極を基板のランドに確実に半田付けできる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の一実施例のクリーム半田が塗布された
基板の部分平面図 【図2】本発明の一実施例のチップを半田付け中のチッ
プと基板の断面図 【図3】従来のクリーム半田が塗布された基板の部分平
面図 【図4】従来のチップを半田付け中のチップと基板の断
面図 【符号の説明】 1 基板 2 ランド 3 クリーム半田 4 チップ 5 モールド体 6 電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−151893(JP,A) 特開 平6−6021(JP,A) 特開 平3−73393(JP,A) 特開 平3−3391(JP,A) 特開 昭63−284891(JP,A) 実開 平3−50400(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H05K 3/34

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項1】基板のランドにクリーム半田を塗布し、こ
    のランド上にチップの両側部に設けられた電極を半田付
    けするチップの半田付け方法であって、前記電極のタテ
    寸法Hとヨコ寸法Lの寸法比H/Lを求めることにより
    チップ立ちを予知し、前記寸法比が2.1以上であれば
    前記クリーム半田を前記電極よりも内側の前記チップの
    モールド体の下面に対応する位置まで塗布するようにス
    クリーンマスクのパターン孔を開孔して基板のランド上
    にクリーム半田を塗布し、前記モールド体の下面を前記
    クリーム半田に接着させて半田付けすることを特徴とす
    るチップの半田付け方法。
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