JP3450738B2 - 電磁雑音レコーダ及び記録方法 - Google Patents
電磁雑音レコーダ及び記録方法Info
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- JP3450738B2 JP3450738B2 JP07573699A JP7573699A JP3450738B2 JP 3450738 B2 JP3450738 B2 JP 3450738B2 JP 07573699 A JP07573699 A JP 07573699A JP 7573699 A JP7573699 A JP 7573699A JP 3450738 B2 JP3450738 B2 JP 3450738B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電磁雑音の存在の
有無、さらには、その発生時間の長短を評価する電磁雑
音レコーダ及び記録方法に関するものである。
有無、さらには、その発生時間の長短を評価する電磁雑
音レコーダ及び記録方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】電磁雑音をその場で逐次評価するには市
販の電磁雑音センサが一般的に用いられる。この電磁雑
音の発生は不規則であり突発的であることが多く、連続
的に測定することが非常に重要になる。従来は、電磁雑
音センサの出力をアナログ記録計やデジタル記録計を用
いて電磁雑音を連続的に測定していた。
販の電磁雑音センサが一般的に用いられる。この電磁雑
音の発生は不規則であり突発的であることが多く、連続
的に測定することが非常に重要になる。従来は、電磁雑
音センサの出力をアナログ記録計やデジタル記録計を用
いて電磁雑音を連続的に測定していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、アナロ
グ記録計ではデータが紙出力され、記録的には問題ない
がデータの比較や活用で問題があった。また、デジタル
記録計ではデータサンプリング間隔がポイントとなる。
サンプリング間隔が短い場合には、データの記録落しは
少なくなるが、データ数が膨大であり大きなデータ記憶
容量が必要となる問題があった。サンプリング間隔が長
い場合には、データ数は少なくなるが、データの記録落
しが多くなるという問題があった。デジタル記録計での
データサンプリング間隔はｍｓ（ミリ秒）オーダであ
り、電磁雑音の連続測定は数１０分から数時間が現実的
なところであった。すなわち、デジタル記録での数日か
ら数ヶ月間の連続測定はほとんど不可能であった。
グ記録計ではデータが紙出力され、記録的には問題ない
がデータの比較や活用で問題があった。また、デジタル
記録計ではデータサンプリング間隔がポイントとなる。
サンプリング間隔が短い場合には、データの記録落しは
少なくなるが、データ数が膨大であり大きなデータ記憶
容量が必要となる問題があった。サンプリング間隔が長
い場合には、データ数は少なくなるが、データの記録落
しが多くなるという問題があった。デジタル記録計での
データサンプリング間隔はｍｓ（ミリ秒）オーダであ
り、電磁雑音の連続測定は数１０分から数時間が現実的
なところであった。すなわち、デジタル記録での数日か
ら数ヶ月間の連続測定はほとんど不可能であった。
【０００４】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
で、電磁雑音の長期間にわたる測定を簡便な装置で実現
する電磁雑音レコーダ及び記録方法を提供することを目
的とする。
で、電磁雑音の長期間にわたる測定を簡便な装置で実現
する電磁雑音レコーダ及び記録方法を提供することを目
的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、電磁雑音を計測する電磁雑音レコーダにお
いて、所定強度の電磁雑音発生時間を単位時間で計測す
る電磁雑音センサと、前記電磁雑音センサで計測された
電磁雑音発生時間が加算されて記憶され、加算された電
磁雑音発生時間がカウンタ動作閾値時間を超えると出力
信号を発生するバッファ部と、前記バッファ部からの出
力信号が入力され電磁雑音発生時間を電圧に変換した出
力信号を発生する１次カウンタ部と、前記１次カウンタ
部で発生された出力信号の電圧が所定電圧を超えると出
力信号を発生する２次カウンタ部と、前記１次カウンタ
部及び２次カウンタ部からの出力信号が離散的時刻で記
録される記録部とを具備することを特徴とするものであ
る。
に本発明は、電磁雑音を計測する電磁雑音レコーダにお
いて、所定強度の電磁雑音発生時間を単位時間で計測す
る電磁雑音センサと、前記電磁雑音センサで計測された
電磁雑音発生時間が加算されて記憶され、加算された電
磁雑音発生時間がカウンタ動作閾値時間を超えると出力
信号を発生するバッファ部と、前記バッファ部からの出
力信号が入力され電磁雑音発生時間を電圧に変換した出
力信号を発生する１次カウンタ部と、前記１次カウンタ
部で発生された出力信号の電圧が所定電圧を超えると出
力信号を発生する２次カウンタ部と、前記１次カウンタ
部及び２次カウンタ部からの出力信号が離散的時刻で記
録される記録部とを具備することを特徴とするものであ
る。
【０００６】また本発明の電磁雑音記録方法は、所定強
度の電磁雑音発生時間を単位時間で計測する第１のステ
ップと、第１のステップで計測された電磁雑音発生時間
をバッファ部に加算する第２のステップと、第２のステ
ップで加算された電磁雑音発生時間がカウンタ動作閾値
時間を超えると、前記バッファ部をリセットして、カウ
ンタ動作閾値時間を差し引いた残りのみのデータを記録
すると共に、１次カウンタ部のカウント数に１を加算す
る第３のステップと、前記１次カウンタ部のカウント数
が所定値を超えると、１次カウンタ部をリセットして、
所定値を差し引いた残りのみのデータを記録すると共
に、２次カウンタ部のカウント数に１を加算する第４の
ステップと、前記２次カウンタ部のカウント数が所定値
を超えると、２次カウンタ部をリセットして、所定値を
差し引いた残りのみのデータを記録する第５のステップ
と、前記１次カウンタ部のカウント出力電圧及び前記２
次カウンタ部のカウント出力電圧を記録する第６のステ
ップとを具備することを特徴とする。
度の電磁雑音発生時間を単位時間で計測する第１のステ
ップと、第１のステップで計測された電磁雑音発生時間
をバッファ部に加算する第２のステップと、第２のステ
ップで加算された電磁雑音発生時間がカウンタ動作閾値
時間を超えると、前記バッファ部をリセットして、カウ
ンタ動作閾値時間を差し引いた残りのみのデータを記録
すると共に、１次カウンタ部のカウント数に１を加算す
る第３のステップと、前記１次カウンタ部のカウント数
が所定値を超えると、１次カウンタ部をリセットして、
所定値を差し引いた残りのみのデータを記録すると共
に、２次カウンタ部のカウント数に１を加算する第４の
ステップと、前記２次カウンタ部のカウント数が所定値
を超えると、２次カウンタ部をリセットして、所定値を
差し引いた残りのみのデータを記録する第５のステップ
と、前記１次カウンタ部のカウント出力電圧及び前記２
次カウンタ部のカウント出力電圧を記録する第６のステ
ップとを具備することを特徴とする。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
形態例を詳細に説明する。
形態例を詳細に説明する。
【０００８】図１は本発明に係る電磁雑音レコーダの一
実施形態例を示す構成説明図である。すなわち、電磁雑
音を計測する電磁雑音レコーダにおいて、１は所定強度
の電磁雑音発生時間を単位時間で計測する電磁雑音セン
サであり、前記電磁雑音センサ１で計測された電磁雑音
発生時間がバッファ部２に入力されて加算されると共に
記憶される。バッファ部２は加算された電磁雑音発生時
間がカウンタ動作閾値時間を超えると出力信号を発生す
る。前記バッファ部２からの出力信号は１次カウンタ部
３に入力され、１次カウンタ部３は電磁雑音発生時間を
電圧に変換した出力信号を発生する。前記１次カウンタ
部３で発生された出力信号は２次カウンタ部４に入力さ
れ、この２次カウンタ部４は入力信号の電圧が所定電圧
を超えると出力信号を発生する。前記１次カウンタ部３
及び２次カウンタ部４からの出力信号が記録部５に入力
され、この記録部５は離散的時刻で記録する。
実施形態例を示す構成説明図である。すなわち、電磁雑
音を計測する電磁雑音レコーダにおいて、１は所定強度
の電磁雑音発生時間を単位時間で計測する電磁雑音セン
サであり、前記電磁雑音センサ１で計測された電磁雑音
発生時間がバッファ部２に入力されて加算されると共に
記憶される。バッファ部２は加算された電磁雑音発生時
間がカウンタ動作閾値時間を超えると出力信号を発生す
る。前記バッファ部２からの出力信号は１次カウンタ部
３に入力され、１次カウンタ部３は電磁雑音発生時間を
電圧に変換した出力信号を発生する。前記１次カウンタ
部３で発生された出力信号は２次カウンタ部４に入力さ
れ、この２次カウンタ部４は入力信号の電圧が所定電圧
を超えると出力信号を発生する。前記１次カウンタ部３
及び２次カウンタ部４からの出力信号が記録部５に入力
され、この記録部５は離散的時刻で記録する。
【０００９】次に、本発明に係る電磁雑音レコーダの動
作を図５を参照して説明する。すなわち、動作開始によ
り、電磁雑音センサ１の感度（ｘｍＧ）の設定、カウン
タの動作閾値時間ｔ0、バッファ部２及び各カウンタ部
３，４のカウント数のリセットを行う。その後、電磁雑
音センサ１で計測を開始すると、電磁雑音センサ１の出
力、例えば、５ｍＧ（ミリガウス）以上の電磁雑音発生
時間ｔを１ｍｓ単位で計測して、その電磁雑音発生時間
ｔをバッファ部２に入力する。電磁雑音発生時間ｔはバ
ッファ部２で逐次加算され、加算された電磁雑音発生時
間ｔが任意に設定されるカウンタ動作閾値時間ｔ0 を超
えるとバッファ部２はリセットして、カウンタ動作閾値
時間ｔ0を差し引いた残りのみのデータを記録すると共
に、１次カウンタ部３のカウント数Ｃ１に１を加算す
る。この関係を式で表わすと、Ｃ１＝Ｃ｛ｔ0 ，ｔ｝と
なる。Ｃ１は、バッファ部２から１次カウンタ部３に入
力される信号である。Ｃ関数は、｛ ｝内第２項の電磁
雑音発生時間ｔの数値が第１項のカウンタ動作閾値時間
ｔ0と比較して、ｔ0 毎に差をとってｔ0 を越える回数
を出力する関数である。また、差をとった後のｔ0 未満
の電磁雑音発生時間ｔはバッファ部２に残るものであ
る。ここで、カウンタ動作閾値時間ｔ0 は１ｍｓ，１０
ｍｓ，１００ｍｓ，１０００ｍｓの４通りのいずれかに
設定される。例えば、カウンタ動作閾値時間ｔ0 が１０
ｍｓで、電磁雑音発生時間ｔが３５ｍｓの場合次のよう
に動作する。バッファ部２から１次カウンタ部３に入力
される信号Ｃ１は３で、バッファ部２にのこるデータは
５ｍｓである。
作を図５を参照して説明する。すなわち、動作開始によ
り、電磁雑音センサ１の感度（ｘｍＧ）の設定、カウン
タの動作閾値時間ｔ0、バッファ部２及び各カウンタ部
３，４のカウント数のリセットを行う。その後、電磁雑
音センサ１で計測を開始すると、電磁雑音センサ１の出
力、例えば、５ｍＧ（ミリガウス）以上の電磁雑音発生
時間ｔを１ｍｓ単位で計測して、その電磁雑音発生時間
ｔをバッファ部２に入力する。電磁雑音発生時間ｔはバ
ッファ部２で逐次加算され、加算された電磁雑音発生時
間ｔが任意に設定されるカウンタ動作閾値時間ｔ0 を超
えるとバッファ部２はリセットして、カウンタ動作閾値
時間ｔ0を差し引いた残りのみのデータを記録すると共
に、１次カウンタ部３のカウント数Ｃ１に１を加算す
る。この関係を式で表わすと、Ｃ１＝Ｃ｛ｔ0 ，ｔ｝と
なる。Ｃ１は、バッファ部２から１次カウンタ部３に入
力される信号である。Ｃ関数は、｛ ｝内第２項の電磁
雑音発生時間ｔの数値が第１項のカウンタ動作閾値時間
ｔ0と比較して、ｔ0 毎に差をとってｔ0 を越える回数
を出力する関数である。また、差をとった後のｔ0 未満
の電磁雑音発生時間ｔはバッファ部２に残るものであ
る。ここで、カウンタ動作閾値時間ｔ0 は１ｍｓ，１０
ｍｓ，１００ｍｓ，１０００ｍｓの４通りのいずれかに
設定される。例えば、カウンタ動作閾値時間ｔ0 が１０
ｍｓで、電磁雑音発生時間ｔが３５ｍｓの場合次のよう
に動作する。バッファ部２から１次カウンタ部３に入力
される信号Ｃ１は３で、バッファ部２にのこるデータは
５ｍｓである。
【００１０】１次カウンタ部３のカウント数Ｃ１が２０
０を超えると、１次カウンタ部３はリセットして、２０
０を差し引いた残りのみのデータを記録すると共に、２
次カウンタ部４のカウント数Ｃ２に１を加算する。
０を超えると、１次カウンタ部３はリセットして、２０
０を差し引いた残りのみのデータを記録すると共に、２
次カウンタ部４のカウント数Ｃ２に１を加算する。
【００１１】１次カウンタ部３は電磁雑音の発生時間を
電圧に変換する働きがある。変換の式は、 Ｖc1＝０．０１×Ｆ｛２００，Ｃ１｝ であり、Ｖc1は１次カウンタ部３のカウンタ出力電圧
（単位はボルト）、Ｃ１は、バッファ部２から１次カウ
ンタ部３に入力される信号である。Ｆ関数は、｛｝内の
第２項のＣ１の数値が第１項目の２００を越える場合、
２００毎に差をとって２００未満の残った数値を出力す
る関数である。例えば、第２項が３３３，６６６なら
ば、Ｆ関数の出力はそれぞれ、１３３と６６になる。す
なわち、Ｆ関数は０〜１９９までの整数発生器であり、
Ｖc1は０〜１．９９Ｖのノコギリ波発生器である。
電圧に変換する働きがある。変換の式は、 Ｖc1＝０．０１×Ｆ｛２００，Ｃ１｝ であり、Ｖc1は１次カウンタ部３のカウンタ出力電圧
（単位はボルト）、Ｃ１は、バッファ部２から１次カウ
ンタ部３に入力される信号である。Ｆ関数は、｛｝内の
第２項のＣ１の数値が第１項目の２００を越える場合、
２００毎に差をとって２００未満の残った数値を出力す
る関数である。例えば、第２項が３３３，６６６なら
ば、Ｆ関数の出力はそれぞれ、１３３と６６になる。す
なわち、Ｆ関数は０〜１９９までの整数発生器であり、
Ｖc1は０〜１．９９Ｖのノコギリ波発生器である。
【００１２】以下に出力例を示す。カウンタ動作閾値時
間ｔ0 を１ｍｓに設定して電磁雑音の発生時間ｔが５ｍ
ｓ，５０ｍｓ，５００ｍｓとすると、１次カウンタ部３
の電圧Ｖc1はそれぞれ０．０５Ｖ，０．５０Ｖ，１．０
０Ｖとなる。また、カウンタ動作閾値時間ｔ0 を１０ｍ
ｓに設定して電磁雑音の発生時間ｔが５ｍｓ，５０ｍ
ｓ，５００ｍｓとすると、１次カウンタ部３の電圧Ｖc1
はそれぞれ０．００Ｖ，０．０５Ｖ，０．５０Ｖとな
る。さらには、カウンタ動作閾値時間ｔ0 を１００ｍｓ
に設定して電磁雑音の発生時間ｔが５００ｍｓ，５ｓ，
５０ｓとすると、１次カウンタ部３の電圧Ｖc1はそれぞ
れ０．０５Ｖ，０．５０Ｖ，１．００Ｖとなる。
間ｔ0 を１ｍｓに設定して電磁雑音の発生時間ｔが５ｍ
ｓ，５０ｍｓ，５００ｍｓとすると、１次カウンタ部３
の電圧Ｖc1はそれぞれ０．０５Ｖ，０．５０Ｖ，１．０
０Ｖとなる。また、カウンタ動作閾値時間ｔ0 を１０ｍ
ｓに設定して電磁雑音の発生時間ｔが５ｍｓ，５０ｍ
ｓ，５００ｍｓとすると、１次カウンタ部３の電圧Ｖc1
はそれぞれ０．００Ｖ，０．０５Ｖ，０．５０Ｖとな
る。さらには、カウンタ動作閾値時間ｔ0 を１００ｍｓ
に設定して電磁雑音の発生時間ｔが５００ｍｓ，５ｓ，
５０ｓとすると、１次カウンタ部３の電圧Ｖc1はそれぞ
れ０．０５Ｖ，０．５０Ｖ，１．００Ｖとなる。
【００１３】このように、評価したい電磁雑音の性質に
あわせて、カウンタ動作閾値時間ｔ 0を選択すると種々
の電磁雑音の測定が可能となる。しかしながら、例にも
示したように電磁雑音発生時間ｔが長い場合は数え落し
を生ずる。そこで、数え落としを防ぐために、次の作用
を付加する。
あわせて、カウンタ動作閾値時間ｔ 0を選択すると種々
の電磁雑音の測定が可能となる。しかしながら、例にも
示したように電磁雑音発生時間ｔが長い場合は数え落し
を生ずる。そこで、数え落としを防ぐために、次の作用
を付加する。
【００１４】１次カウンタ部３は、０〜１．９９Ｖのノ
コギリ波発生器であり、２Ｖを越える度にその信号を２
次カウンタ部４に入力する。この２次カウンタ部４は、
１次カウンタ部３のオーバフローを計測する働きがあ
る。
コギリ波発生器であり、２Ｖを越える度にその信号を２
次カウンタ部４に入力する。この２次カウンタ部４は、
１次カウンタ部３のオーバフローを計測する働きがあ
る。
【００１５】２次カウンタ部４のカウント数Ｃ２が２０
０を超えると、２次カウンタ部４はリセットして、２０
０を引いた残りのみのデータを記録する。２次カウンタ
部４の電圧変換式は、 Ｖc2＝０．０１×Ｆ｛２００，Ｃ２｝ Ｖc2は２次カウンタ部４のカウンタ出力電圧（単位はボ
ルト）、Ｃ２は、１次カウンタ部３のオーバフローの回
数である。Ｆ関数は、前に述べた１次カウンタ部３のＦ
関数と同等の働きをする。例えば、第２項が３３３，６
６６ならば、Ｆ関数の出力はそれぞれ、１３３と６６に
なる。
０を超えると、２次カウンタ部４はリセットして、２０
０を引いた残りのみのデータを記録する。２次カウンタ
部４の電圧変換式は、 Ｖc2＝０．０１×Ｆ｛２００，Ｃ２｝ Ｖc2は２次カウンタ部４のカウンタ出力電圧（単位はボ
ルト）、Ｃ２は、１次カウンタ部３のオーバフローの回
数である。Ｆ関数は、前に述べた１次カウンタ部３のＦ
関数と同等の働きをする。例えば、第２項が３３３，６
６６ならば、Ｆ関数の出力はそれぞれ、１３３と６６に
なる。
【００１６】次に、１次カウンタ部３と２次カウンタ部
４の出力電圧Ｖc1、Ｖc2を記録部５に入力して１秒〜３
０分などの任意のサンプリング間隔で記録する。例え
ば、記録部５の記憶容量が５０００点で、サンプリング
間隔が１分とすると、１日の記憶データが１４４０点と
なるので約３．４日間の連続測定が可能となる。１ｍｓ
と極めて短い発生時間ｔの電磁雑音でも数日間連続に測
定が可能となる。さらには、サンプリング間隔を３０分
とすれば、発生時刻の特定精度は落ちるが、連続測定は
約３４日となり、極めて長い期間の連続測定が可能とな
る。図６に１次カウンタ部３と２次カウンタ部４の具体
的な出力例を示す。
４の出力電圧Ｖc1、Ｖc2を記録部５に入力して１秒〜３
０分などの任意のサンプリング間隔で記録する。例え
ば、記録部５の記憶容量が５０００点で、サンプリング
間隔が１分とすると、１日の記憶データが１４４０点と
なるので約３．４日間の連続測定が可能となる。１ｍｓ
と極めて短い発生時間ｔの電磁雑音でも数日間連続に測
定が可能となる。さらには、サンプリング間隔を３０分
とすれば、発生時刻の特定精度は落ちるが、連続測定は
約３４日となり、極めて長い期間の連続測定が可能とな
る。図６に１次カウンタ部３と２次カウンタ部４の具体
的な出力例を示す。
【００１７】図６より、ほとんどの電磁雑音発生時間ｔ
に対して１次カウンタ部３の１次カウンタ出力と２次カ
ウンタ部４の２次カウンタ出力を基に計算することによ
って、電磁雑音発生時間を再計算できることがわかる。
但し、カウンタ動作閾値時間ｔ0より短い電磁雑音発生
時間ｔの場合は、再計算結果の電磁雑音発生時間がもと
の電磁雑音発生時間ｔと一致しないこととなる。しかし
ながら、前にも述べたように、カウンタ動作閾値時間ｔ
0より短い電磁雑音発生時間ｔが計測落ちとなるのでは
なく、１次カウンタ部３に記録される前のバッファ部２
に記憶されて、その都度加算されることとなるものであ
る。仮に、カウンタ動作閾値時間ｔ0が１０ｍｓで、４
ｍｓの電磁雑音が何度か発生している場合、３度目の電
磁雑音の時に１次カウンタ部３が動作するものである。
バッファ部２には２ｍｓのデータが残るものである。
に対して１次カウンタ部３の１次カウンタ出力と２次カ
ウンタ部４の２次カウンタ出力を基に計算することによ
って、電磁雑音発生時間を再計算できることがわかる。
但し、カウンタ動作閾値時間ｔ0より短い電磁雑音発生
時間ｔの場合は、再計算結果の電磁雑音発生時間がもと
の電磁雑音発生時間ｔと一致しないこととなる。しかし
ながら、前にも述べたように、カウンタ動作閾値時間ｔ
0より短い電磁雑音発生時間ｔが計測落ちとなるのでは
なく、１次カウンタ部３に記録される前のバッファ部２
に記憶されて、その都度加算されることとなるものであ
る。仮に、カウンタ動作閾値時間ｔ0が１０ｍｓで、４
ｍｓの電磁雑音が何度か発生している場合、３度目の電
磁雑音の時に１次カウンタ部３が動作するものである。
バッファ部２には２ｍｓのデータが残るものである。
【００１８】本発明は、ある一定の記憶容量で不規則に
発生する電磁雑音発生時刻とその発生時間を連続的に測
定することを可能とするものである。この特徴を図２の
模式図を使って説明する。図２（ａ）は、電磁雑音の発
生例を示し、横軸は時刻で、縦軸は電磁雑音の強度であ
る。一般的には、電磁雑音は発生時間およびその強度が
不規則であり、これを通常の電磁雑音センサで５ｍＧ以
上の信号の場合を測定すると、図２（ｂ）のような検出
結果となる。この例の場合、２〜６ｍｓ、１２〜１８ｍ
ｓ、２６〜３２ｍｓの３回の時刻で計１６ｍｓの信号が
検出されている。このような検出結果に対して、従来方
法で記録すると、図２（ｃ）に示すように、例えば１０
ｍｓのサンプリング間隔の場合には、電磁雑音の発生と
サンプリングのタイミングが一致するのは３回目のとき
のみで、信号としては１０ｍｓと記録され、本来の１６
ｍｓと大きく異なることとなる。この１０ｍｓのサンプ
リング間隔で連続して１日間の記録を実現しようとする
と、記憶容量は、１４４，０００個のデータとなり、精
度的にも問題がある上にかつ膨大な量を必要とする問題
がある。ちなみに、精度を上げるためにサンプリング間
隔を１ｍｓとすれば、データの記憶容量は、１４４０，
０００個となり、ますます非現実的なものとなる。
発生する電磁雑音発生時刻とその発生時間を連続的に測
定することを可能とするものである。この特徴を図２の
模式図を使って説明する。図２（ａ）は、電磁雑音の発
生例を示し、横軸は時刻で、縦軸は電磁雑音の強度であ
る。一般的には、電磁雑音は発生時間およびその強度が
不規則であり、これを通常の電磁雑音センサで５ｍＧ以
上の信号の場合を測定すると、図２（ｂ）のような検出
結果となる。この例の場合、２〜６ｍｓ、１２〜１８ｍ
ｓ、２６〜３２ｍｓの３回の時刻で計１６ｍｓの信号が
検出されている。このような検出結果に対して、従来方
法で記録すると、図２（ｃ）に示すように、例えば１０
ｍｓのサンプリング間隔の場合には、電磁雑音の発生と
サンプリングのタイミングが一致するのは３回目のとき
のみで、信号としては１０ｍｓと記録され、本来の１６
ｍｓと大きく異なることとなる。この１０ｍｓのサンプ
リング間隔で連続して１日間の記録を実現しようとする
と、記憶容量は、１４４，０００個のデータとなり、精
度的にも問題がある上にかつ膨大な量を必要とする問題
がある。ちなみに、精度を上げるためにサンプリング間
隔を１ｍｓとすれば、データの記憶容量は、１４４０，
０００個となり、ますます非現実的なものとなる。
【００１９】一方、本発明での例を図３に模式図で示
す。図３（ａ）は、電磁雑音センサ１が５ｍＧ以上の信
号の検知結果を示し、図２（ｂ）と同じものである。図
３（ａ）の検出結果に対して、カウンタ時刻閾値時間が
１ｍｓの場合と１０ｍｓの場合における１次カウンタ部
３の出力例をそれぞれ図３（ｂ）と図３（ｃ）に示す。
このように、図３（ｂ）では電磁雑音の累積発生時間を
逐次１次カウンタ部３の出力に変換し、図３（ｃ）では
電磁雑音の発生時刻情報の遅れは生じるが累積発生時間
を１次カウンタ部３の出力に精度良く変換できることが
わかる。この１次カウンタ部３の出力を１分〜３０分の
サンプリング間隔で記録すれば、発生時刻情報の不確か
さは生じるが、電磁雑音の累積発生時間を精度良く、現
実的な記憶容量で記録できることが分かる。サンプリン
グ間隔が１分の場合、１０分の場合で、記憶容量は、１
４４０個、１４４個となる。すなわち、従来法における
記憶容量の１／１００〜１／１０００の量で電磁雑音デ
ータを記憶できるという利点がある。
す。図３（ａ）は、電磁雑音センサ１が５ｍＧ以上の信
号の検知結果を示し、図２（ｂ）と同じものである。図
３（ａ）の検出結果に対して、カウンタ時刻閾値時間が
１ｍｓの場合と１０ｍｓの場合における１次カウンタ部
３の出力例をそれぞれ図３（ｂ）と図３（ｃ）に示す。
このように、図３（ｂ）では電磁雑音の累積発生時間を
逐次１次カウンタ部３の出力に変換し、図３（ｃ）では
電磁雑音の発生時刻情報の遅れは生じるが累積発生時間
を１次カウンタ部３の出力に精度良く変換できることが
わかる。この１次カウンタ部３の出力を１分〜３０分の
サンプリング間隔で記録すれば、発生時刻情報の不確か
さは生じるが、電磁雑音の累積発生時間を精度良く、現
実的な記憶容量で記録できることが分かる。サンプリン
グ間隔が１分の場合、１０分の場合で、記憶容量は、１
４４０個、１４４個となる。すなわち、従来法における
記憶容量の１／１００〜１／１０００の量で電磁雑音デ
ータを記憶できるという利点がある。
【００２０】図７に各カウンタ動作閾値時間ｔ0におい
て、１次カウンタ部３のカウンタ出力及び２次カウンタ
部４のカウンタ出力が２Ｖに達する時間を示す。これよ
り、電磁雑音が連続して０．２秒から約１１時間発生す
る場合に対応できることを示し、５桁という極めて広い
ダイナミックレンジを有する特徴を有している。すなわ
ち、カウンタ動作閾値時間ｔ0が異なるカウンタ部を複
数個用意することによって、あらゆる電磁雑音の連続測
定が少ない記憶容量で評価できるという特徴を有してい
る。当然ながら、非連続の電磁雑音に対しては、２台の
カウンタ部の０−２Ｖ出力の繰り返しで対応できること
は言うまでもない。
て、１次カウンタ部３のカウンタ出力及び２次カウンタ
部４のカウンタ出力が２Ｖに達する時間を示す。これよ
り、電磁雑音が連続して０．２秒から約１１時間発生す
る場合に対応できることを示し、５桁という極めて広い
ダイナミックレンジを有する特徴を有している。すなわ
ち、カウンタ動作閾値時間ｔ0が異なるカウンタ部を複
数個用意することによって、あらゆる電磁雑音の連続測
定が少ない記憶容量で評価できるという特徴を有してい
る。当然ながら、非連続の電磁雑音に対しては、２台の
カウンタ部の０−２Ｖ出力の繰り返しで対応できること
は言うまでもない。
【００２１】図４に本発明の屋外における実施例を示
す。図４（ａ）は電磁雑音レコーダによるカウンタ出力
記録例を示し、約２０日間の連続測定の生データであ
り、測定条件は、電磁雑音の検出強度が５ｍＧ以上、カ
ウンタ動作閾値時間が１００ｍｓ、サンプリング間隔が
３０分である。１次カウンタ出力電圧Ｖc1は０−２Ｖの
鋸波となっており、２次カウンタ出力電圧Ｖc2は０．１
１Ｖまで階段的に上昇して、１次カウンタ出力の鋸波の
繰り返し回数（１１回）と対応している。図４（ｂ）は
図４（ａ）の電磁雑音生データをもとに単位時間当たり
の電磁雑音発生時間を再計算した結果である。具体的に
は、３０分間単位における５ｍＧ以上の電磁雑音の検出
時間である。図より、電磁雑音の検出時間が時々刻々変
化しているのが分かる。
す。図４（ａ）は電磁雑音レコーダによるカウンタ出力
記録例を示し、約２０日間の連続測定の生データであ
り、測定条件は、電磁雑音の検出強度が５ｍＧ以上、カ
ウンタ動作閾値時間が１００ｍｓ、サンプリング間隔が
３０分である。１次カウンタ出力電圧Ｖc1は０−２Ｖの
鋸波となっており、２次カウンタ出力電圧Ｖc2は０．１
１Ｖまで階段的に上昇して、１次カウンタ出力の鋸波の
繰り返し回数（１１回）と対応している。図４（ｂ）は
図４（ａ）の電磁雑音生データをもとに単位時間当たり
の電磁雑音発生時間を再計算した結果である。具体的に
は、３０分間単位における５ｍＧ以上の電磁雑音の検出
時間である。図より、電磁雑音の検出時間が時々刻々変
化しているのが分かる。
【００２２】このように、連続的な電磁雑音情報を少な
い記憶容量で簡便に記録できる。記録条件を変えること
によって、電磁雑音の不規則な発生パターンを詳細に評
価できることは言うまでもない。
い記憶容量で簡便に記録できる。記録条件を変えること
によって、電磁雑音の不規則な発生パターンを詳細に評
価できることは言うまでもない。
【００２３】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、電磁
雑音の長期間にわたる測定を簡便な装置で実現する電磁
雑音レコーダ及び記録方法を提供することができる。
雑音の長期間にわたる測定を簡便な装置で実現する電磁
雑音レコーダ及び記録方法を提供することができる。
【図１】本発明の一実施形態例に係る電磁雑音レコーダ
を示す構成説明図である。
を示す構成説明図である。
【図２】従来の電磁雑音の検出例を示す特性図であり、
（ａ）は電磁雑音の発生パターンの例、（ｂ）は５ｍＧ
以上の電磁雑音の有無、（ｃ）はサンプリング間隔が１
０ｍｓの場合である。
（ａ）は電磁雑音の発生パターンの例、（ｂ）は５ｍＧ
以上の電磁雑音の有無、（ｃ）はサンプリング間隔が１
０ｍｓの場合である。
【図３】本発明の電磁雑音の検出例を示す特性図であ
り、（ａ）は５ｍＧ以上の電磁雑音の有無、（ｂ）はカ
ウンタ動作閾値時間が１ｍｓの場合、（ｃ）はカウンタ
動作閾値時間が１０ｍｓの場合である。
り、（ａ）は５ｍＧ以上の電磁雑音の有無、（ｂ）はカ
ウンタ動作閾値時間が１ｍｓの場合、（ｃ）はカウンタ
動作閾値時間が１０ｍｓの場合である。
【図４】（ａ）は本発明に係る電磁雑音レコーダによる
カウンタ出力記録例を示す特性図である。（ｂ）は本発
明に係る電磁雑音レコーダ記録結果からの電磁雑音解析
例を示す特性図である。
カウンタ出力記録例を示す特性図である。（ｂ）は本発
明に係る電磁雑音レコーダ記録結果からの電磁雑音解析
例を示す特性図である。
【図５】本発明に係る電磁雑音レコーダの動作フロー図
である。
である。
【図６】本発明に係る１次カウンタ部と２次カウンタ部
の具体的な出力例と発生時間換算結果の一例を示す説明
図である。
の具体的な出力例と発生時間換算結果の一例を示す説明
図である。
【図７】本発明に係る各カウンタ動作閾値時間における
カウンタ出力電圧が２Ｖに達する時間の一例を示す説明
図である。
カウンタ出力電圧が２Ｖに達する時間の一例を示す説明
図である。
１ 電磁雑音センサ
２ バッファ部
３ １次カウンタ部
４ ２次カウンタ部
５ 記録部
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01R 29/08
G01D 9/00
Claims (2)
- 【請求項１】 電磁雑音を計測する電磁雑音レコーダに
おいて、所定強度の電磁雑音発生時間を単位時間で計測
する電磁雑音センサと、 前記電磁雑音センサで計測された電磁雑音発生時間が加
算されて記憶され、加算された電磁雑音発生時間がカウ
ンタ動作閾値時間を超えると出力信号を発生するバッフ
ァ部と、 前記バッファ部からの出力信号が入力され電磁雑音発生
時間を電圧に変換した出力信号を発生する１次カウンタ
部と、 前記１次カウンタ部で発生された出力信号の電圧が所定
電圧を超えると出力信号を発生する２次カウンタ部と、 前記１次カウンタ部及び２次カウンタ部からの出力信号
が離散的時刻で記録される記録部とを具備することを特
徴とする電磁雑音レコーダ。 - 【請求項２】 所定強度の電磁雑音発生時間を単位時間
で計測する第１のステップと、 第１のステップで計測された電磁雑音発生時間をバッフ
ァ部に加算する第２のステップと、 第２のステップで加算された電磁雑音発生時間がカウン
タ動作閾値時間を超えると、前記バッファ部をリセット
して、カウンタ動作閾値時間を差し引いた残りのみのデ
ータを記録すると共に、１次カウンタ部のカウント数に
１を加算する第３のステップと、 前記１次カウンタ部のカウント数が所定値を超えると、
１次カウンタ部をリセットして、所定値を差し引いた残
りのみのデータを記録すると共に、２次カウンタ部のカ
ウント数に１を加算する第４のステップと、 前記２次カウンタ部のカウント数が所定値を超えると、
２次カウンタ部をリセットして、所定値を差し引いた残
りのみのデータを記録する第５のステップと、 前記１次カウンタ部のカウント出力電圧及び前記２次カ
ウンタ部のカウント出力電圧を記録する第６のステップ
とを具備することを特徴とする電磁雑音記録方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07573699A JP3450738B2 (ja) | 1999-03-19 | 1999-03-19 | 電磁雑音レコーダ及び記録方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07573699A JP3450738B2 (ja) | 1999-03-19 | 1999-03-19 | 電磁雑音レコーダ及び記録方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000266793A JP2000266793A (ja) | 2000-09-29 |
| JP3450738B2 true JP3450738B2 (ja) | 2003-09-29 |
Family
ID=13584874
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07573699A Expired - Lifetime JP3450738B2 (ja) | 1999-03-19 | 1999-03-19 | 電磁雑音レコーダ及び記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3450738B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7073826B2 (ja) * | 2018-03-20 | 2022-05-24 | Tdk株式会社 | 長周期ノイズ捕捉性能評価システム及び長周期ノイズ捕捉性能評価方法 |
-
1999
- 1999-03-19 JP JP07573699A patent/JP3450738B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000266793A (ja) | 2000-09-29 |
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