JP4914844B2 - 線量率測定装置 - Google Patents
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- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 186
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 53
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 40
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 9
- 230000006335 response to radiation Effects 0.000 claims description 6
- 230000003796 beauty Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 56
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 39
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 26
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000009206 nuclear medicine Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
G(E)関数法、DBM法は、ともに別々の特徴を備えており、通常、各装置型式によりいずれかを採用するが、両方を備える場合には、MCAおよびDBM回路を備える必要がある(特許文献1参照)。
また、DBM法の波高弁別閾値の時間変化パターンは、アナログ回路によるものであり、G(E)関数法のメリットとDBM法のメリットを共用するために、両ユニットまたは回路を備える放射線測定装置を用意しても、G(E)関数法はアナログ−デジタル変換し、DBMはパルス計数をアナログで行なうため、信号レベルを調整する必要が出てくる。
また、MCAによるG(E)関数法のみを適用した放射線測定装置では、線量率誤差を一般的な方法として標準偏差で管理することとしている。この場合、パルスカウント総数が一定値に達すると線量率値を更新するようにすると、各パルスの線量率に寄与する重みは、G(E)関数の違いだけ異なるため、線量率データを標準偏差一定方式で簡単に管理できなくなり、さらに、人工核種の出現等により、特定チャンネルのカウント数が著しく増加すると線量率誤差が大きくなるという問題点があった。
この発明は、単位時間当たりの放射線の量である線量率を求める手段としてパルス波高分析機能(PHA)を備えるマルチチャンネルアナライザ(MCA)に、このMCAが保有するエネルギー換算係数(G(E)関数)と同等のパターンをもつディスクリ電圧(弁別閾値電圧)またはバイアス電圧を超える検出器パルスをカウントするマルチチャンネルスケーリング機能(MCS)を持たせることにより、ディスクリミネーションバイアスドモジュレーション法(DBM法)に類似した効果を得るようにしたものである。
以下、実施の形態1について、図1〜図7を用いて説明する。
図1は、この発明の実施の形態1による線量率測定装置の全体を示すブロック図である。
図1において、検出器1は、放射線の入射に対し、センサーが発光して、放射線の1入射に対し、1つの電気的パルスを出力する。プリアンプ2は、検出器1の信号が極めて微弱な信号であるため、後段のケーブルにおいて電圧降下やノイズの侵入によって信号に影響を受けないように予め信号増幅をしておく。メインアンプ4は、検出器信号を処理しやすいように増幅する。信号処理部5は、メインアンプ4の出力信号から線量率を算出する等の処理をする。メモリ表示装置6は、信号処理部5の演算結果を記憶媒体に保存したり、表示したりする。
図1の信号処理部5は、マルチチャンネルアナライザ機能部52を有し、このマルチチャンネルアナライザ機能部52は、図2のようなパルス波高分析(PHA(Pulse Height Analyzer))機能と、図3のようなマルチチャンネルスケーリング機能(MCS)を有している。つまり、図4のような構成である。
図2において、アナログ−デジタル変換器(ADC)51は、メインアンプ4の出力信号をデジタル信号に変換する。マルチチャンネルアナライザ機能部52は、パルス波高分析機能(PHA)を有し、パルス波高分析機能(PHA)は、入力されるデジタル波高値を、その波高値に対応したチャンネルに割り当てて(チャンネルごとにカウントして)、放射線エネルギースペクトルを出力する。
チャンネルメモリ53は、マルチチャンネルアナライザ機能部52がもつ各チャンネルに対応するG(E)関数の数値を格納している。線量率演算部54は、マルチチャンネルアナライザ機能部52が出力するスペクトル情報と、チャンネルメモリ53から与えられるG(E)関数とを基にした演算を行い、線量率を算出する。
また、図1及び図2は、線量率測定装置全体の説明のために簡単に表したものであり、実際の線量率測定装置の構成は、図1及び図2の構成にオプション装置が備わっていたり、一部が存在しなかったり、一部または全部が一体に成っていたりする。
図3において、信号処理部5内のハードウェアは図2と同一であるが、マルチチャンネルアナライザ機能部52を、マルチチャンネルスケーリング機能(MCS)とし、チャンネルメモリ53の記憶データをG(E)関数ではなく、しきい値電圧であるディスクリ電圧データとしている。また、線量率演算部54は、G(E)関数法ではなく、換算乗数を乗じる簡単な演算を行う。
マルチチャンネルスケーリング機能(MCS)は、本来、ドウェルタイムごとにチャンネルを切替えつつ、ドウェルタイム内で一つのチャンネルに入力されるパルスをカウントするものであるが、図3では、ディスクリ電圧を超える波高のパルスのみをカウントするようにしている。
図4において、5、51〜54は図2におけるものと同一のものであるが、図4では、MCA機能部52とチャンネルメモリ53と線量率演算部54が、マルチチャンネルアナライザのG(E)関数方式とDBM方式を併用できるようになっている。線量率演算部54aは、G(E)関数の演算、線量率演算部54bは、DBMの演算を行う。
図5において、横軸はマルチチャンネルアナライザチャンネル、縦軸はG(E)関数(nGy/h/cpm)及びディスクリ値(V)である。ディスクリ電圧値グラフ12は、マルチチャンネルアナライザ機能部52のチャンネルによって異なり、G(E)関数グラフ11と同様のグラフ形状をしている。
図6において、横軸は時間、縦軸はディスクリ値(V)である。図6では、ディスクリ電圧値グラフ12と、時間15a、16aにおける入力デジタルパルスのパルス波高15b、16bが示されている。
図7において、横軸は時間、縦軸はディスクリ値(V)である。図7は、ディスクリ値を一定として、チャンネルメモリ53の記憶しているデータをバイアス電圧とした、変調バイアス電圧値グラフ13を示している。さらに図7には、時間17a、18aにおける入力デジタルパルスのパルス波高17b、18bが示されている。
検出器1より、1つの放射線に対して出力された電気パルス信号は、プリアンプ2、さらにメインアンプ4で増幅されて、信号処理部5に入力される。信号処理部5内では、アナログ−デジタル変換器51でデジタル値に変換され、マルチチャンネルアナライザ機能部52にてエネルギースペクトルデータとし、チャンネルメモリ53のG(E)関数とともに線量率演算部54にて線量率が算出される。この線量率は、メモリ表示装置6の表示部にて表示され、メモリ表示装置6の記録媒体あるいは記録計に記録される。
チャンネルメモリ53のG(E)関数は、1カウントに対する線量率の係数で表され、当該チャンネルのカウント数に当該G(E)関数を積算すると、線量率が得られる。
マルチチャンネルアナライザ機能部52には、検出器1が出力するパルス波高に対して1000チャンネル程度から8000チャンネル程度まで、装置によりさまざまであるが、固定チャンネル数を所有している。そのチャンネル数と同数のG(E)関数をもち、i番目のチャンネルのG(E)関数をGi、同チャンネルの計数率(単位時間当たりのカウント数)をNi、線量率をDとして、
D=Σi (Gi×Ni)
のように表わされる。一定時間間隔毎にカウントを各チャンネルに蓄積し、線量率演算部54にて、線量率を演算してメモリ表示装置6に出力する線量率演算方式をG(E)関数方式と呼んでいる。
信号処理部5内では、アナログ−デジタル変換器51で、入力されたアナログ−パルスはデジタル値に変換され、マルチチャンネルアナライザ機能部52に入力される。マルチチャンネルアナライザ機能部52は、マルチチャンネルスケーリング機能であるので、入力されるパルスは、エネルギー値に関係なく、すべて同じチャンネルでカウントされる。ただし、カウントされるチャンネルは、時間とともに移動し、概ね1チャンネル目から1000チャンネル目までを1秒程度で移動する。
ここで、1チャンネル目から1000チャンネル目までの移動時間は、数マイクロ秒から数秒までを予め設定できる。1チャンネルあたりにカウントされる時間(次のチャンネルに移動するまでの時間)は、一般にドウェルタイムと呼ばれる。各チャンネルで、ドウェルタイムだけ蓄積されたら、線量率演算部54にカウント値を出力するが、各チャンネルでカウントするパルスは、各チャンネルで所持しているディスクリ電圧値を超えたものに限る。
このようなディスクリ電圧値グラフ12が形成されており、なおかつドウェルタイムをもって、カウントするチャンネルは、高速でスキャンされるため、スキャンするチャンネルに対応したディスクリ電圧値も時間的にドウェルタイムで移動するので、時間変調のディスクリ電圧値ができる。
マルチチャンネルアナライザ機能部52に入力されるパルスは、G(E)関数の重み付けをもった確率で通過して線量率演算部54に出力されることになる。
ここで、G(E)関数の重み付けをもった確率で通過とは、例えば、図6に示すように、G(E)関数グラフ11と同一の形状の変調ディスクリ電圧値12を、時間15aに入力したパルス15bは、通過するが、同じ波高値をもつパルス16bが時間16aのタイミングで入力された場合は、カウントされないということである。
線量率演算部54に入力されたパルス数は、一定値を乗じて線量率として算出される。当該線量率は、メモリ表示装置6の表示部にて表示され、メモリ表示装置6の記録媒体あるいは記録計に記録される。
マルチチャンネルスケーリング機能は、短半減期核種の測定で用いられ、マルチチャンネルスケーリング機能のドウェルタイムを短くできる長所を活かして、短半減期核種の時間的推移を調べるのに適している。このマルチチャンネルスケーリング機能のチャンネル移動機能(チャンネルスキャニング機能)をDBMのディスクリ電圧の変化に利用したものである。
図7の例では、時間17aに入力したパルス17bは通過しないが、パルス17bと同じ波高値をもつパルス18bが時間18aのタイミングで入力された場合は、カウントされるということである。
このため、コスト低減の効果のほか、G(E)関数方式と同一のデジタルパルス信号をG(E)関数とは異なる方式のDBM方式にても評価できるので、比較評価を可能とすることで、線量率評価への信頼性の向上につながるという効果がある。
また、言うまでもなく、MCA機能のPHA機能によるG(E)関数方式による線量率も出力することができる。
図8は、この発明の実施の形態2による線量率測定装置のディスクリ電圧を有する信号処理部を示すブロック図である。
図8において、5、51〜53は図3におけるものと同一のものである。図8では、図3の線量率演算部54に代えて、信号演算部55を設け、通貨率及び線量率を演算し、線量率データ及び通過率データを出力する。
実施の形態1では、図3のように、マルチチャンネルアナライザ機能部52に入力されたデジタルパルスが、チャンネルメモリ53のディスクリ電圧値を超えたものの数をカウントして、線量率演算部54にて、パルス数に一定値を乗じて線量率として算出する場合について述べたが、実施の形態2は、マルチチャンネルアナライザ機能部52にてディスクリ電圧値を超えたものは個数情報ではなく、ディスクリ電圧値を超えたか否かの情報を含んで、すべての入力パルスについてマルチチャンネルアナライザ機能部52から出力されても実施の形態1と同等の効果を奏するほか、通過率もリアルタイムで算出することができるようにした。
マルチチャンネルアナライザ機能部52から、ディスクリ電圧値を超えたか否かの情報を含んで信号演算部55に入力されると、入力された全パルス数とディスクリ電圧値を超えたパルス数を別々にカウントして、(ディスクリ電圧値を超えたパルス数)/(入力された全パルス数)を求め、通過率を得る。
また、実施の形態1と同様に、ディスクリ電圧値を超えたパルス数に一定値を乗じて線量率として算出する。
また、核医学診断のRI(Radioisotope)投与患者の影響でも通過率は低下する。また、降雨でも自然由来の放射線の影響を受けて線量率は高くなるが、自然由来の放射線の平均エネルギーは高いため、通過率は一般的に上昇するので、線量率の上昇が人工放射線核種によるものかどうかを区別できるという利点がある。
このため、瞬時に線量率の増加を検知するだけでなく、同時に線量率増加の要因が自然由来核種によるものか人工核種によるものかを判断する材料を提供することができる。
また、言うまでもなく、MCA機能のPHA機能によるG(E)関数方式による線量率も出力することができる。
実施の形態3について、図9を用いて説明する。
図9は、この発明の実施の形態3による線量率測定装置のディスクリ電圧を有する信号処理部を示すブロック図である。
図9において、5、52〜54は図3におけるものと同一のものである。図9では、信号処理部5に、アナログ変換器56と信号合成器57とアナログ弁別器58を設けている。検出器信号は、信号合成器57に入力され、アナログ弁別器58を介してMCA機能部52に入力される。チャンネルメモリ53のディスクリ電圧値(バイアス電圧)がスキャンされて得られたスキャン電圧は、アナログ変換器56にてアナログデータに変換され、信号合成器57にて入力された検出器信号と合成され、アナログ弁別器58にて一定のディスクリレベル(弁別閾値電圧)にかけられる。
図10において、横軸は時間、縦軸はディスクリ値(V)であり、時間19aに入力したアナログパルス19bと、時間20aに入力されたアナログパルス20bが示されている。
このため、実施の形態3では、マルチチャンネルスケーリング機能を次のようにした。マルチチャンネルスケーリング機能をもつマルチチャンネルアナライザ機能部52の入力パルスをアナログとして処理速度を確保し、チャンネルメモリ53は、実施の形態1及び実施の形態2と同様に使用する場合についてのものである。
図10のディスクリ電圧の例では、時間19aに入力したアナログパルス19bは通過しないが、パルス19bと同じ波高値をもつパルス20bが、時間20aのタイミングで入力された場合は、カウントされるということである。パルス20bのように、ディスクリを超えたものだけが、マルチチャンネルアナライザ機能部52に入力され、線量率演算部54で、線量率を算出される。
実施の形態4について、図11を用いて説明する。
図11は、この発明の実施の形態4による線量率測定装置のディスクリ電圧を有する信号処理部を示すブロック図である。
図11において、5、51〜53、55は図8におけるものと同一のものである。図11では、信号処理部5にスキャン周期演算部59を設け、信号演算部55の出力から、線量率に逆比例する周期を演算し、マルチチャンネルスケーリング機能のチャンネルスキャニング機能のスキャニング周期を制御する。
実施の形態4は、これを防止するために、信号処理部5にスキャン周期演算部59を導入して、線量率に逆比例する周期を算出し、マルチチャンネルスケーリング機能のチャンネルスキャニング機能のスキャニング周期を制御するようにした。
この周期制御により、ディスクリ電圧またはバイアス電圧の変調1周期の変化に対し、マルチチャンネルアナライザ機能部52に入力されるパルスの数が、線量率の高低に関わらず、ほぼ一定となる。
すなわち、ディスクリ変調あるいはバイアス変調の周波数を線量率の増加に伴って増大させることで、線量率の大きさによらず、ディスクリ変調あるいはバイアス変調の変調周期あたりの入力パルス数が一定になるようにして、ディスクリ通過率測定を均等に行なうようにする。
実施の形態5について、図12を用いて説明する。
図12は、この発明の実施の形態5による線量率測定装置のG(E)関数とディスクリ電圧を有する信号処理部を示すブロック図である。
図12において、5、51〜53は図4におけるものと同一のものである。図12では、図4の演算部54aが演算部54になり、図4の演算部54bに代えて、データレジスタ5Aを設け、MCA機能部(MCS)の出力であるチャンネルごとのカウント値を記憶させ、このカウント値の合計が一定数になるごとに、線量率演算部54にリセット信号を出力するようにした。
データレジスタ5Aへの入力パルスは、実施の形態1で述べたように、ディスクリ電圧またはバイアス電圧を通過したパルスであるが、このパルスをカウントしたチャンネルごとのカウント値の合計が、一定数になる段階で、データレジスタ5Aから線量率演算部54に向けてリセット信号が出力される。線量率演算部54で、このリセット信号を受け付ければ、線量率を出力して、パルス波高分析機能から受付けるパルス積算は、リセットされる。
このようにして、G(E)関数方式にて算出する線量率の演算のリセット制御をマルチチャンネルスケーリング機能によるDBM方式に委ねることとする。
線量率D=ΣGi×Niであり、δD=(ΣGi×δNi)1/2
となるが、人工放射線核種により、例えば2種類のエネルギーの高計数率ピークが存在すると、
δD={(G1×δN1)+(G2×δN2)}1/2
となり、線量率はカウント数のゆらぎδN1とδN2だけでなく、エネルギーにも依存するため、線量率の揺らぎが変動する。
このため、線量率のゆらぎの管理のみをDBM方式に委ねることとして、マルチチャンネルアナライザ機能部52に備えたパルス波高分析機能とマルチチャンネルスケーリング機能の両方を同時に稼動させる。
G(E)関数演算だけだと人工放射線核種の出現により、標準偏差を一定にする制御が困難になる場合があったが、マルチチャンネルスケーリング機能により実現するDBM機能により得られるカウント値をG(E)関数演算のサンプリング量を制御する管理指標として利用することで、本来高精度であるG(E)関数方式による線量率に、いつも標準偏差が一定の線量率測定装置を提供できるという効果を奏する。
実施の形態6について、図13を用いて説明する。
図13は、この発明の実施の形態6による線量率測定装置のチャンネル選択パターンを有する信号処理部を示すブロック図である。
図13において、5、51、52、54は図2におけるものと同一のものである。図13では、信号処理部5にチャンネル選択パターン記憶部5Bを設け、パルス波高分析機能(PHA)のカウントするチャンネルを時間的に変化させるようにする。
図14において、チャンネル選択パターン記憶部5Bの指令によって、パルス波高分析機能にてカウントするチャンネルが時間的に変化する様子を示し、図14(a)は、カウントできるチャンネル21が全チャンネルである場合、図14(b)は、ある時間経過後の状態、図14(c)は、さらに時間経過後の状態で、カウントされない状態が少しずつ増加し、図14(d)は、さらに時間経過後で、すべてのチャンネルがカウントされない状態を示す図である。それぞれの状態で、カウントできるチャンネル21と、カウントされないチャンネル22が示されている。
さらに時間経過後、図14(c)のカウントされないチャンネル22が増えた状態を経て、図14(d)のように推移し、すべてのチャンネルがカウントされないチャンネル22となる。この後、図14(a)に戻るという周期でカウントチャンネルを変動させる。
各チャンネルのカウントできるチャンネル21とする時間は、図5に示すG(E)関数値11に比例するものとする。
なお、上述では、図14(a)⇒図14(b)⇒図14(c)⇒図14(d)⇒図14(a)の順に推移するものとして説明したが、図14(a)⇒図14(b)⇒図14(c)⇒図14(d)⇒図14(c)⇒図14(b)⇒図14(a)の順に推移するものとしても何ら差し支えない。
このように、信号処理部5を簡素化することができるので、コストメリットのある線量率測定装置を提供できるという効果を奏する。
実施の形態7について、図15を用いて説明する。
図15は、この発明の実施の形態7による線量率測定装置のパルス波高分析機能を有する信号処理部を示すブロック図である。
図15において、5、51、52、54は図13におけるものと同一のものである。図15では、線量率演算部54に高機能を持たせている。
線量率演算部54に入力されるデータは、1パルスごとにマルチチャンネルアナライザ機能部52で割り当てられたチャンネル数を持っている。これを線量率演算部54がカウントするかどうかは、時間的に変動するカウント受入範囲により決定される。ここで、このカウント受入チャンネルの変化は、図14と同一の変化をするものとする。
また、線量率演算部54を拡張することにはなっても、マルチチャンネルアナライザ機能部52にマルチチャンネルスケーリング機能を有しなくとも、また、実施の形態6のようなチャンネル選択パターン記憶部5Bを備えなくとも、DBM機能を得るというコストメリットのある線量率測定装置を提供できるという効果を奏する。
6 メモリ表示装置、11 G(E)関数グラフ、
12 デジタルディスクリ電圧値グラフ、13 デジタルバイアス電圧値グラフ、
14 アナログ−バイアス電圧、15a、15bパルスの入力時間、
15b 変調ディスクリ電圧値を通過するデジタルパルス例、
16a 16bパルスの入力時間、
16b 変調ディスクリ電圧値を通過しないデジタルパルス例、
17a 17bパルスの入力時間、
17b 一定ディスクリ電圧値を通過しないデジタルパルス例、
18a 18bパルスの入力時間、
18b 一定ディスクリ電圧値を通過するデジタルパルス例、
19a 19bパルスの入力時間、
19b 一定ディスクリ電圧値を通過しないアナログ−パルス例、
20a 20bパルスの入力時間、
20b 一定ディスクリ電圧値を通過するアナログ−パルス例、
21 カウントできるチャンネル、22 カウントされないチャンネル、
51 アナログ−デジタル変換器(ADC)、
52 マルチチャンネルアナライザ機能部、53 チャンネルメモリ、
54 線量率演算部、54a 線量率演算部のうちG(E)関数方式にて演算する回路、
54b 線量率演算部のうちDBM方式にて演算する回路、
55 信号演算部、56 アナログ変換器、57 アナログ信号合成器、
58 アナログ弁別器。
Claims (7)
- 放射線の入射に対しアナログパルスを出力する放射線検出器、この放射線検出器の出力するアナログパルスをデジタル値に変換するアナログ・デジタル変換器、各チャンネルに対応する弁別閾値電圧を格納したチャンネルメモリ、上記チャンネルを一定時間ごとにスキャニングしながら、上記チャンネルメモリを参照して、上記弁別閾値電圧を超える上記デジタル値を上記チャンネルごとにカウントするマルチチャンネルスケーリング機能を有するマルチチャンネルアナライザ機能部、及びこのマルチチャンネルアナライザ機能部の出力に基づき、上記放射線の線量率を演算する線量率演算部を備えたことを特徴とする線量率測定装置。
- 上記マルチチャンネルスケーリング機能は、上記弁別閾値電圧を超える上記デジタル値のカウントに加えて、上記弁別閾値電圧を超えないデジタル値を上記チャンネルごとにカウントし、上記弁別閾値電圧を超える上記デジタル値に上記弁別閾値電圧を超えないデジタル値を加えた値に対する上記弁別閾値電圧を超える上記デジタル値の割合である通過率を演算できるようにしたことを特徴とする請求項1記載の線量率測定装置。
- 放射線の入射に対しアナログパルスを出力する放射線検出器、各チャンネルに対応するバイアス電圧を格納したチャンネルメモリ、このチャンネルメモリの上記チャンネルに対応するバイアス電圧をアナログ信号に変換するアナログ変換器、このアナログ変換器により変換されたアナログ信号を上記放射線検出器の出力するアナログパルスと合成する信号合成器、この信号合成器により出力される合成信号を所定の弁別閾値電圧により弁別するアナログ弁別器、上記チャンネルを一定時間ごとにスキャニングしながら、上記スキャニング中のチャンネルに対応するように上記アナログ弁別器により弁別された上記合成信号を上記チャンネルごとにカウントするマルチチャンネルスケーリング機能を有するマルチチャンネルアナライザ機能部、及びこのマルチチャンネルアナライザ機能部の出力に基づき、上記放射線の線量率を演算する線量率演算部を備えたことを特徴とする線量率測定装置。
- 上記線量率に逆比例する周期を演算するスキャン周期演算部を備え、
上記スキャン周期演算部の出力に応じて、上記マルチチャンネルスケーリング機能の上記チャンネルをスキャニングする周期を制御することを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載の線量率測定装置。 - 上記マルチチャンネルスケーリング機能によって上記チャンネルごとにカウントされたカウント値を格納するレジスタを備え、
上記マルチチャンネルアナライザ機能部は、上記アナログ・デジタル変換器により変換されたデジタル値の波高に対応したチャンネルに割り当てて放射線エネルギースペクトルを出力するパルス波高分析機能を有し、
上記線量率演算部は、上記レジスタに格納された上記カウント値の合計が一定数になるごとに、上記パルス波高分析機能の出力に基づく上記線量率の演算を行うようにしたことを特徴とする請求項1または請求項2記載の線量率測定装置。 - 放射線の入射に対しアナログパルスを出力する放射線検出器、この放射線検出器の出力するアナログパルスをデジタル値に変換するアナログ・デジタル変換器、このアナログ・デジタル変換器により変換されたデジタル値の波高に対応したチャンネルに割り当てて放射線エネルギースペクトルを出力するパルス波高分析機能を有するマルチチャンネルアナライザ機能部、及びこのマルチチャンネルアナライザ機能部の出力に基づき、上記放射線の線量率を演算する線量率演算部を備え、
上記パルス波高分析機能は、上記デジタル値をカウントするチャンネル範囲を時間により変動させるようにしたことを特徴とする線量率測定装置。 - 放射線の入射に対しアナログパルスを出力する放射線検出器、この放射線検出器の出力するアナログパルスをデジタル値に変換するアナログ・デジタル変換器、このアナログ・デジタル変換器により変換されたデジタル値の波高に対応したチャンネルに割り当てて放射線エネルギースペクトルを出力するパルス波高分析機能を有するマルチチャンネルアナライザ機能部、及びこのマルチチャンネルアナライザ機能部の出力に基づき、上記放射線の線量率を演算する線量率演算部を備え、
上記線量率演算部は、上記パルス波高分析機能により上記デジタル値をカウントするチャンネル範囲を時間により変動させるように上記線量率を演算することを特徴とする線量率測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008015161A JP4914844B2 (ja) | 2008-01-25 | 2008-01-25 | 線量率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008015161A JP4914844B2 (ja) | 2008-01-25 | 2008-01-25 | 線量率測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009175042A JP2009175042A (ja) | 2009-08-06 |
JP4914844B2 true JP4914844B2 (ja) | 2012-04-11 |
Family
ID=41030283
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008015161A Active JP4914844B2 (ja) | 2008-01-25 | 2008-01-25 | 線量率測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4914844B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5868256B2 (ja) | 2012-04-26 | 2016-02-24 | 三菱電機株式会社 | 線量率測定装置 |
JP6180807B2 (ja) | 2013-06-14 | 2017-08-16 | 株式会社東芝 | 電磁波信号処理装置および電磁波検出装置 |
JP6091622B2 (ja) * | 2013-08-08 | 2017-03-08 | 三菱電機株式会社 | 放射線測定装置 |
WO2015145716A1 (ja) * | 2014-03-28 | 2015-10-01 | 三菱電機株式会社 | 放射線モニタ |
CN107346030B (zh) * | 2017-07-10 | 2019-05-24 | 丹东东方测控技术股份有限公司 | 一种高计数率下的随机脉冲多道幅度分析器 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6032144B2 (ja) * | 1977-01-13 | 1985-07-26 | 日本原子力研究所 | γ線照射線量率計 |
JPS63286787A (ja) * | 1987-05-20 | 1988-11-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 放射線検出器 |
JP3659852B2 (ja) * | 2000-02-02 | 2005-06-15 | アロカ株式会社 | 放射線測定器 |
-
2008
- 2008-01-25 JP JP2008015161A patent/JP4914844B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009175042A (ja) | 2009-08-06 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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